JPH0221431A - 光ヘッド信号検知方法と光検知器 - Google Patents
光ヘッド信号検知方法と光検知器Info
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- JPH0221431A JPH0221431A JP17039888A JP17039888A JPH0221431A JP H0221431 A JPH0221431 A JP H0221431A JP 17039888 A JP17039888 A JP 17039888A JP 17039888 A JP17039888 A JP 17039888A JP H0221431 A JPH0221431 A JP H0221431A
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- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O thiamine pyrophosphate Chemical compound CC1=C(CCOP(O)(=O)OP(O)(O)=O)SC=[N+]1CC1=CN=C(C)N=C1N AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 2
- 240000008168 Ficus benjamina Species 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要］
本発明は光磁気ディスクに対する光磁気ヘッドの信号検
知方法と光検知器に関し、 特にプリグループを用いた光磁気ディスクにおいて、ト
ラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を的確に
検知できる光磁気ヘッド信号の検知方法と光検知器を提
供することを目的とし、光磁気ディスクに照射したレー
ザ光についてその反射光を偏光ビームスプリッタで異な
る方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列
させた第１光検知器と第２検知器とにより検知する光磁
気ヘッド信号検知方法において、 光磁気ディスクからの反射光に対し信号検知用回折格子
を挿入し、０次透過光と、回折格子によって発生した±
１次回折光とを各光検知器に印加し、そのＩ８＠を演算
回路において演算することにより光磁気信号・トラッキ
ングエラー信号・フォーカシングエラー信号の検知を行
うことで構成する。
知方法と光検知器に関し、 特にプリグループを用いた光磁気ディスクにおいて、ト
ラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を的確に
検知できる光磁気ヘッド信号の検知方法と光検知器を提
供することを目的とし、光磁気ディスクに照射したレー
ザ光についてその反射光を偏光ビームスプリッタで異な
る方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列
させた第１光検知器と第２検知器とにより検知する光磁
気ヘッド信号検知方法において、 光磁気ディスクからの反射光に対し信号検知用回折格子
を挿入し、０次透過光と、回折格子によって発生した±
１次回折光とを各光検知器に印加し、そのＩ８＠を演算
回路において演算することにより光磁気信号・トラッキ
ングエラー信号・フォーカシングエラー信号の検知を行
うことで構成する。
［産業上の利用分野］
本発明は光磁気ディスクに対する光磁気ヘッドの信号検
知方法と光検知器に関する。
知方法と光検知器に関する。
光磁気ディスクにおいてプリグループ（案内溝）を有す
る形式、或いはトラッキング用ピントを有する形式のも
のがある。トラッキング用ビットを有するものを使用す
るときは、光磁気信号・トラッキングエラー・フォーカ
シングエラーを検出することが比較的容易である。しか
し現在主流の光磁気ディスクはビットがなくプリグルー
プを有するものであり、エラーのない安定な動作の得ら
れる信号検知法を開発することが要望された。
る形式、或いはトラッキング用ピントを有する形式のも
