JPS62274219A

JPS62274219A - 計測機器

Info

Publication number: JPS62274219A
Application number: JP11890586A
Authority: JP
Inventors: Satoshi Nishiyomiya; 二所宮　敏; Naohisa Nakaya; 中屋　尚久
Original assignee: Iwatsu Electric Co Ltd
Current assignee: Iwatsu Electric Co Ltd
Priority date: 1986-05-23
Filing date: 1986-05-23
Publication date: 1987-11-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】３、発明の詳細な説明［産業上の利用分野］本発明は、各種の現象を測定し処理し、必要な情報を得
るための計測機器に関する。ざらに具体的には、中央処
理装置によって、ＩＣカードに格納されたプログラムに
したがって、制御や処理がなされる改良された計測機器
を提供するものＣある。

［従来の技術］従来から、電気、温度、光、音・・・などを測定し、デ
ータを記録し、蓄積し、処理し、必要な情報を出力する
ための計測ｖｓ器として、オシロスコープ、スペクトラ
ムアナライザ、波形解析￥Ａｍ、伝送特性試験器、光特
性測定装置など数多く製品化され実用に供されている。

近年までは、これらの目測機器の機能は比較的限定され
、その中から特定の測定条件を選択し使用するとしても
それほど、とまどうことなく、初めて使用する人にとっ
ても、わずかな教育で使いこなせるものが多かった。

しかし最近では、これらの測定器には、中央処理装置（
以下、ＣＰＵという）が内蔵され種々な機能が組込まれ
、測定から処理、データ出力までの一連の操作がなされ
る。このような装置を自由に使いこなせるまでには、か
なりの時間を必要としていた。したがって、極めて熟練
した取扱者以外の者には、このような測定装置のあらゆ
る機能を完全に使いこなすことができないという状況に
あった。

このような状況を解決するためにフロッピ・ディスク、
バブル・メモリ、ＲＯＭ、１気カード。

テープなどのメディアにその操作手順や条件を記憶し、
それを計測機器に読込ませ、作業を単純化する試みもな
されてきた。

［発明が解決しようとする問題点］しかし、これらの手段も形、状が大きかったり、重かっ
たり、（記憶内容が破壊されるために）保存がむずかし
いなどの欠点を有していた。なかでも磁気カードは保存
や、記録容量の面で、計測機器にはほとんど利用されな
かった。

［問題点を解決するための手段］本発明は、銀行カードやｉＤ（識別）カードおるいは、
キレッシュ・カードとして注目を集めているＩＣカード
を利用し、これに内蔵されたメモリに測定条件や測定手
順を格納した。

［作用］これによって、各種の測定の場面における最適の操作手
順をＩＣカードから読出し、計測機器の表示部に表示し
、取扱者はこれに従って操作すれば目的を達成すること
ができる。

したがって、取扱者には熟練を要求されず、間違いなく
、迅速に操作することが可能となった。

［実施例］本発明に関わる計測償器の一実施例の回路構成を第１図
に示し、これを用いて説明する。

１０は測定機器本体であり、電気、温度、光、音、圧力
などを所定の電気信号に変換した入力信号４０を測定し
、データを記憶し、処理し、表示し、データ出力４１を
出力する。

測定器本体１０には、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う。）でおる本体ＣＰＵ１１と、本体メモリ１２と、本
体インタフェース１３と、測定条件切換回路１４と、表
示部１５および操作盤１６が含まれている。

本体インタフェース１３には、本体側接続端子Ｊａ、Ｊ
ｂ、・・・Ｊｉが接続されており、そこには、１枚また
は複数のＩＣカード３０ａ、３０ｂ、・・・３０１がカ
ード側接続端子Ｐａ、ｐｂ、・・・Ｐｉを介して挿入さ
れて、接続される。

ＩＣカード３０ａ、３０ｂ・３０　ｉ　　（以下、単に
ＩＣカード３０という。）は、第１図のＩＣカード３０
ａに代表して示されるごとく、カード側接続端子Ｐａに
接続されたカード・インタフェース３３ａ（以下、単に
カード・インタフェース３３という。）と、カード・メ
モリ３２ａ（以下、単にカード・メモリ３２という。）
およびカードＣＰＵ３１ａ（以下、単にカードＣＰＵ３
１という。）を内蔵している。

測定条件切換回路１４は、入力信号４０を、本体ＣＰｔ
Ｊ１１からの制御にもとづき測定条件を切換えて測定し
、測定結果は表示部１５に直接、あるいは必要に応じて
本体ＣＰＵ１１で処理加工して表示され、または本体メ
モリ１２に一時的に記憶され、本体インタフェース１３
からデータ出力４１が送出される。

