JP2857033B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JP2857033B2 JP2857033B2 JP5213938A JP21393893A JP2857033B2 JP 2857033 B2 JP2857033 B2 JP 2857033B2 JP 5213938 A JP5213938 A JP 5213938A JP 21393893 A JP21393893 A JP 21393893A JP 2857033 B2 JP2857033 B2 JP 2857033B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ミニディスク等の光記
録媒体に光を照射して情報の記録、再生または消去を行
う光ピックアップ装置に関するものである。
録媒体に光を照射して情報の記録、再生または消去を行
う光ピックアップ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光記録媒体である例えばミニディスクに
対して、情報の読み出し及び書き込みを行うための光ピ
ックアップ装置では、ミニディスクにおける情報記録部
であるトラック（案内溝）に対し、光ビームを適切に照
射し、かつ集光させるため、トラッキングサーボとフォ
ーカシングサーボとを行っている。また、特に、ミニデ
ィスク４３の場合、図７に示すように、プリグルーブ４
０を蛇行させて、蛇行のうねりにアドレス４１が書き込
まれているので、光ピックアップ装置では、このプリグ
ルーブ４０上にレーザスポット４２を通過させ、うねり
による溝の回折効果の変化を回折光量の変化にて検出し
てアドレス情報を読み出すようになっている。このとき
検出される信号が、ミニディスク特有のＡＤＩＰ(Addre
ss In Pre-groove on Recordable Disc)信号である。
対して、情報の読み出し及び書き込みを行うための光ピ
ックアップ装置では、ミニディスクにおける情報記録部
であるトラック（案内溝）に対し、光ビームを適切に照
射し、かつ集光させるため、トラッキングサーボとフォ
ーカシングサーボとを行っている。また、特に、ミニデ
ィスク４３の場合、図７に示すように、プリグルーブ４
０を蛇行させて、蛇行のうねりにアドレス４１が書き込
まれているので、光ピックアップ装置では、このプリグ
ルーブ４０上にレーザスポット４２を通過させ、うねり
による溝の回折効果の変化を回折光量の変化にて検出し
てアドレス情報を読み出すようになっている。このとき
検出される信号が、ミニディスク特有のＡＤＩＰ(Addre
ss In Pre-groove on Recordable Disc)信号である。
【０００３】この種の従来の光ピックアップ装置は、図
８に示す構成となっている。これにおいて、ホログラム
レーザユニット５１は、図９に示すように、半導体レー
ザ（光源）５２と、ホログラム素子５３と、第１光検出
器５４からなり、半導体レーザ５２から出射された光
は、ホログラム素子５３のレーザ側に形成されたグレー
ディング（回折格子）５３ａで３本の光ビーム、即ち、
メインビームＭＢ、サブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に分割さ
れる。この３ビームにおけるホログラム素子５３のホロ
グラム５３ｂを透過した０次回折光は、コリメートレン
ズ５５にて集光された後、立上げミラー５６に導かれ、
対物レンズ５７により図示しないミニディスク上に集光
される。このとき、ミニディスクにおけるトラック上に
は、３ビームに対応する３つのスポットが、トラックの
延びる方向（トラック方向）に沿って一直線上に形成さ
れる。
８に示す構成となっている。これにおいて、ホログラム
レーザユニット５１は、図９に示すように、半導体レー
ザ（光源）５２と、ホログラム素子５３と、第１光検出
器５４からなり、半導体レーザ５２から出射された光
は、ホログラム素子５３のレーザ側に形成されたグレー
ディング（回折格子）５３ａで３本の光ビーム、即ち、
メインビームＭＢ、サブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に分割さ
れる。この３ビームにおけるホログラム素子５３のホロ
グラム５３ｂを透過した０次回折光は、コリメートレン
ズ５５にて集光された後、立上げミラー５６に導かれ、
対物レンズ５７により図示しないミニディスク上に集光
される。このとき、ミニディスクにおけるトラック上に
は、３ビームに対応する３つのスポットが、トラックの
延びる方向（トラック方向）に沿って一直線上に形成さ
れる。
【０００４】また、ミニディスクからの反射光は、対物
レンズ５７、立上げミラー５６を順に経て、ビームスプ
リッタ５８にてコリメートレンズ５５方向とウォーラス
トンプリズム５９方向とに分割される。コリメートレン
ズ５５方向に分割された光は、図９に示すように、ホロ
グラム素子５３のホログラム５３ｂにて集光され、その
１次回折光が上記第１光検出器５４に入射する。上記の
第１光検出器５４は、フォーカシングエラー信号及びト
ラッキングエラー信号検出用の光検出器であり、受光素
子ａ〜ｅを備えた５分割となっている。上記１次回折光
は、各々対応する受光素子上に集光され、スポットを形
成する。
レンズ５７、立上げミラー５６を順に経て、ビームスプ
リッタ５８にてコリメートレンズ５５方向とウォーラス
トンプリズム５９方向とに分割される。コリメートレン
ズ５５方向に分割された光は、図９に示すように、ホロ
グラム素子５３のホログラム５３ｂにて集光され、その
１次回折光が上記第１光検出器５４に入射する。上記の
第１光検出器５４は、フォーカシングエラー信号及びト
ラッキングエラー信号検出用の光検出器であり、受光素
子ａ〜ｅを備えた５分割となっている。上記１次回折光
は、各々対応する受光素子上に集光され、スポットを形
成する。
【０００５】ここで、フォーカシングエラー信号（ＦＥ
Ｓ）とトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）とは、それぞ
れ、第１光検出器５４の受光素子ａ・ｂ・ｄ・ｅの出力
