JPS62289783A - ラスタ−パス発生装置 - Google Patents

ラスタ−パス発生装置

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JPS62289783A
JPS62289783A JP62048234A JP4823487A JPS62289783A JP S62289783 A JPS62289783 A JP S62289783A JP 62048234 A JP62048234 A JP 62048234A JP 4823487 A JP4823487 A JP 4823487A JP S62289783 A JPS62289783 A JP S62289783A
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バーリー・エフ・ハント
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    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〈発明の技術分野〉 本発明は、一般には1つの座標系から他の座標系へ離散
的魚群を変換することに関し、特にその変換を局所的か
つ実時間で行う装置に関する。
〈従来技術とその問題点〉 特願昭56:176304: r走査変換装置」に、セ
クター中の複数本の放射線の各線に沿って発信したアナ
ログ信号から、ブラウン管の平行ラスター線に溢って直
交座標点でビクセルに表示すべきデータ値を導出する装
置が記載されている。2本の隣接する放射線の生データ
が受信され、かつデータが3本目の放射線に溢って受信
態勢に入った時点で、放射線の間のスライス内に位置す
るビクセルのスヘてを貫通するステップ・パイ・ステッ
プのパスが状態機械により形成される。ステップの長さ
は1つのビクセルに相当し、所定通りにX軸またはY軸
に沿って進行する。各ビクセルの放射角と半径位置は、
放射線に対して既知の放射角と半径位置を有するビクセ
ル位置からスタートしある一定の値を各ステップ毎に反
復加算することにより決定できる。放射線に沿ったアナ
ログデータをサンプリングし、保持された各ビクセルの
半径位置を用いて、4つの生データサンプルを選択する
。1本の放射線による2つのサンプルに基づいてビクセ
ルの半径から第1の中間補間データ値を誘導し、また他
の1本の放射線による2つのサンプルに基づいてビクセ
ルの半径から第2の中間補間データ値を導き出す。各ビ
クセルに表示される最終データ値は、第1と第2の中間
データ値を補間することにより誘導される。この工程は
、セクター中の各スライスにおけるすべてのビクセルに
ついて実施される。
これは大変うまく動作するが、各スライスにおけるビク
セルのパスが異り、それは状態機械に付属するメモリに
実際上記憶されている。セクターのある部分を拡大する
必要がある場合、即わち一般に「ズーム」と称される機
能を実行する場合、選択された領域の一部を含む各スラ
イスのビクセルを貫通する新たなパスを拡大度に相応し
て配置しなければならない。各拡大度毎に多量のメモリ
が要求され、ある拡大度から他の拡大度への連続ズーム
は実用上不可能である。
〈発明の目的〉 従って本発明の目的は、各スライスのビクセルを貫通す
る新たなパスを拡大度に応じて、実時間で計算して構成
するようにして、上記の問題を解決したラスターパス発
生装置を提供することである。
〈発明の概要〉 本発明によれば、スライスのビクセル貫通パスにおける
ステップは、反復法により実時間基準で1回に1つずつ
算出される。パス中の各ビクセルに到達した時点で、近
接試験ビクセルの各パターンについて、放射線により形
成されたスライスの外側にそのパターンが位置している
かどうかを決定する。当該決定と、パスが現ピクセルに
接近した方向の指示とから、次のパスステップが選択さ
れる。場合によっては、この次のステップをスライスの
外側に位置するビクセルに当て、ある特定のビクセルを
