JPS62287435A - 光学式ヘツド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［ｌ？１−肴′３上の利用分野］ この発明は光学式情報記憶媒体への情報の記録／再生に
用いられる光学式ヘッド装置であって、トシツキングセ
ンサとして光デイスク上に複数個のスポットを集光する
、いわゆる３ビ一ム方式の光学式ヘッド装置に関するも
のである。

［従来の技術］ 第５図には従来の光学式ヘッド装置の構成が示されでい
る。図において、（１）はレーザ光源である゛ト導体レ
ーザ（以下ＬＤという）、（３）はＩ　Ｄの出射レーザ
光束（２）を回折し３つのビームに分離する回折格子、
（４）は光束を反射して集光レンズ（５）に入射させる
平板状ビームスプリッタであり、従来では回折格子（３
）とビームスプリッタ（４）にて回折分離手段を構成す
る。

（６）は集光レンズ（５）を透過した光束の集光点イ・
」近に置かれた光学式情報記憶媒体（以下光ディスクと
いう）、（７）は光ディスク（６）に記ｆｉｉｃ＞れた
情報であるピット、（８）はピットの列よりなるトラッ
クであり、例えばこのトラック（８）は光ディスク（６
）に幅約１μｍ、ピッチ１．６μｍでスパイラル状に刻
み込まれており、このトラック（８）に直径約１μｍの
光スポット（９）を追従させることにより、光ディスク
（６）に記憶されている情報を読取ることができる。

また、（１０）は光ディスク（６）によって反射され、
集光レンズ（５）及びビームスプリッタ（４）を透過し
た光束を受光して、光電変換する光検知器、（１２）、
（１３）は減算器、（１６）は加算器である。” 従来の光学式ヘッド装置は以上の構成から成り、以下に
その動作について説明する。

前記ＬＤ（１）を出射した光束（２）は回折格子（３）
によって回折され、ビームスプリッタ（４）の表面で反
射された後に、集光レンズ（５）よって光ディスク（６
）の情報面上に斜線で示した３つの光スポット（９ａ＞
、（９ｅ）、（９ｆ）が集光される。

この３つの光スポット（９ａ）、（９ｅ）。

（９ｆ）のそれぞれの中心を結ぶ線は、トラック（８）
の軌跡方向に対して、僅かに傾くように前配光学系装置
が配置されている。そして、光ディスク（６）に集光し
た光は情報面により反射され、集光レンズ（５）を再透
過した後に、ある角度をもって配置されたビームスプリ
ッタ（４）を透過Ｊる。従って、ビームスプリッタ（４
）から出射される光束は、公知のように非点収差、つま
り子牛光線、球欠光線に対して別々の焦線を形成する収
差が与えられ、この光束は光検知器（１０）に入射され
る。

また、光検知器（１０）はディスク上の集光スポットが
合焦状態にあるときに中心ビームすなわち０次回折光（
スポット（９ａ）に対応する）の反射光束が最少錯乱円
となる光軸方向位置に置かれている。そして、光検知器
（１０）は、第５図（ｂ）に示されるように、３ビーム
を６箇所で検知するようにしており、３ビームのうち中
央のビーム（０次光）は４分割された検知部（１０ａ＞
。

（１０ｂ）、（１０ｃ）、（１０ｄ）により、また両側
のビーム（±１次光）はそれぞれ独立した検知部（１０
ｅ）、（１０ｆ＞により受光される。

周知のように、両側の検知部（１０ｅ）。

（１０ｆ＞の出力を減算器（１３）によって差動演算す
ることにより、中央のスポット（９ａ）とトラック（８
）の位置ずれが検知でき、この検知信号はトラッキング
エラー信号として端子（１４）から出力される。従って
、このトラッキングエラー信号により、ここでは図示し
ないトラッキングアクチュエータが駆動制御され、スポ
ット（９ａ）がトラック（８）の中心に正しく位置する
ように補正される。

更に、中央の４分割検知部の出力は、対向する検知部（
１０ａ）及び（１０ｃ）と（１０ｂ）及び（１０ｄ）を
減算器（１２）に供給することにまり差動演算が行われ
、この信号はフォーカスエラー信号として出力端子（１
５）から取出されており、光デイスク上光スポットの焦
点ずれを検知し不図示のフォーカスアクチュエータによ
り焦点ずれが補正される。