に基づいて下記の式によって得られる。
Ｓ）とトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）とは、それぞ
れ、第１光検出器５４の受光素子ａ・ｂ・ｄ・ｅの出力
に基づいて下記の式によって得られる。
【０００６】ＦＥＳ＝ａ−ｂ ＴＥＳ＝ｄ−ｅ 尚、受光素子ｃは上記の両サーボ信号を得る際には使用
されない。
されない。
【０００７】一方、ウォーラストンプリズム５９方向に
分割された光は、図１０に示すように、偏光成分分離手
段であるウォーラストンプリズム５９にて偏光特性を有
するＳ成分とＰ成分とに、トラック方向に対応するＹ方
向に沿った軸を対称にして、Ｙ方向と直交するＸ方向に
おける前方側及び後方側に分離され、Ｓ成分及びＰ成分
の分離光群を形成する。これら分離光群の各分離光は、
スポットレンズ６１にて集光され、第２光検出器６３に
入射する。尚、各分離光は４５°ミラー６０と反射ミラ
ー６２にて、第２光検出器６３へと導かれる。
分割された光は、図１０に示すように、偏光成分分離手
段であるウォーラストンプリズム５９にて偏光特性を有
するＳ成分とＰ成分とに、トラック方向に対応するＹ方
向に沿った軸を対称にして、Ｙ方向と直交するＸ方向に
おける前方側及び後方側に分離され、Ｓ成分及びＰ成分
の分離光群を形成する。これら分離光群の各分離光は、
スポットレンズ６１にて集光され、第２光検出器６３に
入射する。尚、各分離光は４５°ミラー６０と反射ミラ
ー６２にて、第２光検出器６３へと導かれる。
【０００８】上記第２光検出器（光検出手段）６３は、
情報信号検出及びＡＤＩＰ信号検出用の光検出器であ
り、図１１にも示すように、Ｙ方向に沿った軸を対照と
して配された二つの受光素子グループからなる。図１１
において右側の受光素子グループは、主受光素子Ｈと、
その上下に配された受光素子Ｅ１・Ｆ１とからなり、左
側の受光素子グループは、主受光素子Ｊと、その上下に
配された受光素子Ｅ２・Ｆ２とからなり、かつ、上記主
受光素子Ｈ・Ｊのそれぞれは、ＡＤＩＰ信号を検出すべ
く、Ｙ方向に沿った分割線にて２分割されており、これ
にて、受光部Ａ・Ｂ及び受光部Ｃ・Ｄが形成されてい
る。
情報信号検出及びＡＤＩＰ信号検出用の光検出器であ
り、図１１にも示すように、Ｙ方向に沿った軸を対照と
して配された二つの受光素子グループからなる。図１１
において右側の受光素子グループは、主受光素子Ｈと、
その上下に配された受光素子Ｅ１・Ｆ１とからなり、左
側の受光素子グループは、主受光素子Ｊと、その上下に
配された受光素子Ｅ２・Ｆ２とからなり、かつ、上記主
受光素子Ｈ・Ｊのそれぞれは、ＡＤＩＰ信号を検出すべ
く、Ｙ方向に沿った分割線にて２分割されており、これ
にて、受光部Ａ・Ｂ及び受光部Ｃ・Ｄが形成されてい
る。
【０００９】そして、右側の受光素子グループにＳ成分
の分離光群が入射するとき、左側の受光素子グループに
Ｐ成分の分離光群が入射するようになっている。このよ
うに第２光検出器６３に集光された、各分離光群は、各
々対応する受光素子上に図に示すようなスポットを形成
する。つまり、Ｓ成分の分離光群においては、メインビ
ームＭＢに対応する主分離光のメインスポットＭＳ
S を、受光部Ａ・Ｂ上に、サブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に
対応するサブスポットＳＳS1・ＳＳS2を、受光素子Ｅ１
・Ｆ１上にそれぞれ形成し、一方、Ｐ成分の分離光群に
おいては、メインスポットＭＳP を、受光部Ｃ・Ｄ上
に、サブスポットＳＳP1・ＳＳP2を、受光素子Ｅ２・Ｆ
２上にそれぞれ形成する。
の分離光群が入射するとき、左側の受光素子グループに
Ｐ成分の分離光群が入射するようになっている。このよ
うに第２光検出器６３に集光された、各分離光群は、各
々対応する受光素子上に図に示すようなスポットを形成
する。つまり、Ｓ成分の分離光群においては、メインビ
ームＭＢに対応する主分離光のメインスポットＭＳ
S を、受光部Ａ・Ｂ上に、サブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に
対応するサブスポットＳＳS1・ＳＳS2を、受光素子Ｅ１
・Ｆ１上にそれぞれ形成し、一方、Ｐ成分の分離光群に
おいては、メインスポットＭＳP を、受光部Ｃ・Ｄ上
に、サブスポットＳＳP1・ＳＳP2を、受光素子Ｅ２・Ｆ
２上にそれぞれ形成する。
【００１０】ここで、ミニディスクの情報信号であるＲ
Ｆ信号、及びＡＤＩＰ信号は、それぞれ第２光検出器６
３の受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの出力に基づいて下記の式に
よって得られる。
Ｆ信号、及びＡＤＩＰ信号は、それぞれ第２光検出器６
３の受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの出力に基づいて下記の式に
よって得られる。
【００１１】ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ） ＡＤＩＰ＝Ａ−Ｂ ｏｒ Ｃ−Ｄ
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
ような第２光検出器６３における、主受光素子Ｈ・Ｊの
分割では、両受光素子ともＹ方向に沿った分割線にて分
割されているので、メインスポットＭＳS ・ＭＳP のＹ
方向と直交するＸ方向のスポット位置については検出可
能であり、また、ＡＤＩＰ信号も受光部Ａ・Ｂ、及び受
光部Ｃ・Ｄのいずれにても検出可能となっているが、メ
インスポットＭＳS ・ＭＳP のＹ方向のスポット位置を
検出することはできない。
ような第２光検出器６３における、主受光素子Ｈ・Ｊの
分割では、両受光素子ともＹ方向に沿った分割線にて分
割されているので、メインスポットＭＳS ・ＭＳP のＹ
方向と直交するＸ方向のスポット位置については検出可
能であり、また、ＡＤＩＰ信号も受光部Ａ・Ｂ、及び受
光部Ｃ・Ｄのいずれにても検出可能となっているが、メ
インスポットＭＳS ・ＭＳP のＹ方向のスポット位置を
検出することはできない。
【００１３】そのため、メインスポットＭＳS ・ＭＳP
