JPS62285001A - レンズ形状の測定方法 - Google Patents
レンズ形状の測定方法Info
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- JPS62285001A JPS62285001A JP12963586A JP12963586A JPS62285001A JP S62285001 A JPS62285001 A JP S62285001A JP 12963586 A JP12963586 A JP 12963586A JP 12963586 A JP12963586 A JP 12963586A JP S62285001 A JPS62285001 A JP S62285001A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 17
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- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
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Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
産業上の利用分野
本発明はレンズ形状の測定方法に関するものである。
従来の技術
従来よシレンズ加工においてレンズ形状を測定すること
は行われているが、近年その加工工程の自動化は著しく
、簡便で高速高精度な測定方法が求められている。
は行われているが、近年その加工工程の自動化は著しく
、簡便で高速高精度な測定方法が求められている。
以下図面を参照しながら、従来のレンズ形状の測定方法
について説明する。
について説明する。
2ページ
第3図は従来のレンズ曲率精度の測定装置を表わすもの
であシ、同図において1は被検レンズ、2はレンズの曲
率精度を測定するスフェロリング3はその測定値を読み
取るダイヤルゲージである。
であシ、同図において1は被検レンズ、2はレンズの曲
率精度を測定するスフェロリング3はその測定値を読み
取るダイヤルゲージである。
以上のような測定装置を用いた方法により、スフェロリ
ング2のエッヂを被検レンズ1の表面に接触させた状態
で、リングの底面からレンズ頂点までの高さhを測定し
、レンズの曲率精度を測定する。しかし、実際には簡単
のため基準球面原器により、それとの比較測定を行って
いる。
ング2のエッヂを被検レンズ1の表面に接触させた状態
で、リングの底面からレンズ頂点までの高さhを測定し
、レンズの曲率精度を測定する。しかし、実際には簡単
のため基準球面原器により、それとの比較測定を行って
いる。
発明が解決しようとする問題点
しかし、従来の測定方法は全くの手作業のため被検レン
ズ1にスフェロリング2を押し付ける圧力が一定しない
などの不都合が生じ測定の信頼性に欠け、さらに、測定
に多大な時間と労力を要するという問題点を有していた
。
ズ1にスフェロリング2を押し付ける圧力が一定しない
などの不都合が生じ測定の信頼性に欠け、さらに、測定
に多大な時間と労力を要するという問題点を有していた
。
本発明は上記問題点に鑑み、レンズ形状測定の信頼性を
向上させ、測定時間の短縮を図ることを目的とするもの
である。
向上させ、測定時間の短縮を図ることを目的とするもの
である。
問題点を解決するだめの手段
3ページ
上記問題点を解決するために本発明のレンズ形状の測定
方法は、スフエロリングと変位量測定器を組み合わせた
測定装置を用いて、スフェロリングに被検レンズを吸着
させた状態で変位量測定器を被検レンズの表面に接触さ
せて被検レンズの曲率精度を測定することを特徴とする
。
方法は、スフエロリングと変位量測定器を組み合わせた
測定装置を用いて、スフェロリングに被検レンズを吸着
させた状態で変位量測定器を被検レンズの表面に接触さ
せて被検レンズの曲率精度を測定することを特徴とする
。
作 用
本発明の方法は、被検レンズを吸着することによシ、常
に一定の圧力でスフェロリングのエッヂとレンズ表面を
接触させることができ、又被検レンズを正確な位置に保
持することができるため、測定の信頼性および精度が向
上する。
に一定の圧力でスフェロリングのエッヂとレンズ表面を
接触させることができ、又被検レンズを正確な位置に保
持することができるため、測定の信頼性および精度が向
上する。
実施例
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明
する。
する。
第1図は本発明の第1の実施例を示している。
第1図において、5は被検レンズ、6は変位量測定器で
あり、これは固定ホルダー8を介してスフェロリング7
に取付けられ、吸排気装置9もスフェロリング7に取付
けておく。
あり、これは固定ホルダー8を介してスフェロリング7
に取付けられ、吸排気装置9もスフェロリング7に取付
