JPS62279936A - 高周波用金属張り積層板の製造方法 - Google Patents
高周波用金属張り積層板の製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
五 発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
本発明は電子機器用の素材、特に高周波領域での使用に
好適な金M張り積層板の製造法に関する。
好適な金M張り積層板の製造法に関する。
(従来の技術)
高周波領域の回路用基板には比誘電率や誘電正接の低い
ものが要求される。また回路間の接続や部品の固定のた
め蚤工んだ付けしなけnばならず耐熱性も要求される。
ものが要求される。また回路間の接続や部品の固定のた
め蚤工んだ付けしなけnばならず耐熱性も要求される。
こnらに対して基板の絶縁層にポリテトラフルオロエチ
レンを使用したり、エポキシ樹脂等の絶縁層に微小中空
球を混入する方法(%開昭60−167594号公報)
、ガラス繊維に石英ガラス繊維を混合させる方法(特開
昭59−109347号公報)が提案されている。
レンを使用したり、エポキシ樹脂等の絶縁層に微小中空
球を混入する方法(%開昭60−167594号公報)
、ガラス繊維に石英ガラス繊維を混合させる方法(特開
昭59−109347号公報)が提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
絶縁層にポリテトラフルオロエチレンを便用した金属張
り積層板はその製造工程が極めて複雑であり価格的に著
しく Aiti ldbである。また微小中空球を混入
したものや石英ガラス繊維を使用しても誘電率、誘電正
接の大巾な低下は望めない。最近の電子工業、通信工業
の各分野においては使用さnる周波数が次第に高周波の
領域へ移行し、従来多用さnたキロヘルツの領域からメ
ガヘルツやギガヘルツの領域の方にX*aが移行してい
る。こ几らの高周波領域では伝送のエネルギー損失が大
きくなりやすく誘電率、誘電正接のより小さな絶縁層が
望まれてきた。またコンピューター等の高速度化のため
信号伝送遅延時間を短くするうえからも誘電率、誘1ヒ
正接の小さな絶縁層が望まれている。しかしながら従来
の金属張り積層板では誘電率や誘電正接を低下させるこ
とに限界があり、誘X率や誘電正接を大巾に低下させた
基板が望まれている。
り積層板はその製造工程が極めて複雑であり価格的に著
しく Aiti ldbである。また微小中空球を混入
したものや石英ガラス繊維を使用しても誘電率、誘電正
接の大巾な低下は望めない。最近の電子工業、通信工業
の各分野においては使用さnる周波数が次第に高周波の
領域へ移行し、従来多用さnたキロヘルツの領域からメ
ガヘルツやギガヘルツの領域の方にX*aが移行してい
る。こ几らの高周波領域では伝送のエネルギー損失が大
きくなりやすく誘電率、誘電正接のより小さな絶縁層が
望まれてきた。またコンピューター等の高速度化のため
信号伝送遅延時間を短くするうえからも誘電率、誘1ヒ
正接の小さな絶縁層が望まれている。しかしながら従来
の金属張り積層板では誘電率や誘電正接を低下させるこ
とに限界があり、誘X率や誘電正接を大巾に低下させた
基板が望まれている。
(問題点を解決するための手段)
本発明者らを工高周波用金属張り積層板として好適な基
板を得ることを目的に鋭意検討した結果、ポリアミド酸
ワニスを金属箔または金属板に流延後、ポリアミド酸の
非溶剤てワニスの溶剤より沸点の低い溶剤中に浸漬後該
溶剤の沸点より低い温度で一次乾燥し、ついでワニス溶
剤の沸点より低い温度で二次乾燥を行ないさらに200
〜500℃の温度範囲でイミド閉環反応を行なわせポリ
イミドに気泡を機付させることにより目的を達成できる
ことが分り本発明に違した。
板を得ることを目的に鋭意検討した結果、ポリアミド酸
ワニスを金属箔または金属板に流延後、ポリアミド酸の
非溶剤てワニスの溶剤より沸点の低い溶剤中に浸漬後該
溶剤の沸点より低い温度で一次乾燥し、ついでワニス溶
剤の沸点より低い温度で二次乾燥を行ないさらに200
〜500℃の温度範囲でイミド閉環反応を行なわせポリ
イミドに気泡を機付させることにより目的を達成できる
ことが分り本発明に違した。
ポリアミド酸ワニス&エワニス溶剤である有磯極性溶剤
中で芳香族酸二無水物と芳香族ジアミン全付加反応させ
合成したものである。有a極性溶剤としてはN、 N−
ジメチルホルムアミド、N、N−ジエチルホルム1ミド
、N、N−ジメチルアセトアミド、N、N−ジエチルア
セトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、N−メチル
カプロラクタム、ジメチルスルホキシド、ピリジン、N
、N−ジメチルメトキシアセトアミド、ヘキナメテルフ
ォスホロγミド、ジメチルスルホン、テトラメチルスル
ホン等、通常公知のものが単独または2種以上の混合物
とし℃用いろnる。さらには、こnら有機極性溶剤をベ
ンゼン、トルエン、キシレン、ベンゾニトリル、ジオキ