到達せしめることもある。しがし、このようなパスステ
ップは無効と宣言される。パターンは、現ビクセルと同
一行のパスの両側のビクセルと、現ピクセルと同一列の
ビクセルと、現ヒクセルトソの外側放射線の間のビクセ
ル貫通バスのビクセルとを含む。後者の2つのビクセル
とは、現ビクセルが位置する行に隣接した行に、かつセ
クターの頂点から離隔した側にあるビクセルである。セ
クターの角度が45°以上ならば、その隣接行中で外側
放射線に1列近接して別のビクセルを設ける。平行線に
より形成されたスライスのピクセル貫通パスを定める場
合にも、同様の手法が適用可能である。
〈発明の実施例〉 第2A図は、平行線L1とLoの間に位置するビクセル
場を貫通したスライスを示す。第2B図には、セクター
Sの中央線CLに近接した内側放射線R1と、中央線C
Lから離隔した外側放射線Roとの間に位置するビクセ
ル場貫通のスライスが示されている。生データのサンプ
ルは、ドツトで表示されたL!とLoの両線またはRX
とRof7)両線に沿って入手可能である。第2B図に
示したセクターSの放射線RXとRoの間のスライス貫
通パスを形成するものとして、本発明の1実施例を以下
に説明する。第2A図に図示の平行線LIとLoの間の
スライスのピクセル貫通パスの形成に際しても、本発明
は容易に適用できるものである。
第2C図は放射線R,とRoの間のスライスの一部分を
示す。同図の上部に、データとしてのビクセルを通過す
るパスPTが図示されている。データは等間隔に離隔し
た行と列の交点に位置する。このパスはビクセルPyを
始点として、矢印の方向に他のピクセル群を通過する。
放射線RrとRoの両線上に位置するビクセル群は任意
の判定においてスライス内部のビクセルとみなす。パス
PTの各ビクセルにおいて次のビクセルが選択される。
時間を節約する意味で、パスPTがスライスの外側にあ
るビクセルを通過しないことが望ましい。そのためには
、d+からd4のごとき斜動作が必要になる。しかしな
がら図示されるように、スライス内のビクセルの通過漏
れを防止するために、パスPTがスライスの外側にある
ビクセル群を通過する場合もある。
ここで用語の定義について説明する。X HA Tとは
、ピクセル行’I/CGって測定したスライスの境界線
、例えばR1とRoO間の距離である。ここに用いた距
離は、現ビクセルPCが位置している行、例えば行CK
 Gって計測した距離を意味する。XHAT  NEX
Tは、7CMなどの次の外側ピクセル行に沿って測定し
た境界線R1とRoO間の距離を意味する。境界線Ll
とLoが平行な第2A図のような場合には、XHATは
XHAT  NEXTに等しくなる。ただし、第2B図
のRxとRoのごとくに放射状の境界線ならば、XHA
T  NEXTは(ΔY/ΔX)(tanf)o−ta
pθ、1=DXHAT7!、だけXHATより大きくな
る。
本発明のこの1実施例におけるC0UNTとは、第2C
図のRoなとの外部境界線から注目のビクセルまでの行
に沿って測定した距離である。ビクセルP、についての
C0UNT の寸法を図示した。
この場合、右側の次のビクセルPXが負のC0UNTを
有するため、その距離がビクセル間の距離ΔX=1より
小さくなっていることに注目すべきであムC0UNTの
値は、ピクセル行が次行に移る各ステップごとに、いわ
ゆるDCOUNTYによって増加する。ステップがdl
からd4のように斜動に沿う場合、C0UNTはDCO
UNTY−1だけ変化する。この変化なPからyのステ
ップとして第2C図に例示した。DCOUNTYはta
nθ。のΔY/ΔX倍に等しい値である。θ0とは外側
放射線の角度である。
パスの始動ビクセルPFにおけるC0UNTの(1零と
すると、上述したC0UNT変化量の累積値法ピクセル
P、 #″−Roの内側にあれば正、Roの外側にある
場合、例えばビクセルPxのC0UNT値は負になる。
ビクセルのC0UNT値と、そのビクセルが位置する行
のXHAT値と対比することによって、ビクセルが内側
境界線RIの内側にあるかどうかの判定もまた可能であ