第１図では、複数のＩＣカード３０が接続され、カード
・メモリ３２には複数の測定条件および手順が書込まれ
ている場合を想定しているが、最も単純な例は、ＩＣカ
ード３０が１枚で、かつ、カード・メモリ３２には、１
つの測定条件およびそれを実施する手順のみが書込まれ
ている場合である。

測定器本体１０は、入力信号４０を捉え、必要があれば
処理、加工をして表示または外部装着へデータを出力す
る作業を受けもつ。本体ＣＰＵ　１１および本体メモリ
１２の容量内で、測定条件、手順の表示、およびデータ
の記憶を実行せしめることは、操作盤１６より指令でき
る。

しかしながら、決った内容の測定条件、手順、処理、加
工を作業のたびごとに操作盤１６より指令するのは面倒
であるばかりでなく、あらゆる想定されつる測定条件や
、手順の指示などのすべてを事前にプログラムしておく
には、本体メモリ１２の内容に限度があり、得策ではな
い。これらの不便を改善するために、ＩＣカード３０を
使用し、その都度簡単な操作で、これらの測定条件や手
順の指示などを設定できるようにし、本体メモリ１２を
有効に使用することができるようにした。

第１図に示すように本体ＣＰＵ１１．本体メモリ１２お
よび本体インタフェース１３と同じ構成の回路が、押法
可能な１枚又は複数枚のＩＣカード３０にも組み込まれ
ており、測定器としての応用範囲、使いやすさが大幅に
改善される。測定器本体１０は、通常の状態においては
、操作盤１６より測定条件などの指示が入力され、本体
ＣＰＵ１１を介して、本体メモリ１２と測定条件切換回
路１４とデータのやりとりを行いながら入力信号４０の
測定処理、加工、データの記憶や外部装置とのデータの
やりとりを実行する。本体ＣＰＵ　１１からのアクセス
によりＩＣカード３０に格納された各種の条件を読みと
って測定を実行するときは、最も簡単な操作盤１６の操
作により（ざらに簡略化されるときはＩＣカード３０を
挿入するだけで自動的にＩＣカード・モードに切り換り
、測定が実行される。）、希望する測定モードで求める
データが得られる。

第１図に示した実施例では、カード・メモリ３２に格納
されている測定条件や手順などが、本体ＣＰＵ１１から
のアクセスにより本体メモリ１２に読み込まれ、そのメ
モリ内容に従って実行する例をあげたが、本体ＣＰＵ１
１とカードＣＰｔＪ３１を介して、カード・メモリ３２
が、あたかも本体メモリ１２の記憶容量を拡大したもの
として動作するようにプログラムを組めば、ざらに本体
メモリ１２およびカード・メモリ３２を有機的に使用す
ることができる。

第２Ａ図、第２Ｂ図および第２Ｃ図は、第１図に示した
回路構成の動作の一例を示すフローチャートであり、こ
れにより動作を説明する。

まず、操作盤１６から操作するか、あるいはＩＣカード
３０を用いて操作をするかの選択をする（Ｓ５１，５５
２）。ＩＣカード３０を用いての操作を選択すると（Ｓ
５２ＹＥＳ）、ＩＣカード３０に内蔵された各種の測定
条件や測定手順や必要な処理などが表示部１５に表示さ
れ、これらを選択する（Ｓ５３）。

ここで測定条件とは、たとえば、入力信号４０に適応す
る電圧や感度のレンジ、時間のレンジ、温度のレンジや
、時間領域測定か、周波数領域測定か、データ出力４１
は、インピーダンス値か、伝送特性か、反射係数かなど
、それらの加工処理をも含めた条件をいう。

測定手順とは、各種の測定を順次ステップを追って実行
する場合のシーケンスなどをいう。

これらの測定条件や測定手順などはカード・メモリ３２
に格納されている。このカード・メモリ３２の内部構成
を第３図に示す。測定器本体１０を動作せしめるための
システム・プログラムがＲＯＭ（リード・オンリ・メモ
リ）に格納され、各種の測定条件Ｃ１，Ｃ２，・・・・
・・Ｃｎ、各種の測定手順、Ｆｌ、Ｆ２．・・・・・・
Ｆｍ、および各種の処理や加工算法Ａ１．Ａ２．・・・
・−ＡｅがＲＯＭまたはＲＡＭ　（ランダム・アクセス
・メモリ）に格納され、測定した結果得られた測定デー
タや、それらの測定データおよびステップＳ５３で選択
した測定条件は、ＲＡＭに格納されている。ＲＡＭは、
必要に応じて電池でバックアップすることが可能である
。