サン、シクロヘキテンなどの如き非溶剤と適宜組み合わ
せて便用することもできるがその場合はワニス溶剤の沸
点より低いものでなけnばならない。
中で芳香族酸二無水物と芳香族ジアミン全付加反応させ
合成したものである。有a極性溶剤としてはN、 N−
ジメチルホルムアミド、N、N−ジエチルホルム1ミド
、N、N−ジメチルアセトアミド、N、N−ジエチルア
セトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、N−メチル
カプロラクタム、ジメチルスルホキシド、ピリジン、N
、N−ジメチルメトキシアセトアミド、ヘキナメテルフ
ォスホロγミド、ジメチルスルホン、テトラメチルスル
ホン等、通常公知のものが単独または2種以上の混合物
とし℃用いろnる。さらには、こnら有機極性溶剤をベ
ンゼン、トルエン、キシレン、ベンゾニトリル、ジオキ
サン、シクロヘキテンなどの如き非溶剤と適宜組み合わ
せて便用することもできるがその場合はワニス溶剤の沸
点より低いものでなけnばならない。
本発明で用いらnる芳香族酸二無水物とじては芳香族テ
トラカルボン酸二無水物が用いろrし、例えばピロメリ
ット酸二無水物、2,3,6゜7−ナフタレンテトラカ
ルボン酸二無水物、3゜3’ 、 4. 4’ −
ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、1. 2. 5
. 6−す2タレンテトラカルボン酸二無水物、2.
2’ 、 5. 3’−ジフェニルテトラカルボン酸
二無水物、2.2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニ
ル)フロパンニ無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフ
ェニル)スルホン二無水物、3,4,9.10−ペリレ
ンテトラカルボン暇二無水物、ビス(3゜4−ジカルボ
キシフェニル)エタン二無水物、ナフタレン−1,2,
4,5−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,
4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス
−(2゜6−ジカルボキシフェニル)グロバンニ無水物
、1.1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタ
ン二無水物、1,1−ビス(6,4−ジカルボキシフェ
ニル)エタン二無水物、ビス(2゜3−ジカルボキンフ
ェニルノメタンニ無水物、ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)スルホン二無水物、ベンゼン−1,2,3,
4−テトラカルボン酸二無水物、3. 4. 3’ 、
4’ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物
などであるが、ピロメリット酸二無水物、3.3’。
トラカルボン酸二無水物が用いろrし、例えばピロメリ
ット酸二無水物、2,3,6゜7−ナフタレンテトラカ
ルボン酸二無水物、3゜3’ 、 4. 4’ −
ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、1. 2. 5
. 6−す2タレンテトラカルボン酸二無水物、2.
2’ 、 5. 3’−ジフェニルテトラカルボン酸
二無水物、2.2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニ
ル)フロパンニ無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフ
ェニル)スルホン二無水物、3,4,9.10−ペリレ
ンテトラカルボン暇二無水物、ビス(3゜4−ジカルボ
キシフェニル)エタン二無水物、ナフタレン−1,2,
4,5−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,
4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス
−(2゜6−ジカルボキシフェニル)グロバンニ無水物
、1.1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタ
ン二無水物、1,1−ビス(6,4−ジカルボキシフェ
ニル)エタン二無水物、ビス(2゜3−ジカルボキンフ
ェニルノメタンニ無水物、ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)スルホン二無水物、ベンゼン−1,2,3,
4−テトラカルボン酸二無水物、3. 4. 3’ 、
4’ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物
などであるが、ピロメリット酸二無水物、3.3’。
4.4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、3.
