CN116909900A - 自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116909900A CN116909900A CN202310880199.0A CN202310880199A CN116909900A CN 116909900 A CN116909900 A CN 116909900A CN 202310880199 A CN202310880199 A CN 202310880199A CN 116909900 A CN116909900 A CN 116909900A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- message signal
- tested
- optimal
- test case
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 368
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000013515 script Methods 0.000 claims description 20
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 8
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 13
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 10
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 2
- 241000976924 Inca Species 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
- G06F11/3688—Test management for test execution, e.g. scheduling of test suites
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
- G06F11/3684—Test management for test design, e.g. generating new test cases
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3696—Methods or tools to render software testable
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
本申请涉及电池测试技术领域,特别涉及一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括:判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号,并在接收到报文信号的测试指令时,根据测试需求匹配最优测试用例,并将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。由此,解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以实现自动导入信号、自动生成测试报告、自动保存测试数据和自动数据校核便于后续测试分析和追溯。
Description
技术领域
本发明涉及车辆测试技术领域,具体涉及一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
汽车软件开发大多遵循V型开发流程,系统需求-功能设计-概要设计-详细设计-软件实现-单元测试-集成测试-系统测试-实车测试。V型开发流程能缩短软件开发周期,其中的系统测试就是测试电子控制器在真实环境下的功能实现情况。
申请号为:202210188020.0,发明名称为一种电池管理系统HIL(Hardware-in-the-Loop,硬件在环)自动测试方法及系统公开了一种技术方案:包括建立适应于专用系统的信号代码集收集与HIL测试相关信号,相关信号包含可直接使用的HIL测试通道信息,HIL测试通道信息指定要建立测试连接的HIL台架映射地址,给专用系统连接各个HIL台架提供可能;建立独立于HIL台架的mapping表格根据不同HIL测试通道信息对应不同HIL测试台架上的实际信号,将实际信号作为DLL(Dynamic Link Library,可执行文件)文件形式的执行时序表中的输入信号和输出信号。然而,该方案系统冗余,项目变更后不能快速切换。并且每次编写测试用例后需要获取新的信号地址,过程较为繁琐。
申请号为:202111358013.2,发明名称为一种基于ECU(Electronic ControlUnit,电子控制单元)-TEST的汽车控制测试方法及系统。利用ECU-TEST调用CANOE(Controller Area Network Open Environment,软件开发总环境)中的函数接口,构建测试工装、选择硬件接口、添加工作空间,根据测试实际工况,编写测试用例。然而,该方案软硬件设备昂贵,维护和保养成本太高,而且该系统是针对通用控制器测试,没有专门对BMSHIL(Battery Management System,电池管理系统)测试开发。
发明内容
本申请提供一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,以解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以自动保存测试数据,便于后续测试分析和追溯。
本申请第一方面实施例提供一种自动化测试方法,包括以下步骤:判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,所述测试指令包括测试需求和待测试报文信号;若接收到所述报文信号的测试指令,则根据所述测试需求匹配最优测试用例;以及将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到所述待测试报文信号测试报告。