のがある。トラッキング用ビットを有するものを使用す
るときは、光磁気信号・トラッキングエラー・フォーカ
シングエラーを検出することが比較的容易である。しか
し現在主流の光磁気ディスクはビットがなくプリグルー
プを有するものであり、エラーのない安定な動作の得ら
れる信号検知法を開発することが要望された。
［従来の技術］
大容量のランダムアクセス型記憶装置として光ディスク
装置或いは書換え可能な光磁気ディスクが使用されるよ
うになった。回転する光デイスク記録媒体の所定のトラ
ンクに対し、光ヘッドによるｉ戒小レーザスポットを当
てて、データの記録・再生などを行う。そのとき、所定
のレーザスポットは常にトラック上に所定の大きさでな
ければならないが、レーザ光を光ディスクに照射すると
き、ディスクの面がぶれたり、傾くと、レーザ光に対し
ディスク面が焦点上にないこととなる。そのためディス
ク面の位置検知を行ってフォーカシングエラーを補正す
る必要がある。その手段として従来ｒＣ−３ＳＤ法（Ｃ
ｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ ５ｐｏｔ ５ｉｚｅ Ｄｅ
−ｔｅｃｔｉｏｎ） Ｊがある。Ｃ−３ＳＤフオーカシ
ングエラー検知法による光磁気ヘッドの構成を第８図に
示す。第８図において、１は半導体レーザ、２はコリメ
ータレンズ、３はビームスプリッタＢＳ。
装置或いは書換え可能な光磁気ディスクが使用されるよ
うになった。回転する光デイスク記録媒体の所定のトラ
ンクに対し、光ヘッドによるｉ戒小レーザスポットを当
てて、データの記録・再生などを行う。そのとき、所定
のレーザスポットは常にトラック上に所定の大きさでな
ければならないが、レーザ光を光ディスクに照射すると
き、ディスクの面がぶれたり、傾くと、レーザ光に対し
ディスク面が焦点上にないこととなる。そのためディス
ク面の位置検知を行ってフォーカシングエラーを補正す
る必要がある。その手段として従来ｒＣ−３ＳＤ法（Ｃ
ｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ ５ｐｏｔ ５ｉｚｅ Ｄｅ
−ｔｅｃｔｉｏｎ） Ｊがある。Ｃ−３ＳＤフオーカシ
ングエラー検知法による光磁気ヘッドの構成を第８図に
示す。第８図において、１は半導体レーザ、２はコリメ
ータレンズ、３はビームスプリッタＢＳ。
４は対物レンズ、５は光磁気ディスク、６は集束レンズ
、７はλ／２板、８は偏光ビームスプリフタＰＢＳ、９
は第１光検知器、１０は第２光検知器を示す。半導体レ
ーザ１からの楕円発散球面波をコリメータレンズ２で平
行波に変換し、ビームスプリフタと一体化されたプリズ
ムで真円補正しり後、ビームスプリッタ３を介して対物
レンズ４で光磁気ディスク５上の１点に集束させる。光
磁気ディスクからの情報信号光は対物レンズ４で平行波
に変換した後、ビームスプリッタ３で分離し集束レンズ
６で集光する。信号検知は、集光した後にλ／２板７を
介して一部は透過し、他の一部は反射させそれぞれを光
検知器９．１０に導いて行う。λ／２の設定は情報が含
まれていない時に２つの検知信号の差が無いようにする
。信号情報が含まれている時には、前述の信号間のバラ
ンスが崩れるため書込まれた信号を検知することができ
る。フォーカシングエラー検知法はＣ−５ＳＤ法を用い
、光検知器９．ｌＯは３分割のものを２つ使用し、その
１つは結像する前、他の１つは結像した後、それぞれビ
ーム径が同じになる位置に分割線を跨がらせて配置する
。第９図に示すよ・うに、光検知器が各々分割されてい
て、第１光検知器９の分割検知素子ａ、ｃ、ｅの和信号
、及び第２光検知器１０の分割検知素子ｄ、ｆ、ｂの和
１８号との差を取り、その正負の値で光磁気ディスクの
遠近を検出する。光磁気ディスクの而ふれが生じた場合
にはスポットが点線で示す位置に移動するが、２つのス
ポットの移動距離は同じであるため、フォーカシングエ
ラーは無い。
、７はλ／２板、８は偏光ビームスプリフタＰＢＳ、９
は第１光検知器、１０は第２光検知器を示す。半導体レ
ーザ１からの楕円発散球面波をコリメータレンズ２で平
行波に変換し、ビームスプリフタと一体化されたプリズ
ムで真円補正しり後、ビームスプリッタ３を介して対物
