JPH0221431A - 光ヘッド信号検知方法と光検知器 - Google Patents
光ヘッド信号検知方法と光検知器Info
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- JPH0221431A JPH0221431A JP17039888A JP17039888A JPH0221431A JP H0221431 A JPH0221431 A JP H0221431A JP 17039888 A JP17039888 A JP 17039888A JP 17039888 A JP17039888 A JP 17039888A JP H0221431 A JPH0221431 A JP H0221431A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O thiamine pyrophosphate Chemical compound CC1=C(CCOP(O)(=O)OP(O)(O)=O)SC=[N+]1CC1=CN=C(C)N=C1N AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 2
- 240000008168 Ficus benjamina Species 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要]
本発明は光磁気ディスクに対する光磁気ヘッドの信号検
知方法と光検知器に関し、 特にプリグループを用いた光磁気ディスクにおいて、ト
ラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を的確に
検知できる光磁気ヘッド信号の検知方法と光検知器を提
供することを目的とし、光磁気ディスクに照射したレー
ザ光についてその反射光を偏光ビームスプリッタで異な
る方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列
させた第1光検知器と第2検知器とにより検知する光磁
気ヘッド信号検知方法において、 光磁気ディスクからの反射光に対し信号検知用回折格子
を挿入し、0次透過光と、回折格子によって発生した±
1次回折光とを各光検知器に印加し、そのI8@を演算
回路において演算することにより光磁気信号・トラッキ
ングエラー信号・フォーカシングエラー信号の検知を行
うことで構成する。
知方法と光検知器に関し、 特にプリグループを用いた光磁気ディスクにおいて、ト
ラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を的確に
検知できる光磁気ヘッド信号の検知方法と光検知器を提
供することを目的とし、光磁気ディスクに照射したレー
ザ光についてその反射光を偏光ビームスプリッタで異な
る方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列
させた第1光検知器と第2検知器とにより検知する光磁
気ヘッド信号検知方法において、 光磁気ディスクからの反射光に対し信号検知用回折格子
を挿入し、0次透過光と、回折格子によって発生した±
1次回折光とを各光検知器に印加し、そのI8@を演算
回路において演算することにより光磁気信号・トラッキ
ングエラー信号・フォーカシングエラー信号の検知を行
うことで構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は光磁気ディスクに対する光磁気ヘッドの信号検
知方法と光検知器に関する。
知方法と光検知器に関する。
光磁気ディスクにおいてプリグループ(案内溝)を有す
る形式、或いはトラッキング用ピントを有する形式のも
のがある。トラッキング用ビットを有するものを使用す
るときは、光磁気信号・トラッキングエラー・フォーカ
シングエラーを検出することが比較的容易である。しか
し現在主流の光磁気ディスクはビットがなくプリグルー
プを有するものであり、エラーのない安定な動作の得ら
れる信号検知法を開発することが要望された。
る形式、或いはトラッキング用ピントを有する形式のも
のがある。トラッキング用ビットを有するものを使用す
るときは、光磁気信号・トラッキングエラー・フォーカ
シングエラーを検出することが比較的容易である。しか
し現在主流の光磁気ディスクはビットがなくプリグルー
プを有するものであり、エラーのない安定な動作の得ら
れる信号検知法を開発することが要望された。
[従来の技術]
大容量のランダムアクセス型記憶装置として光ディスク
