JPS6226405B2 - - Google Patents
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- JPS6226405B2 JPS6226405B2 JP2659380A JP2659380A JPS6226405B2 JP S6226405 B2 JPS6226405 B2 JP S6226405B2 JP 2659380 A JP2659380 A JP 2659380A JP 2659380 A JP2659380 A JP 2659380A JP S6226405 B2 JPS6226405 B2 JP S6226405B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 19
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被検査物を間歇駆動して測定位置
に移動し、被検査物に投射された光の反射光を光
電変換素子によつて電気信号に変換し、被検査物
の検査、判別を行う外観検査機に関するものであ
る。被検査物を順次供給し、間歇駆動によつて測
定位置へ移送した後に被検査物に光を投射し、そ
の反射光を光電変換素子によつて電気信号に変換
して被検査物の表面を検査選別する従来の外観検
査機において、測定位置で被検査物を停止又は被
検査物が回転体である場合にはその位置において
回転状態で測定す方法は、被検査物が測定系に対
して移動しない状態で測定できるために精度の高
い測定が可能であつた。
に移動し、被検査物に投射された光の反射光を光
電変換素子によつて電気信号に変換し、被検査物
の検査、判別を行う外観検査機に関するものであ
る。被検査物を順次供給し、間歇駆動によつて測
定位置へ移送した後に被検査物に光を投射し、そ
の反射光を光電変換素子によつて電気信号に変換
して被検査物の表面を検査選別する従来の外観検
査機において、測定位置で被検査物を停止又は被
検査物が回転体である場合にはその位置において
回転状態で測定す方法は、被検査物が測定系に対
して移動しない状態で測定できるために精度の高
い測定が可能であつた。
しかし、被検査物を間歇駆動によつて移送する
場合には、間歇駆動によつて生ずる振動、被検査
物の表面に塗油してある油膜の不安定さ及びごみ
の影響等によつて電気出力波形の乱れを生じ、良
品を不良品と誤判定する欠点があつた。
場合には、間歇駆動によつて生ずる振動、被検査
物の表面に塗油してある油膜の不安定さ及びごみ
の影響等によつて電気出力波形の乱れを生じ、良
品を不良品と誤判定する欠点があつた。
第１図は上記のような外観検査機において、被
検査物が測定位置へ間歇駆動された直後から、続
く次の被検査物が間歇駆動され、測定が完了する
までの外観検査用カメラの出力信号の包絡線を示
したものである。この第１図において、時間T1
は、間歇駆動直後からカメラ出力信号が安定する
までの不安定時間T0を考慮して設定された準備
時間である。T2は測定時間で、T3は間歇駆動時
間である。ここで不安定時間T0の長さは、被検
査物が間歇駆動される時に生ずる被検査物の振動
及び被検査物の表面に塗油してある洗浄油の膜お
よびごみの影響等の不安定さで一定にはならな
い。
検査物が測定位置へ間歇駆動された直後から、続
く次の被検査物が間歇駆動され、測定が完了する
までの外観検査用カメラの出力信号の包絡線を示
したものである。この第１図において、時間T1
は、間歇駆動直後からカメラ出力信号が安定する
までの不安定時間T0を考慮して設定された準備
時間である。T2は測定時間で、T3は間歇駆動時
間である。ここで不安定時間T0の長さは、被検
査物が間歇駆動される時に生ずる被検査物の振動
及び被検査物の表面に塗油してある洗浄油の膜お
よびごみの影響等の不安定さで一定にはならな
い。
第２図は、この不安定時間T0の分布の一例を
示すものである。
示すものである。
カメラ出力信号の不安定さから生ずる誤判定を
完全に除去するためには、準備時間T1を第２図
における不安定時間T0の分布で最大きい値Ｔ0nax
に設定し、その後に検査を開始する必要がある。
この場合には、サイクル時間が非常に長くなり検
査能率の低下を招く。また検査能率を一定にして
準備時間T1が長くなつた分を測定時間T2を短か
くすべく、被検査物の自転速度を高くした場合に
は、検査精度の低下を招く欠点があつた。
完全に除去するためには、準備時間T1を第２図
における不安定時間T0の分布で最大きい値Ｔ0nax
に設定し、その後に検査を開始する必要がある。
この場合には、サイクル時間が非常に長くなり検
査能率の低下を招く。また検査能率を一定にして
準備時間T1が長くなつた分を測定時間T2を短か
くすべく、被検査物の自転速度を高くした場合に
は、検査精度の低下を招く欠点があつた。
この発明は、上記の欠点を除去するためになさ
れたもので、被検査物を順次供給し、間歇駆動に
よつて測定位置へ移送した後に被検査物に光を投
射し、その反射光を光電変換素子によつて電気信
号に変換して被検査物の表面を検査選別する外観
検査機において、被検査物が不良と判定された場
合には、その測定位置において再度検査を行い、
間歇駆動直後の被検査物の振動、油膜およびごみ
による影響を除去した状態で外観の良否を判別す
ることを特徴とする外観検査機である。
れたもので、被検査物を順次供給し、間歇駆動に
よつて測定位置へ移送した後に被検査物に光を投
射し、その反射光を光電変換素子によつて電気信