根据上述技术手段,本申请可以通过自动导入信号,自动生成测试报告并保存测试数据解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以自动保存测试数据,便于后续测试分析和追溯。
可选地,在一些实施例中,所述根据所述测试需求匹配所述最优测试用例,还包括:判断当前测试用例库中是否存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例;若所述当前测试用例库中存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例,则从所述当前测试用例库中调用所述最优测试用例,否则,基于所述测试需求编写所述最优测试用例。
根据上述技术手段,本申请可以根据测试需求匹配测试用例,在存在需求的测试用例时,直接调用测试用例,并在不存在需求的测试用例时,手动编写,避免了重复编写测试用例,节约大量测试时间,缩短测试周期。
可选地,在一些实施例中,在得到所述待测试报文信号测试报告之后,还包括:基于所述报文信号测试报告,判断测试结果与期望结果是否一致;若所述测试结果与所述期望结果一致,则判定测试通过,否则,判定测试失败。
根据上述技术手段,本申请可以通过报文测试报告得到测试结果,并将测试结果与期望结果对比,若测试结果达到期望结果则判定测试通过,否则,判定测试失败,可以避免购买昂贵的标定设备,节约研发成本,
可选地,在一些实施例中,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之后,还包括:接收测试所述待测试报文信号所需的电压信号和电阻信号;将所述电压信号和所述电阻信号输入至所述预设的测试软件。
根据上述技术手段,将电压信号电阻信号等硬件信号输入至预设的测试软件,以通过测试软件控制处理器利用信号调理电源把电压仿真板卡输出的电压调整为合适的单体电芯的电压,而阻抗仿真板卡直接输出电阻,实现自动化测试。
可选地,在一些实施例中,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之前,还包括:将所述预设的测试软件的接口编写为应用程序编程接口API(Application Programming Interface,应用程序编程接口)接口;对所述API接口进行封装,得到所述待测试报文信号的测试脚本,以在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件后,通过所述测试脚本进行测试。
根据上述技术手段,本申请可以将测试软件接口编写为API接口,使得测试软件得以和测试工程以及数据记录软件交互,从而实现自动化测试。
可选地,在一些实施例中,所述测试脚本包括:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定中的至少一种。
根据上述技术手段,本申请可以将测试软件接口编写为API接口,使得测试软件得以和测试工程以及数据记录软件交互,从而实现自动化测试。
本申请第二方面实施例提供一种自动化测试装置,包括:判断模块,用于判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,所述测试指令包括测试需求和待测试报文信号;匹配模块,用于在接收到所述报文信号的测试指令时,根据所述测试需求匹配最优测试用例;测试模块,用于将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到所述待测试报文信号测试报告。
可选地,在一些实施例中,所述匹配模块,还包括:第一判断单元,用于判断当前测试用例库中是否存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例;调用单元,用于在所述当前测试用例库中存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例时,从所述当前测试用例库中调用所述最优测试用例,否则,基于所述测试需求编写所述最优测试用例。
可选地,在一些实施例中,在得到所述待测试报文信号测试报告之后,所述测试模块,还包括:第二判断单元,用于基于所述报文信号测试报告,判断测试结果与期望结果是否一致;判定单元,用于在所述测试结果与所述期望结果一致时,判定测试通过,否则,判定测试失败。
可选地,在一些实施例中,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之后,所述测试模块,还包括:接收单元,用于接收测试所述待测试报文信号所需的电压信号和电阻信号;输入单元,用于将所述电压信号和所述电阻信号输入至所述预设的测试软件。
可选地,在一些实施例中,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之前,所述测试模块,还包括:编写单元,用于将所述预设的测试软件的接口编写为应用程序编程接口API接口;封装单元,用于对所述API接口进行封装,得到所述待测试报文信号的测试脚本,以在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件后,通过所述测试脚本进行测试。
可选地,在一些实施例中,所述测试脚本包括:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定中的至少一种。
本申请第三方面实施例提供一种电子设备,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序,以实现如上述实施例所述的自动化测试方法。
本申请第四方面实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行,以用于实现如上述实施例所述的自动化测试方法。
本发明的有益效果:
(1)本申请可以通过自动导入信号,自动生成测试报告并保存测试数据解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以自动保存测试数据,便于后续测试分析和追溯;
