JPS62274220A - 計測機器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［産業上の利用分野］ 本発明は、各種の現象を測定し処理し、必要な情報を得
るための計測機器に関する。ざらに具体的には、中央処
理装置によって、ＩＣカードに格納されたプログラムに
したがって、各種の機能や性能を得ることができる改良
された計測機器を提供するものである。

［従来の技術］ 従来から、電気、温度、光、音・・・などを測定し、デ
ータを記録し、蓄積し、処理し、必要な情報を出力する
ための計測機器として、オシロスコープ、スペクトラム
アナライザ、波形解析装置、伝送特性試験器、光特性測
定装置など数多く製品化され実用に供されている。

近年まではこれらの計測機器の性能は比較的限定されて
おり、機能や性能を拡張したり変更する場合には、計測
機の一部のプリント基板や、回路モジュール、あるいは
プラグイン・ユニットを交換することにより実現してい
た。

たとえばマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）と、それを動作
させるだめのソフトウェアのバグを検出し修正するため
のエミュレータでは、デバッグの対象となるＣＰＵの種
類によってプラグイン・ユニットを交換することによっ
て対応していた。

［発明が解決しようとする問題点］ このように、計測機の機能や性能の拡張おるいは変更の
ために、用途に応じてプリント基板や回路モジュール、
あるいはプラグイン・ユニットをいちいら交換して測定
を実行することは、極めて不便でおり、測定時間も多く
かかるという問題点があった。［問題点を解決するため
の手段］本発明は、銀行カードやＩＤ（識別〉カードあ
るいは、キャッシトカードとして注目を集めているＩＣ
カードを利用し、これに内蔵されたメモリに測定機能や
性能を格納した。

［作用］ これによって、各種の測定の場面における最適の機能や
性能をＩＣカードから読出し、計測機器の表示部に表示
し、取扱者はこれを選択しプログラムすれば目的を達成
することができる。

したがって、計測機の回路の一部を交換あるいは付加す
ることを不要とし、間違いなく、迅速に測定作業をする
ことが可能となった。

［実施例］ 本発明に関わる計測機器の一実施例の回路構成を第１図
に示し、これを用いて説明する。

１０は測定機器本体であり、電気、温度、光、音、圧力
などを所定の電気信号に変換した入力信号４０を測定し
、データを記憶し、処理し、表示し、データ出力４１を
出力する。

測定器本体１０には、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う。）でおる本体ＣＰＵ１１と、本体メモリ１２と、本
体インタフェース１３と、機能性能切換回路１４と、表
示部１５および操作盤１６が含まれている。

本体インタフェース１３には、本体側接続端子Ｊａ、Ｊ
ｂ、・・・Ｊｉが接続されており、そこには、１枚また
は複数のＩＣカード３０ａ、３０ｂ、・・・３０ｉがカ
ード側接続喘子Ｐａ、Ｐｂ、・・・Ｐｉを介して挿入さ
れて、接続される。

ＩＣカード３０ａ、３０’ｂ−３０ｉ　（以下、単にＩ
Ｃカード３０という。）は、第′１図のＩＣカード３０
ａに代表して示されるごとく、カード側接続喘子Ｐａに
接続されたカード・インタフェース３３ａ（以下、単に
カード・インタフェース３３という。〉と、カード・メ
モリ３２ａ（以下、単にカード・メモリ３２という。）
およびカードＣＰＵ３１ａ（以下、単にカードＣＰＵ３
１という。）を内蔵している。

機能性能切換回路１４は、入力信号４０を、本体ＣＰＵ
１１からの制御にもとづき、測定すべき機能や性能を切
換えて測定し、測定結果は表示部１５に直接、おるいは
必要に応じて本体ＣＰＵ１１で処理加工して表示され、
または本体メモリ１２に一時的に記憶され、本体インタ
フェース１３からデータ出力４１が送出される。

第１図では、複数の１Ｃカード３０が接続され、カード
・メモリ３２には複数の測定すべき機能および性能が書
込まれている場合を想定しているが、最も単純な例は、
ＩＣカード３０が１枚で、かつ、カード・メモリ３２に
は、１種の測定機能および性能のみが書込まれている場
合でおる。

測定器本体］Ｏは、入力信号４０を捉え、必要があれば
処理、加工をして表示または外部装置へデータを出力す
る作業を受けもつ。本体ＣＰＵ１１および本体メモリ１
２の容量内で、測定職能、性能の表示、およびデータの
記憶を実行せしめることは、操作盤１６より指令できる
。