けておく。
以上のように構成された測定装置を用いたレンズ形状の
測定方法について、以下第1図を用いて詳細に説明する
。
測定方法について、以下第1図を用いて詳細に説明する
。
まず、被検レンズ5の代わシに図示せぬ基準球面原器に
より変位量測定器6の値を校正しておく。
より変位量測定器6の値を校正しておく。
吸排気装置9を吸着状態にし、被検レンズ6をスフェロ
リング7に接触させ、この状態で変位量測定器6の測定
値を読み取る。
リング7に接触させ、この状態で変位量測定器6の測定
値を読み取る。
以上のように本実施例によれば、スフェロリング7と変
位量測定器6を組み合わせた測定装置を用いて、スフェ
ロリング7に被検レンズ5を吸着させた状態で測定する
ことによシ、被検レンズ5の曲率精度を精度よく測定す
ることができる。
位量測定器6を組み合わせた測定装置を用いて、スフェ
ロリング7に被検レンズ5を吸着させた状態で測定する
ことによシ、被検レンズ5の曲率精度を精度よく測定す
ることができる。
以下本発明の第2の実施例について図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第2図において、測定装置A、Bは第1図に示す測定装
置を上下1対に配し、又、中心肉厚測定用に1組設けて
いるだけなのでその説明を省略する。第1図の構成と異
なるのは中心肉厚測定用の基準高さ器20を設けた点で
ある。
置を上下1対に配し、又、中心肉厚測定用に1組設けて
いるだけなのでその説明を省略する。第1図の構成と異
なるのは中心肉厚測定用の基準高さ器20を設けた点で
ある。
6ページ
上記のように構成された測定装置A、Bを用いた測定方
法について、以下説明する。
法について、以下説明する。
予め変位量測定器6a、eb、6cを基準球面原器によ
シ校正しておくことは第1の実施例と同様である。第2
図(a)はレンズ中心肉厚を測定する状態図であり、被
検レンズ6の表面の汚れ・ゴミ等を取シ除くため吸排気
装置9a、9bからエアープローを行いながら、スフェ
ロリング7a、7bを上昇下降させ被検レンズ6を両方
向から押し付ける。この状態で変位量測定器6a、eb
、6aの測定値を読み取る。ここで変位量測定器6a、
6b、6cの測定値を各々dh1゜dh2 、 d t
とすると、レンズ中心肉厚精度dTは、dT= d
h1+dh2 +dt によって算出することができる。
シ校正しておくことは第1の実施例と同様である。第2
図(a)はレンズ中心肉厚を測定する状態図であり、被
検レンズ6の表面の汚れ・ゴミ等を取シ除くため吸排気
装置9a、9bからエアープローを行いながら、スフェ
ロリング7a、7bを上昇下降させ被検レンズ6を両方
向から押し付ける。この状態で変位量測定器6a、eb
、6aの測定値を読み取る。ここで変位量測定器6a、
6b、6cの測定値を各々dh1゜dh2 、 d t
とすると、レンズ中心肉厚精度dTは、dT= d
h1+dh2 +dt によって算出することができる。
次に、第2図(b)に示す如く、上側の測定装置Bの吸
排気装置9bによシ被検レンズ5を真空吸着し、スフエ
ロリング7bを上昇させ、被検レンズ5の上面の曲率精
度を測定する。
排気装置9bによシ被検レンズ5を真空吸着し、スフエ
ロリング7bを上昇させ、被検レンズ5の上面の曲率精
度を測定する。
次に、第2図(C)に示す如く前記スフェロリング7b
を下降させ再び第2図(a)の如く被検レンズ56ペー
ジ を両方向から押し付け、吸排気装置9a 、sbよりエ
アープローすることにより真空吸着状態を解いた後、下
側の測定装置Aの吸排気装置9aにより被検レンズ5を
真空吸着し、スフェロリング7aを下降させた状態で被
検レンズ5の下面の曲率精度を測定する。
を下降させ再び第2図(a)の如く被検レンズ56ペー
ジ を両方向から押し付け、吸排気装置9a 、sbよりエ
アープローすることにより真空吸着状態を解いた後、下
側の測定装置Aの吸排気装置9aにより被検レンズ5を
真空吸着し、スフェロリング7aを下降させた状態で被
検レンズ5の下面の曲率精度を測定する。
以上のように、第1の実施例の測定装置を複数個設はレ
ンズ形状を個別に測定することによって、レンズ形状を
高精度に連続的に測定することができる。
ンズ形状を個別に測定することによって、レンズ形状を
高精度に連続的に測定することができる。
発明の効果
以上のように本発明は、スフェロリングに被検レンズを
真空吸着させることにより、レンズ形状測定の信頼性と
精度を向上させることができる。
真空吸着させることにより、レンズ形状測定の信頼性と
精度を向上させることができる。
第1図は本発明の第1実施例のレンズ形状測定状態を示
す概略図、第2図は本発明の第2実施例のレンズ形状測
定状態を示し、(a)は中心肉厚の測定状態を示す概略
図、(b) 、 (c)は曲率精度の測定状態を示す概
略図、第3図は従来のレンズ曲率精度7ページ の測定方法を表わす概略図である。 5・・・・・・被検レンズ、6a 、eb 、6c・・