装置或いは書換え可能な光磁気ディスクが使用されるよ
うになった。回転する光デイスク記録媒体の所定のトラ
ンクに対し、光ヘッドによるi戒小レーザスポットを当
てて、データの記録・再生などを行う。そのとき、所定
のレーザスポットは常にトラック上に所定の大きさでな
ければならないが、レーザ光を光ディスクに照射すると
き、ディスクの面がぶれたり、傾くと、レーザ光に対し
ディスク面が焦点上にないこととなる。そのためディス
ク面の位置検知を行ってフォーカシングエラーを補正す
る必要がある。その手段として従来rC−3SD法(C
omplementary 5pot 5ize De
−tection) Jがある。C−3SDフオーカシ
ングエラー検知法による光磁気ヘッドの構成を第8図に
示す。第8図において、1は半導体レーザ、2はコリメ
ータレンズ、3はビームスプリッタBS。
装置或いは書換え可能な光磁気ディスクが使用されるよ
うになった。回転する光デイスク記録媒体の所定のトラ
ンクに対し、光ヘッドによるi戒小レーザスポットを当
てて、データの記録・再生などを行う。そのとき、所定
のレーザスポットは常にトラック上に所定の大きさでな
ければならないが、レーザ光を光ディスクに照射すると
き、ディスクの面がぶれたり、傾くと、レーザ光に対し
ディスク面が焦点上にないこととなる。そのためディス
ク面の位置検知を行ってフォーカシングエラーを補正す
る必要がある。その手段として従来rC−3SD法(C
omplementary 5pot 5ize De
−tection) Jがある。C−3SDフオーカシ
ングエラー検知法による光磁気ヘッドの構成を第8図に
示す。第8図において、1は半導体レーザ、2はコリメ
ータレンズ、3はビームスプリッタBS。
4は対物レンズ、5は光磁気ディスク、6は集束レンズ
、7はλ/2板、8は偏光ビームスプリフタPBS、9
は第1光検知器、10は第2光検知器を示す。半導体レ
ーザ1からの楕円発散球面波をコリメータレンズ2で平
行波に変換し、ビームスプリフタと一体化されたプリズ
ムで真円補正しり後、ビームスプリッタ3を介して対物
レンズ4で光磁気ディスク5上の1点に集束させる。光
磁気ディスクからの情報信号光は対物レンズ4で平行波
に変換した後、ビームスプリッタ3で分離し集束レンズ
6で集光する。信号検知は、集光した後にλ/2板7を
介して一部は透過し、他の一部は反射させそれぞれを光
検知器9.10に導いて行う。λ/2の設定は情報が含
まれていない時に2つの検知信号の差が無いようにする
。信号情報が含まれている時には、前述の信号間のバラ
ンスが崩れるため書込まれた信号を検知することができ
る。フォーカシングエラー検知法はC−5SD法を用い
、光検知器9.lOは3分割のものを2つ使用し、その
1つは結像する前、他の1つは結像した後、それぞれビ
ーム径が同じになる位置に分割線を跨がらせて配置する
。第9図に示すよ・うに、光検知器が各々分割されてい
て、第1光検知器9の分割検知素子a、c、eの和信号
、及び第2光検知器10の分割検知素子d、f、bの和
18号との差を取り、その正負の値で光磁気ディスクの
遠近を検出する。光磁気ディスクの而ふれが生じた場合
にはスポットが点線で示す位置に移動するが、2つのス
ポットの移動距離は同じであるため、フォーカシングエ
ラーは無い。
、7はλ/2板、8は偏光ビームスプリフタPBS、9
は第1光検知器、10は第2光検知器を示す。半導体レ
ーザ1からの楕円発散球面波をコリメータレンズ2で平
行波に変換し、ビームスプリフタと一体化されたプリズ
ムで真円補正しり後、ビームスプリッタ3を介して対物
レンズ4で光磁気ディスク5上の1点に集束させる。光
磁気ディスクからの情報信号光は対物レンズ4で平行波
に変換した後、ビームスプリッタ3で分離し集束レンズ
6で集光する。信号検知は、集光した後にλ/2板7を
介して一部は透過し、他の一部は反射させそれぞれを光
検知器9.10に導いて行う。λ/2の設定は情報が含
まれていない時に2つの検知信号の差が無いようにする
。信号情報が含まれている時には、前述の信号間のバラ
ンスが崩れるため書込まれた信号を検知することができ
る。フォーカシングエラー検知法はC−5SD法を用い
、光検知器9.lOは3分割のものを2つ使用し、その
1つは結像する前、他の1つは結像した後、それぞれビ
ーム径が同じになる位置に分割線を跨がらせて配置する
。第9図に示すよ・うに、光検知器が各々分割されてい
て、第1光検知器9の分割検知素子a、c、eの和信号
、及び第2光検知器10の分割検知素子d、f、bの和
