JPS62266170A - 単分子膜の製造方法 - Google Patents
単分子膜の製造方法Info
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- JPS62266170A JPS62266170A JP61108848A JP10884886A JPS62266170A JP S62266170 A JPS62266170 A JP S62266170A JP 61108848 A JP61108848 A JP 61108848A JP 10884886 A JP10884886 A JP 10884886A JP S62266170 A JPS62266170 A JP S62266170A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は有機単分子膜、特に親水性基材に吸着可能で
あり、かつ吸着後に気体側表面(基材と反対側〉に親水
性基、もしくは反応性親水i11基を有することを特徴
とする有機単分子膜の製造方法に関するものである。
あり、かつ吸着後に気体側表面(基材と反対側〉に親水
性基、もしくは反応性親水i11基を有することを特徴
とする有機単分子膜の製造方法に関するものである。
[従来の技術]
有機化合物の単分子膜、累積膜には数多くの用途がある
。エレクトロニクスの分野では、例えば、膜厚を正確に
制御した半導体装置用絶縁膜、磁気ディスク装置等の保
護潤滑膜、光電変換膜、光学的情報記録膜、光学的情報
記憶膜などへの応用が検討されている。これらの目的の
ために、単分子膜、累積膜を作製する方法として、水面
上で両親媒性物質を高度に分子配向させて単分子層とし
、その単分子層を基材上に写し取る方法、いわゆるラン
グミュア−ブロジェット法が多く用いられている。
。エレクトロニクスの分野では、例えば、膜厚を正確に
制御した半導体装置用絶縁膜、磁気ディスク装置等の保
護潤滑膜、光電変換膜、光学的情報記録膜、光学的情報
記憶膜などへの応用が検討されている。これらの目的の
ために、単分子膜、累積膜を作製する方法として、水面
上で両親媒性物質を高度に分子配向させて単分子層とし
、その単分子層を基材上に写し取る方法、いわゆるラン
グミュア−ブロジェット法が多く用いられている。
[発明か解決しようとする問題点]
しかし4【がら、この方法で作製される単分子膜、累積
膜を構成する材料分子は、一般に長鎖アルキル基の一方
の末端のみに親水基を有するものである。かかる構成分
子から成る単分子膜、累積膜を作製する場合は、熱力学
的な安定1ノ10問題から、膜の支台、すなわち基材と
逆側である気体側に疎水・1ノ1部分を露出させた膜構
成にしておく必要がある。もし気体側に親水基部分を露
出させておいても、放置しておくだりで構成分子の反転
か起こり、表面は疎水性に変わってしまうことか知られ
ている。
膜を構成する材料分子は、一般に長鎖アルキル基の一方
の末端のみに親水基を有するものである。かかる構成分
子から成る単分子膜、累積膜を作製する場合は、熱力学
的な安定1ノ10問題から、膜の支台、すなわち基材と
逆側である気体側に疎水・1ノ1部分を露出させた膜構
成にしておく必要がある。もし気体側に親水基部分を露
出させておいても、放置しておくだりで構成分子の反転
か起こり、表面は疎水性に変わってしまうことか知られ
ている。
したがって従来は新水性基を気体側に露出した形の単分
子膜を形成することは非常に困難であり、従って単分子
膜あるいはその累積膜を作製後にその上に親水性物質を
吸着させたり膜に物質を反応させて新しい機能を付与す
るには、この回動ざが大きな問題となっていた。
子膜を形成することは非常に困難であり、従って単分子
膜あるいはその累積膜を作製後にその上に親水性物質を
吸着させたり膜に物質を反応させて新しい機能を付与す
るには、この回動ざが大きな問題となっていた。
しかし、親水性基には一般に反応性に冨むものが多く、
もしかかる膜が作成できれば、単分子膜、あるいはその
累積膜の表面に反応性を付与できることになる。親水性
基のこのよう4x反応・iノ1あるい1.1親水性その