レンズ４で光磁気ディスク５上の１点に集束させる。光
磁気ディスクからの情報信号光は対物レンズ４で平行波
に変換した後、ビームスプリッタ３で分離し集束レンズ
６で集光する。信号検知は、集光した後にλ／２板７を
介して一部は透過し、他の一部は反射させそれぞれを光
検知器９．１０に導いて行う。λ／２の設定は情報が含
まれていない時に２つの検知信号の差が無いようにする
。信号情報が含まれている時には、前述の信号間のバラ
ンスが崩れるため書込まれた信号を検知することができ
る。フォーカシングエラー検知法はＣ−５ＳＤ法を用い
、光検知器９．ｌＯは３分割のものを２つ使用し、その
１つは結像する前、他の１つは結像した後、それぞれビ
ーム径が同じになる位置に分割線を跨がらせて配置する
。第９図に示すよ・うに、光検知器が各々分割されてい
て、第１光検知器９の分割検知素子ａ、ｃ、ｅの和信号
、及び第２光検知器１０の分割検知素子ｄ、ｆ、ｂの和
１８号との差を取り、その正負の値で光磁気ディスクの
遠近を検出する。光磁気ディスクの而ふれが生じた場合
にはスポットが点線で示す位置に移動するが、２つのス
ポットの移動距離は同じであるため、フォーカシングエ
ラーは無い。
しかし、このフォーカス方法を行う時のトラック検知法
はサンプルサーボ方式のみ使うことができる。サンプル
サーボを行うためには光磁気ディスクにトラッキング用
のビットが必要となる。現在主流となっている光磁気デ
ィスクはビットがなくプリグループを用いたものであり
、プリグループを用いた光磁気ディスクで前記Ｃ，−Ｓ
Ｓ Ｄフォーカスエラー検知法と組合せる安定したト
ラッキング法が必要となっていた。
はサンプルサーボ方式のみ使うことができる。サンプル
サーボを行うためには光磁気ディスクにトラッキング用
のビットが必要となる。現在主流となっている光磁気デ
ィスクはビットがなくプリグループを用いたものであり
、プリグループを用いた光磁気ディスクで前記Ｃ，−Ｓ
Ｓ Ｄフォーカスエラー検知法と組合せる安定したト
ラッキング法が必要となっていた。
［発明が解決しようとする課題］
光磁気ディスクのフォーカスエラー検知は、Ｃ−５ＳＤ
法を用いることにより安定するが・ディスクにトラッキ
ング用ピットを必要とする。主流の光磁気ディスクは、
ビットが無いプリグループを用いたものであるため、プ
リグループを有したディスクで、Ｃ−５ＳＤ法と組合せ
安定したトラッキング法は難しかった。
法を用いることにより安定するが・ディスクにトラッキ
ング用ピットを必要とする。主流の光磁気ディスクは、
ビットが無いプリグループを用いたものであるため、プ
リグループを有したディスクで、Ｃ−５ＳＤ法と組合せ
安定したトラッキング法は難しかった。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、プリグループを用
いた光磁気ディスクにおいて、トラッキングエラー・フ
ォーカシングエラー信号を的確に検知できる光磁気ヘッ
ド信号の検知方法と光検知器を提供することにある。
いた光磁気ディスクにおいて、トラッキングエラー・フ
ォーカシングエラー信号を的確に検知できる光磁気ヘッ
ド信号の検知方法と光検知器を提供することにある。
［課題を解決するための手段］
第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１は半導体レーザ、３はビームスプリフタ、５４
ま光磁気ディスク、８は偏光ビームスプリッタ、９は第
１光検知器、１０は第２光検知器、１１は信号検知用回
折格子、１２は演算回路を示す。
いて、１は半導体レーザ、３はビームスプリフタ、５４
ま光磁気ディスク、８は偏光ビームスプリッタ、９は第
１光検知器、１０は第２光検知器、１１は信号検知用回
折格子、１２は演算回路を示す。
光磁気ディスク５に照射したレーザ１先についてその反
射光を偏光ビームスプリッタ８で互いに異なる方向に分
けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列させた第１
検知器９と、第２検知器１０とにより検知する光磁気ヘ
ッド信号検知方法において、本発明は下記の構成として
いる。即ち、光磁気ディスク５からの反射光に対し信号