(2)本申请可以根据测试需求匹配测试用例,在存在需求的测试用例时,直接调用测试用例,并在不存在需求的测试用例时,手动编写,避免了重复编写测试用例,节约大量测试时间,缩短测试周期;
(3)本申请可以将测试软件接口编写为API接口,使得测试软件得以和测试工程以及数据记录软件交互,从而实现自动化测试。
附图说明
图1为根据本申请实施例提供的自动化测试方法的流程图;
图2为根据本申请一个实施例提供的自动化测试方法的测试台架连接示意图;
图3为根据本申请一个实施例提供的自动化测试方法的流程图;
图4为根据本申请实施例提供的自动化测试方法的原理示意图;
图5为根据本申请实施例提供的自动化测试装置的方框示意图;
图6为根据本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
附图标记说明:10-自动化测试装置;100-判断模块、200-匹配模块和300-测试模块;601-存储器、602-处理器和603-通信接口。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
下面参考附图描述本申请实施例的自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质。针对上述背景技术中提到的相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,本申请提供了一种自动化测试方法,在该方法中,通过判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号,并在接收到报文信号的测试指令时,根据测试需求匹配最优测试用例,并将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。由此,解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以实现自动导入信号、自动生成测试报告、自动保存测试数据和自动数据校核便于后续测试分析和追溯。
具体而言,图1为本申请实施例所提供的一种自动化测试方法的流程示意图。
如图1所示,该自动化测试方法包括以下步骤:
在步骤S101中,判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号。
具体地,本申请实施例判断是否接收到待测试报文信号和测试需求,以方便后续基于测试需要对待测试报文信号进行测试,
在实际执行过程中,如图2所示,打开测试软件并启动测试台架和测试工程,启动测试工程时,可以将simulink模型编译得到的动态链接库(DLL)文件通过TCP(Transmission Control Protocol,传输控制协议)协议部署到下位机的实时处理器中。
测试工程针对不同的项目的创建,不同项目间的工程原则上不能通用,动态链接库通过模型只需要编译一次,对各工程是通用。实时处理器通过调用动态链接库中的接口从而去控制各种板卡,包括电压仿真板卡、电阻仿真板卡、温度仿真板卡以及通讯板卡等。
如图3所示,首先将工程中的PT_CAN和其它CAN网络中的信号导入到测试软件中,用于表示CAN信号的DBC文件通常被添加到下位机的CAN卡中,因此导入的信号的是包含其位置的一连串字符。
其中,报文信号类型是字符串,为后续方便编写测试用例,可将其重命名为单个信号名称。本申请实施例的HIL自动化测试方法针对电池控制单元,BCU发出的报文就是测试对象,因此以Bcu开头的信号只能读不能写,其它报文,例如电机控制器、整车控制器、网关等发出的报文既能读也能写,这些控制器的报文是由下位机中的CAN卡模拟发出的。
在步骤S102中,若接收到报文信号的测试指令,则根据测试需求匹配最优测试用例。
可选地,在一些实施例中,根据测试需求匹配最优测试用例,还包括:判断当前测试用例库中是否存在与测试需求匹配的最优测试用例;若当前测试用例库中存在与测试需求匹配的最优测试用例,则从当前测试用例库中调用最优测试用例,否则,基于测试需求编写最优测试用例。
具体地,在接收到报文信号的测试指令,需要根据测试需要匹配最优测试用例,其中,测试用例可以根据测试需求手动编写,同个测试需求可以至编写一次,后续测试可根据电池软件变更点,选择执行相应的用例,本申请实施例可以判断当前测试用例库中是否存在于测试需求匹配的最优测试用例,如果当前测试用例库中存在,则直接调用选择最优测试用例,否则,根据测试需求手动编写测试用例,并在编写完测试用例后,将新编写的测试用例保存至测试用例库中。相比于手工测试,避免了重复编写测试用例,节约大量测试时间,缩短测试周期。
在步骤S103中,将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。
具体地,本申请实施例在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,自动执行完测试用例后,可以根据预先定制的报告格式生成自动化报告,自动化报告中可以包括:执行的用例是否通过、回采的信号值、信号图片等。自动生成测试报告可避免手工编写报告的繁琐,具有经济性和简便性。
可选地,在一些实施例中,在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件之后,还包括:接收测试待测试报文信号所需的电压信号和电阻信号;将电压信号和电阻信号输入至预设的测试软件。
需要说明的是,本申请实施例提供一种自动导入各种信号的方法,自动导入报文信号、硬线信号等;信号在工程中的位置被描述为计算机语言的字符串格式,在本申请实施例中,所有信号都作为字符串格式导入到所选择的计算机语言中,为后续方便编写测试用例,重命名每个信号。基于此,该自动化测试系统可适用于所有关于BMS的硬件在环测试。
具体地,如图3所示,本申请实施例在导入报文信号后,需要把硬线信号,如电压信号和电阻信号也导入到测试软件中,如图2所示,信号调理电源把电压仿真板卡输出的电压调整为合适的单体电芯的电压,而阻抗仿真板卡直接输出电阻。