ものを利用して、例えば、半導体装置用絶縁層、磁気デ
ィスク装置等の保護潤滑層、光電変換機能を持つ層、光
学的情報記録層、光学的情報記憶層などを単分子膜上に
設()ることができるようになるわけである。
もしかかる膜が作成できれば、単分子膜、あるいはその
累積膜の表面に反応性を付与できることになる。親水性
基のこのよう4x反応・iノ1あるい1.1親水性その
ものを利用して、例えば、半導体装置用絶縁層、磁気デ
ィスク装置等の保護潤滑層、光電変換機能を持つ層、光
学的情報記録層、光学的情報記憶層などを単分子膜上に
設()ることができるようになるわけである。
本発明の目的は以上述べた問題点を解決するために、新
規な単分子膜の製造り法を提供することにあるが、具体
的には、親水・IJt支台に吸着可能であり、かつ吸着
後に気体側、すなわt)基材ど反対側に親水性基を有す
る右機甲分子膜の製造り法を提供することにある。
規な単分子膜の製造り法を提供することにあるが、具体
的には、親水・IJt支台に吸着可能であり、かつ吸着
後に気体側、すなわt)基材ど反対側に親水性基を有す
る右機甲分子膜の製造り法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明(ま一般式:
X−R−X′(
(式中、XおよびX′はそれぞれ相異イ【る親水性基、
Rは炭素原子数か8以上、望ましくは14以上の炭化水
素基を示す) で示される1種または2種以上の有機化合物の一方の親
水性基を疎水性保護基に変換して後、一般 3−一 式: X−R−X′() (式中、x”t、t、親水性基、R′は炭素原子数か8
以上、望ましくは14以上の炭化水素基を示す)で示さ
れる1種または2種以上の有機化合物とともにラングミ
ュア−ブロジェット法を用いて同時に親水性基板上に配
向制御して吸着させる事を特徴とする単分子膜の製造方
法である。
Rは炭素原子数か8以上、望ましくは14以上の炭化水
素基を示す) で示される1種または2種以上の有機化合物の一方の親
水性基を疎水性保護基に変換して後、一般 3−一 式: X−R−X′() (式中、x”t、t、親水性基、R′は炭素原子数か8
以上、望ましくは14以上の炭化水素基を示す)で示さ
れる1種または2種以上の有機化合物とともにラングミ
ュア−ブロジェット法を用いて同時に親水性基板上に配
向制御して吸着させる事を特徴とする単分子膜の製造方
法である。
本発明の要旨とするところは、異なる新水性基を両末端
に有する有機化合物および片末端に親水性基を有する有
機化合物を原料として、ラングミュア−プロジェット法
を用いて親水性基材上にIt、i側と気体側の両方に親
水性基を持つ単分子膜を製造するに際し、原おl物質の
一部として、異なる親水性基を両末端に有する化合物の
一方の親水性基のみを疎水性保1によって保護しておい
たものを表面に必要とされる親水性基の量に応じて用い
ることにより、気体側に親水性基が必要量だけ存在した
単分子膜の製造方法を提供することである。
に有する有機化合物および片末端に親水性基を有する有
機化合物を原料として、ラングミュア−プロジェット法
を用いて親水性基材上にIt、i側と気体側の両方に親
水性基を持つ単分子膜を製造するに際し、原おl物質の
一部として、異なる親水性基を両末端に有する化合物の
一方の親水性基のみを疎水性保1によって保護しておい
たものを表面に必要とされる親水性基の量に応じて用い
ることにより、気体側に親水性基が必要量だけ存在した
単分子膜の製造方法を提供することである。
−4−へ
前記一般式(I>におけるXおよびX′としではヒドロ
キシル基、カルボキシル基、メルカプl〜基、チオカル
ボキシル スルフィノ基、スルホ基、カルバモイル基、ヂオカルパ
モイル基、アミノ基、置換アミノ基等があげられ、これ
らの親水性基のうちの2種を両末端に有する化合物であ
る。また同時に用いる片末端に親水性基を有する前記一
般式(IT)にお(りるX ITとしても前記と同様の
基があげられる。ここでX nはXまたはX′と同一で
もあるいは異なった基であってもよい。
キシル基、カルボキシル基、メルカプl〜基、チオカル