しかしながら、決った内容の測定機能、性能、処理、加
工を作業のたびごとに操作盤１６より指令したり回路の
一部を交換または追加するのは面倒であるばかりでなく
、あらゆる想定されうる測定条件や、手順の指示などの
すべてを事前にプログラムしておくには、本体メモリ１
２の内容に限度が市り、得策ではない。これらの不便を
改善するだめに、ＩＣカード３０を使用し、その都度簡
単な操作で、これらの測定機能や性能の切換の指示など
を設定できるようにし、本体メモリ１２を有効に使用す
ることができるようにした。

第１図に示すように本体ＣＰｔＪ１１．本体メモリ１２
および本体インタフェース１３と同じ構成の回路が、拝
復可能な１枚又は複数枚のＩＣカード３０にも組み込ま
れており、測定器としての応用範囲、使いやすさが大幅
に改善される。測定器本体１０は、通常の状態において
は、操作盤１６より測定機能や性能などの切換の指示が
入力され、本体ＣＰＵ１１を介して、本体メモリ１２と
機能性能切換回路１４とデータのやりとりを行いながら
入力信号４０の測定処理、加工、データの記憶や外部装
置とのデータのやりとりを実行する。本体ＣＰＵ１１か
らのアクセスによりＩＣカード３０に格納された各種の
設定事項を読みとって測定を実行するときは、最も簡単
な操作盤１６の操作により（ざらに簡略化されるときは
ＩＣカード３０を挿入するだけで自動的に１．Ｃカード
・モードに切り換り、測定が実行される。）、希望する
測定モードで求めるデータが１ｑられる。

第１図に示した実施例では、カード・メモリ３２に格納
されている測定の機能や性能などが、本体ＣＰＵ１１か
らのアクセスにより本体メモリ１２に読み込まれ、その
メモリ内容に従って実行する例をあげたが、本体ＣＰｔ
Ｊ１１とカードＣＰＵ３１を介して、カード・メモリ３
２が、あたかも本体メモリ１２の記憶容量を拡大したも
のとして動作するようにプログラムを組めば、さらに本
体メモリ１２およびカード・メモリ３２を有機的に使用
することができる。

第２Ａ図、第２Ｂ図および第２Ｃ図は、第１図に示した
回路構成の動作の一例を示すフローチｔ？−トであり、
これにより動作を説明する。

まず、操作盤１６から操作するか、あるいはＩＣカード
３０を用いて操作をするかの選択をする（３５１，５５
２）。ＩＣカード３０を用いての操作を選択すると（Ｓ
５２ＹＥＳ）　、ＩＣカード３０に内蔵された各種の測
定機能や測定性能や必要な処理などが表示部１５に表示
され、これらを選択する（Ｓ５３）。

ここで測定機能とは、電流測定、電圧測定、周波数測定
、温度測定、ガス圧測定、光パワー測定などや、ロジッ
ク信号、アナログ信号の測定やアセンブリ、逆アセンブ
リ、エミュレートなどのデバッグ作業、ＦＦＴやＴＤＲ
などの測定をいう。

測定性能とは、たとえば周波数測定の場合に、測定可能
な周波数範囲や信号の電圧範囲、精度、安定度、測定ス
ピードなどをいう。

これらの測定機能や測定性能などはカード・メモリ３２
に格納されている。このカード・メモリ３２の内部構成
を第３図に示す。測定器本体１０を動作せしめるための
システム・プログラムがＲＯＭ（リード・オンリ・メモ
リ）に格納され、各種の測定機能Ｆｌ、Ｆ２．・・・・
・・Ｆｎ１各種の測定性能、Ｃ１，Ｃ２，・・・・・・
Ｃｍ、および各種の処理や加工算法Ａ１．Ａ２．・・・
・・・ＡｅがＲＯＭまたはＲＡＭ　（ランダム・アクセ
ス・メモリ）に格納され、測定した結果得られた測定デ
ータや、それらの測定データおよびステップＳ５３で選
択した測定機能、性能は、ＲＡＭに格納されている。Ｒ
ＡＭは、必要に応じて電池でバックアップすることが可
能である。