电阻的采集对象可以包括CC(Constant Current,恒流模式)、CC2电阻,负温度热敏电阻NTC(Negative Temperature CoeffiCient,负温度系数)等。同样地,电阻是由板卡输出的,导入的电阻信号是包含其板卡位置的一连串字符,电压的采集对象是BMU,simulink导出的模型既能控制每个单体电压也能控制总电压。
可选地,在一些实施例中,在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件之前,还包括:将预设的测试软件的接口编写为应用程序编程接口API接口;对API接口进行封装,得到待测试报文信号的测试脚本,以在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件后,通过测试脚本进行测试。
可选地,在一些实施例中,测试脚本包括:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定中的至少一种。
具体地,在完成开始测试的前置条件后,如图3所示,当前必须把各软件的API接口写成脚本,通过API接口,测试软件得以和测试工程以及数据记录软件交互,从而实现自动化测试。脚本的实现可通过各种语言编写,在此不做具体限定。
结合图4所示,软件API接口包括可以NI Veristand、CANalyzer、CANoe、CANape、INCA、dSPACE等,接口通过一种高级语言编写成脚本,通过诸多API接口即可访问这些软件,各API接口提供了众多函数,为方便统一调用,可再次封装成一个统一的脚本。脚本里面应至少包含以下功能:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定等。
可选地,在一些实施例中,在得到待测试报文信号测试报告之后,还包括:基于报文信号测试报告,判断测试结果与期望结果是否一致;若测试结果与期望结果一致,则判定测试通过,否则,判定测试失败。
具体地,如图3所示,编写完测试用例后,即可执行测试并导出测试报告。在执行测试过程中可以遇到不通过的用例程序退出,也可以等全部用例执行完程序退出,最终应根据测试报告内容决定是否通过本次测试。
作为一种可能实现的方式,本申请实施例可根据标定协议和A2L文件进行ECU标定,并且可根据A2L文件自动解析出全部标定量和观测量的名称、地址、类型、最大值、最小值。标定协议包括各版本的CCP(CAN Calibration Protocol)和XCP(UniversalCalibration Protocol)协议。根据标定量和观测量的地址进行标定和观测,自动发送标定和观测报文,依据观测结果生成标准的MDF(Mirror Disc File媒体光盘映像文件)文件,由此,可避免购买昂贵的标定设备,节约研发成本。
本申请实施例的自动化测试方法,包括自动导入报文信号、硬线信号、电压信号、电阻信号等;自动生成测试报告;自动保存测试数据;自动数据校核;自动报文交互等。其中,导入的报文信号可以包括BMS涉及到的所有信号,其中,硬线信号包括CC、CC2电阻、VCU唤醒等,电压信号包括所有供给分板的单体电压,电阻信号包括NTC电阻、绝缘电阻等,测试报告能反映测试用例以及回采用于判断的信号,自动保存测试数据将把测试开始到测试结束涉及到的所有信号保存为特定格式,用于后续测试分析和追溯,自动数据校核将测试时间内特定信号保存为更直观的图片形式。
根据本申请实施例提出的自动化测试方法,通过判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号,并在接收到报文信号的测试指令时,根据测试需求匹配最优测试用例,并将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。由此,解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以实现自动导入信号、自动生成测试报告、自动保存测试数据和自动数据校核便于后续测试分析和追溯。
其次参照附图描述根据本申请实施例提出的自动化测试装置。
图5是本申请实施例的自动化测试装置的方框示意图。
如图5所示,该自动化测试装置10包括:判断模块100、匹配模块200和测试模块300。
其中,判断模块100,用于判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号。
匹配模块200,用于在接收到报文信号的测试指令时,根据测试需求匹配最优测试用例。
测试模块300,用于将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。
可选地,在一些实施例中,匹配模块200,还包括:第一判断单元和调用单元。
其中,第一判断单元,用于判断当前测试用例库中是否存在与测试需求匹配的最优测试用例。
调用单元,用于在当前测试用例库中存在与测试需求匹配的最优测试用例时,从当前测试用例库中调用最优测试用例,否则,基于测试需求编写最优测试用例。
可选地,在一些实施例中,在得到待测试报文信号测试报告之后,测试模块300,还包括:第二判断单元和判定单元。
其中,第二判断单元,用于基于报文信号测试报告,判断测试结果与期望结果是否一致。
判定单元,用于在测试结果与期望结果一致时,判定测试通过,否则,判定测试失败。
可选地,在一些实施例中,在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件之后,测试模块300,还包括:接收单元和输入单元。
其中,接收单元,用于接收测试待测试报文信号所需的电压信号和电阻信号。
输入单元,用于将电压信号和电阻信号输入至预设的测试软件。
可选地,在一些实施例中,在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件之前,测试模块300,还包括:编写单元和封装单元。
其中,编写单元,用于将预设的测试软件的接口编写为应用程序编程接口API接口。
封装单元,用于对API接口进行封装,得到待测试报文信号的测试脚本,以在将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件后,通过测试脚本进行测试。
可选地,在一些实施例中,测试脚本包括:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定中的至少一种。