ボキシル スルフィノ基、スルホ基、カルバモイル基、ヂオカルパ
モイル基、アミノ基、置換アミノ基等があげられ、これ
らの親水性基のうちの2種を両末端に有する化合物であ
る。また同時に用いる片末端に親水性基を有する前記一
般式(IT)にお(りるX ITとしても前記と同様の
基があげられる。ここでX nはXまたはX′と同一で
もあるいは異なった基であってもよい。
また前記一般式(I)および(IT)におけるRおよび
R′としてはそれぞれ二価および一価の鎖式飽和炭化水
素基、鎖式不飽和炭化水素基またはこれらの炭化水素基
の一部に1個または2個以−4二のフェニレン基を含む
炭化水素基があげられる。
R′としてはそれぞれ二価および一価の鎖式飽和炭化水
素基、鎖式不飽和炭化水素基またはこれらの炭化水素基
の一部に1個または2個以−4二のフェニレン基を含む
炭化水素基があげられる。
RおよびR′は同一でも相異なっていてもよい。
一般式(I>の化合物および一般式(IT)の化合物の
使用割合は、単分子膜表面に必要とする親水性基の量に
よって適宜選択することができるが、通常は一般式(I
)の化合物を3モル%以上、好ましくは10モル%以上
存在させる。また、各化合物はそれぞれ1種のみを用い
てもよいし、もし必要があれば2種以上を混合して用い
てもよい。
使用割合は、単分子膜表面に必要とする親水性基の量に
よって適宜選択することができるが、通常は一般式(I
)の化合物を3モル%以上、好ましくは10モル%以上
存在させる。また、各化合物はそれぞれ1種のみを用い
てもよいし、もし必要があれば2種以上を混合して用い
てもよい。
本発明の方法によれば、両末端に親水性基を有する化合
物については両末端の親水性基のうちの一方を疎水性保
護基で保護することによってラングミュアーブロジ■ツ
ト法を用いて単分子膜を形成することができる。すなわ
ち一方の親水性基を疎水性基に変換しておりは通常用い
られている両親媒性物質と全く同等に扱うことができる
。そのために用いることのできる疎水性保護基としては
、i〜リメヂルシリル基、ジメチルイソプロピルシリル
基、ジメヂルターシャリープチルシリル基のようなトリ
アルキルシリル基、ジヒドロピラニル基等を含むエーテ
ル系保護基、同じくエステル系保護基、l・リフロロ酢
酸アミド等のようなアミド系保護基など一般に有機合成
化学の分野で用いられるもののうち適切なものを用いれ
ばよい。これらの疎水性保1の選択にあたっては、式(
I)の化合物の一方の親水性基のみが選択的に保護され
ること、および親水性基材に単分子膜を作製した後に、
表面の疎水性保護基が脱保護されやすいことなどを考慮
して選択される。また疎水性保護基の導入方法としては
直接一方の親水性基を疎水=Pl保護基に変換する方法
であっても、あるいは両方の親水性基を疎水性保護基に
変換した後、一方の保護基のみを脱保護する方法であっ
てもよい。
物については両末端の親水性基のうちの一方を疎水性保
護基で保護することによってラングミュアーブロジ■ツ
ト法を用いて単分子膜を形成することができる。すなわ
ち一方の親水性基を疎水性基に変換しておりは通常用い
られている両親媒性物質と全く同等に扱うことができる
。そのために用いることのできる疎水性保護基としては
、i〜リメヂルシリル基、ジメチルイソプロピルシリル
基、ジメヂルターシャリープチルシリル基のようなトリ
アルキルシリル基、ジヒドロピラニル基等を含むエーテ
ル系保護基、同じくエステル系保護基、l・リフロロ酢
酸アミド等のようなアミド系保護基など一般に有機合成
化学の分野で用いられるもののうち適切なものを用いれ
ばよい。これらの疎水性保1の選択にあたっては、式(
I)の化合物の一方の親水性基のみが選択的に保護され
ること、および親水性基材に単分子膜を作製した後に、
表面の疎水性保護基が脱保護されやすいことなどを考慮
して選択される。また疎水性保護基の導入方法としては
直接一方の親水性基を疎水=Pl保護基に変換する方法
であっても、あるいは両方の親水性基を疎水性保護基に
変換した後、一方の保護基のみを脱保護する方法であっ
てもよい。