の初期スポット位置（単に初期位置と記載する場合もあ
る）が、図１２に示すように、主受光素子Ｈ・Ｊの各受
光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの上端ぎりぎりの位置で固定される
という事態が発生することとなる。
の初期スポット位置（単に初期位置と記載する場合もあ
る）が、図１２に示すように、主受光素子Ｈ・Ｊの各受
光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの上端ぎりぎりの位置で固定される
という事態が発生することとなる。
【００１４】一方、半導体レーザ５２からの光は、上述
したように、グレーディング５３ａにて３つのビームに
分割されているので、メインスポットＭＳS ・ＭＳP の
上下方向には、サブスポットＳＳS1・ＳＳS2・ＳＳP1・
ＳＳP2がそれぞれ形成されている。
したように、グレーディング５３ａにて３つのビームに
分割されているので、メインスポットＭＳS ・ＭＳP の
上下方向には、サブスポットＳＳS1・ＳＳS2・ＳＳP1・
ＳＳP2がそれぞれ形成されている。
【００１５】したがって、メインスポットＭＳS ・ＭＳ
P の初期位置が、図１２に示すような位置にて固定され
ると、対物レンズ５７のシフトや、ミニディスクのスキ
ュー、及び温度変化等によりスポット位置が僅かに動い
ても、下側のサブスポットＳＳS2・ＳＳP2が、主受光素
子Ｈ・Ｊの受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ上にかかって干渉が発
生することとなり、情報信号及びＡＤＩＰ信号の信号品
質を低下させるという問題が生じることとなる。
P の初期位置が、図１２に示すような位置にて固定され
ると、対物レンズ５７のシフトや、ミニディスクのスキ
ュー、及び温度変化等によりスポット位置が僅かに動い
ても、下側のサブスポットＳＳS2・ＳＳP2が、主受光素
子Ｈ・Ｊの受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ上にかかって干渉が発
生することとなり、情報信号及びＡＤＩＰ信号の信号品
質を低下させるという問題が生じることとなる。
【００１６】尚、図１２とは逆に、メインスポットＭＳ
S ・ＭＳP の初期位置が、各受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの下
端ぎりぎりの位置で固定された場合は、上側のＳＳS1・
ＳＳP1による同様の干渉が発生することとなる。
S ・ＭＳP の初期位置が、各受光部Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの下
端ぎりぎりの位置で固定された場合は、上側のＳＳS1・
ＳＳP1による同様の干渉が発生することとなる。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１の光ピ
ックアップは、上記の課題を解決するために、光源から
出射された光が、回折格子により複数の光ビームに分割
されて光記録媒体に照射され、この光記録媒体からの反
射光が、偏光成分分離手段により偏光特性を有する二つ
の成分に応じた第１及び第２の分離光群に分離されて光
検出手段に入射され、この光検出手段には、少なくとも
第１及び第２分離光群における主分離光がそれぞれ集光
される二つの主受光素子が備えられ、これら主受光素子
の受光量に基づいて情報信号が生成される光ピックアッ
プ装置において、上記光検出手段における二つの主受光
素子のうち、一方の主受光素子は、光記録媒体に形成さ
れている案内溝のうねりによる回折効果の変化を検出す
べく案内溝方向に対応する方向に沿った分割線にて分割
され、他方の主受光素子は、主分離光の初期位置の設定
を可能とすべく案内溝方向に対応する方向と直交する方
向に沿った分割線にて分割され、かつ、これら両主受光
素子の分割数が等しいことを特徴としている。
ックアップは、上記の課題を解決するために、光源から
出射された光が、回折格子により複数の光ビームに分割
されて光記録媒体に照射され、この光記録媒体からの反
射光が、偏光成分分離手段により偏光特性を有する二つ
の成分に応じた第１及び第２の分離光群に分離されて光
検出手段に入射され、この光検出手段には、少なくとも
第１及び第２分離光群における主分離光がそれぞれ集光
される二つの主受光素子が備えられ、これら主受光素子
の受光量に基づいて情報信号が生成される光ピックアッ
プ装置において、上記光検出手段における二つの主受光
素子のうち、一方の主受光素子は、光記録媒体に形成さ
れている案内溝のうねりによる回折効果の変化を検出す
べく案内溝方向に対応する方向に沿った分割線にて分割
され、他方の主受光素子は、主分離光の初期位置の設定
を可能とすべく案内溝方向に対応する方向と直交する方
向に沿った分割線にて分割され、かつ、これら両主受光
素子の分割数が等しいことを特徴としている。
【００１８】本発明の請求項２の光ピックアップは、上
記の課題を解決するために、光源から出射された光が、
回折格子により複数の光ビームに分割されて光記録媒体
に照射され、この光記録媒体からの反射光が、偏光成分
分離手段により偏光特性を有する二つの成分に応じて第
１及び第２の分離光群に分離されて光検出手段に入射さ
れ、この光検出手段には、少なくとも第１及び第２分離
光群における主分離光がそれぞれ集光される二つの主受
光素子が備えられ、これら主受光素子の受光量に基づい
て情報信号が生成される光ピックアップ装置において、
上記光検出手段における両主受光素子はそれぞれ、光記
録媒体に形成されている案内溝のうねりによる回折効果
の変化を検出すべく案内溝方向に対応する方向に沿った
分割線にて分割されると共に、その分割線と直交する分
割線にて、主分離光の初期位置の設定を可能とすべくさ
らに分割されており、かつ、これら両主受光素子の分割
数が等しいことを特徴としている。
記の課題を解決するために、光源から出射された光が、
回折格子により複数の光ビームに分割されて光記録媒体
に照射され、この光記録媒体からの反射光が、偏光成分
分離手段により偏光特性を有する二つの成分に応じて第