4. 3’ 、 4’ −ベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸二無水物またはこ几もの2社以上の混合物が好
ましく、なかでもピロメリット[二無水物が最も好まし
い。
4. 3’ 、 4’ −ベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸二無水物またはこ几もの2社以上の混合物が好
ましく、なかでもピロメリット[二無水物が最も好まし
い。
本発明で用いらnる芳香族シアばンは、H2N RN
H2の構造式で示さn、Rは2価の芳香族基であり、フ
ェニレン基、ナ/L、 タL/ン基、ビフェニレン基お
よび下記の構造式で表わさnる基から選ば几る。
H2の構造式で示さn、Rは2価の芳香族基であり、フ
ェニレン基、ナ/L、 タL/ン基、ビフェニレン基お
よび下記の構造式で表わさnる基から選ば几る。
〔式中、R′は1〜4の炭素原子を待つアルキレン基、
−0−1−S−1−SO2−1
−C−N−1−N−1−C−O−15i−1Rr
O −o−p−o−であり、 R,、R,は脂肪族基または芳香族基である。〕具体的
な例として、m−フェニレンジアミン、p−フェニレン
ジアミン、4. 4’ −ジアミノジフェニルプロパン
、4. 4’−ジアミノジフェニルメタン、ベンジジン
、4. 4’ −ジアミノジフェニルスルフィド、4.
4’ −ジアミノジフェニルスルホン、3.3’−ジ
アミノジフェニルスルホン、4. 4’ −ジアミノジ
フェニルエーテル、2,6−ジアミツピリジン、ビス(
4−アミノフェニル)ジエチルシラン、ビス(4−アミ
ノンエニルλジフェニルシラン、3゜3′−ジクロルベ
ンジジン、ビス(4−1ミノフエニル)エテルフォスフ
インオキシド、ビス(4−アミノフェニル)フェニルフ
オスフィンオ中シト、ビス(4−アミノフェニル)−N
−フェニルアミン、ビス(4−アミノフェニル)−N−
メチルアミン、1,5−ジアミノナフタレン、3,3′
−ジメチル−4,4′−ジアミノジフェニル、3. 3
’ −ジメトキシベンジジンなど、およびこれらの2種
以上の混合物が挙げられる。こnらの芳香族ジアミンの
うち好筐しいもの)工、4. 4’ −ジアミノジフェ
ニルエーテル、4. 4’−ジアミノジフェニルプロパ
ン、4.4’−ジアミノジフェニルメタン、p−フェニ
レンジアミンおJびこnらの2棟以上の混合物であり、
4. 4’ −ジアミノジフェニルエーテル、p−7二
二レンジアミンが最も好ましい。
O −o−p−o−であり、 R,、R,は脂肪族基または芳香族基である。〕具体的
な例として、m−フェニレンジアミン、p−フェニレン
ジアミン、4. 4’ −ジアミノジフェニルプロパン
、4. 4’−ジアミノジフェニルメタン、ベンジジン
、4. 4’ −ジアミノジフェニルスルフィド、4.
4’ −ジアミノジフェニルスルホン、3.3’−ジ
アミノジフェニルスルホン、4. 4’ −ジアミノジ
フェニルエーテル、2,6−ジアミツピリジン、ビス(
4−アミノフェニル)ジエチルシラン、ビス(4−アミ
ノンエニルλジフェニルシラン、3゜3′−ジクロルベ
ンジジン、ビス(4−1ミノフエニル)エテルフォスフ
インオキシド、ビス(4−アミノフェニル)フェニルフ
オスフィンオ中シト、ビス(4−アミノフェニル)−N
−フェニルアミン、ビス(4−アミノフェニル)−N−
メチルアミン、1,5−ジアミノナフタレン、3,3′
−ジメチル−4,4′−ジアミノジフェニル、3. 3
’ −ジメトキシベンジジンなど、およびこれらの2種
以上の混合物が挙げられる。こnらの芳香族ジアミンの
うち好筐しいもの)工、4. 4’ −ジアミノジフェ
ニルエーテル、4. 4’−ジアミノジフェニルプロパ
ン、4.4’−ジアミノジフェニルメタン、p−フェニ
レンジアミンおJびこnらの2棟以上の混合物であり、
4. 4’ −ジアミノジフェニルエーテル、p−7二