一方、片末端のみに親水性基を有する化合物は、その親
水性基を保護する必要はなく、通常はそのまま用いられ
るが、両末端に親水性基を有する化合物についての適切
な脱保護条件で同時に脱保護されるならば、疎水性保護
基ににつで保護されていても差し支えない。
水性基を保護する必要はなく、通常はそのまま用いられ
るが、両末端に親水性基を有する化合物についての適切
な脱保護条件で同時に脱保護されるならば、疎水性保護
基ににつで保護されていても差し支えない。
このようにして水面上で片方の親水性基のみが保護され
た化合物および片末端に親水性基を有する化合物を同時
にラングミュアーブロジエツ1〜法によって親水性軍手
A上に写し取る。水面上ではその保護基がはずれないよ
うに、水中の各種イオン濃度、水の温度、水面上での展
開時間などの諸条−8:;、。
た化合物および片末端に親水性基を有する化合物を同時
にラングミュアーブロジエツ1〜法によって親水性軍手
A上に写し取る。水面上ではその保護基がはずれないよ
うに、水中の各種イオン濃度、水の温度、水面上での展
開時間などの諸条−8:;、。
件を適切に選択する必要がある。水中には、水面の単分
子膜の塩を生成するような金属イオンが含まれていても
よい。
子膜の塩を生成するような金属イオンが含まれていても
よい。
得られる単分子膜は表面が疎水性保1で保護されている
ので、適当に調製した試薬溶液の中に浸すか、適当な試
薬蒸気に曝すなどの方法によって遊離の親水性基とする
ことができる。
ので、適当に調製した試薬溶液の中に浸すか、適当な試
薬蒸気に曝すなどの方法によって遊離の親水性基とする
ことができる。
[作 用]
両末端に異なる親水性基を有する一般式(I>の化合物
、および片末端に親水性基を有する一般式(II)の化
合物の混合物を原料とし、保護基とその保護条件あるい
は脱保護条件を適切に選択することにより、ラングミュ
ア−ブロジェット法によって、親水性基材上に、表面に
望ましい親水性基を望ましい量だけ持たせた単分子膜を
作製することができる。本発明の方法によると一般式(
I>の化合物の片末端の親水性基を疎水性保護基により
疎水化しておくため、一般式(I>の化合物を片末端の
みに親水性基を有する物質として扱うことができ、水面
上で単分子膜として容易に配向させることかできる。な
お、親水性基材に写し取った後の一般式(I>の疎水性
保護基の脱保護は、表面に目的通りの親水性基を設ける
ための手段でおる。
、および片末端に親水性基を有する一般式(II)の化
合物の混合物を原料とし、保護基とその保護条件あるい
は脱保護条件を適切に選択することにより、ラングミュ
ア−ブロジェット法によって、親水性基材上に、表面に
望ましい親水性基を望ましい量だけ持たせた単分子膜を
作製することができる。本発明の方法によると一般式(
I>の化合物の片末端の親水性基を疎水性保護基により
疎水化しておくため、一般式(I>の化合物を片末端の
みに親水性基を有する物質として扱うことができ、水面
上で単分子膜として容易に配向させることかできる。な
お、親水性基材に写し取った後の一般式(I>の疎水性
保護基の脱保護は、表面に目的通りの親水性基を設ける
ための手段でおる。
[実施例]
次に本発明を実施例によって説明する。
実施例1
16−ヒトロキシヘキ1ナデカン酸(4mmoで)のテ
トラじトロフラン(20d>溶液に2.2倍量のジメチ
ルイソプロピルシリルクロリドと2.2倍量のトリエチ
ルアミンを加え、30分間50’Cで加熱した。
トラじトロフラン(20d>溶液に2.2倍量のジメチ
ルイソプロピルシリルクロリドと2.2倍量のトリエチ
ルアミンを加え、30分間50’Cで加熱した。
OoCに冷却後、ヘキサンを307d加え、OoCのp
l+4.5の塩酸水溶液(3x 3(7! )で洗浄し
、続いてOoCの蒸留水(3X 30d )で洗浄した
。硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒を減圧で除去し、1
6−(ジメチルイソプロピルシリロキシ ン酸を得た。この物質?5μmoβとヘキサデカン酸?
5μmoβをクロロホルム( 10m!りに溶解して、
蒸留水上に展開し、表面圧を25dyn/C…2に保ち
つつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板
表面の表m1エネルギーを液滴の接触角から計師すると
、18erg/cm2であり、非常に疎水性か大きかっ
た。
l+4.5の塩酸水溶液(3x 3(7! )で洗浄し
、続いてOoCの蒸留水(3X 30d )で洗浄した
。硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒を減圧で除去し、1
6−(ジメチルイソプロピルシリロキシ ン酸を得た。この物質?5μmoβとヘキサデカン酸?
5μmoβをクロロホルム( 10m!りに溶解して、
蒸留水上に展開し、表面圧を25dyn/C…2に保ち
つつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板
表面の表m1エネルギーを液滴の接触角から計師すると
、18erg/cm2であり、非常に疎水性か大きかっ
た。
続いてこの基板を酢酸−水(3: 1 )溶液に浸して
からJ:<水洗することにより16−ヒトロキシヘキ1
ノ゛デ′カン酸とベキ4ナデ゛カン酸の等量)捏合物よ
りなる単分子膜を得た。基板表面の表向エネルギーは5
0erg/c…2と大きく、高い親水性を示した。
からJ:<水洗することにより16−ヒトロキシヘキ1
ノ゛デ′カン酸とベキ4ナデ゛カン酸の等量)捏合物よ
りなる単分子膜を得た。基板表面の表向エネルギーは5
0erg/c…2と大きく、高い親水性を示した。
この単分子膜の高い親水性は、室温で1週間放置してお
いても全く変化しなかった。
いても全く変化しなかった。
次にこの16−ヒトロキシヘキサデカン酸とヘキサデカ
ン酸の等早漏合物か単分子膜として配向、吸着した石英
基板上で、この単分子膜表面の親水性基(ここで【J、
水酸基)の反応・l″Iを利用した実験を行なった。
ン酸の等早漏合物か単分子膜として配向、吸着した石英
基板上で、この単分子膜表面の親水性基(ここで【J、
水酸基)の反応・l″Iを利用した実験を行なった。
分子量約3000の重合体
0=C=N−CF2(02[40)、−(CF20)(
1−CF2−N=C=0(p:q=1:1、各構造単位
は不規則である)をフレオンに溶解し、0.08手量%
の溶液を作製した。この溶液を水酸基が表面に設(プら
れている前記り英阜板十1.:2500回/分の回転速
麻C′回転塗布し、1()0°Cで焼成した後、フレA
−ンで洗)争した。
1−CF2−N=C=0(p:q=1:1、各構造単位
は不規則である)をフレオンに溶解し、0.08手量%
の溶液を作製した。この溶液を水酸基が表面に設(プら
れている前記り英阜板十1.:2500回/分の回転速
麻C′回転塗布し、1()0°Cで焼成した後、フレA
−ンで洗)争した。
得られた基板の表面エネルA”−を重合体と接触させる
前と比較したところ、接触前の50からtyerg/c
m2に大幅に減少していることかわかった。
前と比較したところ、接触前の50からtyerg/c
m2に大幅に減少していることかわかった。
しし水酸基とイワシアナ−1〜基が反応し−でいな()
れぽ、フレAンによる洗浄で重合体は中浮子膜十からは
ずれてしまうはずである。従つ(本発明の方法で製造し
た中分子膜上の親水・1)1基の反応・1ノ1が右動に
いかされ、単分子膜表向の水酸基は重合体の末端のイソ
シアツー−1〜基と反応していることがわかる。
れぽ、フレAンによる洗浄で重合体は中浮子膜十からは
ずれてしまうはずである。従つ(本発明の方法で製造し
た中分子膜上の親水・1)1基の反応・1ノ1が右動に
いかされ、単分子膜表向の水酸基は重合体の末端のイソ
シアツー−1〜基と反応していることがわかる。
実施例2
実施例1で調整した16−(ジメJルーイソーf1−1
ピルシリロキシ)へ1−サブカンM2O7,zmnpと
へ−1リア゛カンl130fzmof!をクロ1]小ル
ム(1h+ff>に溶解して、蒸留水上に展開し、表面
圧を25 +−1y n / c m 2に保ちつつ、
石英基板上に写し取った。′ダし取ったままの基板表面
の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、16
er(]/Cm2であり、非常に疎水−1’′、11
− ・ゝノ 性か大きかった。
ピルシリロキシ)へ1−サブカンM2O7,zmnpと
へ−1リア゛カンl130fzmof!をクロ1]小ル
ム(1h+ff>に溶解して、蒸留水上に展開し、表面
圧を25 +−1y n / c m 2に保ちつつ、
石英基板上に写し取った。′ダし取ったままの基板表面
の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、16
er(]/Cm2であり、非常に疎水−1’′、11
− ・ゝノ 性か大きかった。
続いてこの基板を酢酸−水(3: 1 )溶液に浸して
からよく水洗することにより16−ヒトロキシヘキ1ナ
デ゛カン酸とヘキサデカン酸の2:3)捏合物よりなる
単分子膜を1qた。基板表向の表面エネルギーは49e
rg/Cm2と大きく、高い親水・1)Iを示した。
からよく水洗することにより16−ヒトロキシヘキ1ナ
デ゛カン酸とヘキサデカン酸の2:3)捏合物よりなる
単分子膜を1qた。基板表向の表面エネルギーは49e
rg/Cm2と大きく、高い親水・1)Iを示した。
この単分子膜の高い親水性は、室温で1週間放置してお
いても全く変化しなかった。
いても全く変化しなかった。
実施例3
実施例1で調整した16−(ジメチルイソプロピルシリ
ロキシ)ヘキサデカン酸5μmOf!とヘキサデカン酸
45μmof!をクロロホルム(1(7りに溶解して、
蒸留水上に展開し、表面圧を25dVn/Cm2に保ち
つつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板
表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、
18erq/Cm2であり、非常に疎水性が犬ぎかった
。
ロキシ)ヘキサデカン酸5μmOf!とヘキサデカン酸
45μmof!をクロロホルム(1(7りに溶解して、
蒸留水上に展開し、表面圧を25dVn/Cm2に保ち
つつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの基板
表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算すると、
18erq/Cm2であり、非常に疎水性が犬ぎかった
。
続いてこの基板を酢酸−水(3: 1 )溶液に浸して
からよく水洗することにより16−ヒドロキシへキナデ
カン酸とヘキサデカン酸の1:9)捏合物へ −d、、−2,− 」:りなる単分子膜を得た。基板表面の表面王ネルキー
は49erg/Cm2と大きく、高い親水↑ノ1を示し
た。
からよく水洗することにより16−ヒドロキシへキナデ
カン酸とヘキサデカン酸の1:9)捏合物へ −d、、−2,− 」:りなる単分子膜を得た。基板表面の表面王ネルキー
は49erg/Cm2と大きく、高い親水↑ノ1を示し
た。
この単分子膜の高い親水性(、i、室温で1週間放置し
ておいても全く変化しなかった。
ておいても全く変化しなかった。
実施例4
実施例1の16−(ジメチルイソプロピルシリ[]キシ
)ヘキサデカン酸45μmoでとヘキサデカン酸5μm
0j7をりr’l 11ホルム(10mff)に溶解し
て、蒸留水上に展開し、表面圧を25dVn/Cm2に
保らつつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの
基板表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算する
と、21er(]/Cm2であり、非常に疎水性が大き
かった。
)ヘキサデカン酸45μmoでとヘキサデカン酸5μm
0j7をりr’l 11ホルム(10mff)に溶解し
て、蒸留水上に展開し、表面圧を25dVn/Cm2に
保らつつ、石英基板上に写し取った。写し取ったままの
基板表面の表面エネルギーを液滴の接触角から計算する