18号との差を取り、その正負の値で光磁気ディスクの
遠近を検出する。光磁気ディスクの而ふれが生じた場合
にはスポットが点線で示す位置に移動するが、2つのス
ポットの移動距離は同じであるため、フォーカシングエ
ラーは無い。
しかし、このフォーカス方法を行う時のトラック検知法
はサンプルサーボ方式のみ使うことができる。サンプル
サーボを行うためには光磁気ディスクにトラッキング用
のビットが必要となる。現在主流となっている光磁気デ
ィスクはビットがなくプリグループを用いたものであり
、プリグループを用いた光磁気ディスクで前記C,−S
S Dフォーカスエラー検知法と組合せる安定したト
ラッキング法が必要となっていた。
はサンプルサーボ方式のみ使うことができる。サンプル
サーボを行うためには光磁気ディスクにトラッキング用
のビットが必要となる。現在主流となっている光磁気デ
ィスクはビットがなくプリグループを用いたものであり
、プリグループを用いた光磁気ディスクで前記C,−S
S Dフォーカスエラー検知法と組合せる安定したト
ラッキング法が必要となっていた。
[発明が解決しようとする課題]
光磁気ディスクのフォーカスエラー検知は、C−5SD
法を用いることにより安定するが・ディスクにトラッキ
ング用ピットを必要とする。主流の光磁気ディスクは、
ビットが無いプリグループを用いたものであるため、プ
リグループを有したディスクで、C−5SD法と組合せ
安定したトラッキング法は難しかった。
法を用いることにより安定するが・ディスクにトラッキ
ング用ピットを必要とする。主流の光磁気ディスクは、
ビットが無いプリグループを用いたものであるため、プ
リグループを有したディスクで、C−5SD法と組合せ
安定したトラッキング法は難しかった。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、プリグループを用
いた光磁気ディスクにおいて、トラッキングエラー・フ
ォーカシングエラー信号を的確に検知できる光磁気ヘッ
ド信号の検知方法と光検知器を提供することにある。
いた光磁気ディスクにおいて、トラッキングエラー・フ
ォーカシングエラー信号を的確に検知できる光磁気ヘッ
ド信号の検知方法と光検知器を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
第1図は本発明の原理構成を示す図である。第1図にお
いて、1は半導体レーザ、3はビームスプリフタ、54
ま光磁気ディスク、8は偏光ビームスプリッタ、9は第
1光検知器、10は第2光検知器、11は信号検知用回
折格子、12は演算回路を示す。
いて、1は半導体レーザ、3はビームスプリフタ、54
ま光磁気ディスク、8は偏光ビームスプリッタ、9は第
1光検知器、10は第2光検知器、11は信号検知用回
折格子、12は演算回路を示す。
光磁気ディスク5に照射したレーザ1先についてその反
射光を偏光ビームスプリッタ8で互いに異なる方向に分
けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列させた第1
検知器9と、第2検知器10とにより検知する光磁気ヘ
ッド信号検知方法において、本発明は下記の構成として
いる。即ち、光磁気ディスク5からの反射光に対し信号
検知用回折格子11を挿入し、0次透過光と、回折格子
によって発生した±1次回折光とを各光検知器に印加し
、その出力を演算回路12において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うことである。
射光を偏光ビームスプリッタ8で互いに異なる方向に分
けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列させた第1
検知器9と、第2検知器10とにより検知する光磁気ヘ
ッド信号検知方法において、本発明は下記の構成として
いる。即ち、光磁気ディスク5からの反射光に対し信号
検知用回折格子11を挿入し、0次透過光と、回折格子
によって発生した±1次回折光とを各光検知器に印加し
、その出力を演算回路12において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うことである。
[作用]
第1図に示す構成において、半導体レーザ1からのレー
ザ光は光磁気ディスク5に照射され、反射光はビームス
プリッタ3で方向を変え、回折格子11を通る。そのた
め偏光ビームスプリッタ8を通って第1・第2光検知器
9,10の両方向へ分かれた光には、0次光と+1次光
と、更に他の回折光が含まれる。第1光検知器9、第2