１及び第２の分離光群に分離されて光検出手段に入射さ
れ、この光検出手段には、少なくとも第１及び第２分離
光群における主分離光がそれぞれ集光される二つの主受
光素子が備えられ、これら主受光素子の受光量に基づい
て情報信号が生成される光ピックアップ装置において、
上記光検出手段における両主受光素子はそれぞれ、光記
録媒体に形成されている案内溝のうねりによる回折効果
の変化を検出すべく案内溝方向に対応する方向に沿った
分割線にて分割されると共に、その分割線と直交する分
割線にて、主分離光の初期位置の設定を可能とすべくさ
らに分割されており、かつ、これら両主受光素子の分割
数が等しいことを特徴としている。
【００１９】
【作用】請求項１の構成によれば、二つの主受光素子の
うちの一方は、案内溝方向に対応する方向に沿った分割
線にて分割され、他方は、この案内溝方向に対応する方
向と直交する方向に沿った分割線にて分割されているの
で、前者の主受光素子にて、ＡＤＩＰ信号が得られると
共に、主分離光の案内溝方向に対応する方向と直交する
方向のスポット位置を検出でき、後者の主受光素子に
て、主分離光の案内溝方向に対応する方向のスポット位
置を検出できる。
うちの一方は、案内溝方向に対応する方向に沿った分割
線にて分割され、他方は、この案内溝方向に対応する方
向と直交する方向に沿った分割線にて分割されているの
で、前者の主受光素子にて、ＡＤＩＰ信号が得られると
共に、主分離光の案内溝方向に対応する方向と直交する
方向のスポット位置を検出でき、後者の主受光素子に
て、主分離光の案内溝方向に対応する方向のスポット位
置を検出できる。
【００２０】これにより、主分離光の初期位置を、主受
光素子の中央に設定することが可能となるので、たとえ
対物レンズのシフトや、光記録媒体のスキュー、及び温
度変化等によりスポット位置が僅かに動いたとしても、
主分離光以外の分離光のスポットが、主受光素子の上に
かかり、干渉を発生するようなことがなくなる。
光素子の中央に設定することが可能となるので、たとえ
対物レンズのシフトや、光記録媒体のスキュー、及び温
度変化等によりスポット位置が僅かに動いたとしても、
主分離光以外の分離光のスポットが、主受光素子の上に
かかり、干渉を発生するようなことがなくなる。
【００２１】請求光２の構成によれば、両主受光素子が
それぞれ、案内溝方向に対応する方向に沿った分割線に
て分割されると共に、さらに、その分割線と直交する分
割線にて分割されているので、どちらの主受光素子にお
いても、ＡＤＩＰ信号が得られると共に、主分離光の案
内溝方向に対応する方向及びそれと直交する方向のスポ
ット位置を検出できる。
それぞれ、案内溝方向に対応する方向に沿った分割線に
て分割されると共に、さらに、その分割線と直交する分
割線にて分割されているので、どちらの主受光素子にお
いても、ＡＤＩＰ信号が得られると共に、主分離光の案
内溝方向に対応する方向及びそれと直交する方向のスポ
ット位置を検出できる。
【００２２】これにより、請求項１の構成と同様に、主
分離光の初期位置を、主受光素子の中央に設定すること
が可能となるので、たとえ対物レンズのシフトや、光記
録媒体のスキュー、及び温度変化等によりスポット位置
が僅かに動いたとしても、主分離光以外の分離光のスポ
ットが、主受光素子の上にかかり、干渉を発生するよう
なことがなくなる。
分離光の初期位置を、主受光素子の中央に設定すること
が可能となるので、たとえ対物レンズのシフトや、光記
録媒体のスキュー、及び温度変化等によりスポット位置
が僅かに動いたとしても、主分離光以外の分離光のスポ
ットが、主受光素子の上にかかり、干渉を発生するよう
なことがなくなる。
【００２３】
〔実施例１〕本発明の一実施例を図１ないし図４に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。本実施例に係る光
ピックアップ装置は、図２に示すように、ホログラムレ
ーザユニット１と、コリメートレンズ５と、立上げミラ
ー６と、対物レンズ７と、ビームスプリッタ８と、ウォ
ーラストンプリズム９と、４５°ミラー１０と、スポッ
トレンズ１１と、反射ミラー１２と、第２光検出器１３
とを備えている。
いて説明すれば、以下の通りである。本実施例に係る光
ピックアップ装置は、図２に示すように、ホログラムレ
ーザユニット１と、コリメートレンズ５と、立上げミラ
ー６と、対物レンズ７と、ビームスプリッタ８と、ウォ
ーラストンプリズム９と、４５°ミラー１０と、スポッ
トレンズ１１と、反射ミラー１２と、第２光検出器１３
とを備えている。
【００２４】上記ホログラムレーザユニット１は、図３
に示すように、半導体レーザ（光源）２、ホログラム素
子３、及び第１光検出器４から構成されており、このう
ち、ホログラム素子３は、半導体レーザ２側の面に３ビ
ーム生成用のグレーディング（回折格子）３ａが形成さ
れる一方、その反対側の面に、図示しないミニディスク
（光記録媒体）からの反射光を第１光検出器４方向へ回
折させるホログラム３ｂが形成されている。
に示すように、半導体レーザ（光源）２、ホログラム素
子３、及び第１光検出器４から構成されており、このう
ち、ホログラム素子３は、半導体レーザ２側の面に３ビ
ーム生成用のグレーディング（回折格子）３ａが形成さ
れる一方、その反対側の面に、図示しないミニディスク
（光記録媒体）からの反射光を第１光検出器４方向へ回
折させるホログラム３ｂが形成されている。
【００２５】第１光検出器４は、フォーカシングエラー
信号検出用の光検出器であり、受光素子ａ〜ｃを備えた
３分割となっており、後述のようにサーボ制御用のフォ
ーカシングエラー信号（ＦＥＳ）を検出するようになっ
ている。
信号検出用の光検出器であり、受光素子ａ〜ｃを備えた
３分割となっており、後述のようにサーボ制御用のフォ
ーカシングエラー信号（ＦＥＳ）を検出するようになっ
ている。
【００２６】図２に示すコリメートレンズ５は、半導体
レーザ２から出射されたレーザ光を平行にするためのも
ので、立上げミラー６は、レーザ光をミニディスク上に
導くためのもの、対物レンズ７は、レーザ光を上記ミニ
ディスク上に集光させるためのものである。また、ビー
ムスプリッタ８は、ミニディスクからの反射光をコリメ