る。その−例がビクセルPYである。
したがって、ビクセルのCOU N T信号が負の場合
、そのビクセルはRoの右側に位置する。一方、C0t
JNTの正値がビクセル行のXHATよし大きい場合、
ビクセルはRrの左側に位置する。さもなげればビクセ
ルはR8またはR1の線上あるいはビクセル間のスライ
ス内に存在する。
次のビクセルを決定するに当っての第1ステツプとして
、複数の近傍試験ビクセルのC0UNT値を定める。こ
こに記載の1実施例において、上記近傍試験ビクセルの
パターンを第2C図に示し總ビクセルPCは現ピクセル
、つまり決定済みのハスの最終ビクセルである。試験ビ
クセルは、PCからセクターの中央に向き、かつPCと
同一行にある次のビクセルのPoと、セクターの中央か
ら離れるカミPcと同一行にある次のビクセルP3と、
PCと同一列にあるが、セクターの頂点から離れた側の
次行にあるP、と、次行の、R3と同一列にあるR2と
、次行にR2に隣接しているR4とである。
第1図にブロックダイヤグラムで示した回路((おいて
、必要なC0UNT値および、/または符号は以下のご
とくに誘導される。
パス内の始動ビクセルのC0UNT値をマルチプレクサ
3から誘導し、C01JNT累積器2により用意して回
路PO’ * P3’ *加算器P、’ 、 P2′、
とP4′のそれぞれに与える。この初期値を与えたあと
、マルチプレクサMの出力にあるパス内の各選択された
ビクセルのC0UNTをC0UNT 累積器2を介して
上記回路群に供給せしめる。この特定のスライス(7)
DCOUNTY値をレジスタ4から直接P1に、ΔX=
1の減算器6を介してR4に、2ΔXの減算器8を介し
てP4′にそれぞれ供給する。回路P。′が恥のC0U
NT値にΔX二1を加算し、出力OO′で試験ビクセル
Po0COUNT値を与える。回路PfによりPcのC
0UNT値からΔX=1が減算され、出力Q/でBのC
0UNT値が得られる。回路P3′はまた出力03′で
そのC0UNT値の符号を発信する。
加算器P1′は出力01′でP1QCOUNT値を供給
する。加算器P2′は、減算器6による」X=1の減算
のため、出力OイでR2のC0UNT値を供給するとと
もに、出力04でそのC0UNT値の符号を発信する。
加算器gは、減算器8による2ΔX==2の減算を経て
R4のC0UNT値を内部誘導したあと、出力04′で
そのC0UNT値の符号を発する。R4はパスのビクセ
ルとして選択されるようなことはなく、そのC0tJN
T値の供給は不要である。R4はパターンに包含され、
外部放射線Roの角度が45゜以上の場合に使用される
。出力oo j 03’ t o、と02′のC0UN
T 値はマルチプレクサMに送られ、ここで次のビクセ
ルのためのC0UNT値が選択される。次のビクセルは
、判定器RO、M Dにより選別されたP。、Pl、R
2とR3のビクセル群の1つである判定器ROMDの入
力には、出力03′、02′と04’のそれぞれへのリ
ード線を介したR3.R2とR4ビクセルのC0IJN
T  の符号の指示が含まれる。XHAT累積器XAは
現ビクセルPcが内在するピクセル行のXHAT値を次
に説明する方法で出力する。
出力を比較器C1の入力Aに印加し、出力Ooのビクセ
ルPoのC0UNT値を比較器C1の入力Bに供給せし
める。PoのC0UNT値がX)(ATより大きい場合
、C1は数値1を出力する。これはPoカRIの内側で
スライスの外側に位置することを示す。
一方、Po0COU N T値がXHATより小さく、
または等しい場合には、C!は数値Oの出力を表示する
。これはPoがR工とRoで形成されたスライスの内部
にあることを意味する。C1の出力は判定器ROMDに
送られる。
XHAT累積器XAはX)(AT  NEXT値をもま
た比較器C2のインプットBに供給し、出力Q/lで出
現したピクセルPl0COUNT値が02のインプット
Bに供給される。PlのC0UNT値がXHAT外側に
あることを意味する一方、PlのC0UNT値がXHA
T  NEXTより小さく、または等しい場合、C2は