二レンジアミンが最も好ましい。
ポリアミド酸ワニスには、必要に応じてガラス繊維、ガ
ラスクロス等の補強剤、二酸化ケイ累等の粒子を複合さ
せてもよい。ワニス中の固形分濃度は5〜30]i童%
が好ましい05%未満では製膜性が悪くなり好ましくな
く、30重量%を越えると粘度が高くなりすぎ取り扱い
難くなる。最も好ましくは10〜20重量%である。
ラスクロス等の補強剤、二酸化ケイ累等の粒子を複合さ
せてもよい。ワニス中の固形分濃度は5〜30]i童%
が好ましい05%未満では製膜性が悪くなり好ましくな
く、30重量%を越えると粘度が高くなりすぎ取り扱い
難くなる。最も好ましくは10〜20重量%である。
金属箔または金属板は銅、白銅、青銅、黄銅、アルミニ
ウム、ニッケル、鉄、ステンレス、金、鋏、白金等の陥
または板である。金M??3としては印刷回路用の@箔
が好ましく、taW3の中でもきわめて高純度の無酸累
銅箔が特に好ましい。
ウム、ニッケル、鉄、ステンレス、金、鋏、白金等の陥
または板である。金M??3としては印刷回路用の@箔
が好ましく、taW3の中でもきわめて高純度の無酸累
銅箔が特に好ましい。
金属板としてアルミニウム、鉄、ステンレスが好適であ
り、こ几らの表面に銅めっき、銭めっき、金めつきなど
を施してもよい。ポリアミド酸ワニスの流延はTダイ、
エアーダイフコーター、ワイヤーバーコーター、ロール
コータ−等が使用でさ、金!!A箔または金属板に一定
厚みに流延する。流延後浸漬するポリアミド酸の非溶剤
(以下非溶剤とする)としてキシレン、シクロヘキサン
、トルエン等の芳香族類、オクタン、ガソリン、ヘキサ
ン、ヘプタン等の脂肪族類、アセトン、メチルエチルケ
トン、メテルイソフ゛チルケトン等のケトン類、イング
ロビルアルコール、エテルアルコール、ブチルアルコー
ル、メチルアルコール等のアルコ−/L−類、In酸エ
チル、酢酸ブチル、酢酸メチル等のエステル類、四塩化
炭素、トリクロルエチレン等のハロゲン化物類があげら
nlこnらは混合して便用してもよい。こ几らの中で特
に芳香族類が好ましく、これらGエボリγミド酸ワニス
の溶剤、すなわち有機極性溶剤の沸点より低(なけnば
ならない。
り、こ几らの表面に銅めっき、銭めっき、金めつきなど
を施してもよい。ポリアミド酸ワニスの流延はTダイ、
エアーダイフコーター、ワイヤーバーコーター、ロール
コータ−等が使用でさ、金!!A箔または金属板に一定
厚みに流延する。流延後浸漬するポリアミド酸の非溶剤
(以下非溶剤とする)としてキシレン、シクロヘキサン
、トルエン等の芳香族類、オクタン、ガソリン、ヘキサ
ン、ヘプタン等の脂肪族類、アセトン、メチルエチルケ
トン、メテルイソフ゛チルケトン等のケトン類、イング
ロビルアルコール、エテルアルコール、ブチルアルコー
ル、メチルアルコール等のアルコ−/L−類、In酸エ
チル、酢酸ブチル、酢酸メチル等のエステル類、四塩化
炭素、トリクロルエチレン等のハロゲン化物類があげら
nlこnらは混合して便用してもよい。こ几らの中で特
に芳香族類が好ましく、これらGエボリγミド酸ワニス
の溶剤、すなわち有機極性溶剤の沸点より低(なけnば
ならない。
これは次の理由による。全端上に流延さ′nたポリアミ
ド酸ワニスをポリアミド酸の非溶剤中に浸漬すると、流
延されたポリアミド酸ワニス表面のワニス溶剤が非溶剤
に抽出さnると共に非溶剤がポリアミド酸ワニス中に浸
入し、ワニス溶剤と非溶剤が混合し、ポリアミド酸ポリ
マーのワニス溶剤に対する溶解性が低下し℃ポリアミド
酸ポリマー同士が凝集し、流延しγこポリアミド酸ポリ
マーの表面が緻密層、内部がスボンジ層の構造全有し、
スポンジ層中には多量のワニス溶剤、非溶剤が存在する
ことになる。そのため非溶剤をその沸点より低い温度で
一次乾燥して除去し、次に緻密層、スポンジ層中のワニ
ス溶剤をその沸点より低い温度で2次乾燥して除去し、
200へ500℃の温度範囲でイミド閉環反応を行なわ
