JPS62266161A - 単分子膜 - Google Patents
単分子膜Info
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- JPS62266161A JPS62266161A JP61108839A JP10883986A JPS62266161A JP S62266161 A JPS62266161 A JP S62266161A JP 61108839 A JP61108839 A JP 61108839A JP 10883986 A JP10883986 A JP 10883986A JP S62266161 A JPS62266161 A JP S62266161A
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Classifications
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-
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-
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- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は有機単分子膜、特に親水性基材に吸着可能で
あり、かつ吸着後に気体側(基材と反対側)に親水性基
、もしくは反応性親水性基を有することを特徴とする有
機単分子膜に関するものである。
あり、かつ吸着後に気体側(基材と反対側)に親水性基
、もしくは反応性親水性基を有することを特徴とする有
機単分子膜に関するものである。
[従来の技術]
有機化合物の単分子膜、累積膜には数多くの用途が市る
。エレク1〜ロニクスの分野では、例えば、膜厚を正確
に制御した半導体装置用絶縁膜、磁気ディスク装置等の
保護潤滑膜、光電変換膜、光学的情報記録膜、光学的情
報記憶膜などへの応用が検討されている。これらの目的
のために、単分子膜、累積膜を作製する方法として、水
面上で両親媒性物質を高度に分子配向させて単分子層と
し、その単分子層を基材上に写し取る方法、いわゆるラ
ングミュア−プロジェット法が多く用いられている。
。エレク1〜ロニクスの分野では、例えば、膜厚を正確
に制御した半導体装置用絶縁膜、磁気ディスク装置等の
保護潤滑膜、光電変換膜、光学的情報記録膜、光学的情
報記憶膜などへの応用が検討されている。これらの目的
のために、単分子膜、累積膜を作製する方法として、水
面上で両親媒性物質を高度に分子配向させて単分子層と
し、その単分子層を基材上に写し取る方法、いわゆるラ
ングミュア−プロジェット法が多く用いられている。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、この方法で作製−される単分子膜、累積
膜を構成する材料分子は、一般に長鎖アルキル基の一方
の末端のみに親水基を有するものである。かかる構成分
子から成る単分子膜、累積膜を作製する場合は、熱力学
的な安定性の問題から、膜の支台、すなわち基材と逆側
である気体側に疎水性部分を露出させた膜構成にしてお
く必要がある。もし気体側に親水基部分を露出させてお
いても、放置しておくだけで構成分子の反転が起こり、
表面は疎水性に変わってしまうことが知られている。
膜を構成する材料分子は、一般に長鎖アルキル基の一方
の末端のみに親水基を有するものである。かかる構成分
子から成る単分子膜、累積膜を作製する場合は、熱力学
的な安定性の問題から、膜の支台、すなわち基材と逆側
である気体側に疎水性部分を露出させた膜構成にしてお
く必要がある。もし気体側に親水基部分を露出させてお
いても、放置しておくだけで構成分子の反転が起こり、
表面は疎水性に変わってしまうことが知られている。
したがって従来は親水性基を気体側に露出した形の単分
子膜を形成することは非常に困難であり、従って単分子
膜部るいはその累積膜を作製後にその上に親水′])I
物質を吸着させたり膜に物質を反応させて新しい機能を
イ」与するには、この困難さが大ぎな問題となっていた
。
子膜を形成することは非常に困難であり、従って単分子
膜部るいはその累積膜を作製後にその上に親水′])I
物質を吸着させたり膜に物質を反応させて新しい機能を
イ」与するには、この困難さが大ぎな問題となっていた
。
しかし、親水性基には一般に反応性に富むものが多く、
もしかかる膜が作成できれば、単分子膜、あるいはその
累積膜の表面に反応性を付与できることになる。親水性
基のこのような反応性あるいは親水性そのものを利用し
て、例えば、半導体装置用絶縁層、磁気ディスク装置等
の保護潤滑層、光電変換機能を持つ層、光学的情報記録
層、光学的情報記憶層などを単分子膜」二に設けること
ができるにうになるわ(プである。
もしかかる膜が作成できれば、単分子膜、あるいはその
累積膜の表面に反応性を付与できることになる。親水性
基のこのような反応性あるいは親水性そのものを利用し
て、例えば、半導体装置用絶縁層、磁気ディスク装置等
の保護潤滑層、光電変換機能を持つ層、光学的情報記録
層、光学的情報記憶層などを単分子膜」二に設けること
ができるにうになるわ(プである。
本発明の目的は以上)小べた問題点を解決する月利を提
供することにあるか、具体的には、親水性基材に吸着可
能であり、かつ吸着後に気体側、すなわち基材と反対側
に親水性基を有する右機甲分子膜を提供することにある
。
供することにあるか、具体的には、親水性基材に吸着可
能であり、かつ吸着後に気体側、すなわち基材と反対側
に親水性基を有する右機甲分子膜を提供することにある
。
[問題点を解決するための手段]
本発明は一般式:
%式%(
(式中、X−Rは炭素原子数が8以上、望ましくは14
以上の炭化水素基を示す〉で示される1種または2種以
上の有機化合物を親水性基板上に配向制御して吸着させ
てなることを特徴とする単分子膜である。
以上の炭化水素基を示す〉で示される1種または2種以
上の有機化合物を親水性基板上に配向制御して吸着させ
てなることを特徴とする単分子膜である。
本発明の要旨とするところは、同一の親水性基を両末端
に有する有機化合物を原料として、親水性基材上に基材
側と気体側の両方に親水性基を持つ中分子膜を提供する
ことである。
に有する有機化合物を原料として、親水性基材上に基材
側と気体側の両方に親水性基を持つ中分子膜を提供する
ことである。
本発明における単分子膜の親水性基である前記一般式(
i)のXとしてはヒト目キシル基、カルボキシル基、メ
ルカプト基、ブチルシリル基、ジチオカルボキシル カルバモイル基、チオカルバモイル基、アミン基、一\ 買換アミノ基等があげられ、単分子膜形成物質はこれら
の親水性基のうちの1種を両末端に有する有機化合物で
ある。また前記一般式(I>のRどしては二価の鎖式飽
和炭化水素基、鎖式不飽和炭化水素基またはこれらの炭
化水素基の一部に1個または2個以−にの)Tニレン基
を含む炭化水素基があげられる。
i)のXとしてはヒト目キシル基、カルボキシル基、メ
ルカプト基、ブチルシリル基、ジチオカルボキシル カルバモイル基、チオカルバモイル基、アミン基、一\ 買換アミノ基等があげられ、単分子膜形成物質はこれら
の親水性基のうちの1種を両末端に有する有機化合物で
ある。また前記一般式(I>のRどしては二価の鎖式飽
和炭化水素基、鎖式不飽和炭化水素基またはこれらの炭
化水素基の一部に1個または2個以−にの)Tニレン基
を含む炭化水素基があげられる。
これらの化合物は1種のみを用いてもよいし、もし必要
があれば2種以上を)捏合して用いてもよい。
があれば2種以上を)捏合して用いてもよい。
本発明の単分子膜を作製するにはたとえば次のような方
法で行なうことができる。
法で行なうことができる。
一般にこのような物質は通常のラングミュアーブロジエ
ツ1〜法によって単分子膜化することは困難であるので
、水面」二では分子が単分子膜として配列するよう一方
の親水性基を疎水性保1で保護して疎水性基に変換する
必要がある。そのために用いることのできる疎水性保護
基としては、トリメチルシリル基、ジメチルイソプロピ
ルシリル基、ジメチルターシャリ−ブチルシリル基のよ
うな1へリアルキルシリル基、ジじド[]1ピラニル阜
等を含むエーテル系保護基、同じくエステル系保護基、
トリフロ[l酢酸アミド等のようイ【アミド系保護基な
と一般に有機合成化学の分野で用いられるもののうち適
切なものを使えばよい。
ツ1〜法によって単分子膜化することは困難であるので
、水面」二では分子が単分子膜として配列するよう一方
の親水性基を疎水性保1で保護して疎水性基に変換する
必要がある。そのために用いることのできる疎水性保護
基としては、トリメチルシリル基、ジメチルイソプロピ
ルシリル基、ジメチルターシャリ−ブチルシリル基のよ
うな1へリアルキルシリル基、ジじド[]1ピラニル阜
等を含むエーテル系保護基、同じくエステル系保護基、
トリフロ[l酢酸アミド等のようイ【アミド系保護基な
と一般に有機合成化学の分野で用いられるもののうち適
切なものを使えばよい。
単分子膜の作製にあたっては、両方の親水性」(を保護
しておいて、水面上で片側だけをはずしてもよいし、最
初から片側だけを保護しておいてもよい。両方の親水性
基を保護した場合は、水面上で片側のみが脱保護しても
との親水性基に戻り水面上で単分子膜として配向するよ
うに水中の各種イオン!1!度、水の温度、水面」−で
の展開時間などの諸条イ′1を適切に選択する必要があ
る。同様に、片側の親水性基のみを保護した場合は、水
面−4二でその保護基がはずれないように、前記諸条件
を適切に選択する必要がある。さらに、水中には、水面
の単分子膜の塩を生成するような金属イオンが含まれて
いてもよい。
しておいて、水面上で片側だけをはずしてもよいし、最
初から片側だけを保護しておいてもよい。両方の親水性
基を保護した場合は、水面上で片側のみが脱保護しても
との親水性基に戻り水面上で単分子膜として配向するよ
うに水中の各種イオン!1!度、水の温度、水面」−で
の展開時間などの諸条イ′1を適切に選択する必要があ
る。同様に、片側の親水性基のみを保護した場合は、水
面−4二でその保護基がはずれないように、前記諸条件
を適切に選択する必要がある。さらに、水中には、水面
の単分子膜の塩を生成するような金属イオンが含まれて
いてもよい。
このようにして水面上で片方の親水性基のみが保護され
た化合物を、ラングミュアーブロジTツ]へ法によって
親水性基材上に写し取る。得られる単分子膜は表面が疎
水性保護基で保護されているので適当に調整した試薬溶
液の中に浸すか、適当な試薬蒸気に暉すなどの方法にに
つて遊離の親水性基とすることができる。
た化合物を、ラングミュアーブロジTツ]へ法によって
親水性基材上に写し取る。得られる単分子膜は表面が疎
水性保護基で保護されているので適当に調整した試薬溶
液の中に浸すか、適当な試薬蒸気に暉すなどの方法にに
つて遊離の親水性基とすることができる。
1作 用]
両末端に同一の親水性基を有する有機化合物を原料とし
、保護基とその保護条件あるいは脱保護条件を適切に選
択することにより、ラングミュア−プロジェット法によ
って、親水性基材上に、表面に親水性基を持たせた単分
子膜を作製することができる。本発明の新規な単分子膜
を作製するためには、両末端あるいは片末端の親水性基
を疎水性保護基により疎水化しておく必要があり、また
親水性基材に写し取った後に脱保護する必要がある。疎
水基ににる保護は、水面上で単分子膜を配列するための
もので必るので、両末端を同時に保護した場合は、水面
上で片側だけを脱保護する必要かある。親水性基材に写
し取った後の脱保護は、表面に目的通りの親水性基を設
けるための手段である。
、保護基とその保護条件あるいは脱保護条件を適切に選
択することにより、ラングミュア−プロジェット法によ
って、親水性基材上に、表面に親水性基を持たせた単分
子膜を作製することができる。本発明の新規な単分子膜
を作製するためには、両末端あるいは片末端の親水性基
を疎水性保護基により疎水化しておく必要があり、また
親水性基材に写し取った後に脱保護する必要がある。疎
水基ににる保護は、水面上で単分子膜を配列するための
もので必るので、両末端を同時に保護した場合は、水面
上で片側だけを脱保護する必要かある。親水性基材に写
し取った後の脱保護は、表面に目的通りの親水性基を設
けるための手段である。
[実施例]
次に本発明を実施例によって説明する。
実施例1
1.16−ジカルポキシヘキサデカン(4mmo!りの
テトラヒドロフラン(20ml>溶液に2.2倍量のジ
メチルイソプロピルシリルクロリドと2.2倍量の1ヘ
リエチルアミンを加え、30分間50℃で加熱した。O
′Cに冷却後、ヘキサンを3(7加え、O′Cの水で水
洗(3×30mI!lた。硫酸マグネシウムで乾燥後、
減圧で溶媒を除去し、1.16−ビス(ジメチルイソプ
ロピルシリロキシカルボニル4Jーデカンを得た。この
物質をクロロホルムに溶解して、pHを4.5に調製し
た塩酸水溶液上に展開した。表面圧を25dyn/cm
”に保ちつつ、石英基板上に写し取った。写し取ったま
まの基板表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算
すると、218rg/Cm”であり、非常に疎水性が大
きかった。
テトラヒドロフラン(20ml>溶液に2.2倍量のジ
メチルイソプロピルシリルクロリドと2.2倍量の1ヘ
リエチルアミンを加え、30分間50℃で加熱した。O
′Cに冷却後、ヘキサンを3(7加え、O′Cの水で水
洗(3×30mI!lた。硫酸マグネシウムで乾燥後、
減圧で溶媒を除去し、1.16−ビス(ジメチルイソプ
ロピルシリロキシカルボニル4Jーデカンを得た。この
物質をクロロホルムに溶解して、pHを4.5に調製し
た塩酸水溶液上に展開した。表面圧を25dyn/cm
”に保ちつつ、石英基板上に写し取った。写し取ったま
まの基板表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算
すると、218rg/Cm”であり、非常に疎水性が大
きかった。
続いてこの基板をpH4.0の塩酸水溶液に浸してから
よく水洗することにより基板上に1.16−ジカー、7
、、− ルポキシヘキサデカンの単分子膜を1qだ。基板表面の
表面エネルギーは51err+/c…2と大きく、高い
親水性を示した。この単分子膜の高い親水性は、室温で
1週間放置しておいても全く変化しなかっIこ。
よく水洗することにより基板上に1.16−ジカー、7
、、− ルポキシヘキサデカンの単分子膜を1qだ。基板表面の
表面エネルギーは51err+/c…2と大きく、高い
親水性を示した。この単分子膜の高い親水性は、室温で
1週間放置しておいても全く変化しなかっIこ。
実施例2
1、16−シヒドロキシヘキサデカンの′単分子膜の作
製を行った。1,16−シヒドロキシヘキザデカン(4
.mmOfりのテトラヒドロフラン(20m)溶液に等
量のジメチルイソプロピルシリルクロリドと等量の1〜
リエヂルアミンを加え、30分間50°Cで加熱した。
製を行った。1,16−シヒドロキシヘキザデカン(4
.mmOfりのテトラヒドロフラン(20m)溶液に等
量のジメチルイソプロピルシリルクロリドと等量の1〜
リエヂルアミンを加え、30分間50°Cで加熱した。
0℃に冷却後、ヘキサンを3(7加え、0℃の水で水洗
(3×10m!りシた。fillマグネシウムで乾燥後
、減圧で溶媒を除去し、シリカゲルカラムで精製して、
16−(ジメチルイソプロピルシリロキシ〉ヘキサデカ
ノールを得た。この物質をクロロホルムに溶解して、蒸
留水上に展開し、表面圧を25dyn/cm2に保ちつ
つ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板表
面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、1
8erg/cm2であり、非常に疎水性が大きかった。
(3×10m!りシた。fillマグネシウムで乾燥後
、減圧で溶媒を除去し、シリカゲルカラムで精製して、
16−(ジメチルイソプロピルシリロキシ〉ヘキサデカ
ノールを得た。この物質をクロロホルムに溶解して、蒸
留水上に展開し、表面圧を25dyn/cm2に保ちつ
つ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板表
面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、1
8erg/cm2であり、非常に疎水性が大きかった。
続いてこの基板を酢酸−水(3 : 1 )溶液に浸し
てからよく水洗することにより基板上に1.16−シヒ
ドロキシヘキサデカンの単分子膜を1qだ。基板表面の
表面エネルギーは49erg/Cm2と大きく、高い親
水性を示した。この単分子膜の高い親水性は、室温で1
週間放置しておいても全く変化しなかった。
てからよく水洗することにより基板上に1.16−シヒ
ドロキシヘキサデカンの単分子膜を1qだ。基板表面の
表面エネルギーは49erg/Cm2と大きく、高い親
水性を示した。この単分子膜の高い親水性は、室温で1
週間放置しておいても全く変化しなかった。
次にこの1,16−シヒドロキシヘキサデカンが単分子
膜として配向、吸着した石英基板上で、この単分子膜表