需要说明的是,前述对自动化测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的自动化测试装置,此处不再赘述。
根据本申请实施例提出的自动化测试装置,通过判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,测试指令包括测试需求和待测试报文信号,并在接收到报文信号的测试指令时,根据测试需求匹配最优测试用例,并将最优测试用例和待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到待测试报文信号测试报告。由此,解决相关技术测试过程繁琐,维护和保养成本高的问题,可以实现自动导入信号、自动生成测试报告、自动保存测试数据和自动数据校核便于后续测试分析和追溯。
图6为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。该电子设备可以包括:
存储器601、处理器602及存储在存储器601上并可在处理器602上运行的计算机程序。
处理器602执行程序时实现上述实施例中提供的自动化测试方法。
进一步地,电子设备还包括:
通信接口603,用于存储器601和处理器602之间的通信。
存储器601,用于存放可在处理器602上运行的计算机程序。
存储器601可能包含高速RAM(Random Access Memory,随机存取存储器)存储器,也可能还包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器。
如果存储器601、处理器602和通信接口603独立实现,则通信接口603、存储器601和处理器602可以通过总线相互连接并完成相互间的通信。总线可以是ISA(IndustryStandard Architecture,工业标准体系结构)总线、PCI(Peripheral Component,外部设备互连)总线或EISA(Extended Industry Standard Architecture,扩展工业标准体系结构)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图6中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
可选的,在具体实现上,如果存储器601、处理器602及通信接口603,集成在一块芯片上实现,则存储器601、处理器602及通信接口603可以通过内部接口完成相互间的通信。
处理器602可能是一个CPU(Central Processing Unit,中央处理器),或者是ASIC(Application Specific Integrated Circuit,特定集成电路),或者是被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如上的自动化测试方法。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不是必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或N个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中,“N个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更N个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解,本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,N个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如,如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列,现场可编程门阵列等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本申请的限制,本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种自动化测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,所述测试指令包括测试需求和待测试报文信号;
若接收到所述报文信号的测试指令,则根据所述测试需求匹配最优测试用例;以及
将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到所述待测试报文信号测试报告。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试需求匹配所述最优测试用例,还包括:
判断当前测试用例库中是否存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例;
若所述当前测试用例库中存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例,则从所述当前测试用例库中调用所述最优测试用例,否则,基于所述测试需求编写所述最优测试用例。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在得到所述待测试报文信号测试报告之后,还包括:
基于所述报文信号测试报告,判断测试结果与期望结果是否一致;
若所述测试结果与所述期望结果一致,则判定测试通过,否则,判定测试失败。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之后,还包括:
接收测试所述待测试报文信号所需的电压信号和电阻信号;
将所述电压信号和所述电阻信号输入至所述预设的测试软件。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件之前,还包括:
将所述预设的测试软件的接口编写为应用程序编程接口API接口;