せ、ポリアミド酸ポリマーをポリイミドポリマーにする
。この際、ワニス溶剤の沸点より非溶剤の沸点が高いと
、ワニス溶剤が蒸発しポリアミド酸ポリマーが固くなっ
た状態で非溶剤を蒸発させなけrLばならず、その際緻
密層、スポンジ層にボイドが生じ均一な絶縁層全形成で
きないためである。不発明のようにワニス溶剤の沸点が
非溶剤の沸点より高い場合は、−次乾燥でワニス溶剤を
含んだポリアミド酸ポリマーの軟らかいゲル状物の間隙
より非溶剤が蒸発し、さらに二次乾燥でワニス溶剤が蒸
発してしまうのでボイドが生じることを工な(なる。浸
漬時間はポリアミド酸ワニスの固形分傾度、流延する厚
さおよび授償する溶剤により異なるがワニス溶剤が、N
、N−ジメチルホルムアミド、固形分1度が20重jl
t%で、ギャップ1.Q mm″′C流延しトルエン中
に浸漬した場合、30分間である。またギャップがα5
闘以下では5分間である。ギャップα5ffII!1″
″c流延しアセトン中に浸漬した場合、1時間は必要で
ある。
ド酸ワニスをポリアミド酸の非溶剤中に浸漬すると、流
延されたポリアミド酸ワニス表面のワニス溶剤が非溶剤
に抽出さnると共に非溶剤がポリアミド酸ワニス中に浸
入し、ワニス溶剤と非溶剤が混合し、ポリアミド酸ポリ
マーのワニス溶剤に対する溶解性が低下し℃ポリアミド
酸ポリマー同士が凝集し、流延しγこポリアミド酸ポリ
マーの表面が緻密層、内部がスボンジ層の構造全有し、
スポンジ層中には多量のワニス溶剤、非溶剤が存在する
ことになる。そのため非溶剤をその沸点より低い温度で
一次乾燥して除去し、次に緻密層、スポンジ層中のワニ
ス溶剤をその沸点より低い温度で2次乾燥して除去し、
200へ500℃の温度範囲でイミド閉環反応を行なわ
せ、ポリアミド酸ポリマーをポリイミドポリマーにする
。この際、ワニス溶剤の沸点より非溶剤の沸点が高いと
、ワニス溶剤が蒸発しポリアミド酸ポリマーが固くなっ
た状態で非溶剤を蒸発させなけrLばならず、その際緻
密層、スポンジ層にボイドが生じ均一な絶縁層全形成で
きないためである。不発明のようにワニス溶剤の沸点が
非溶剤の沸点より高い場合は、−次乾燥でワニス溶剤を
含んだポリアミド酸ポリマーの軟らかいゲル状物の間隙
より非溶剤が蒸発し、さらに二次乾燥でワニス溶剤が蒸
発してしまうのでボイドが生じることを工な(なる。浸
漬時間はポリアミド酸ワニスの固形分傾度、流延する厚
さおよび授償する溶剤により異なるがワニス溶剤が、N
、N−ジメチルホルムアミド、固形分1度が20重jl
t%で、ギャップ1.Q mm″′C流延しトルエン中
に浸漬した場合、30分間である。またギャップがα5
闘以下では5分間である。ギャップα5ffII!1″
″c流延しアセトン中に浸漬した場合、1時間は必要で
ある。
ポリアミド酸ワニスを金属箔または金属板に流延し、非
溶剤中に浸漬した俊、非溶剤の沸点より低い温度で一次
乾燥するが、この乾燥温度は非溶剤の沸点より20℃以
上低い温度に設定するのが特に好ましい。沸点以上では
ポリアミド酸ポリマー中に浸入した非溶剤が急激に蒸発
してボイドを生じてしまう。その後、ワニス溶剤の沸点
より低い温度で二次乾燥するが、乾燥温度はポリアミド
酸ワニスの溶剤の沸点より20℃以上低い温度に設定す
るのが特に好ましい。
溶剤中に浸漬した俊、非溶剤の沸点より低い温度で一次
乾燥するが、この乾燥温度は非溶剤の沸点より20℃以
上低い温度に設定するのが特に好ましい。沸点以上では
ポリアミド酸ポリマー中に浸入した非溶剤が急激に蒸発
してボイドを生じてしまう。その後、ワニス溶剤の沸点
より低い温度で二次乾燥するが、乾燥温度はポリアミド
酸ワニスの溶剤の沸点より20℃以上低い温度に設定す
るのが特に好ましい。
−次、二次乾燥とも乾燥時間は非溶剤、ワニス溶剤がほ
とんど蒸発してしまう程度まで行なうのが好ましく、条
件により異なるがおよそα1〜1時間で十分である。非
溶剤、ワニス溶剤が混合溶剤の場合は、沸点の低いもの