各種の測定条件や手順を組合せたものによるが否かを判
断しく５５４）、組合せ測定でない場合は（３５４ＮＯ
＞、１枚または複数のＩＣカード３０より読み出して、
既定の測定条件や手順などを設定する（３５５＞。

この設定された条件にもとづき測定が実行され（Ｓ５６
）、測定が終了するまで（Ｓ５７）、測定は続けられる
（３５７ＮＯ，５５６）。測定が終了すると（Ｓ５７Ｙ
ＥＳ）　、再度測定をくり返すか否かが判断され（３５
８）、再測定を実行する場合は（３５８ＹＥＳ）　、再
測定の指示が出されて（Ｓ５９）、測定が実行される（
８５６）。

ステップＳ５４において、組合せ測定が選択された場合
には（Ｓ５４ＹＥＳ）　、組合せ測定に入る（第２Ｂ図
、５６１）。

組合せ条件、手順等は、複数のＩＣカード３０に格納さ
れているものから選択するのか否かを判断しく５６２）
、複数のＩＣカード３０から選択する場合は（Ｓ６２Ｙ
ＥＳ）　、複数のＩＣカード３０より測定条件や手順な
どを選択しく５６３）、□測定を実行しく５６４）、測
定が終了するまで（Ｓ６５）、測定は続けられる（３６
５ＮＯ，５６４）。

測定が終了すると（Ｓ６５ＹＥＳ）　、再度測定をくり
返すか否かが判断され（８６６）、再測定を実行する場
合は（Ｓ６６ＹＥＳ）　、再測定の指示が出されて（８
６８）、測定が実行される（Ｓ６４）。再測定をしない
場合には（３６６ＮＯ＞、再設定をして測定するか否か
を判断しく５６７）、再設定する場合には（Ｓ６７ＹＥ
Ｓ）　、ステップＳ６１にもどり、再設定しない場合に
はく８６７ＮＯ）、ステップ５５１（第２Ａ図）にもど
る。

ステップＳ６２において、ＩＣカード３０が複数でない
場合には（３６２ＮＯ＞　、’１枚のＩＣカード３０の
中から設定すべき事項を選択しく５６９）、測定を実行
しく５７０）、測定が終了するまで（Ｓ７’ｌ）、測定
は続けられる（３７１Ｎ０゜５７０＞。測定が終了する
と（Ｓ７１ＹＥＳ）、再度測定をくり返すか否かが判断
され（３７２）、再測定を実行する場合は（Ｓ７２ＹＥ
Ｓ）、再測定の指示が出されて（３７４）、測定が実行
される（Ｓ７０）。再測定をしない場合には（８７２Ｎ
ｏ）　、再設定をして測定するか否かを判断しく５７３
）、再設定する場合には（Ｓ７３ＹＥＳ＞、ステップＳ
６１にもどり、再設定しない場合には（Ｓ７３ＮＯ＞　
、ステップ５５１（第２Ａ図〉にもどる。

ステップＳ５２において、ＩＣカード３０を使用しない
測定が選択されると（３５２ＮＯ＞、操作盤１６より測
定条件や測定手順などを入力して設定しく第２Ｃ図、５
８１）、測定を実行しく５８２）、測定が終了するまで
（３８３）、測定は続けられる（３８３Ｎ０．３８２＞
。測定が終了すると（Ｓ８３ＹＥＳ）、再度測定をくり
返すか否かが判断され（Ｓ８４）、再測定を実行する場
合は（Ｓ８４ＹＥＳ）、再測定の指示が出されて（３８
５）、測定が実行される（３８２）。再測定をしない場
合には（３８４ＮＯ＞　、ステップ５５１（第２Ａ図）
にもどる。

第４Ａ図および第４Ｂ図には、ＩＣカード３０を用いる
測定で市って特別な処理やデータの加工をＩＣカード３
０にプログラムする場合のフローチャートが示されてい
る。これによって、従来得られなかった所望のデータを
データ出力４１として得ることができ、新しいプログラ
ムが開発された場合に、ただちにそれを採用することが
できるから、測定器の応用範囲が大幅に拡大される。