光検知器IOはそぞれ複数個の検知素子を並列させてい
ルカラ、前記0次光と+1次光とについてのそれら素子
からの出力を演算回路12により演算し、情報信号と、
トラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を算出
して、各エラー信号によりディスク5に対する所定の補
正を行う。
ザ光は光磁気ディスク5に照射され、反射光はビームス
プリッタ3で方向を変え、回折格子11を通る。そのた
め偏光ビームスプリッタ8を通って第1・第2光検知器
9,10の両方向へ分かれた光には、0次光と+1次光
と、更に他の回折光が含まれる。第1光検知器9、第2
光検知器IOはそぞれ複数個の検知素子を並列させてい
ルカラ、前記0次光と+1次光とについてのそれら素子
からの出力を演算回路12により演算し、情報信号と、
トラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を算出
して、各エラー信号によりディスク5に対する所定の補
正を行う。
し実施例]
第2図は本発明の第1実施例の構成を示す図であって、
第1・第2光検知器はそれぞれ6分割された場合であり
、その構成は各検知器の側方に示しである。第2図にお
ける半導体レーザ1からのレーザ光が光磁気ディスク5
に照射され、反射してビームスプリッタ3と偏光ビーム
スプリッタ8を介して各光検知器9,10に到達する状
況は第1図と同様である。第2図において、光磁気信号
の検知は0次透過光により、トラッキングエラーの検知
は一1次光により、フォーカシングエラーの検知は+1
次光によりそれぞれ行うため、第1光検知器9は偏光ビ
ームスプリッタ8を経た光が結像する前に入射するよう
な位置に配置され、第2光検知器10は結像した後に入
射するような位置に配置する。更に第1光検知器9はa
1〜f1の各素子に6分割され、第2光検知器10はa
2〜f2の各素子に6分割されていて、各素子は互いに
平行する分割線によって分割され、分割線の方向はディ
スクのトランクと同方向とする。且つ検知素子の一部は
互いに接触していて、a、bのグループと、Cのグルー
プと、d、e、fのグループとで構成される。ディスク
の情報信号は検知素子CI、、C2の差信号により検知
する。フォーカシングエラーを検知するために+1次光
を利用し、検知素子d1〜fid2〜f2により、公知
のC−5SD法(Complementary−3pa
む一5ize−DeLection法)で演算する。第
3図はC−3SD法によるフォーカシングエラー検知を
説明する図である。即ち、各検知素子からの出力につき
、それらの和信号と、差信号とを演算する。演算式は下
記のとおりである。エラー信号FE −(c2/cl −(dl十f 1)+e2)G (c
2/cl ・ (el)+d2−1−f 2)ここでG
は比例常数である。演算回路は周知の回路を3vl使用
して構成できる。この演算式の結果の正負により光磁気
ディスクの遠近を検知する。
第1・第2光検知器はそれぞれ6分割された場合であり
、その構成は各検知器の側方に示しである。第2図にお
ける半導体レーザ1からのレーザ光が光磁気ディスク5
に照射され、反射してビームスプリッタ3と偏光ビーム
スプリッタ8を介して各光検知器9,10に到達する状
況は第1図と同様である。第2図において、光磁気信号
の検知は0次透過光により、トラッキングエラーの検知
は一1次光により、フォーカシングエラーの検知は+1
次光によりそれぞれ行うため、第1光検知器9は偏光ビ
ームスプリッタ8を経た光が結像する前に入射するよう
な位置に配置され、第2光検知器10は結像した後に入
射するような位置に配置する。更に第1光検知器9はa
1〜f1の各素子に6分割され、第2光検知器10はa
2〜f2の各素子に6分割されていて、各素子は互いに
平行する分割線によって分割され、分割線の方向はディ
スクのトランクと同方向とする。且つ検知素子の一部は
互いに接触していて、a、bのグループと、Cのグルー
プと、d、e、fのグループとで構成される。ディスク
の情報信号は検知素子CI、、C2の差信号により検知
する。フォーカシングエラーを検知するために+1次光
を利用し、検知素子d1〜fid2〜f2により、公知
のC−5SD法(Complementary−3pa
む一5ize−DeLection法)で演算する。第
3図はC−3SD法によるフォーカシングエラー検知を
説明する図である。即ち、各検知素子からの出力につき
、それらの和信号と、差信号とを演算する。演算式は下