ートレンズ方向とこの方向に対して直交するウォーラス
トンプリズム方向の２方向に分割するためのものであ
る。
レーザ２から出射されたレーザ光を平行にするためのも
ので、立上げミラー６は、レーザ光をミニディスク上に
導くためのもの、対物レンズ７は、レーザ光を上記ミニ
ディスク上に集光させるためのものである。また、ビー
ムスプリッタ８は、ミニディスクからの反射光をコリメ
ートレンズ方向とこの方向に対して直交するウォーラス
トンプリズム方向の２方向に分割するためのものであ
る。
【００２７】ウォーラストンプリズム（偏光成分分離手
段）９は、図４に示すように、ビームスプリッタ８で分
割された光をさらに、偏光特性を有するＳ成分とＰ成分
とに、Ｙ方向に沿った軸を対称にして、Ｙ方向と直交す
るＸ方向における前方側及び後方側に分離して、Ｓ成分
及びＰ成分の分離光群を生成するためのものである。上
記Ｙ方向は、ミニディスクにおける情報記録部であるト
ラック（案内溝）の延びる方向、即ちトラック方向に対
応した方向である。
段）９は、図４に示すように、ビームスプリッタ８で分
割された光をさらに、偏光特性を有するＳ成分とＰ成分
とに、Ｙ方向に沿った軸を対称にして、Ｙ方向と直交す
るＸ方向における前方側及び後方側に分離して、Ｓ成分
及びＰ成分の分離光群を生成するためのものである。上
記Ｙ方向は、ミニディスクにおける情報記録部であるト
ラック（案内溝）の延びる方向、即ちトラック方向に対
応した方向である。
【００２８】スポットレンズ１１は、ウォーラストンプ
リズム９にて生成された分離光群の各分離光を、第２光
検出器１３の所定位置に集光させるためのものであり、
４５°ミラー１０及び反射ミラー１２は、ウォーラスト
ンプリズム９からの光を第２光検出器１３へと導くため
のものである。
リズム９にて生成された分離光群の各分離光を、第２光
検出器１３の所定位置に集光させるためのものであり、
４５°ミラー１０及び反射ミラー１２は、ウォーラスト
ンプリズム９からの光を第２光検出器１３へと導くため
のものである。
【００２９】第２光検出器（光検出手段）１３は、情報
信号及びＡＤＩＰ信号検出用の光検出器であり、図１に
も示すように、Ｙ方向に沿った軸を対称として配された
二つの受光素子グループからなる。図において右側の受
光素子グループにＳ成分の分離光群が入射するときは、
左側の受光素子グループにＰ成分の分離光群が入射する
ようになっており、右側の受光素子グループは、主受光
素子Ｈと、その上下にそれぞれ配された受光素子Ｅ１・
Ｆ１とからなり、左側の受光素子グループは、主受光素
子Ｊと、その上下にそれぞれ配された受光素子Ｅ２・Ｆ
２とからなる。上記主受光素子Ｈは、ＡＤＩＰ信号を検
出できるように、Ｙ方向に沿った分割線にて２分割され
て、受光部Ａ・Ｂが形成されており、主受光素子Ｊは、
Ｙ方向と直交するＸ方向に沿った分割線にて２分割され
て、受光部Ｃ・Ｄが形成されている。また、上記各受光
素子のうち、受光素子Ｅ１・Ｅ２・Ｆ１・Ｆ２が、サー
ボ制御用のトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）を検出す
るためのものであり、主受光素子Ｈ・Ｊが、情報信号で
あるＲＦ信号を検出するためのものである。
信号及びＡＤＩＰ信号検出用の光検出器であり、図１に
も示すように、Ｙ方向に沿った軸を対称として配された
二つの受光素子グループからなる。図において右側の受
光素子グループにＳ成分の分離光群が入射するときは、
左側の受光素子グループにＰ成分の分離光群が入射する
ようになっており、右側の受光素子グループは、主受光
素子Ｈと、その上下にそれぞれ配された受光素子Ｅ１・
Ｆ１とからなり、左側の受光素子グループは、主受光素
子Ｊと、その上下にそれぞれ配された受光素子Ｅ２・Ｆ
２とからなる。上記主受光素子Ｈは、ＡＤＩＰ信号を検
出できるように、Ｙ方向に沿った分割線にて２分割され
て、受光部Ａ・Ｂが形成されており、主受光素子Ｊは、
Ｙ方向と直交するＸ方向に沿った分割線にて２分割され
て、受光部Ｃ・Ｄが形成されている。また、上記各受光
素子のうち、受光素子Ｅ１・Ｅ２・Ｆ１・Ｆ２が、サー
ボ制御用のトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）を検出す
るためのものであり、主受光素子Ｈ・Ｊが、情報信号で
あるＲＦ信号を検出するためのものである。
【００３０】そして、これら受光部Ａ・Ｂと受光部Ｃ・
Ｄの各分離幅はもちろん、後述のようにミニディスクの
情報信号であるＲＦ信号検出する際の、Ａ＋ＢとＣ＋Ｄ
のバランスを取り得るように、それぞれ等しく設定され
ている。
Ｄの各分離幅はもちろん、後述のようにミニディスクの
情報信号であるＲＦ信号検出する際の、Ａ＋ＢとＣ＋Ｄ
のバランスを取り得るように、それぞれ等しく設定され
ている。
【００３１】上記の構成において、半導体レーザ２から
出射された光は、ホログラム素子３のグレーディング３
ａで３ビーム、即ち、図３に示すメインビームＭＢおよ
び２個のサブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に分割される。この
３ビームの光のうち、ホログラム３ｂを透過した０次回
折光は、コリメートレンズ５にて集光され、立上げミラ
ー６に導かれ、対物レンズ７により図示しないミニディ
スク上の、トラックに沿った一直線上に、メインスポッ
トおよび２個のサブスポットとして集光される。
出射された光は、ホログラム素子３のグレーディング３
ａで３ビーム、即ち、図３に示すメインビームＭＢおよ
び２個のサブビームＳＢ1 ・ＳＢ2 に分割される。この
３ビームの光のうち、ホログラム３ｂを透過した０次回
折光は、コリメートレンズ５にて集光され、立上げミラ
ー６に導かれ、対物レンズ７により図示しないミニディ
スク上の、トラックに沿った一直線上に、メインスポッ
トおよび２個のサブスポットとして集光される。
【００３２】また、ミニディスクからの反射光は、対物
レンズ８及び立上げミラー６を経た後、ビームスプリッ
タ８にてウォーラストンプリズム方向と、コリメートレ
ンズ方向とに分割される。ビームスプリッタ方向に分割
された光は、ホログラム３ａにて回折され、その１次回