各種の測定機能や性能を組合せたものによるが否かを判
断しく５５４）、組合せ測定でない場合は（８５４ＮＯ
＞、１枚または複数のＩＣカード３０より読み出して、
既定の測定機能や性能などを＝ｑ定する（３５５）。

この設定された事項にもとづき測定が実行され（Ｓ５６
）、測定が終了するまで（Ｓ５７）、測定は続けられる
（３５７ＮＯ，５５６）。測定が終了すると（Ｓ５７Ｙ
ＥＳ）　、再度測定をくり返すか否かが判断され（３５
８）、再測定を実行する場合は（３５８ＹＥＳ）　、再
測定の指示が出されて（Ｓ５９）、測定が実行される（
Ｓ５６＞。

ステップ８５４において、組合せ測定が選択された場合
には（Ｓ５４ＹＥＳ）　、組合せ測定に入る（第２Ｂ図
、５６１）。

組合せ条件、手順等は、複数のＩＣカード３０に格納さ
れているものから選択するのが否かを判断しく３６２）
、複数のＩＣカード３ｏがら選択する場合は（Ｓ６２Ｙ
ＥＳ）、複数のＩＣカードより測定機能や性能などを選
択しく５６３）、測定を実行しく５６４）、測定が終了
するまで（Ｓ６５）、測定は続けらＬ６　（３６５ＮＯ
，５６４）測定が終了すると（Ｓ６５ＹＥＳ）　、再度
測定をくり返すか否かが判断され（Ｓ６６）　、再測定
を実行する場合は（Ｓ６６ＹＥＳ）　、再測定の指示が
出されて（８６８）、測定が実行される（Ｓ６４）。再
測定をしない場合には（３６６ＮＯ＞、再設定をして測
定するか否かを判断しく５６７）、再設定する場合には
（Ｓ６７ＹＥＳ）、ステップ８６１にもどり、再設定し
ない場合には（８６７Ｎｏ）　、ステップ５５１（第２
Ａ図〉にもどる。

ステップ３６２において、ＩＣカード３０が複数でない
場合には（３６２ＮＯ＞、１枚のＩＣカード３０の中か
ら設定すべき事項を選択しく５６９）、測定を実行しく
５７０）、測定が終了するまで（Ｓ７１）、測定は続け
られる（３７１Ｎ０゜３７０＞。測定が終了すると（Ｓ
７１ＹＥＳ）、再度測定をくり返すか否かが判断され（
３７２）、再測定を実行する場合は（Ｓ７２ＹＥＳ）　
、再測定の指示が出されて（Ｓ７４）、測定が実行され
る（Ｓ７０）。再測定をしない場合には（８７２ＮＯ）
、再設定をして測定するか否かを判断しく５７３）、再
設定する場合には（Ｓ７３ＹＥＳ）、ステップ３６１に
もどり、再設定しない場合には（８７３ＮＯ）　、ステ
ップ５５１（第２Ａ図）にもどる。

ステップ３５２において、ＩＣカード３０を使用しない
測定が選択されると（８５２ＮＯ＞　、操作盤１６より
測定機能や測定性能などを入力して設定しく第２Ｃ図、
５８１）、測定を実行しく５８２）、測定が終了するま
で（８８３）、測定は続けられる（３８３Ｎ０．３８２
＞。測定が終了すると（Ｓ８３ＹＥＳ）　、再度測定を
くり返すか否かが判断され（３８４）、再測定を実行す
る場合は（Ｓ８４ＹＥＳ）　、再測定の指示が出されて
（Ｓ８５）、測定が実行される（８８２）。再測定をし
ない場合には（３８４ＮＯ＞　、ステップ５５１（第２
Ａ図）にもどる。

第４Ａ図および第４Ｂ図には、ＩＣカード３０を用いる
測定であって特別な処理やデータの加工をＩＣカード３
０にプログラムする場合のフローチャートが示されてい
る。これによって、従来得られなかった所望のデータを
データ出力４１として１ｑることができ、新しいプログ
ラムが開発された場合に、ただちにそれを採用すること
ができるから、測定器の応用範囲が大幅に拡大される。

第４Ａ図および第４Ｂ図において、ＩＣカード３０によ
る測定が選択されて（Ｓ９１）、所望のＩＣカードが指
定されるまでＩＣカード３０を選択しく３９２ＮＯ＞　
、指定されたＩＣカード３０である場合には（Ｓ９２Ｙ
ＥＳ）　、そのＩＣカード３０のカード・メモリ３２に
格納された１つのまたは複数の測定機能や、測定性能や
、データの読出しを実行しく５９３）、読出しが終了す
るまで読出しが続けられる（３９４Ｎ０．３９３＞。