検知用回折格子１１を挿入し、０次透過光と、回折格子
によって発生した±１次回折光とを各光検知器に印加し
、その出力を演算回路１２において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うことである。
射光を偏光ビームスプリッタ８で互いに異なる方向に分
けた信号光を、各々複数個の検知素子を並列させた第１
検知器９と、第２検知器１０とにより検知する光磁気ヘ
ッド信号検知方法において、本発明は下記の構成として
いる。即ち、光磁気ディスク５からの反射光に対し信号
検知用回折格子１１を挿入し、０次透過光と、回折格子
によって発生した±１次回折光とを各光検知器に印加し
、その出力を演算回路１２において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うことである。
［作用］
第１図に示す構成において、半導体レーザ１からのレー
ザ光は光磁気ディスク５に照射され、反射光はビームス
プリッタ３で方向を変え、回折格子１１を通る。そのた
め偏光ビームスプリッタ８を通って第１・第２光検知器
９，１０の両方向へ分かれた光には、０次光と＋１次光
と、更に他の回折光が含まれる。第１光検知器９、第２
光検知器ＩＯはそぞれ複数個の検知素子を並列させてい
ルカラ、前記０次光と＋１次光とについてのそれら素子
からの出力を演算回路１２により演算し、情報信号と、
トラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を算出
して、各エラー信号によりディスク５に対する所定の補
正を行う。
ザ光は光磁気ディスク５に照射され、反射光はビームス
プリッタ３で方向を変え、回折格子１１を通る。そのた
め偏光ビームスプリッタ８を通って第１・第２光検知器
９，１０の両方向へ分かれた光には、０次光と＋１次光
と、更に他の回折光が含まれる。第１光検知器９、第２
光検知器ＩＯはそぞれ複数個の検知素子を並列させてい
ルカラ、前記０次光と＋１次光とについてのそれら素子
からの出力を演算回路１２により演算し、情報信号と、
トラッキングエラー・フォーカシングエラー信号を算出
して、各エラー信号によりディスク５に対する所定の補
正を行う。
し実施例］
第２図は本発明の第１実施例の構成を示す図であって、
第１・第２光検知器はそれぞれ６分割された場合であり
、その構成は各検知器の側方に示しである。第２図にお
ける半導体レーザ１からのレーザ光が光磁気ディスク５
に照射され、反射してビームスプリッタ３と偏光ビーム
スプリッタ８を介して各光検知器９，１０に到達する状
況は第１図と同様である。第２図において、光磁気信号
の検知は０次透過光により、トラッキングエラーの検知
は一１次光により、フォーカシングエラーの検知は＋１
次光によりそれぞれ行うため、第１光検知器９は偏光ビ
ームスプリッタ８を経た光が結像する前に入射するよう
な位置に配置され、第２光検知器１０は結像した後に入
射するような位置に配置する。更に第１光検知器９はａ
１〜ｆ１の各素子に６分割され、第２光検知器１０はａ
２〜ｆ２の各素子に６分割されていて、各素子は互いに
平行する分割線によって分割され、分割線の方向はディ
スクのトランクと同方向とする。且つ検知素子の一部は
互いに接触していて、ａ、ｂのグループと、Ｃのグルー
プと、ｄ、ｅ、ｆのグループとで構成される。ディスク
の情報信号は検知素子ＣＩ、、Ｃ２の差信号により検知
する。フォーカシングエラーを検知するために＋１次光
を利用し、検知素子ｄ１〜ｆｉｄ２〜ｆ２により、公知
のＣ−５ＳＤ法（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ−３ｐａ
む一５ｉｚｅ−ＤｅＬｅｃｔｉｏｎ法）で演算する。第
３図はＣ−３ＳＤ法によるフォーカシングエラー検知を
説明する図である。即ち、各検知素子からの出力につき
、それらの和信号と、差信号とを演算する。演算式は下
記のとおりである。エラー信号ＦＥ −（ｃ２／ｃｌ −（ｄｌ十ｆ １）＋ｅ２）Ｇ （ｃ
２／ｃｌ ・ （ｅｌ）＋ｄ２−１−ｆ ２）ここでＧ
は比例常数である。演算回路は周知の回路を３ｖｌ使用
して構成できる。この演算式の結果の正負により光磁気