折光が第１光検出器４に入射する（図３参照）。
レンズ８及び立上げミラー６を経た後、ビームスプリッ
タ８にてウォーラストンプリズム方向と、コリメートレ
ンズ方向とに分割される。ビームスプリッタ方向に分割
された光は、ホログラム３ａにて回折され、その１次回
折光が第１光検出器４に入射する（図３参照）。
【００３３】一方、ウォーラストンプリズム方向に分割
された光は、ウォーラストンプリズム９、４５°ミラー
１０、スポットレンズ１１、反射ミラー１２を経て、第
２光検出器１３に入射する。そして、右側の受光素子グ
ループにＳ成分の分離光群が入射するとき、左側の受光
素子グループにＰ成分の分離光群が入射し、このように
第２光検出器１３に集光された各分離光群は、各々対応
する受光素子上に図１に示すようなスポットを形成す
る。つまり、Ｓ成分の分離光群においては、メインビー
ムＭＢに対応する主分離光のメインスポットＭＳS を、
主受光素子Ｈの受光部Ａ・Ｂ上に、サブビームＳＢ1 ・
ＳＢ2 に対応するサブスポットＳＳS1・ＳＳS2を、受光
素子Ｅ１・Ｆ１上にそれぞれ形成し、一方、Ｐ成分の分
離光群においては、主分離光のメインスポットＭＳ
P を、主受光素子Ｊの受光部Ｃ・Ｄ上に、サブスポット
ＳＳP1・ＳＳP2を、受光素子Ｅ２・Ｆ２上にそれぞれ形
成する。
された光は、ウォーラストンプリズム９、４５°ミラー
１０、スポットレンズ１１、反射ミラー１２を経て、第
２光検出器１３に入射する。そして、右側の受光素子グ
ループにＳ成分の分離光群が入射するとき、左側の受光
素子グループにＰ成分の分離光群が入射し、このように
第２光検出器１３に集光された各分離光群は、各々対応
する受光素子上に図１に示すようなスポットを形成す
る。つまり、Ｓ成分の分離光群においては、メインビー
ムＭＢに対応する主分離光のメインスポットＭＳS を、
主受光素子Ｈの受光部Ａ・Ｂ上に、サブビームＳＢ1 ・
ＳＢ2 に対応するサブスポットＳＳS1・ＳＳS2を、受光
素子Ｅ１・Ｆ１上にそれぞれ形成し、一方、Ｐ成分の分
離光群においては、主分離光のメインスポットＭＳ
P を、主受光素子Ｊの受光部Ｃ・Ｄ上に、サブスポット
ＳＳP1・ＳＳP2を、受光素子Ｅ２・Ｆ２上にそれぞれ形
成する。
【００３４】ここで、フォーカシングエラー信号（ＦＥ
Ｓ）とトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）とは、それぞ
れ第１光検出器４の受光素子ａ・ｂ、第２光検出器１３
の受光素子Ｅ１・Ｅ２・Ｆ１・Ｆ２の出力に基づいて下
記の式によって得られる。
Ｓ）とトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）とは、それぞ
れ第１光検出器４の受光素子ａ・ｂ、第２光検出器１３
の受光素子Ｅ１・Ｅ２・Ｆ１・Ｆ２の出力に基づいて下
記の式によって得られる。
【００３５】ＦＥＳ＝ａ−ｂ （１） ＴＥＳ＝（Ｅ1 ＋Ｅ２）−（Ｆ1 ＋Ｆ２） （２） また、ミニディスクの情報信号であるＲＦ信号、及びＡ
ＤＩＰ信号は、それぞれ第２光検出器１３の受光部Ａ・
Ｂ・Ｃ・Ｄの出力に基づいて下記の式によって得られ
る。
ＤＩＰ信号は、それぞれ第２光検出器１３の受光部Ａ・
Ｂ・Ｃ・Ｄの出力に基づいて下記の式によって得られ
る。
【００３６】ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ） （３） ＡＤＩＰ＝Ａ−Ｂ （４） この場合、本装置においては、第２光検出器１３におけ
る主受光素子ＨがＹ方向に沿った分割線にて分割されて
受光部Ａ・Ｂが形成されているのに対し、もう一方の主
受光素子ＪがＸ方向に沿った分割線にて分割されて受光
部Ｃ・Ｄが形成されているので、主受光素子Ｈの受光部
Ａ・ＢにてＡＤＩＰ信号を生成すると共に、Ｘ方向のス
ポット位置を検出し、主受光素子Ｊの受光部Ｃ・Ｄにて
Ｙ方向のスポット位置を検出できる。
る主受光素子ＨがＹ方向に沿った分割線にて分割されて
受光部Ａ・Ｂが形成されているのに対し、もう一方の主
受光素子ＪがＸ方向に沿った分割線にて分割されて受光
部Ｃ・Ｄが形成されているので、主受光素子Ｈの受光部
Ａ・ＢにてＡＤＩＰ信号を生成すると共に、Ｘ方向のス
ポット位置を検出し、主受光素子Ｊの受光部Ｃ・Ｄにて
Ｙ方向のスポット位置を検出できる。
【００３７】これにより、主受光素子Ｈ・Ｊの中央位置
に、各々対応するメインスポットＭＳS ・ＭＳP の初期
位置を設定することができるので、対物レンズ８のシフ
トや、ミニディスクのスキュー、及び温度変化等により
スポット位置が僅かに動いたとしても、情報信号及びＡ
ＤＩＰ信号に品質低下を来すことがなく、良好な情報信
号及びＡＤＩＰ信号及び得ることが可能となる。
に、各々対応するメインスポットＭＳS ・ＭＳP の初期
位置を設定することができるので、対物レンズ８のシフ
トや、ミニディスクのスキュー、及び温度変化等により
スポット位置が僅かに動いたとしても、情報信号及びＡ
ＤＩＰ信号に品質低下を来すことがなく、良好な情報信
号及びＡＤＩＰ信号及び得ることが可能となる。
【００３８】〔実施例２〕本発明の他の実施例を図２、
図５及び図６に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。尚、説明の便宜上、前記実施例にて示した部材と同
一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その
説明を省略する。本実施例の光ピックアップ装置は、図
２に示すように、実施例１に示した第２光検出器１３に
代えて第２光検出器２０を備えている。この第２光検出
器２０は、図５及び図６に示すように、前記主受光素子
Ｈ・Ｊが、さらに各々の分割線と直交する方向に分割さ
れ、４分割の受光部Ａ１・Ａ２・Ｂ１・Ｂ２、受光部Ｃ
１・Ｃ２・Ｄ１・Ｄ２となっている。そして、これら受
光部Ａ１・Ａ２・Ｂ１・Ｂ２、及び受光部Ｃ１・Ｃ２・
Ｄ１・Ｄ２の各分離幅はもちろん、それぞれ等しく設定
されている。
図５及び図６に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。尚、説明の便宜上、前記実施例にて示した部材と同