对所述API接口进行封装,得到所述待测试报文信号的测试脚本,以在将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至所述预设的测试软件后,通过所述测试脚本进行测试。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述测试脚本包括:工程启停、通道读写、数据记录、数据导出、编写报告、信号标定中的至少一种。
7.一种自动化测试装置,其特征在于,包括:
判断模块,用于判断是否接收到报文信号的测试指令,其中,所述测试指令包括测试需求和待测试报文信号;
匹配模块,用于在接收到所述报文信号的测试指令时,根据所述测试需求匹配最优测试用例;
测试模块,用于将所述最优测试用例和所述待测试报文信号输入至预设的测试软件,得到所述待测试报文信号测试报告。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述匹配模块,还包括:
第一判断单元,用于判断当前测试用例库中是否存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例;
调用单元,用于在所述当前测试用例库中存在与所述测试需求匹配的所述最优测试用例时,从所述当前测试用例库中调用所述最优测试用例,否则,基于所述测试需求编写所述最优测试用例。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序,以实现如权利要求1-6任一项所述的自动化测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行,以用于实现如权利要求1-6任一项所述的自动化测试方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310880199.0A CN116909900A (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310880199.0A CN116909900A (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116909900A true CN116909900A (zh) | 2023-10-20 |
Family
ID=88357721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310880199.0A Pending CN116909900A (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116909900A (zh) |
-
2023
- 2023-07-18 CN CN202310880199.0A patent/CN116909900A/zh active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100366963B1 (ko) | 반도체 디바이스 시뮬레이트 장치 및 그것을 이용한반도체 테스트용 프로그램 디버그 장치 | |
CN108205308A (zh) | 一种基于车身域控制器的自动诊断测试系统 | |
KR101149270B1 (ko) | 집적 회로 디바이스를 테스트하는 시스템 및 방법 | |
US6622272B1 (en) | Automatic test equipment methods and apparatus for interfacing with an external device | |
CN104298224A (zh) | 车载电子控制单元can总线通信自动化测试装置及系统 | |
CN107370637B (zh) | 车载ecu通信功能自动化测试系统及方法 | |
JP2009116878A (ja) | 試験装置のシミュレーションシステム、方法、及びプログラム製品 | |
JP4334463B2 (ja) | 半導体集積回路のテスト装置および方法 | |
CN210666480U (zh) | 一种车辆测试系统 | |
CN114333962A (zh) | 闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 | |
CN113759879B (zh) | 一种基于L3整车架构的车载以太网DoIP诊断刷写测试方法及系统 | |
CN114639439B (zh) | 芯片内部sram测试方法、装置、存储介质及ssd设备 | |
CN114895649A (zh) | 一种电动汽车热管理系统测试装置、方法、系统及电子设备 | |
CN207541496U (zh) | 一种基于车身域控制器的自动诊断测试装置 | |
CN118280430A (zh) | 存储芯片的cp测试系统、方法、装置和计算机设备 | |
CN114113859A (zh) | 一种汽车组合仪表电气功能测试装置及其测试方法 | |
CN114019357A (zh) | 一种逻辑处理模块的测试引脚的管理方法及相关组件 | |
CN116909900A (zh) | 自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
JP3249040B2 (ja) | スキャンテスト装置 | |
KR20230076317A (ko) | 모의 시험 장치 및 그 제어 방법 | |
CN114879647A (zh) | Ecu故障码测试系统、电子控制器及汽车 | |
JP2001273794A (ja) | フェイル前情報取得回路およびその取得方法 | |
CN114187957A (zh) | 一种存储器测试系统及其使用方法 | |
CN115328708A (zh) | 串行外设接口时序的参数测试方法及测试装置 | |
Xu et al. | Design of vehicle gateway automatic test system based on CANoe |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |