JPS62291728A - 反射型光学デイスクの読取り装置 - Google Patents

反射型光学デイスクの読取り装置

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JPS62291728A
JPS62291728A JP61135846A JP13584686A JPS62291728A JP S62291728 A JPS62291728 A JP S62291728A JP 61135846 A JP61135846 A JP 61135846A JP 13584686 A JP13584686 A JP 13584686A JP S62291728 A JPS62291728 A JP S62291728A
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JP
Japan
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light
astigmatism
cylindrical lens
optical disk
light emitting
Prior art date
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Pending
Application number
JP61135846A
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English (en)
Inventor
Kazuyuki Miyaki
和行 宮木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 [産業上の利用分野コ 本発明は、光学ディスクに光を照射しその反射光からデ
ィスク内の情報を読取る反!iFf型光学ディスクの読
取り装置に関するものである。
[従来の技術] 従来この種の装置では、光学ディスクの読取り位置に入
射光をできるだけ集光させるため、発光体から光学ディ
スクに照射された光の反射光をビ−ムスプリツタを用い
て抽出し、その抽出された反射光に円柱レンズ等を用い
て非点収差を発生させ、これを光検出器で受光して光学
ディスク上での入射光の集光状態を表すフォーカスエラ
ー信号を検出し、このフを一カスエラー信号に応じて光
学ディスクに入射光を集光させる集光光学系を位置制御
するよう構成されたものがある。
[発明が解決しようとする問題点] このように構成された装置では、光学ディスク上での入
射光の集光状態に応じて集光光学系の位置をフィードバ
ック制御できるので、光学ディスク上に入射光を良好に
集光させることができ、情報の読取り能力を向上するこ
とが可能となるが、この種の装置に用いられる発光体に
は発光パターンが楕円のものがあり、この発光体を用い
た装置では、情報の読取り能力が低下するといった問題
がある。つまり発光パターンが楕円となる発光体を用い
た場合、上記のように集光光学系を位置制御しても光学
ディスク上での入射光は楕円となるので、楕円の長軸方
向では不要な位置にまで光を照射するこ−ととなり、こ
れによって情報の読取り能力が低下してしまうのである
また従来では、情報の読取り能力の低下を防止するため
、発光体からの長楕円方向の光を取り除くことでビーム
形状を円形に整形するといったことも行なわれているが
、このような方法では、光効率が悪いため、情報の読取
り信号が小ざくなり、S/Nが悪くなるといった問題が
あった。
そこで本発明は、発光体の発光パターンを楕円形から円
形に補正することができ、しかも従来のようにフォーカ
スエラー信号を得ることのできる反射型光学ディスクの
読取り装置を提供することを目的としてなされた。
[問題点を解決するための手段] 即ち上記問題点を解決するための本発明の構成は、発光
パターンが楕円になる光を発する発光体と、該発光体か
らの入射光を反射型の光学ディスク上の所定の領域に集
光すると共に該光学ディスクからの反射光を入射方向へ
戻す集光光学系と、該集光光学系を介して戻ってくる上
記光学ディスクからの反射光を上記発光体からの入射方
向とは゛   異なる方向に導く反射光路変更手段と、
上記反射光の光路上に設けられ該反射光に非点収差を生
じさせる非点収差発生手段と、該非点収差発生手段を介
して伝達される上記反射光を受光し上記光学ディスク上
での入射光の集光状態を表すフォーカスエラー信号を発
生する受光手段と、を漏えた反射型光学ディスクの読取
り装置において、上記発光体と上記反射光路変更手段と
の間に上記楕円の発光パターンを変形する第1の円柱レ
ンズを配設すると共に、上記反射光路変更手段と上記集
光光学系との間に上記第1の円柱レンズの通過によって
生ずる上記入射光の非点収差を補正すると共に上記非点
収差発生手段として機能する第2の円柱レンズを配設し
、上記第1及び第2の円柱レンズにより上記発光体から
の発光パターンを円形に補正するよう構成して4よるこ
とを特徴とする。
[作用] このように構成された本発明では、発光体から発せられ
る発光パターンが楕円となる光が第1及び第2の円柱レ
ンズによって非点収差のない円形の光に補正された後、
光学ディスクに入射される。
また光学ディスクからの反射光には第2の円柱レンズに
よって非点収差が発生され、反射光路変更手段を介して
受光手段に伝達される。
[実施例] 以下に本発明の実施例を図面と共に説明する。
第1図は発光体として発光パターンが楕円となる半導体
レーザを用いた読取り装置の光学系全体の構成を表し、
(イ)は当該装置を楕円形状の発光パターンの長軸方向
からみた平面図、(ロ)はその右側面図である。
図に示すように本実施例の読取り装置では、半導体レー
ザ1から光学ディスク2までの光路上1こ、半導体レー
ザ1から照射されるレーザ光の発光パターンを楕円形か
ら円形に補正するための2枚の円柱レンズ3,4が設り
られ、この2枚の円柱レンズ3,4によって発光パター
ンを円形に補正した後、前記集光光学系としてのコリメ
ートレンズ5及び対物レンズ6を介して光学ディスク2
1にレーザ光を集光するようされている。また各円柱レ
ンズ3,4の間には、前記反射光路変更手段としてのビ
ームスプリッタ7が設けられ、対物レンズ6、コリメー
トレンズ52円柱レンズ4を介して伝達される光学ディ
スク2からの反射光が前記受光手段としての光検出器8
まで導かれる。
ここでレーザ光の発光パターンを2枚の円柱レンズ3.
4を用いて補正するのは、単に1枚の円柱レンズのみを
用いて補正すると、これによってレーザ光に非点収差が
発生し、光学ディスク上での入射光の形状が楕円形にな
るため、情報の読取り能力がかえって悪化してしまうか
らであって、本実施例では円柱レンズ3で生じた非点収
差を円柱レンズ4を用いて補正する。つまり半導体レー
ザ1から発せられた第2図(イ)に示すような楕円形の
発光パターンを円柱レンズ3を用いて変形した後円柱レ
ンズ4に入射することで、円柱レンズ4を透過してくる
半導体レーザ1からの発光パターンを第2図(ロ)に示
すような円形に補正し、しかも第1図(イ)に示ずよう
に円柱レンズ3を透過することにより生ずる集束点がa
位置となる非点収差を図に点線で示す如く補正して、コ
リメートレンズ5には非点収差のない円形のレーザ光を
入射できるようにされているのである。
尚これを実現するには、発光パターンが第2図(イ)に
示すように長袖がQl、短軸がΩ2となる楕円形状であ
る場合、各円柱レンズ3及び4に焦点距離F1及び[2
が(Ω1/Ω2=F2/−Fl )の関係となるものを
用い、各部の位置を、円柱レンズ3と4の幾何光学的な
距離をDとした時 を満足するような位置に決定すればよい。尚上式%式% ただし、θ1.θ2は夫々第1図(イ)(ロ)に示す如
く、半導体レーザーから照射されるレーザ光の短軸方向
、長軸方向への照射角度である。
また円柱レンズ4は単に発光パターンを円形に補正する
だけでなく、光学ディスク2からの反射光に非点収差を
生じさせる非点収差発生手段としても機能し、これによ
って光検出器8でフォーカスエラー信号が1qられるよ
うになる。つまり第3図に示す如く、光検出器8は4つ
のフォトダイオードPi、P2.P3.P4からなる4
分割フi l”ダイオードとして構成され、また円柱レ
ンズ4は反射光に円柱レンズ3で発生される非点収差と
同じ量の非点収差を発生させることから、光検出器8に
は光学ディスク2上でのレーデ光の集光状態に応じてビ
ーム形状が点線、実線、一点鎖線で示す如く変化する反
射光が入射されることとなり、フォトダイオードP1.
P3及びP2.P4からの出力信号を夫々差動増幅器9
に入力することでフォーカスエラー信号が1qられるよ
うになるのである。
このように本実施例の読取り装置では、半導体レーザ1
からの発光パターン楕円形のレーザ光が、2枚の円柱レ
ンズ3及び4によって非点収差を生ずることなく円形に
補正され、光学ディスク2に入射されることから、光学
ディスク2の所望の読取り位置にレーザ光を集光させる
ことが可能となり、情報の読取り能力が向上される。ま
た光学ディスク2の不要な位置にレーザ光を照射するこ
とがないので、レーザ光の利用効率を向上することもで
きる。更に光学ディスク2からの反射光には、円柱レン
ズ4によって非点収差が発生されるので、光検出器8で
フォーカスエラー信号を得るため従来のようにビームス
プリッタ7から光検出器8までの光路上に非点収差を発
生する光学部品を設ける必要はなく、構成を簡単にする
ことができる。
また更に円柱レンズ3を半導体レーザ1の保護ガラスと
して半導体レー#j′1に直接設ければ構成をより簡単
にすることができる。
[発明の効果1 以上詳述したように本発明の反!8型光学ディスクの読
取り装置によれば、発光体の発光パターンを楕円形から
円形に補正して光学ディスクに入射できるので、発光パ
ターンか楕円となる発光体を用いても入射光を光学ディ
スク上の所望の読取り位置に集光させることができ、情
報の読取り能力を向上することができる。またこれによ
って発光体からの光の利用効率を向上することができる
更に光学ディスクからの反射光には発光パターンを補正
する第2の円柱レンズによって非点収差を発生できるの
で、フォーカスエラー信号を得るための非点収差発生手
段をわざわざ設ける必要はなく、構成を筒中にすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例の読取り装置仝休の光学系を表し、(イ
)は当該装置を発光パターンの長袖方向からみた平面図
、(ロ)はその右側面図、第2図は半導体レーザからの
発光パターン及び補正後の発光パターンの形状を表す説
明図、第3図は光検出器8の構成を表す説明図、である