一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その
説明を省略する。本実施例の光ピックアップ装置は、図
２に示すように、実施例１に示した第２光検出器１３に
代えて第２光検出器２０を備えている。この第２光検出
器２０は、図５及び図６に示すように、前記主受光素子
Ｈ・Ｊが、さらに各々の分割線と直交する方向に分割さ
れ、４分割の受光部Ａ１・Ａ２・Ｂ１・Ｂ２、受光部Ｃ
１・Ｃ２・Ｄ１・Ｄ２となっている。そして、これら受
光部Ａ１・Ａ２・Ｂ１・Ｂ２、及び受光部Ｃ１・Ｃ２・
Ｄ１・Ｄ２の各分離幅はもちろん、それぞれ等しく設定
されている。
【００３９】ここで、フォーカシングエラー信号（ＦＥ
Ｓ）、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）は、本装置に
おいても、前記の装置と同様、前記の演算式（１）
（２）によって得られる。そして、ミニディスクの情報
信号であるＲＦ信号及びＡＤＩＰ信号は、下記の式によ
って得られる。
Ｓ）、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）は、本装置に
おいても、前記の装置と同様、前記の演算式（１）
（２）によって得られる。そして、ミニディスクの情報
信号であるＲＦ信号及びＡＤＩＰ信号は、下記の式によ
って得られる。
【００４０】 ＲＦ＝（Ａ１＋Ａ２＋Ｂ１＋Ｂ２）−（Ｃ１＋Ｃ２＋Ｄ１＋Ｄ２） （５） ＡＤＩＰ＝（Ａ１＋Ａ２）−（Ｂ１＋Ｂ２） ｏｒ（Ｃ１＋Ｃ２）−（Ｄ１＋Ｄ２） （６） 本装置においては、上記のように、第２光検出器２０の
主受光素子Ｈ・Ｊが、それぞれ十字型に４分割されてい
るので、どちらの主受光素子Ｈ・Ｊにおいても、ＡＤＩ
Ｐ信号及び、主分離光のＸ・Ｙ方向のスポット位置を検
出できる。
主受光素子Ｈ・Ｊが、それぞれ十字型に４分割されてい
るので、どちらの主受光素子Ｈ・Ｊにおいても、ＡＤＩ
Ｐ信号及び、主分離光のＸ・Ｙ方向のスポット位置を検
出できる。
【００４１】したがって、前記実施例の装置と同様に、
主受光素子Ｈ・Ｊの中央位置に、各々対応するメインス
ポットＭＳS ・ＭＳP の初期位置を設定することができ
るので、対物レンズ８のシフトや、ミニディスクのスキ
ュー、及び温度変化等によりスポット位置が僅かに動い
たとしても、情報信号及びＡＤＩＰ信号に品質低下を来
すことがなく、良好な情報信号及びＡＤＩＰ信号及び得
ることが可能となる。
主受光素子Ｈ・Ｊの中央位置に、各々対応するメインス
ポットＭＳS ・ＭＳP の初期位置を設定することができ
るので、対物レンズ８のシフトや、ミニディスクのスキ
ュー、及び温度変化等によりスポット位置が僅かに動い
たとしても、情報信号及びＡＤＩＰ信号に品質低下を来
すことがなく、良好な情報信号及びＡＤＩＰ信号及び得
ることが可能となる。
【００４２】
【発明の効果】本発明の請求項１の光ピックアップ装置
は、以上のように、光検出手段における二つの主受光素
子のうち、一方の主受光素子は、光記録媒体に形成され
ている案内溝のうねりによる回折効果の変化を検出すべ
く案内溝方向に対応する方向に沿った分割線にて分割さ
れ、他方の主受光素子は、主分離光の初期位置の設定を
可能とすべく案内溝方向に対応する方向と直交する方向
に沿った分割線にて分割され、かつ、これら両主受光素
子の分割数が等しい構成である。
は、以上のように、光検出手段における二つの主受光素
子のうち、一方の主受光素子は、光記録媒体に形成され
ている案内溝のうねりによる回折効果の変化を検出すべ
く案内溝方向に対応する方向に沿った分割線にて分割さ
れ、他方の主受光素子は、主分離光の初期位置の設定を
可能とすべく案内溝方向に対応する方向と直交する方向
に沿った分割線にて分割され、かつ、これら両主受光素
子の分割数が等しい構成である。
【００４３】本発明の請求項２の光ピックアップは、以
上のように、光検出手段における両主受光素子はそれぞ
れ、光記録媒体に形成されている案内溝のうねりによる
回折効果の変化を検出すべく案内溝方向に対応する方向
に沿った分割線にて分割されると共に、その分割線と直
交する分割線にて、主分離光の初期位置の設定を可能と
すべくさらに分割されており、かつ、これら両主受光素
子の分割数が等しい構成である。
上のように、光検出手段における両主受光素子はそれぞ
れ、光記録媒体に形成されている案内溝のうねりによる
回折効果の変化を検出すべく案内溝方向に対応する方向
に沿った分割線にて分割されると共に、その分割線と直
交する分割線にて、主分離光の初期位置の設定を可能と
すべくさらに分割されており、かつ、これら両主受光素
子の分割数が等しい構成である。
【００４４】これにより、主分離光の初期位置を、主受
光素子の中央に設定することが可能となるので、たとえ
対物レンズのシフトや、光記録媒体のスキュー、及び温
度変化等によりスポット位置が僅かに動いたとしても、
主分離光以外の分離光のスポットが、主受光素子の上に
かかって干渉を発生させるようなことがなくなり、情報
信号及びＡＤＩＰ信号の信号品質の低下を防止すること
ができるという効果を奏する。
光素子の中央に設定することが可能となるので、たとえ
対物レンズのシフトや、光記録媒体のスキュー、及び温
度変化等によりスポット位置が僅かに動いたとしても、
主分離光以外の分離光のスポットが、主受光素子の上に
かかって干渉を発生させるようなことがなくなり、情報
信号及びＡＤＩＰ信号の信号品質の低下を防止すること
ができるという効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例を示すものであって、光ピッ
クアップ装置の第２光検出器における受光素子の配設状
態と、それに形成されたスポットを示す、概略の正面図
である。
クアップ装置の第２光検出器における受光素子の配設状
態と、それに形成されたスポットを示す、概略の正面図
である。
【図２】上記の光ピックアップ装置を示す概略の全体構
成図である。
成図である。
【図３】上記光ピックアップ装置の第１光検出器、およ
び半導体レーザとホログラム素子と、第１光検出器との
位置関係を示す概略の斜視図である。
び半導体レーザとホログラム素子と、第１光検出器との