第４△図および第４Ｂ図において、ＩＣカード３０によ
る測定が選択されて（Ｓ９１）、所望のＩＣカードが指
定されるまでＩＣカード３０を選択しく３９２ＮＯ＞　
、指定されたＩＣカード３０である場合には（Ｓ９２Ｙ
ＥＳ）　、そのＩＣカード３０のカード・メモリ３２に
格納された１つのまたは複数の測定条件や、測定手順や
、データの読出しを実行しく５９３）、読出しが終了す
るまで読出しが続けられる（３９４Ｎ０．３９３＞。

この読出しが終了すると（Ｓ９４ＹＥＳ）、測定器本体
１０内で測定がなされ（Ｓ９５）、測定データはＩＣカ
ード３０内で処理加工を必要とするか否かが判断され（
３９６）　、処理加工が必要であると判断されると（Ｓ
９６ＹＥＳ）　、データの処理加工がなされる（３９７
）。

そこで、処理加工されたデータを測定器本体１０へ送出
する必要があるか否かが判断され（３９′８）、送出の
必要必りと判断された場合には（８９８ＹＥＳ）　、処
理加工されたデータは測定器本体１０にフィードバック
される（３９５）。送出の必要なしと判断された場合に
は（３９８ＮＯ＞、処理加工されたデータを記憶する必
要があるか否かが判断される（第４Ｂ図、５１０１）。

記憶の必要性ありと判断されると（Ｓ１０１ＹＥＳ＞　
、処理加工されたデータはカード・メモリ３２に記憶さ
れ（Ｓ１０２）、記憶終了が確認されるまで記憶作業が
続行される（３１０３ＮＯ。

５１０２＞。

記憶作業が終了すると（Ｓ１０３ＹＥＳ）　、同じ測定
を再度実行すべきか否か判断され（Ｓ１０４）、再測定
が必要であると判断されると（３１０４ＹＥＳ）　、測
定器本体１０内での測定が再度実行される（Ｓ９５、第
４Ａ図）。再測定が不要と判断されると（３１０４ＮＯ
＞　、つぎの測定に使用されるＩＣカード３０が指定さ
れるのを待ち（Ｓ１０５）、ステップ５９２（第４Ａ図
）にもどる。

ステップ９６において、測定データの処理加工は不要と
判断されると（３９６ＮＯ＞　、ステップ５１０１に移
行する。

ステップ５１０１において、データの記憶を必要としな
いと判断されると（３１０１ＮＯ＞、ステップ５１０３
に移行する。ステップ５１０２においてカード・メモリ
３２にデータを記憶せしめた場合には、これらのＩＣカ
ード３０を集めて、他のコンピュータなどのＨａでバッ
チ処理して、データの解析をすることも可能でおる。

［発明の効果］以上の説明から明らかなように、本発明によるならば、
小型軽岳で、持ち運びに便利なＩＣカードを用いること
により、計測機器の複雑な機能を熟練と時間を要せずに
、しかも、すくない費用で十分に発揮することができる
ようにするものであり、本発明の効果は極めて大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に関わる計測機器の一実施例の構成をあ
られす回路構成図、第２Ａ図と第２Ｂ図および第２Ｃ図は第１図に示した構
成における動作の一例を示すためのフローチャート、第３図はカード・メモリ３２の内容の一例を示す内容図
、第４Ａ図および第４Ｂ図は第１図に示した構成における
動作の他の一例を示すためのフローチャートである。１０・・・測定器本体　　　１１・・・本体ＣＰＵ１２
・・・本体メモリ１３・・・本体インタフェース１４・・・測定条件切換回路１５・・・表示部　　　　　１６・・・操作盤３０・・
・ＩＣカード　　　３１・・・カードＣＰＵ３２・・・
カード・メモリ３３・・・カード・インタフェース。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）すくなくとも測定条件および測定手順をプログラ
ムに従って設定することのできる計測機器において、すくなくとも前記測定条件および測定手順を格納された
ＩＣカードに対してアクセスするためのアクセス手段を
具備し、すくなくとも前記測定条件および測定手順をプログラム
し実行することを特徴とする計測機器。
（２）前記アクセス手段が、複数のＩＣカードをアクセスして前記複数のＩＣカード
の格納内容を選択するものである特許請求の範囲第１項
記載の計測機器。
（３）前記アクセス手段が、前記プログラムを複数個前
記ＩＣカードに記憶せしめ、前記記憶された複数個のプ
ログラムのうちから、すくなくとも１個のプログラムを
読出すものである特許請求の範囲第１項記載の計測機器
。