この場合の焦点ずれ検出方法は非点収差法により行ねる
。すなわち、第５図（ｂ）に示されるように、光デイス
ク上のスポットが合焦状態（１１ａ）のときは最少錯乱
円となって、略円形状態となるが、ヘッド装置と光ディ
スク（６）の距離の変化により生ずる焦点ずれが起こる
と、光検知器（１０）上のスポットが破線で示されるよ
うに縦長及び横長の楕円形に変形する。従って、変形し
た楕円形を電気的に検出することにより焦点の位置ずれ
を検出することができる。

そして、４分割検知部（１０ａ）〜（１０ｂ）の出力を
加算器（１６）により加算した出力は、ヘッド装置の本
来の機能である記録／再生のための信号に用いられ、光
ディスク（６）からの再生化′／〕−は端子（１７）か
ら出力され不図示の処理回路にて情報の読取りが行われ
る。

［発明が解決、しようとする問題点］ 前述したように、従来の３ビ一ム方式の光学ヘッド装置
では、光ディスク（６）上に集光する３つの回折光のう
ち両側に位置する±１次光を受光でる光検知器（１０）
の差動出力によ°リドラッキングエラー信号を得ていた
が、この場合、この±１次光は０次光と同様にほぼ回折
限界の集光特性を有しており、第５図（Ｃ）に示される
ように、０次光のスポット（９ａ）に比べて±１次光の
スポット（９ｅ）、（９ｆ）がトラック（８）の上下に
微小母ずれてはいても、光ディスク（６）に記録された
情報をも再生するという問題があった。

づなわち、光検知器（１０）の検知部（１０ｅ）又は（
１０ｆ＞の出力は、光ディスク（６）上の±１次光のス
ポット（９ｅ）、（９ｆ）の間隔に対応する時間差があ
るが、それぞれが０次光のスポット（９ａ）の前後のデ
ィスク再生情報を含んでいる。

しかも、一般に±１次光のそれぞれの再生出力には相関
関係がないため、減算器（１３）の出力にも±１次光の
ディスク情報再生出力の成分が含まれる。従って、減算
器（１３）の端子（１４）の出力に含まれる上記再生出
力成分はトラッキングエラー信号に対するノイズ成分と
なり、特にＤＣ〜１０ＫＨｚ程度のトラッキングサーボ
帯域に混入する再生出力成分はトラッキングサーボを正
確に動作をさせる上での大きな障害要因となっていた。

そこで、従来では、トラッキングエラー信号への再生出
力の混入を軽減するため、３ビームのディスク情報トラ
ックに対する設定角度を変えてトラッキングエラー信号
が最大となる値からずらす方法が行われている。

この方法について第５図に基づいて説明する。

トラッキングエラー信号の出力は、スポット（９ｅ）、
（９ｆ）のトラック（８）と直交する方向へのずれ母が
トラック間隔の約１／２となる場合に最大となるが、通
常では端子（１４）の出力を入力するサーボ回路の負担
を軽減する意味で３ビームの回転位置をトラッキングエ
ラー信号の上記最大となる点に設定する。

ところが、このような３ビームの位置関係では、前述し
ように、端子（１４）の出力中に再生信号が大きく混入
するので、これを避けるために、±次光のスポット（９
ｅ）、（９ｆ＞のトラック（８）と直交する方向へのず
れ量が大きくなるよろに、つまりスポット（９ｅ）、（
９ｆ＞とトラック（８）の成す角度がより大ぎくなる方
向に３ビームの回転位置をずらして設定している。

従って、±１次光のスポット（９ｅ）、（９ｆ）はトラ
ッキングエラー信号の最大点設定の場合と比較して、よ
りトラック間の部分に重なる面積が多くなり、これによ
りトラッキングエラー信号への再生信号の混入が減少す
る。

しかしながら、このような方法では、トラッキングエラ
ー信号検出感度が減少するという問題があり、また３ビ
ーム設定角変動に対するトラッキングエラー信号の検出
感度が大きく変化するため、設定角度誤差の許容値が狭
くなるという問題があった。

従って、３ビ一ム方式の光学式ヘッド装置にあて、トラ
ッキングエラー信号の再生信＠混入を軽減することので
きる有効な装置の実現が要請されている。

［発明の目的］ この発明は、上記問題点を解決するために為されたもの
で、第１に、±１次回折光によるディスク情報の再生を
極めて小さくすると同時に、３ビームのトラックに対す
る設定角をトラッキングエラー信号出力の最大点に設定
して０次光とトラックとの位置ずれを良好に検出できる
光学式ヘッド装置を得ることを目的とする。