ディスクの遠近を検知する。
第１・第２光検知器はそれぞれ６分割された場合であり
、その構成は各検知器の側方に示しである。第２図にお
ける半導体レーザ１からのレーザ光が光磁気ディスク５
に照射され、反射してビームスプリッタ３と偏光ビーム
スプリッタ８を介して各光検知器９，１０に到達する状
況は第１図と同様である。第２図において、光磁気信号
の検知は０次透過光により、トラッキングエラーの検知
は一１次光により、フォーカシングエラーの検知は＋１
次光によりそれぞれ行うため、第１光検知器９は偏光ビ
ームスプリッタ８を経た光が結像する前に入射するよう
な位置に配置され、第２光検知器１０は結像した後に入
射するような位置に配置する。更に第１光検知器９はａ
１〜ｆ１の各素子に６分割され、第２光検知器１０はａ
２〜ｆ２の各素子に６分割されていて、各素子は互いに
平行する分割線によって分割され、分割線の方向はディ
スクのトランクと同方向とする。且つ検知素子の一部は
互いに接触していて、ａ、ｂのグループと、Ｃのグルー
プと、ｄ、ｅ、ｆのグループとで構成される。ディスク
の情報信号は検知素子ＣＩ、、Ｃ２の差信号により検知
する。フォーカシングエラーを検知するために＋１次光
を利用し、検知素子ｄ１〜ｆｉｄ２〜ｆ２により、公知
のＣ−５ＳＤ法（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ−３ｐａ
む一５ｉｚｅ−ＤｅＬｅｃｔｉｏｎ法）で演算する。第
３図はＣ−３ＳＤ法によるフォーカシングエラー検知を
説明する図である。即ち、各検知素子からの出力につき
、それらの和信号と、差信号とを演算する。演算式は下
記のとおりである。エラー信号ＦＥ −（ｃ２／ｃｌ −（ｄｌ十ｆ １）＋ｅ２）Ｇ （ｃ
２／ｃｌ ・ （ｅｌ）＋ｄ２−１−ｆ ２）ここでＧ
は比例常数である。演算回路は周知の回路を３ｖｌ使用
して構成できる。この演算式の結果の正負により光磁気
ディスクの遠近を検知する。
次にトラッキングエラーは公知のＴＰＰ法（Ｔｗｉｎ−
Ｐｕｓｈ−Ｐｕｌｌ法）により検知する。第４図はＴＰ
Ｐ法による検知を説明する図である。このときは検知素
子ａｌ、ｂ２の和信号と、検知素子ａ２ｂ１の和信号と
の差を演算する。演算式は下記のとおりである。エラー
信号ＴＥ ＝＝（Ｃ２／Ｃ１・ （ａ１＋ｂ２） Ｇ （Ｃ１／Ｃ１・ （ｂｌ）＋ａ２１第５図はこのと
きディスクからの反射ビーム光が角度θだけビームシフ
トしたとき、各光検知器９．１０上のビーム移動を示す
図である。このとき各光検知器９．１０上において、Ｐ
３．Ｐ４と示すように略同程度のシフト量であるため、
θが比較的小さいときは、ビームシフトによる影響は相
殺される。
Ｐｕｓｈ−Ｐｕｌｌ法）により検知する。第４図はＴＰ
Ｐ法による検知を説明する図である。このときは検知素
子ａｌ、ｂ２の和信号と、検知素子ａ２ｂ１の和信号と
の差を演算する。演算式は下記のとおりである。エラー
信号ＴＥ ＝＝（Ｃ２／Ｃ１・ （ａ１＋ｂ２） Ｇ （Ｃ１／Ｃ１・ （ｂｌ）＋ａ２１第５図はこのと
きディスクからの反射ビーム光が角度θだけビームシフ
トしたとき、各光検知器９．１０上のビーム移動を示す
図である。このとき各光検知器９．１０上において、Ｐ
３．Ｐ４と示すように略同程度のシフト量であるため、
θが比較的小さいときは、ビームシフトによる影響は相
殺される。
第６図は第１図における回折格子１１についての具体的
構成例を示す図である０表面凹凸型・体積型などの回折
格子を使用することができ、ビームスプリッタ３に対し
接着すること、或いは空間的に配置する。回折格子の格
子間隔は、通常のコンパクトディスクに使用される回折
格子と同様の１２０μｍ〜３０μｍ程度である。
構成例を示す図である０表面凹凸型・体積型などの回折
格子を使用することができ、ビームスプリッタ３に対し
接着すること、或いは空間的に配置する。回折格子の格
子間隔は、通常のコンパクトディスクに使用される回折
格子と同様の１２０μｍ〜３０μｍ程度である。
次に第７図は、光検知器９．１０として５分割された検
知素子を使用する第２実施例の構成を、第２図と対応し
て示す図である。第７図においては検知素子がａ１〜ｅ
ｌ、ａ２〜ｅ２となっている以外、他のビームスプリッ