この読出しが終了すると（Ｓ９４ＹＥＳ）　、測定器本
体１０内で測定がなされ（Ｓ９５）、測定データはＩＣ
カード３０内で処理加工を必要とするか否かが判断され
（Ｓ９６）、９１ａ理加工が必要であると判断されると
（Ｓ９６ＹＥＳ）　、データの処理加工がなされる（Ｓ
９７）。

そこで、処理加工されたデータを測定器本体１０へ送出
する必要があるか否かが判断され（３９８）、送出の必
要ありと判断された場合には（Ｓ９８ＹＥＳ）　、処理
加工されたデータは測定器本体１０にフィードバックさ
れる（Ｓ９５）。送出の必要なしと判断された場合には
（３９８ＮＯ＞、処理加工されたデータを記憶する必要
があるか否かが判断される（第４Ｂ図、３１０１）。

記憶の必要性ありと判断されると（Ｓ１０１ＹＥＳ）、
処理加工されたデータはカード・メモリ３２に記憶され
（３１０２＞、記憶終了が確認されるまで記憶作業が続
行される（３１０３ＮＯ。

５１０２＞。

記憶作業が終了すると（Ｓ１０３ＹＥＳ）　、同じ測定
を再度実行すべきか否か判断され（ＳｉＯ２）、再測定
が必要であると判断されると（Ｓ１０４ＹＥＳ）、測定
器本体１０内での測定が再度実行される（Ｓ９５、第４
Ａ図）。再測定が不要と判断されると（Ｓ１０４ＮＯ＞
　、つぎの測定に使用されるＩＣカード３０が指定され
るのを持ち（Ｓ１０５）、ステップ５９２（第４Ａ図）
にもどる。

ステップ９６において、測定データの処理加工は不要と
判断されると（３９６ＮＯ）　、ステップ３１０１に移
行する。

ステップ５１０１において、データの記憶を必要としな
いと判断されると（８１０１ＮＯ＞、ステップ３１０３
に移行する。ステップ５１０２においてカード・メモリ
３２にデータを記憶せしめた場合には、これらのＩＣカ
ード３０を集めて、他のコンピュータなどの装置でバッ
チ処理して、データの解析をすることも可能である。

［発明の効果］ 以上の説明から明らかなように、本発明によるならば、
小型軽０で、持ち運びに便利なＩＣカードを用いること
により、計測機器の複雑な機能と性能を構成要素の交換
を要せずに、しかも、すくない費用で十分に発揮するこ
とができるようにするものであり、本発明の効果は極め
て大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に関わる計測機器の一実施例の構成をあ
られす回路構成図、 第２Ａ図と第２Ｂ図および第２Ｃ図は第１図に示した構
成における動作の一例を示すためのフローチャート、 第３図はカード・メモリ３２の内容の一例を示す内容図
、 第４Ａ図および第４Ｂ図は第１図に示した構成における
動作の他の一例を示すためのフローチャートである。 １０・・・測定器本体　　　１１・・・本体ＣＰＬＪ１
２・・・本体メモリ １３・・・本体インタフェース １４・・・機能性能切換回路 １５・・・表示部　　　　　１６・・・操作盤３０・・
・ＩＣカード　　　３１・・・カードＣＰＵ３２・・・
カード・メモリ ３３・・・カード・インタフェース。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）すくなくとも測定機能および測定性能をプログラ
   ムに従って設定することのできる計測機器において、 すくなくとも前記測定機能および測定性能を格納された
   ＩＣカードに対してアクセスするためのアクセス手段を
   具備し、 すくなくとも前記測定機能および測定性能をプログラム
   し実行することを特徴とする計測機器。
2. （２）前記アクセス手段が、 複数のＩＣカードをアクセスして前記複数のＩＣカード
   の格納内容を選択するものである特許請求の範囲第１項
   記載の計測機器。
3. （３）前記アクセス手段が、前記プログラムを複数個前
   記ＩＣカードに記憶せしめ、前記記憶された複数個のプ
   ログラムのうちから、すくなくとも１個のプログラムを
   読出すものである特許請求の範囲第１項記載の計測機器
   。