面の親水性基(ここでは水酸基)の反応性を利用した実
験を行なった。
膜として配向、吸着した石英基板上で、この単分子膜表
面の親水性基(ここでは水酸基)の反応性を利用した実
験を行なった。
分子量約3000の重合体
0−C=N−CF2 (C2F40)D− (CF20
)Q−CF2−N=C=0( p:q=1:1、各構造
単位は不規則である)をフレオンに溶解し、0.08重
串%の溶液を作製した。この溶液を水酸基が表面に設け
られている前記石英基板上に2500回/分の回転速度
で回転塗布し、joO’cで焼成した後、フレオンで洗
浄した。
)Q−CF2−N=C=0( p:q=1:1、各構造
単位は不規則である)をフレオンに溶解し、0.08重
串%の溶液を作製した。この溶液を水酸基が表面に設け
られている前記石英基板上に2500回/分の回転速度
で回転塗布し、joO’cで焼成した後、フレオンで洗
浄した。
得られた基板の表面エネルギーを重合体と接触させる前
と比較したところ、接触前の49から15e「(]/C
m2に大幅に減少していることがわかった。
と比較したところ、接触前の49から15e「(]/C
m2に大幅に減少していることがわかった。
もし水酸基とイワシアナ−1〜基が反応していなりれば
、フレオンによる洗浄で重合体は単分子膜上からはずれ
てしまうはずである。従って本発明の単分子股上の親水
性基の反応性が有効にいかされ、単分子膜表面の水酸基
c(lI; i合体の末端のイソシアナート基と反応し
ていることがわかる。
、フレオンによる洗浄で重合体は単分子膜上からはずれ
てしまうはずである。従って本発明の単分子股上の親水
性基の反応性が有効にいかされ、単分子膜表面の水酸基
c(lI; i合体の末端のイソシアナート基と反応し
ていることがわかる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の単分子膜は親水性基をその
表面に有しているので、親水性基の反応・[711ある
いは親水・[)1そのものを利用して種々の応用が期待
される。
表面に有しているので、親水性基の反応・[711ある
いは親水・[)1そのものを利用して種々の応用が期待
される。
−,4,1−
Claims (1)
- (1)一般式: X−R−X (式中、Xは親水性基、Rは炭素原子数が8以上の炭化
水素基を示す) で示される1種または2種以上の有機化合物を親水性基
板上に配向制御して吸着させてなることを特徴とする単
分子膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108839A JPS62266161A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108839A JPS62266161A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62266161A true JPS62266161A (ja) | 1987-11-18 |
Family
ID=14494878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61108839A Pending JPS62266161A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62266161A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011134757A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Tosoh Corp | 有機半導体材料 |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61108839A patent/JPS62266161A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011134757A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Tosoh Corp | 有機半導体材料 |
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