と、21er(]/Cm2であり、非常に疎水性が大き
かった。
続いてこの基板を酢酸−水(3: 1 )溶液に浸して
からよく水洗することにより16−ヒトロキシヘキサデ
カン酸とヘキサデカン酸の9:1)捏合物よりなる単分
子膜を得た。基板表面の表面エネルギーは48erg/
C…2と大きく、高い親水性を示した。
からよく水洗することにより16−ヒトロキシヘキサデ
カン酸とヘキサデカン酸の9:1)捏合物よりなる単分
子膜を得た。基板表面の表面エネルギーは48erg/
C…2と大きく、高い親水性を示した。
この単分子膜の高い親水性は、室温で1週間放置してお
いても全く変化しなかった。
いても全く変化しなかった。
2;°、
[発明の効果]
以−F説明したように本発明の方法によって得られる単
分子膜は親水性基をその表面lご有しているので、親水
性基の反応性あるいは親水↑ノ1そのものを利用して種
々の応用が期待される。
分子膜は親水性基をその表面lご有しているので、親水
性基の反応性あるいは親水↑ノ1そのものを利用して種
々の応用が期待される。
Claims (1)
- (1)一般式: X−R−X′ (式中、XおよびX′はそれぞれ相異なる親水性基、R
は炭素原子数が8以上の炭化水素基を示す) で示される1種または2種以上の有機化合物の一方の親
水性基を疎水性保護基に変換して後、一般式: X″−R′ (式中、X″は親水性基、R′は炭素原子数が8以上の
炭化水素基を示す) で示される1種または2種以上の有機化合物とともにラ
ングミュア−ブロジェット法を用いて同時に親水性基板
上に配向制御して吸着させる事を特徴とする単分子膜の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108848A JPS62266170A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108848A JPS62266170A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62266170A true JPS62266170A (ja) | 1987-11-18 |
Family
ID=14495118
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61108848A Pending JPS62266170A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 単分子膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62266170A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999010383A1 (de) * | 1997-08-23 | 1999-03-04 | Stefan Seeger | Aminoalkyltrialkylsilylcellulosen und ein verfahren zur beschichtung von oberflächen |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61108848A patent/JPS62266170A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999010383A1 (de) * | 1997-08-23 | 1999-03-04 | Stefan Seeger | Aminoalkyltrialkylsilylcellulosen und ein verfahren zur beschichtung von oberflächen |
CN1106403C (zh) * | 1997-08-23 | 2003-04-23 | 分子机械及工业有限公司 | 纤维素醚和涂敷过的片状载体材料上固定生物分子的方法 |
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