第２に、本発明は従来のように１個の独立した回折格子
を使用せず、光学系の部品点数の削減及び低コスト化を
図ることのできる光学式ヘッド装置を得ることを目的と
する。

［問題点を解決するための手段］ この発明にかかる光学式ヘッド装置は、回折分画手段が
均一周期の直線縞軌跡から成る回折格子を第１の面に形
成した光束分離素子を含み、情報記憶媒体上における分
離光束の集光スポットが前記第１の面の子午面内近傍に
存在するように光束分離素子を配置する。そして、情報
記憶媒体上の０次回折光が合焦状態にあるときに±１次
光が情報記憶媒体上の略トラック方向に沿って存在する
焦Ｘ≦１スポットとして集光されるように構成すること
を特徴とする。

従って、直線等ピツチの回折格子を有する光束分離素子
は光源からのレーザ光束を反射させて０次、±１次の回
折光を発生させ、また回折格子への入射角がＯ°以外の
角度となっているので、集光される光デイスク上の３ビ
ームが回折格子のほぼ子午面（以下メリジオナル面とい
う）内に存在Ｊることになる。

また、本発明の光束分離素子は、従来装置にお【ノる平
板ビームスプリッタの機能、つまり光源からのレーザ光
とを３つの回折光ビームに分離する鋤さと、ディスク反
射光に対して非点収差を付与ｌる機能を有するものであ
る。

［竹田］ この発明における光学式ヘッド装置では、光源から出射
される光束が光束分離素子の回折格子に斜め入射される
と、この回折格子によって３つのビームが回折形成され
この３ビームは当該回折格子のメリジオナル面内に直線
状に並ぶようにスポラ１〜される。そして、格子傾きが
ほぼ格子の縞に沿った軸を中心に回転するように与えら
れるために、光デイスク上に形成された±１次光に大き
な非点収差が発生する。

しかも、光デイスク上の０次光が最小錯乱円とし°（の
合焦状態にあるときに、±１次光はトラック１Ｊ向に沿
って存在する焦線（以下サジッタル焦線という）スポッ
トとして集光する。

従って、±１次光に対するディスク情報再生出力の混入
が大幅に減少し、焦線長ざをディスク記憶ｔ“」報の最
大周期よりも長くした場合には、原理的にトラッキング
エラー信号への再生信号混入が完全になくなる。

ぞして、この光束分離素子は従来の平板ビームスプリッ
タの両者の役割をするので、従来の装置で用いられてい
る独立した１個の回折格子が不要となる。

［実施例］ 以下、この発明の１実施例を図に基づいて説明する。

第１図には本発明にかかる光学式ヘッド装置がり、され
ているが、従来装置（第５図）との相違点は、回折分離
手段としての回折格子（３）及び平板ビームスプリッタ
（４）が本発明における光束分離素子（４０）にとって
代り、独立した回折格子（３）がなくなったことである
。

前記光束分離素子（４０）の回折格子（３０ａ）は、第
１の面（３０）において２方向に直線状に走る縞からな
り、かつその格子軌跡が一定周期ｐをもつ等ピッチ格子
となっている。そして、この゛光束分離素子（４０）は
ＬＤ（１）からの光束に対して４５°の角度をもって配
置されている。従って、このような光束分離素子（４０
）の第１の面（３０）に対し、ＬＤ（１）の出射光の中
心光線（１点鎖線で示す）が斜め入射して反射回折され
ると、回折された０次光、±１次光が光ディスク（６）
のピット（７）上に集光されることになる。

この場合、第１図のｘｙ平面が平板光学素子である光束
分離素子（４０）のメリジオナル平面に相当する。

また、詳細は後述するが、等ピッチの回折格子（３０ａ
＞に発散光束（又は収束光束）が入射すると、±１次回
折光には非点収差が発生し、０次光集光点の位置は±１
次光のサジツタル焦線に相当する。このため、光デイス
ク上の±１次光ススポ！〜（９ｅ）、（９ｆ＞は、図に
示されるように、ｉ・シック（８）方向に沿って存在す
る焦線スポットどなる。

そして、前記回折光である３つのビームのスポットはト
ラック（８）に対して微小角傾けて設定されており、こ
れは回折格子（３０ａ）の縞軌跡の方向を図の２の方向
から微小角ずらすことにより、またＬＤ（１）、光束分
離素子（４０）、集光レンズ（５）からなる光学系をｙ
軸回りに微小角回転させることにより、実現することが
できる。