位置関係を示す概略の斜視図である。
【図４】上記光ピックアップ装置の第２光検出器、およ
びウォーラストンプリズムと第２光検出器との位置関係
を示す概略の斜視図である。
びウォーラストンプリズムと第２光検出器との位置関係
を示す概略の斜視図である。
【図５】本発明の他の実施例を示すものであって、光ピ
ックアップ装置の第２光検出器、およびウォーラストン
プリズムと第２光検出器との位置関係を示す概略の斜視
図である。
ックアップ装置の第２光検出器、およびウォーラストン
プリズムと第２光検出器との位置関係を示す概略の斜視
図である。
【図６】図５に示した第２光検出器における受光素子の
配設状態と、それに形成されたスポットを示す、概略の
正面図である。
配設状態と、それに形成されたスポットを示す、概略の
正面図である。
【図７】蛇行したプリグルーブが形成されているミニデ
ィスクの要部の断面斜視図である。
ィスクの要部の断面斜視図である。
【図８】従来の光ピックアップ装置を示す概略の全体構
成図である。
成図である。
【図９】上記の光ピックアップ装置の第１光検出器、お
よび半導体レーザと、ホログラム素子と、第１光検出器
との位置関係を示す概略の斜視図である。
よび半導体レーザと、ホログラム素子と、第１光検出器
との位置関係を示す概略の斜視図である。
【図１０】上記の光ピックアップ装置の第２光検出器、
およびウォーラストンプリズムと第２光検出器との位置
関係を示す概略の斜視図である。
およびウォーラストンプリズムと第２光検出器との位置
関係を示す概略の斜視図である。
【図１１】上記の第２光検出器における受光素子の配設
状態を示すと共に、それに形成されたスポットを示す、
概略の正面図である。
状態を示すと共に、それに形成されたスポットを示す、
概略の正面図である。
【図１２】図１１に示した第２光検出器における受光素
子に形成されたスポットが、位置ずれした状態を示す正
面図である。
子に形成されたスポットが、位置ずれした状態を示す正
面図である。
１ ホログラムレーザユニット ２ 半導体レーザ（光源） ３ ホログラム素子 ３ａ グレーディング（回折素子） ３ｂ ホログラム ９ ウォーラストプリズム（偏光成分分離手段） １３ 第２光検出器（光検出手段） Ｈ 主受光素子 Ｊ 主受光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 11/10 ５５６ Ｇ１１Ｂ 11/10 ５５６Ａ (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/135 G11B 11/10 551 G11B 11/10 556
Claims (2)
- 【請求項１】光源から出射された光が、回折格子により
複数の光ビームに分割されて光記録媒体に照射され、こ
の光記録媒体からの反射光が、偏光成分分離手段により
偏光特性を有する二つの成分に応じた第１及び第２の分
離光群に分離されて光検出手段に入射され、この光検出
手段には、少なくとも第１及び第２分離光群における主
分離光がそれぞれ集光される二つの主受光素子が備えら
れ、これら主受光素子の受光量に基づいて情報信号が生
成される光ピックアップ装置において、 上記光検出手段における二つの主受光素子のうち、一方
の主受光素子は、光記録媒体に形成されている案内溝の
うねりによる回折効果の変化を検出すべく案内溝方向に
対応する方向に沿った分割線にて分割され、他方の主受
光素子は、主分離光の初期位置の設定を可能とすべく案
内溝方向に対応する方向と直交する方向に沿った分割線
にて分割され、かつ、これら両主受光素子の分割数が等
しいことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】光源から出射された光が、回折格子により
複数の光ビームに分割されて光記録媒体に照射され、こ
の光記録媒体からの反射光が、偏光成分分離手段により
偏光特性を有する二つの成分に応じて第１及び第２の分
離光群に分離されて光検出手段に入射され、この光検出
手段には、少なくとも第１及び第２分離光群における主
分離光がそれぞれ集光される二つの主受光素子が備えら
れ、これら主受光素子の受光量に基づいて情報信号が生
成される光ピックアップ装置において、 上記光検出手段における両主受光素子はそれぞれ、光記
録媒体に形成されている案内溝のうねりによる回折効果
の変化を検出すべく案内溝方向に対応する方向に沿った
分割線にて分割されると共に、その分割線と直交する分
割線にて、主分離光の初期位置の設定を可能とすべくさ
らに分割されており、かつ、これら両主受光素子の分割
数が等しいことを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5213938A JP2857033B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5213938A JP2857033B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0765388A JPH0765388A (ja) | 1995-03-10 |
| JP2857033B2 true JP2857033B2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=16647535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5213938A Expired - Fee Related JP2857033B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2857033B2 (ja) |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP5213938A patent/JP2857033B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0765388A (ja) | 1995-03-10 |
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