記のとおりである。エラー信号FE −(c2/cl −(dl十f 1)+e2)G (c
2/cl ・ (el)+d2−1−f 2)ここでG
は比例常数である。演算回路は周知の回路を3vl使用
して構成できる。この演算式の結果の正負により光磁気
ディスクの遠近を検知する。
次にトラッキングエラーは公知のTPP法(Twin−
Push−Pull法)により検知する。第4図はTP
P法による検知を説明する図である。このときは検知素
子al、b2の和信号と、検知素子a2b1の和信号と
の差を演算する。演算式は下記のとおりである。エラー
信号TE ==(C2/C1・ (a1+b2) G (C1/C1・ (bl)+a21第5図はこのと
きディスクからの反射ビーム光が角度θだけビームシフ
トしたとき、各光検知器9.10上のビーム移動を示す
図である。このとき各光検知器9.10上において、P
3.P4と示すように略同程度のシフト量であるため、
θが比較的小さいときは、ビームシフトによる影響は相
殺される。
Push−Pull法)により検知する。第4図はTP
P法による検知を説明する図である。このときは検知素
子al、b2の和信号と、検知素子a2b1の和信号と
の差を演算する。演算式は下記のとおりである。エラー
信号TE ==(C2/C1・ (a1+b2) G (C1/C1・ (bl)+a21第5図はこのと
きディスクからの反射ビーム光が角度θだけビームシフ
トしたとき、各光検知器9.10上のビーム移動を示す
図である。このとき各光検知器9.10上において、P
3.P4と示すように略同程度のシフト量であるため、
θが比較的小さいときは、ビームシフトによる影響は相
殺される。
第6図は第1図における回折格子11についての具体的
構成例を示す図である0表面凹凸型・体積型などの回折
格子を使用することができ、ビームスプリッタ3に対し
接着すること、或いは空間的に配置する。回折格子の格
子間隔は、通常のコンパクトディスクに使用される回折
格子と同様の120μm〜30μm程度である。
構成例を示す図である0表面凹凸型・体積型などの回折
格子を使用することができ、ビームスプリッタ3に対し
接着すること、或いは空間的に配置する。回折格子の格
子間隔は、通常のコンパクトディスクに使用される回折
格子と同様の120μm〜30μm程度である。
次に第7図は、光検知器9.10として5分割された検
知素子を使用する第2実施例の構成を、第2図と対応し
て示す図である。第7図においては検知素子がa1〜e
l、a2〜e2となっている以外、他のビームスプリッ
タなどの構成は第2図と同様である。回折格子によって
得られた±1次の回折光の光量は0次透過光を10とす
ると、1程度に小さな値となる。このとき、ディスクの
情報信号は0次透過光により、フォーカシングエラーの
検知も0次光により、トラッキングエラーの検知は+1
次光により行うため、0次透過光はc、d、eの検知素
子グループに印加されるように配置する。したがって検
知素子はa、bで構成する他のグループを有し、この場
合+1次光が印加される。光検知器9,10が偏光ビー
ムスプリッタ8の回折光に対し結像する前後の関係は、
第2図と同様である。光磁気ディスク5の情報信号は演
算回路12により検知素子cl、di、elの和信号と
、検知素子C2,d2.e2の和信号とを演算した後、
それらの差信号を演算して求める。
知素子を使用する第2実施例の構成を、第2図と対応し
て示す図である。第7図においては検知素子がa1〜e
l、a2〜e2となっている以外、他のビームスプリッ
タなどの構成は第2図と同様である。回折格子によって
得られた±1次の回折光の光量は0次透過光を10とす
ると、1程度に小さな値となる。このとき、ディスクの
情報信号は0次透過光により、フォーカシングエラーの
検知も0次光により、トラッキングエラーの検知は+1
次光により行うため、0次透過光はc、d、eの検知素
子グループに印加されるように配置する。したがって検
知素子はa、bで構成する他のグループを有し、この場
合+1次光が印加される。光検知器9,10が偏光ビー
ムスプリッタ8の回折光に対し結像する前後の関係は、
第2図と同様である。光磁気ディスク5の情報信号は演
算回路12により検知素子cl、di、elの和信号と
、検知素子C2,d2.e2の和信号とを演算した後、
それらの差信号を演算して求める。
そしてフォーカシングエラーはC−3SD法で、次記の
演算式により求める。 FE= ((cl+d
l+el)/ (c2+d2+e2)(c2+e2)+
dl) G ((cl+dl+el)/ (c2+d2+e2)