このようにして、０次光のスポット（９ａ）をピッ１〜
（７）の中心位置に、また±１次光のスポット（９ｅ）
、（９ｆ＞をその面積の１７２・がトラック間隔で占め
る状態に設定することができる。

なお、本発明における他の構成部分は第５図で説明した
従来例と同様であり、これらの説明は省餡する。

次に、上記光束分離素子（４０）の第１面（３０）に形
成された回折格子（３０ａ＞の作用を第２図及び第３図
に基づいて説明する。

第２図は、斜め入射型の回折格子（３０ａ）のニド１次
光について光線追跡により回折するためのモデル図であ
る。図において、光源であるＬＤ（１）により回折格子
（３０ａ）に至る主光線長を１２回折格子ピッチをｐ、
格子傾き角（すなわち主光線入射角）をθとし、格子の
縞方向は紙面に垂直方向とする。また、図中の破線が±
１次回折光を表しており、便宜上、透過回折であるかの
、ように図示しているが、反射回折であっても同じ結果
となる。

ここで、図のように±１次回折光を光線の進行方向とは
逆方向（図の左側）にたどると、光源と同一面に±１次
の（仮想）集光点が形成されているのが理解される。

第３図には、上記光線追跡によってシュミレートした光
源面の±１次光束のスポットダイアグラムが示され、こ
のシュミレート計算の際のパラメータ条件は、Ｊｌ　＝
６ｍｍ、　ｐ　＝６６．２μｍ、θ＝４５６とし、また
光源を出射する光束のＮＡ（開口数）は０．０９とする
。

第３図によれば、＋１次光は約３５μｍ、−１次光は約
３３μｍの焦線となっていることがわかる。この場合、
第２図におけるＺ軸方向（サジッタル方向）の光線挙動
は回折格子（３０ａ）の影響を受けないので、上記±１
次光の焦線はサジッタル焦線となる。

このように、光源面で仮想的に観測される±１次光がサ
ジッタル焦線となるので、光源と共役な面となるディス
ク情報面における±１次光のスポット（９ｅ）、（９ｆ
）はサジッタル焦線となり、焦線方向がほぼトラック（
８）の方向に一致することになる。

そして、本発明では、前記焦線長ざが重要な意味を有し
ており、この焦線長さについて具体的な数値をあてはめ
て説明する。

集光レンズ（５）による光ディスク（６）への集光光束
のＮＡ＠０．４５（ヘッド装置の代表的な値である）と
すると、前記光源側ＮＡが０．０９であるから、光デイ
スク上の焦線長さは±１次光に対して３５ｘ　Ｏ，０９
１０，４５≠７μｍ、１次光に対して３３ＸＯ，０９１
０，４５牛６．６　μｍとなる。例えばＣＤ　（ｌンパ
クトディスク）の規格によると、ディスク情報の最長周
期Ｌ（すなわち最小ピット、最長のランドを組合せた長
さ）は６．６μｍである。そして、再生スポットのトラ
ック方向長さがＬよりも大ぎい場合には、原理的に再生
信号が得られない。

従って、上記±１次光はいずれもディスク上焦線長さが
６．６μｍ以上であるから、±１次光には再生信号の混
入が原理的になくなることになる。

もちろん、前記焦線長さによらなくても、本発明によれ
ば、焦線スポットを形成することにより、±１次光への
再生信号の混入が低減されることになり、必ずしも焦線
長ざをＬよりも長くしなければならないというわけでは
ない。

実施例では、再生信号の混入を可能な限り防止するため
、焦線長さをディスク記録信号の前記最長周期りより大
きくしており、次にこの焦線長設定について説明する。

　　　　− まず、光源側光線に発生する非点隔差の演算を第４図に
基づいて説明する。

第４図では、回折格子（３０ａ）に収束半角αで図に示
されるＢ点に収束入射する光線を実線で示し、−次回掛
売を破線で示している。ここで、Ａ点は０次光主光線の
入射点であり、回折角をφ１．１次光のメリジオナル集
光点をＢ−としている。そうすると、回折角φ１は格子
ピッチｐ。