タなどの構成は第２図と同様である。回折格子によって
得られた±１次の回折光の光量は０次透過光を１０とす
ると、１程度に小さな値となる。このとき、ディスクの
情報信号は０次透過光により、フォーカシングエラーの
検知も０次光により、トラッキングエラーの検知は＋１
次光により行うため、０次透過光はｃ、ｄ、ｅの検知素
子グループに印加されるように配置する。したがって検
知素子はａ、ｂで構成する他のグループを有し、この場
合＋１次光が印加される。光検知器９，１０が偏光ビー
ムスプリッタ８の回折光に対し結像する前後の関係は、
第２図と同様である。光磁気ディスク５の情報信号は演
算回路１２により検知素子ｃｌ、ｄｉ、ｅｌの和信号と
、検知素子Ｃ２，ｄ２．ｅ２の和信号とを演算した後、
それらの差信号を演算して求める。
知素子を使用する第２実施例の構成を、第２図と対応し
て示す図である。第７図においては検知素子がａ１〜ｅ
ｌ、ａ２〜ｅ２となっている以外、他のビームスプリッ
タなどの構成は第２図と同様である。回折格子によって
得られた±１次の回折光の光量は０次透過光を１０とす
ると、１程度に小さな値となる。このとき、ディスクの
情報信号は０次透過光により、フォーカシングエラーの
検知も０次光により、トラッキングエラーの検知は＋１
次光により行うため、０次透過光はｃ、ｄ、ｅの検知素
子グループに印加されるように配置する。したがって検
知素子はａ、ｂで構成する他のグループを有し、この場
合＋１次光が印加される。光検知器９，１０が偏光ビー
ムスプリッタ８の回折光に対し結像する前後の関係は、
第２図と同様である。光磁気ディスク５の情報信号は演
算回路１２により検知素子ｃｌ、ｄｉ、ｅｌの和信号と
、検知素子Ｃ２，ｄ２．ｅ２の和信号とを演算した後、
それらの差信号を演算して求める。
そしてフォーカシングエラーはＣ−３ＳＤ法で、次記の
演算式により求める。 ＦＥ＝ （（ｃｌ＋ｄ
ｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）（ｃ２＋ｅ２）＋
ｄｌ） Ｇ （（ｃｌ＋ｄｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）
・ｄ２＋ｃ１＋ｅ１） トラッキングエラーはＴＰＰ法で下記の演算式により求
める。 ＴＥ−（（ｃｌ＋ｄｌ
＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）・ａ２＋ｂｌｌ −Ｇ ｔ（ｃｌ＋ｄｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２
）・ｂ２＋ａｌ） また信号光がシフトする場合、第５図に示すように影響
は相殺される。第７図について、第６図に示す回折格子
を使用することが出来る。
演算式により求める。 ＦＥ＝ （（ｃｌ＋ｄ
ｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）（ｃ２＋ｅ２）＋
ｄｌ） Ｇ （（ｃｌ＋ｄｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）
・ｄ２＋ｃ１＋ｅ１） トラッキングエラーはＴＰＰ法で下記の演算式により求
める。 ＴＥ−（（ｃｌ＋ｄｌ
＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２）・ａ２＋ｂｌｌ −Ｇ ｔ（ｃｌ＋ｄｌ＋ｅｌ）／ （ｃ２＋ｄ２＋ｅ２
）・ｂ２＋ａｌ） また信号光がシフトする場合、第５図に示すように影響
は相殺される。第７図について、第６図に示す回折格子
を使用することが出来る。
［発明の効果］
このようにして本発明によると、トラッキング用ビット
がなくプリグループを用いた光磁気ディスクへの照射レ
ーザ光に対する反射光に対し回折格子を使用して回折さ
せた光により、ディスクの情報信号とフォーカシングエ
ラー信号・トラッキングエラー信号とを演算して取り出
すことが容易にできる。そして前記エラー信号を検知す
ることと、検知後の補正などについて安定した動作が得
られる。
がなくプリグループを用いた光磁気ディスクへの照射レ
ーザ光に対する反射光に対し回折格子を使用して回折さ