・d2+c1+e1) トラッキングエラーはTPP法で下記の演算式により求
める。 TE−((cl+dl
+el)/ (c2+d2+e2)・a2+bll −G t(cl+dl+el)/ (c2+d2+e2
)・b2+al) また信号光がシフトする場合、第5図に示すように影響
は相殺される。第7図について、第6図に示す回折格子
を使用することが出来る。
演算式により求める。 FE= ((cl+d
l+el)/ (c2+d2+e2)(c2+e2)+
dl) G ((cl+dl+el)/ (c2+d2+e2)
・d2+c1+e1) トラッキングエラーはTPP法で下記の演算式により求
める。 TE−((cl+dl
+el)/ (c2+d2+e2)・a2+bll −G t(cl+dl+el)/ (c2+d2+e2
)・b2+al) また信号光がシフトする場合、第5図に示すように影響
は相殺される。第7図について、第6図に示す回折格子
を使用することが出来る。
[発明の効果]
このようにして本発明によると、トラッキング用ビット
がなくプリグループを用いた光磁気ディスクへの照射レ
ーザ光に対する反射光に対し回折格子を使用して回折さ
せた光により、ディスクの情報信号とフォーカシングエ
ラー信号・トラッキングエラー信号とを演算して取り出
すことが容易にできる。そして前記エラー信号を検知す
ることと、検知後の補正などについて安定した動作が得
られる。
がなくプリグループを用いた光磁気ディスクへの照射レ
ーザ光に対する反射光に対し回折格子を使用して回折さ
せた光により、ディスクの情報信号とフォーカシングエ
ラー信号・トラッキングエラー信号とを演算して取り出
すことが容易にできる。そして前記エラー信号を検知す
ることと、検知後の補正などについて安定した動作が得
られる。
第1図は本発明の原理構成を示す図、
第2図は本発明の第1実施例の構成を示す図、第3図は
第2図についてC−3SD法によるフォーカシングエラ
ー検知を説明するための図、第4図は第2図についてT
PP法によるトラッキングエラー検知を説明するための
図、 第5図は第2図について反射ビーム光がシフトしたとき
の状況を説明するための図、 第6図は回折格子の構成例を示す図、 第7図は本発明の第2実施例の構成例を示す図、第8図
は従来の光磁気ヘッドの構成を示す図、第9図は第8図
に使用する光検知器の図である。 ■・−半導体レーザ 2−・・コリメータレンズ 3・・−ビームスプリッタ 4−・・対物レンズ 5・−光磁気ディスク ロー集束レンズ 7−・−λ/2板 8−・偏光ビームスプリッタ 9−第1光検知器 1〇−第2光検知器 11・・・信号検知用回折格子 i2−・演算回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 −tノつ(:07つq;+1仄 *:w14宏、ヘラF字りた櫂1 第2図 FE= (5(d、+f、]+e2’H−G((fe、
÷d、 + f、 )第3図 5九繊乳シスq 本発明の原ぼ」1成因 第1図 TEm(−;−a、+b、ノーG(石bH+al l第
4図 第6図 −+;’x 東2害唐併j 第7図 簀j枚のLa後、へジッド 第8図 第また検穎嬰 月2先検知岳 FE=(a+c+e)−〇(b*d+f)C−5SO法
第2図についてC−3SD法によるフォーカシングエラ
ー検知を説明するための図、第4図は第2図についてT
PP法によるトラッキングエラー検知を説明するための
図、 第5図は第2図について反射ビーム光がシフトしたとき
の状況を説明するための図、 第6図は回折格子の構成例を示す図、 第7図は本発明の第2実施例の構成例を示す図、第8図
は従来の光磁気ヘッドの構成を示す図、第9図は第8図
に使用する光検知器の図である。 ■・−半導体レーザ 2−・・コリメータレンズ 3・・−ビームスプリッタ 4−・・対物レンズ 5・−光磁気ディスク ロー集束レンズ 7−・−λ/2板 8−・偏光ビームスプリッタ 9−第1光検知器 1〇−第2光検知器 11・・・信号検知用回折格子 i2−・演算回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 −tノつ(:07つq;+1仄 *:w14宏、ヘラF字りた櫂1 第2図 FE= (5(d、+f、]+e2’H−G((fe、
÷d、 + f、 )第3図 5九繊乳シスq 本発明の原ぼ」1成因 第1図 TEm(−;−a、+b、ノーG(石bH+al l第
4図 第6図 −+;’x 東2害唐併j 第7図 簀j枚のLa後、へジッド 第8図 第また検穎嬰 月2先検知岳 FE=(a+c+e)−〇(b*d+f)C−5SO法