を中心にして順次高い方へと乾燥していくとよい。ポリ
アミド酸ポリマーをイミド閉環させポリイミドポリマー
とする反応は200〜500℃の温度範囲て行なえばよ
く、好”IL<4ニスチツプ状に昇温していく装置内で
行なうのがよい。200℃以下ではイミド閉環反応は完
全には行なわrtス、また500℃以上でをエボリマー
の劣化が生じ好ましくない。好ましくは250へ450
℃の範囲で行なえばよい。イミド閉環反応工程は金属w
3または金属板の酸化を防止するため無酸素雰囲気中で
行なうのが好ましいが、空気中で処理し、その後金属の
酸化抜機を酸あるいはアルカリにより除去することもで
きる。乾燥やイミド閉環反応を行なうとき、金属はカー
ルするので必☆に応じ治具により固定した力が望ましい
。
とんど蒸発してしまう程度まで行なうのが好ましく、条
件により異なるがおよそα1〜1時間で十分である。非
溶剤、ワニス溶剤が混合溶剤の場合は、沸点の低いもの
を中心にして順次高い方へと乾燥していくとよい。ポリ
アミド酸ポリマーをイミド閉環させポリイミドポリマー
とする反応は200〜500℃の温度範囲て行なえばよ
く、好”IL<4ニスチツプ状に昇温していく装置内で
行なうのがよい。200℃以下ではイミド閉環反応は完
全には行なわrtス、また500℃以上でをエボリマー
の劣化が生じ好ましくない。好ましくは250へ450
℃の範囲で行なえばよい。イミド閉環反応工程は金属w
3または金属板の酸化を防止するため無酸素雰囲気中で
行なうのが好ましいが、空気中で処理し、その後金属の
酸化抜機を酸あるいはアルカリにより除去することもで
きる。乾燥やイミド閉環反応を行なうとき、金属はカー
ルするので必☆に応じ治具により固定した力が望ましい
。
連続工程で行なうとぎはロール間での固定に加え、ピン
、クリップ等で固定する。まγこカールを防止するため
あらかじめカールする方向と反対の方向にカールさせて
から処理するのがより好ましい。
、クリップ等で固定する。まγこカールを防止するため
あらかじめカールする方向と反対の方向にカールさせて
から処理するのがより好ましい。
(作用)
ポリアミド酸ワニスを金属上に流延した後、非溶剤中に
浸漬することにより、ボリアミド酸ワニス表面の溶剤が
非溶剤により抽出さfLると共に非溶剤がポリアミド酸
ワニス中に浸入し、ワニス溶剤と非溶剤が混合しポリア
ミド酸ポリマーの溶剤に対する溶解性全低下させること
によりポリアミド酸ポリマー間予が凝集し、流延したポ
リアミド酸ポリマーの内部にスポンジ状の構造が発現さ
ILる。表面が緻密層、内部がスポンジ層となる構造を
有しているためスポンジ層中には多量のワニス溶剤およ
び非溶剤があるのでこn’に一次乾燥して除去し、次に
緻密層、スポンジ層中の溶剤を二次乾燥して除去し、2
00〜500℃の温度範囲でイミド閉環反応全行なわせ
、ポリアミド酸ポリマーをポリイミドポリマーにする。
浸漬することにより、ボリアミド酸ワニス表面の溶剤が
非溶剤により抽出さfLると共に非溶剤がポリアミド酸
ワニス中に浸入し、ワニス溶剤と非溶剤が混合しポリア
ミド酸ポリマーの溶剤に対する溶解性全低下させること
によりポリアミド酸ポリマー間予が凝集し、流延したポ
リアミド酸ポリマーの内部にスポンジ状の構造が発現さ
ILる。表面が緻密層、内部がスポンジ層となる構造を
有しているためスポンジ層中には多量のワニス溶剤およ
び非溶剤があるのでこn’に一次乾燥して除去し、次に
緻密層、スポンジ層中の溶剤を二次乾燥して除去し、2
00〜500℃の温度範囲でイミド閉環反応全行なわせ
、ポリアミド酸ポリマーをポリイミドポリマーにする。
この際ポリイミドポリマーは表面が緻密で内部がスポン
ジm造全維持し内部に気泡を複合しているため、通常の
ポリイミドポリマーの密度より低くその分誘電率、誘電
圧接が低下し、しかもポリイミドの有する高い耐熱性を
保持する。そして金属と密着しているため新たに接着剤
等により積層する必要がな(、接着剤層のない分@1!