数値Oの出力を示し、PlがR1とRoにより形成され
たスライスの内側にあることを表わす。
パスの始動ビクセルにおいて、初期ステップの方向はそ
のビクセル内在のビクセル行に沿っていると仮定される
。X)(ATとC0UNTの初期値はそれぞれの累積器
に供給され、この情報に基づいて、判定器ROM Dが
パスの初期ステップの方向XDIRと、XDIRにより
次のステップが8またはR3に向くならばBUMPXの
アウトプットと、次のステップがP、に向くならばB 
U M P Yのアウトプットと、次のステップがR2
に向いた斜運動ならばBUMPXとBUMPYの両者の
アウトプットとをそれぞれ出力する。ROM Dはまた
マルチプレクサMに信号を送り、初期ステップの対象ビ
クセルのC0UNT値を選別する。次の時刻パルスに従
い、上記の方法を反復するが、次の現ビクセルPCは初
期ステップの対象ビクセルであったものである。スライ
スの外側にビクセルが存置する場合、ROMDは常にI
NVALの信号を発信する。これは無効データをそのビ
クセルに供給するのを防止するためである。
ROM Dに現ビクセルPCに到達したステップの方向
を感知させる目的で、アウトプツ)XDIRをフリップ
・フロップFを介して爆速する。
DXHAT値はソース7から加算器9に供給され、ここ
にXHAT累積器XAの出力のXHATもまた送られ、
XHAT  NEXT値が出力されムパスの始動時、マ
ルチプレクサ11が始動ビクセルのC0UNT値をXH
AT累積器XAに供給すもしたがって、行の移行による
Yの各ステップにおいて、X AのアウトプットがDX
HATだけ増加する。
XHATi積器XAは、次のビクセル行のいずれか1つ
のビクセルに対するステップを選別したあと、判定器R
OM DからのBUMPY信号により常に更新されて保
持されるので、出力時の前のXHAT  NEXTを新
規のXHAT値として置き換えるものである。
第2A図のLxとLoのように、スライスの境界線が平
行ならば、DCOUNTY値は零である。こを第3図と
第4図に示した。これらのアウトプットは境界線Ro 
、 Rzと各種試験ビクセルとの関係、第3図と第4図
のカルノー図の各インプットにより示した関係を調べた
うえで決定されるべきであ“   る。ROMDの操作
を以下に説明する。
P4′のC0UNTの符号が出力04′ で零として示
したように「+」である場合、試験ビクセルP4が馬の
内側にあり、第3図のカルノー図が用いられる。COU
 N Tの符号が「−」であれば、第4図のカルノー図
が使用される。これらの図面を検討すると、左下偶の1
0:000の位置を除いた以外は両図は同一である。
前記したように、外部放射線Roの角度が45°より大
きい場合、P4を用いる必要がある。P4が要求される
ことの説明として第5図が参照される。セクターの外側
境界が45°で放射線Roならば、バスはPCからPl
に延びたあと、P1方向に戻る。P4に関する情報がな
いと、最外部線が約60°の角度の場合、バスはPCか
らPlに進行してPlに至るため、P4は完全に無視さ
れてしまう。これに伴う問題として、出力像に孔を残し
て見芳しいパタンを形成する。P4が試験されると、バ
スはPCからP3.P3からP4へ続いてPlに戻る。
ビクセルPc カ、第6図に示すように、スライス内に
あり、内側境界から接近すると、次のステップはP3で
占められた位置である。これを確認す已には、次のイン
プットを判定器ROM Dに行な2P4用C0UNTの
値は+”であるので、第3図のカルノー図を参照する。
インプットA二+(今(〕 ) B=+(キOべ) C=0゜ D=0゜ E二〇。
このことは、oo:oooとなり、これは次のステップ
がPCの現在の位置から右方つまりP3の現在の位置に
移動することを示している。
この最初の移動の後、第7図に示すように、P4用C0
UNTの符号が1−”つまり1”であるので、第4図の
カルノー図を参照する。この条件のインプットは次の通
りである。
インプットA二+(−>1) B−+(−>0) C=0 。