入側角θ、光の波長λにより次式で表される。

λ すると、Ａ点より１次光のサジッタル集光点の距離はｌ
であるから、±１次光に発生する非点隔差Δ１は次式で
表される。

Δ１＝　　Ｊｌｉｍ　　（ｊ！　　ｊ！−）α→０ ｃｏｓ（θ±φ１） ＝ｊ！　　（１−） ＣＯ３θ±φ１　、Ｓ！ｎθ　　　−（２＞（複合同順
、正符号が＋１次光、負符号が一１次光）そして、光源
側開口数Ｎａ１は Ｎａ１＝ｓｉｎ　ｒｘ　　　　　　　　　　　・（３）
となるので、前記（３）式より光源面での焦線長Ｓ１は
、 ５１＝２　Ｘ　ＩΔ１　ｌ　ｘｔａｎ（ｓｉｎ　−’　
（Ｎａｌ）　）・・・（４） 一方、第１図の光学系において、集光レンズ（５）によ
って光源側の開口数Ｎａｌがディスク側の開口数Ｎａ２
に変換されると、前記（２＞、（４）式より光ディスク
（６）上の±１次光焦線長Ｓ２が次式より求められる。

Ｎａｌ Ｓ２＝８１ ａ２ ｃｏｓ（θ±φ１） ＝２Ｊ！　＋１−　　　　　　　　　　１　　・ｃｏｓ
θ±φＩ　Ｓ！ｎθ Ｎａ２　　　　　　　　　　・・・（５）従って、ディ
スク上点線長Ｓ２を記録信号の最長周期りより長くする
には前記（１）、（５）式より演算される焦線長Ｓ２に
対し、 Ｓ２≧し　　　　　　　　　　　　・・・（６）を満た
すように、光学ヘッドの構成パラメータであるλ、ｐ、
θ、　Ｊｌ　、　Ｎａｌ、　Ｎａ２を選定すれば良いこ
とになる。

例えば、第２図のモデルにて計算したパラメータを用い
て演算すれば、前記（１）式より、回折角φ１＝０．０
１６７、前記（５）式より＋１次光に対し３２　＝７．
２　μｍ　、−１次光に対し５２＝７．３μｍとなり、
これによれば、ＣＤの最長周期し＝６．６μｍに対し前
記（６）式を満足しており、原理的には、トラッキング
エラー信号への再生信号浪人が完全に除去できる。

このように、実施例で魅±１次光の焦線長を最長周期よ
り長くすることにより良好なトラッキングエラー信号を
得ることができるが、光ディスク（６）からの反射光は
集光レンズ（５）を再透過し、更に光束分離素子（４）
を透過する際に、非点収差が与えられて検出器（１０）
に入射する。

従って、従来例（第５図）と同様に、検出器（１０）に
入射された０次光、±１次光の反射光によりトラッキン
グエラー信号、フォーカスエラー信号及び再生伯母が得
られ、トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信
号によりヘッド装置を光ディスク（６）に対して正確に
位置決めした状態で、光ディスク（６）に記録された情
報を良好に読出すことができる。

なお、実施例では、回折格子が形成された第１の面（３
０）へのレーザ光の入射角を４５°として説明したが、
これ以外の角度でも前記（５）式に従って、光ディスク
（６）上に±１次光の焦線が形成でき、４５°以外の角
度でも本発明の効果を得ることができる。

また、光束分離素子（４０）は平行平板として説明した
が、光ディスク（６）からの反射光に対して非点収差付
与の効果を高めるためにくさび状に形成しても良い。

更に、実施例における焦線長の設定をＣＤを例にとって
説明したが、他の光学式記憶情報媒体、例えばビデオデ
ィスク等においても同様に本発明が適用できるし、また
再生専用ヘッド以外の記録用又は記録／再生用ヘッドに
おいても３ビーム法でトラッキングエラー検知を行って
おり、これらの装置においても、本発明が有効に適用可
能である。

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば、回折分離手段として
、第１の面に回折格子を形成した光束分離素子を用い、
かつ回折形成される３つの光スポットが光束分離素子の
第１面の子午面内近傍に存在するように構成されている
ので、光デイスク上の±１次光スポットを略トラック方
向に沿って存在する焦線スポットとして集光できること
になる。

この結果、トラッキングエラー信号へのディスク記録情
報の混入が低減され、しかも、トラッキングエラー信号
検出感度の最大点にトラックに対する±１次光のスポッ
ト位置を設定できるという利点を有する。