せた光により、ディスクの情報信号とフォーカシングエ
ラー信号・トラッキングエラー信号とを演算して取り出
すことが容易にできる。そして前記エラー信号を検知す
ることと、検知後の補正などについて安定した動作が得
られる。
第１図は本発明の原理構成を示す図、
第２図は本発明の第１実施例の構成を示す図、第３図は
第２図についてＣ−３ＳＤ法によるフォーカシングエラ
ー検知を説明するための図、第４図は第２図についてＴ
ＰＰ法によるトラッキングエラー検知を説明するための
図、 第５図は第２図について反射ビーム光がシフトしたとき
の状況を説明するための図、 第６図は回折格子の構成例を示す図、 第７図は本発明の第２実施例の構成例を示す図、第８図
は従来の光磁気ヘッドの構成を示す図、第９図は第８図
に使用する光検知器の図である。 ■・−半導体レーザ ２−・・コリメータレンズ ３・・−ビームスプリッタ ４−・・対物レンズ ５・−光磁気ディスク ロー集束レンズ ７−・−λ／２板 ８−・偏光ビームスプリッタ ９−第１光検知器 １〇−第２光検知器 １１・・・信号検知用回折格子 ｉ２−・演算回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 −ｔノつ（：０７つｑ；＋１仄 ＊：ｗ１４宏、ヘラＦ字りた櫂１ 第２図 ＦＥ＝ （５（ｄ、＋ｆ、］＋ｅ２’Ｈ−Ｇ（（ｆｅ、
÷ｄ、 ＋ ｆ、 ）第３図 ５九繊乳シスｑ 本発明の原ぼ」１成因 第１図 ＴＥｍ（−；−ａ、＋ｂ、ノーＧ（石ｂＨ＋ａｌ ｌ第
４図 第６図 −＋；’ｘ 東２害唐併ｊ 第７図 簀ｊ枚のＬａ後、へジッド 第８図 第また検穎嬰 月２先検知岳 ＦＥ＝（ａ＋ｃ＋ｅ）−〇（ｂ＊ｄ＋ｆ）Ｃ−５ＳＯ法
第２図についてＣ−３ＳＤ法によるフォーカシングエラ
ー検知を説明するための図、第４図は第２図についてＴ
ＰＰ法によるトラッキングエラー検知を説明するための
図、 第５図は第２図について反射ビーム光がシフトしたとき
の状況を説明するための図、 第６図は回折格子の構成例を示す図、 第７図は本発明の第２実施例の構成例を示す図、第８図
は従来の光磁気ヘッドの構成を示す図、第９図は第８図
に使用する光検知器の図である。 ■・−半導体レーザ ２−・・コリメータレンズ ３・・−ビームスプリッタ ４−・・対物レンズ ５・−光磁気ディスク ロー集束レンズ ７−・−λ／２板 ８−・偏光ビームスプリッタ ９−第１光検知器 １〇−第２光検知器 １１・・・信号検知用回折格子 ｉ２−・演算回路 特許出願人 富士通株式会社 代 理 人 弁理士 鈴木栄祐 −ｔノつ（：０７つｑ；＋１仄 ＊：ｗ１４宏、ヘラＦ字りた櫂１ 第２図 ＦＥ＝ （５（ｄ、＋ｆ、］＋ｅ２’Ｈ−Ｇ（（ｆｅ、
÷ｄ、 ＋ ｆ、 ）第３図 ５九繊乳シスｑ 本発明の原ぼ」１成因 第１図 ＴＥｍ（−；−ａ、＋ｂ、ノーＧ（石ｂＨ＋ａｌ ｌ第
４図 第６図 −＋；’ｘ 東２害唐併ｊ 第７図 簀ｊ枚のＬａ後、へジッド 第８図 第また検穎嬰 月２先検知岳 ＦＥ＝（ａ＋ｃ＋ｅ）−〇（ｂ＊ｄ＋ｆ）Ｃ−５ＳＯ法
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 I 、光磁気ディスク（５）に照射したレーザ（１）光
についてその反射光を偏光ビームスプリッタ（８）で互
いに異なる方向に分けた信号光を、各々複数個の検知素
子を並列させた第１検知器（９）と、第２検知器（１０
）とにより検知する光磁気ヘッド信号検知方法において
、 光磁気ディスク（５）からの反射光に対し信号検知用回
折格子（１１）を挿入し、０次透過光と、回折格子によ
って発生した±１次回折光とを各光検知器に印加し、そ
の出力を演算回路（１２）において演算することにより
光磁気信号・トラッキングエラー信号・フォーカシング
エラー信号の検知を行うこと を特徴とする光磁気ヘッド信号検知方法。 II、請求項第 I 項に記載した光磁気ヘッド信号検知方
法に使用する各光検知器は、全て平行な分割線によって
６分割された検知素子によって構成され、それぞれ光出
力を取出すことを特徴とする光磁気ヘッド信号の検知器
。 III、請求項第 I 項に記載した光磁気ヘッド信号検知方
法に使用する各光検知器は、全て平行な分割線によって
５分割された検知素子によって構成され、それぞれ光出