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 I 、光磁気ディスク(5)に照射したレーザ(1)光
についてその反射光を偏光ビームスプリッタ(8)で互
いに異なる方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素
子を並列させた第1検知器(9)と、第2検知器(10
)とにより検知する光磁気ヘッド信号検知方法において
、 光磁気ディスク(5)からの反射光に対し信号検知用回
折格子(11)を挿入し、0次透過光と、回折格子によ
って発生した±1次回折光とを各光検知器に印加し、そ
の出力を演算回路(12)において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うこと を特徴とする光磁気ヘッド信号検知方法。 II、請求項第 I 項に記載した光磁気ヘッド信号検知方
法に使用する各光検知器は、全て平行な分割線によって
6分割された検知素子によって構成され、それぞれ光出
力を取出すことを特徴とする光磁気ヘッド信号の検知器
。 III、請求項第 I 項に記載した光磁気ヘッド信号検知方
法に使用する各光検知器は、全て平行な分割線によって
5分割された検知素子によって構成され、それぞれ光出
力を取出すことを特徴とする光磁気ヘッド信号の検知器
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17039888A JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17039888A JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0221431A true JPH0221431A (ja) | 1990-01-24 |
Family
ID=15904191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17039888A Pending JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0221431A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
US9361927B2 (en) | 2012-12-12 | 2016-06-07 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical pickup and optical recording and reproducing device |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59207034A (ja) * | 1983-05-09 | 1984-11-24 | Sony Corp | 光学系ピツクアツプ |
JPS60239937A (ja) * | 1984-05-15 | 1985-11-28 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光情報検出装置 |
JPS61168135A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-29 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光情報検出装置 |
JPS61206944A (ja) * | 1985-03-11 | 1986-09-13 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスク用の信号検出装置 |
JPS63160019A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-02 | Sony Corp | 光学ヘツド |
JPS63168625A (ja) * | 1987-01-07 | 1988-07-12 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
-
1988
- 1988-07-08 JP JP17039888A patent/JPH0221431A/ja active Pending
Patent Citations (6)
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