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  発光パターンが楕円になる光を発する発光体と、該発
    光体からの入射光を反射型の光学ディスク上の所定の領
    域に集光すると共に、該光学ディスクからの反射光を入
    射方向へ戻す集光光学系と、該集光光学系を介して戻っ
    てくる上記光学ディスクからの反射光を、上記発光体か
    らの入射方向とは異なる方向に導く反射光路変更手段と
    、上記反射光の光路上に設けられ、該反射光に非点収差
    を生じさせる非点収差発生手段と、 該非点収差発生手段を介して伝達される上記反射光を受
    光し、上記光学ディスク上での入射光の集光状態を表す
    フォーカスエラー信号を発生する受光手段と、 を備えた反射型光学ディスクの読取り装置において、 上記発光体と上記反射光路変更手段との間に、上記楕円
    の発光パターンを変形する第1の円柱レンズを配設する
    と共に、 上記反射光路変更手段と上記集光光学系との間に、上記
    第1の円柱レンズの通過によつて生ずる上記入射光の非
    点収差を補正すると共に、上記非点収差発生手段として
    機能する第2の円柱レンズを配設し、 上記第1及び第2の円柱レンズにより上記発光体からの
    発光パターンを円形に補正するよう構成してなることを
    特徴とする反射型光学ディスクの読取り装置。
JP61135846A 1986-06-11 1986-06-11 反射型光学デイスクの読取り装置 Pending JPS62291728A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5619488A (en) * 1991-09-07 1997-04-08 Fuji Xerox Co., Ltd. Information recording device
JPH1064103A (ja) * 1996-05-29 1998-03-06 Samsung Electron Co Ltd 光ピックアップ装置

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