力を取出すことを特徴とする光磁気ヘッド信号の検知器
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17039888A JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17039888A JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221431A true JPH0221431A (ja) | 1990-01-24 |
Family
ID=15904191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17039888A Pending JPH0221431A (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 光ヘッド信号検知方法と光検知器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0221431A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
| US9361927B2 (en) | 2012-12-12 | 2016-06-07 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical pickup and optical recording and reproducing device |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59207034A (ja) * | 1983-05-09 | 1984-11-24 | Sony Corp | 光学系ピツクアツプ |
| JPS60239937A (ja) * | 1984-05-15 | 1985-11-28 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光情報検出装置 |
| JPS61168135A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-29 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光情報検出装置 |
| JPS61206944A (ja) * | 1985-03-11 | 1986-09-13 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスク用の信号検出装置 |
| JPS63160019A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-02 | Sony Corp | 光学ヘツド |
| JPS63168625A (ja) * | 1987-01-07 | 1988-07-12 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
-
1988
- 1988-07-08 JP JP17039888A patent/JPH0221431A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS61206944A (ja) * | 1985-03-11 | 1986-09-13 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスク用の信号検出装置 |
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| US9361927B2 (en) | 2012-12-12 | 2016-06-07 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical pickup and optical recording and reproducing device |
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