D=0 。
E二〇。
コ(7)ことは、10 : 000となり、これはパル
スがPCからPlに移動することを示している。
第8図は、はぼ右下方に向いているスライスに沿うセク
ターの頂点にバスのスタートがあることを示している。
この頂点において、X HA T = O。
C0UNT=O,XHAT  NEXTはoより僅かに
大きい。P4のC0UNTの符号は“−”であるので、
第4図のカルノー図を参照する。その他のインプットは
次の通りである。
インプットA二1゜ B二〇: C−0゜ D=0゜ E二1゜ ただし、XDIRは右側である。このことは、1゜:0
11 となり、第1ステツプが斜めにPlに向う唯一の
ステップであることを示している。
Plをもつことの主たる利点は、ビクセルが斜度45°
の線に溢っていることである。従って、最重要な試験ピ
クセルばP。r P3 t p2である。スライスの十
分内側にある点から右方に移動する際、P3はYにおい
ていつ移動すべきかを示し、Poのデータは何も意味し
ない。反対に、左方に移動する際には、逆になる。試験
ピクセルP1は、スライスが水平に対して浅い角をなし
ている状態で試験される。その際P1用のC0UNTの
値はXHAT  NEXTより大きくなり適当なステッ
プが実施される。
第三象限では、全て鏡対称となる。内側境界R1からの
C0UNTの値を測定できるが、このためには別のカル
ノー図が必要である。
〈発明の効果〉 以上本発明の1実施例において詳述した如く、ラスター
走査用ビクセル・バスが任意に実時間で発生できるので
、バスを記憶する必要もなく、容易に連続ズームが可能
となる。
従って実用に洪して有益である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実−例を用いて構成したシステムの
ブロック図。第2A図はパスを決定するビクセルの平行
境界を示す図。第2B図はパスを決定するビクセルの放
射線境界を示す図。第2C図は放射線境界間の代表的な
ビクセルを貫通するパスと前記システムのいくつかのパ
ラメータを示す図。第3図は試験ビクセルP4が外側境
界の内側にあるとき本発明の1実施例で用いるカルノー
み第4図は試験ビクセルP4が外側境界の外側にあると
き本発明の1実施例で用いるカルノー図。第5〜第8図
はそれぞれの異る場合に対するパスのステップを本発明
の1実施例の装置がどのように決定するかを示す図。 2 : CO[JNT累積器; 3:マルチブレクサ;
4:レジスタ;  6,8:減算器; 7:ソース;c
i、PQ、PI3.P’、4:加算器:  11.M:
マルチブレクサ;PO2,P3′:回路:  C7g 
C2:比較器;D:判定ROM; F:フリップ1フロ
ップ;00’ + 01’ t 02’ t Oイ10
4’ :出力;  XA:XHAT累積器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 次の(イ)〜(ニ)より成り境界線間に存在する直交座
    標点を通るステップ・バイ・ステップのパスを発生する
    ラスターパス発生装置。 (イ)前記パス内における現直交座標点の位置を与える
    手段。 (ロ)前記現直交座標点に対して所定の位置に配置され
    た複数の試験直交座標点の各々が前記境界線間にあるか
    、一方の前記境界線の外側にあるか、あるいは他方の前
    記境界線の外側にあるかのそれぞれの指示を与える手段
    。 (ハ)前記パス内の前記ステップの前記現直交座標点に
    対し前記境界に関する方向を示す指示を与える手段。 (ニ)前記指示に応答し、前記試験直交座標点のどれが
    前記パス内の次の直交座標点であるかを指示する手段。
JP62048234A 1986-03-07 1987-03-03 ラスタ−パス発生装置 Expired - Fee Related JP2552849B2 (ja)

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