率、誘電圧接を低くすることができる。また接着剤のな
い分、ポリイミドポリマーの有する高い耐熱性を発揮さ
せることができる。
ジm造全維持し内部に気泡を複合しているため、通常の
ポリイミドポリマーの密度より低くその分誘電率、誘電
圧接が低下し、しかもポリイミドの有する高い耐熱性を
保持する。そして金属と密着しているため新たに接着剤
等により積層する必要がな(、接着剤層のない分@1!
率、誘電圧接を低くすることができる。また接着剤のな
い分、ポリイミドポリマーの有する高い耐熱性を発揮さ
せることができる。
(実施例)
以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、
本発明はこの実施例に限定さnるものではない。
本発明はこの実施例に限定さnるものではない。
実施例1
ワニス溶剤としてN、 N−ジメチルホルムアミド(
DMF、沸点153℃)を用いこrLに芳香族酸二無水
物としてピロメリット酸二無水物と芳香族ジアミンとし
てジアミノジフェニルエーテルを用い、こnらを等モル
量加え60℃で反応させ、ワニス粘度500ポイズ(2
5℃)R元比粘度1.3 dl/ g (D M F中
CL1g/dl、25℃)固形分m度20!f;に%の
ポリアミド酸ワニスを合成した。このポリアミド酸ワニ
スを厚さ35μmの銅箔上に、アプリケーター上用いギ
ャップ1mmで流延し、非溶剤、トルエン(沸点11[
18℃)中に30分間浸漬した。トルエンはプロペラ付
攪拌棒によりよく攪拌した。
DMF、沸点153℃)を用いこrLに芳香族酸二無水
物としてピロメリット酸二無水物と芳香族ジアミンとし
てジアミノジフェニルエーテルを用い、こnらを等モル
量加え60℃で反応させ、ワニス粘度500ポイズ(2
5℃)R元比粘度1.3 dl/ g (D M F中
CL1g/dl、25℃)固形分m度20!f;に%の
ポリアミド酸ワニスを合成した。このポリアミド酸ワニ
スを厚さ35μmの銅箔上に、アプリケーター上用いギ
ャップ1mmで流延し、非溶剤、トルエン(沸点11[
18℃)中に30分間浸漬した。トルエンはプロペラ付
攪拌棒によりよく攪拌した。
その後金属製の枠に固定し、80℃で30分間−次乾燥
を行ないさらに120℃で30分間二次乾燥を行なった
。続いて250℃で10分間、さらに400℃で10分
間イミド閉環反応全行ない、金属枠から取りはずし酸化
した銅箔表面を塩酸により除去し、気泡を複合したポリ
イミドフィルム層の厚さが206μmである銅張り積層
板ギ得た。
を行ないさらに120℃で30分間二次乾燥を行なった
。続いて250℃で10分間、さらに400℃で10分
間イミド閉環反応全行ない、金属枠から取りはずし酸化
した銅箔表面を塩酸により除去し、気泡を複合したポリ
イミドフィルム層の厚さが206μmである銅張り積層
板ギ得た。
比較例1
実施例1で合成したポリアミド酸ワニスを用い、厚さ3
5μmの銅箔上にアプリケーターを用いギャップ/mm
で流延し、こnt−120℃の乾燥基中て30分間乾燥
させた後、金属製の枠に固定し、250℃で10分間、
400℃で10分間イミド閉環反応を行ない、厚さ10
0μmのポリイミドフィルムを絶縁層とする鋼張積層板
を得た。実施例1で得た鋼張積層板の気泡上複合したポ
リイミドフィルムの特性と比較例1で得た気泡を複合し
ないポリイミドフィルムの特性を比較して表1に示す。
5μmの銅箔上にアプリケーターを用いギャップ/mm
で流延し、こnt−120℃の乾燥基中て30分間乾燥
させた後、金属製の枠に固定し、250℃で10分間、
400℃で10分間イミド閉環反応を行ない、厚さ10
0μmのポリイミドフィルムを絶縁層とする鋼張積層板
を得た。実施例1で得た鋼張積層板の気泡上複合したポ
リイミドフィルムの特性と比較例1で得た気泡を複合し
ないポリイミドフィルムの特性を比較して表1に示す。
表1
一1閣二早
本発明の実施例1はポリイミド中に気泡1を複合した構
造であるが、線膨張係数、はんだ耐熱等、加熱時気泡を
含むことによる影響がなく、しかも銹電率、誘電圧接を
大巾に低下させることがてきる。
造であるが、線膨張係数、はんだ耐熱等、加熱時気泡を
含むことによる影響がなく、しかも銹電率、誘電圧接を
大巾に低下させることがてきる。
(発明の効果)
、実施例で示したように、本発明による金属張り積層板
は従来技術では違せらnない工うな誘電正接の大巾な低
下が5T能であり、またポリイミド七ペースにしている
ところからはんだ付は作業を十分に行なえる耐熱性があ
り高周波用基板としてすぐnており工業的に有用である
。
は従来技術では違せらnない工うな誘電正接の大巾な低
下が5T能であり、またポリイミド七ペースにしている
ところからはんだ付は作業を十分に行なえる耐熱性があ
り高周波用基板としてすぐnており工業的に有用である
。
Claims (1)
- 1、ポリアミド酸ワニスを金属箔または金属板に流延後
、ポリアミド酸の非溶剤であってかつ前記ワニスの溶剤