そして、焦線スポットの長さを記録信号の最長周期より
長くすることにより、ディスク記録情報のトラッキング
エラー信号への混入を完全に防止することができる。

また、従来のように、平板ビームスプリッタと別体とな
った回折格子を使用する必要がないので、光学部品点数
を低減でき、低コストの光学ヘッド装置を得ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる好適な実施例を示す説明図であ
り、第１図（ａ）は基本構成図、第１図（ｂ）は第１図
（ａ）の光ディスク（６）の平面図、第２図は光線追跡
により斜め入射型回折格子の勤ぎを回折するためのモデ
ル図、第３図は斜め入射型回折格子を使用した場合の光
源面における±１次光のスポットダイヤグラム、第４図
は斜め入射型回折格子における非点隔差を計算するため
のモデル図、第５図は従来の光学式ヘッド装置の構成図
であり、第５図（ａ）は基本構成図、第５図（ｂ）は光
検知器の構成図、第５図（Ｃ）は光デイスク面における
３つのスポットの設定状態を示す説明図である。 図において、（１）はＬＤ、（５）は集光レンズ、（６
）は光ディスク、（８）はトラック、（１０）は光検知
器、（３０〉は第１の面、（３０ａ）は回折格子、（３
１）は第２の面、（４０）は光束分離素子である。 図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. （１）レーザ光を出射する光源と、該光源から出射する
   光束を０次回折光及び±１次回折光の複数本の光束に回
   折分離しこの回折光束を任意の方向に分光する回折分離
   手段と、該回折分離手段によって分離された光束を光学
   式情報記憶媒体上に複数個の光スポットとして集光する
   集光レンズ手段と、前記光学式情報記憶媒体の情報面に
   よつて反射され前記集光レンズ手段及び回折分離手段を
   再透過した光束を受光して光電変換する光検知器と、を
   有し、前記光検知器上の０次回折光の変形によって０次
   回折光スポットの焦点ずれを検知すると同時に０次回折
   光により光学式情報記憶媒体に蓄えられた情報を再生し
   、±１次回折光により前記光学式情報記憶媒体上の情報
   トラックと０次回折光スポットとの面内ずれを検出する
   光学式ヘッド装置において、前記回折分離手段は、均一
   周期の直線縞軌跡から成る回折格子が第１の面に形成さ
   れた光束分離素子を含み、分離された光束の前記情報記
   憶媒体上光スポットが前記第１の面の子午面内近傍に存
   在するように前記回折分離素子を配置し、前記情報記憶
   媒体面上の０次回折光が合焦状態にあるときに、±１次
   光が情報記憶媒体面上の略トラック方向に沿つて存在す
   る焦線スポットとして集光されるように構成したことを
   特徴とする光学式ヘッド装置。
2. （２）ヘッド装置の構成パラメータとして、λ；光源の
   レーザ波長 ｐ；回折格子の周期 θ；光源出射光主光線の前記第１の面への入射角 ｌ；半導体レーザから前記第１の面への主光線に沿った
   長さ Ｎａ１；集光レンズの半導体レーザ側のＮＡＮａ２；集
   光レンズの情報記憶媒体側のＮＡφ＿１；半導体レーザ
   の出射主光線の１次回折角が与えられた場合、 ▲数式、化学式、表等があります▼ （複合同順） で表された情報面上の±１次光焦線長Ｓ＿２が前記情報
   記憶媒体に記録された信号の最長周期以上に設定されて
   いることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学
   式ヘッド装置。
3. （３）前記光学式情報記憶媒体によつて反射された光束
   が、前記光束分離素子の第一の面及び第二の面を透過す
   ることによつて非点収差が付与され、０次光による焦点
   ずれ検出のための変形が与えられていることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の光学式ヘッド装置。
4. （４）前記光束分離素子の第一の面と第二の面が平行に
   形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第３項
   記載の光学式ヘッド装置。
5. （５）前記光束分離素子の第一の面と第二の面がくさび
   状に形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
   ３項記載の光学式ヘッド装置。
6. （６）前記光検知器の０次光を受光する部分が４分割さ
   れ、非点収差を与えられた光束の子午焦線と球欠焦線が
   ４分割検知器の対向する２個の検知部分で各々受光され
   ることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学式
   ヘッド装置。
7. （７）前記光学式情報記憶媒体上に集光された０次光が
   合焦状態にあるときに、非点収差を付与された０次光の
   最少錯乱円の位置に光検知器が配置されていることを特
   徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学式ヘッド装置
   。
8. （８）前記情報記憶媒体上に集光された±１次光を各々
   受光する光検知器出力の差動演算により、記憶媒体上の
   情報トラックと０次光スポットとの位置ずれを検出する
   特許請求の範囲第１項又は第２項の装置に記載の光学式
   ヘッド装置。