・・・・変位量測定器、7a、7b・・・・・・スフエ
ロリング、9a。 9b・・・・・・吸排気装置、A、B・・・・・・測定
装置。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 5−−−φく不(しンズ s−1位置シ蘂1リグドー、1ち、 7−−−スフ10リンゲ ?−1]L槽気表置 第2図 (CL] s−*#レンズ 龜&b−変位量測定器 ?a、7b−−−又フェD1ルフ゛ 宥、9b−・−咽すη咳こ狡A1 (C)
す概略図、第2図は本発明の第2実施例のレンズ形状測
定状態を示し、(a)は中心肉厚の測定状態を示す概略
図、(b) 、 (c)は曲率精度の測定状態を示す概
略図、第3図は従来のレンズ曲率精度7ページ の測定方法を表わす概略図である。 5・・・・・・被検レンズ、6a 、eb 、6c・・
・・・・変位量測定器、7a、7b・・・・・・スフエ
ロリング、9a。 9b・・・・・・吸排気装置、A、B・・・・・・測定
装置。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 5−−−φく不(しンズ s−1位置シ蘂1リグドー、1ち、 7−−−スフ10リンゲ ?−1]L槽気表置 第2図 (CL] s−*#レンズ 龜&b−変位量測定器 ?a、7b−−−又フェD1ルフ゛ 宥、9b−・−咽すη咳こ狡A1 (C)
Claims (1)
- スフェロリングと変位量測定器を組み合わせた測定装置
を用いて、スフェロリングに被検レンズを吸着させた状
態で変位量測定器を被検レンズの表面に接触させて被検
レンズの曲率精度を測定することを特徴とするレンズ形
状の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12963586A JPS62285001A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | レンズ形状の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12963586A JPS62285001A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | レンズ形状の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62285001A true JPS62285001A (ja) | 1987-12-10 |
Family
ID=15014372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12963586A Pending JPS62285001A (ja) | 1986-06-04 | 1986-06-04 | レンズ形状の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62285001A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04159748A (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-02 | Nec Yamagata Ltd | 半導体装置の表裏判定方法 |
JPH06109404A (ja) * | 1992-09-25 | 1994-04-19 | Nichiden Mach Ltd | ディプス測定方法及び測定装置 |
US6546357B2 (en) * | 2000-05-01 | 2003-04-08 | Ricoh Company, Ltd. | Estimation of the configuration of an optical element for an optical writing device |
-
1986
- 1986-06-04 JP JP12963586A patent/JPS62285001A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04159748A (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-02 | Nec Yamagata Ltd | 半導体装置の表裏判定方法 |
JPH06109404A (ja) * | 1992-09-25 | 1994-04-19 | Nichiden Mach Ltd | ディプス測定方法及び測定装置 |
US6546357B2 (en) * | 2000-05-01 | 2003-04-08 | Ricoh Company, Ltd. | Estimation of the configuration of an optical element for an optical writing device |
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