より沸点の低い溶剤中に浸漬し、ついで該溶剤の沸点よ
り低い温度で一次乾燥するとともにワニス溶剤の沸点よ
り低い温度で二次乾燥を行ない、さらに200〜500
℃に加熱してイミド閉環反応をおこなうことによりポリ
イミド樹脂中に気泡を複合させることを特徴とする高周
波用金属張り積層板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12418586A JPS62279936A (ja) | 1986-05-29 | 1986-05-29 | 高周波用金属張り積層板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12418586A JPS62279936A (ja) | 1986-05-29 | 1986-05-29 | 高周波用金属張り積層板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62279936A true JPS62279936A (ja) | 1987-12-04 |
Family
ID=14879084
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12418586A Pending JPS62279936A (ja) | 1986-05-29 | 1986-05-29 | 高周波用金属張り積層板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62279936A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1327515A1 (en) * | 2002-01-10 | 2003-07-16 | Nitto Denko Corporation | Polyimide - metal foil wiring boards for high frequency use |
US6596406B2 (en) | 2000-12-28 | 2003-07-22 | Nitto Denko Corporation | Wiring board prepreg and manufacturing method thereof |
EP1327517A3 (en) * | 2002-01-10 | 2004-01-07 | Nitto Denko Corporation | Method of metal layer formation and metal foil-based layered product |
WO2004060660A1 (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Nec Corporation | シート材及び配線板 |
-
1986
- 1986-05-29 JP JP12418586A patent/JPS62279936A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6596406B2 (en) | 2000-12-28 | 2003-07-22 | Nitto Denko Corporation | Wiring board prepreg and manufacturing method thereof |
EP1327515A1 (en) * | 2002-01-10 | 2003-07-16 | Nitto Denko Corporation | Polyimide - metal foil wiring boards for high frequency use |
EP1327517A3 (en) * | 2002-01-10 | 2004-01-07 | Nitto Denko Corporation | Method of metal layer formation and metal foil-based layered product |
US6773572B2 (en) | 2002-01-10 | 2004-08-10 | Nitto Denko Corporation | Method of metal layer formation and metal foil-based layered product |
WO2004060660A1 (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Nec Corporation | シート材及び配線板 |
US7294393B2 (en) | 2002-12-27 | 2007-11-13 | Nec Corporation | Sheet material and wiring board |
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