号に変換して被検査物の表面を検査選別する外観
検査機において、被検査物が不良と判定された場
合には、その測定位置において再度検査を行い、
間歇駆動直後の被検査物の振動、油膜およびごみ
による影響を除去した状態で外観の良否を判別す
ることを特徴とする外観検査機である。
次にこの発明の一実施例について図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第３図において、１は円筒状の被検査物の供給
部、２は供給部１から供給された被検査物を間歇
駆動するケージで、その駆動源（図示していな
い）はステツピングモータ等で構成されている。
ケージ２の外周部にはポケツト部３が等間隔に設
けられ、供給部１から供給された被検査物は、順
次ポケツト部３へ送りこまれ、間歇駆動によつて
測定位置へ移送される。ケージ２のポケツト部３
に供給された被検査物は回転板（図示されていな
い）によつて自転され、円周方向の走査が行なわ
れる。４は測定位置５へ供給された被検査物６を
一様に照射する光源７は被検査物６を光電変換素
子面に結像するレンズ系と一次元又は二次元のフ
オトダイオード等からなる光電変換素子とで構成
されるカメラである。測定位置での被検査物６の
位置は、案内板８によつて被検査物６の軸方向の
位置、ポケツト部３の側面によつて半径方向の位
置が規制され、光学系であるカメラ７と光源４に
対して常に被検査物６が一定の位置関係に保たれ
る。９は、検査結果に基づいて不良と判定された
被検査物を排出する不良排出装置、１０は良品と
判定された被検査物を排出する良品排出装置であ
る。
部、２は供給部１から供給された被検査物を間歇
駆動するケージで、その駆動源（図示していな
い）はステツピングモータ等で構成されている。
ケージ２の外周部にはポケツト部３が等間隔に設
けられ、供給部１から供給された被検査物は、順
次ポケツト部３へ送りこまれ、間歇駆動によつて
測定位置へ移送される。ケージ２のポケツト部３
に供給された被検査物は回転板（図示されていな
い）によつて自転され、円周方向の走査が行なわ
れる。４は測定位置５へ供給された被検査物６を
一様に照射する光源７は被検査物６を光電変換素
子面に結像するレンズ系と一次元又は二次元のフ
オトダイオード等からなる光電変換素子とで構成
されるカメラである。測定位置での被検査物６の
位置は、案内板８によつて被検査物６の軸方向の
位置、ポケツト部３の側面によつて半径方向の位
置が規制され、光学系であるカメラ７と光源４に
対して常に被検査物６が一定の位置関係に保たれ
る。９は、検査結果に基づいて不良と判定された
被検査物を排出する不良排出装置、１０は良品と
判定された被検査物を排出する良品排出装置であ
る。
第４図はこの装置の電気回路図を示すもので、
３０は間歇駆動完了後からカメラ出力信号が安定
するまでの不安定時間T0を基に設定される準備
時間T1を設定する第１のタイマー回路、３１は
測定時間T2を設定する第２のタイマー回路で、
被検査物６の自転速度と検査分解能で決められ
る。３２は処理回路で、第２のタイマー回路の出
力信号が出力されている間のカメラ出力信号を処
理し、被検査物の良、不良を判定する回路であ
る。３３は制御回路で、３２の処理回路の出力信
号を基に、第１回目の検査結果で良品と判定した
場合には、検査終了後に間歇駆動指令を出し、第
１回目の検査結果で不良品と判定された場合に
は、第２のタイマー回路３２へ再度測定するため
の測定時間信号発生を指令する回路である。
３０は間歇駆動完了後からカメラ出力信号が安定
するまでの不安定時間T0を基に設定される準備
時間T1を設定する第１のタイマー回路、３１は
測定時間T2を設定する第２のタイマー回路で、
被検査物６の自転速度と検査分解能で決められ
る。３２は処理回路で、第２のタイマー回路の出
力信号が出力されている間のカメラ出力信号を処
理し、被検査物の良、不良を判定する回路であ
る。３３は制御回路で、３２の処理回路の出力信
号を基に、第１回目の検査結果で良品と判定した
場合には、検査終了後に間歇駆動指令を出し、第
１回目の検査結果で不良品と判定された場合に
は、第２のタイマー回路３２へ再度測定するため
の測定時間信号発生を指令する回路である。
上記の第１のタイマー回路３０の準備時間T1
は次のようにして決められる。
は次のようにして決められる。
間歇駆動直後の被検査物の振動、油膜およびご
み等によるカメラ出力信号の不安定さによる誤判
定を零にする条件で、準備時間T1をＴ0naxに設定
した時の検査サイクル時間Ｔは、 Ｔ0nax＋T2＋T3 (1) 一方、本発明による不良品と判定されたものに
対しては引き続いて再度検査する方式における検
査サイクル時間TRは、 ＴR＝T1＋T2＋T3＋（T1）×T2 (2) で表わされる。
み等によるカメラ出力信号の不安定さによる誤判
定を零にする条件で、準備時間T1をＴ0naxに設定
した時の検査サイクル時間Ｔは、 Ｔ0nax＋T2＋T3 (1) 一方、本発明による不良品と判定されたものに
対しては引き続いて再度検査する方式における検
査サイクル時間TRは、 ＴR＝T1＋T2＋T3＋（T1）×T2 (2) で表わされる。
ここで（T1）は、第２図の不安定時間T0の分
布から求まる関数で、準備時間をT1と設定した
時の誤判定する確率を表わし、第５図に両者の関
係が示されている。
布から求まる関数で、準備時間をT1と設定した
時の誤判定する確率を表わし、第５図に両者の関
係が示されている。
(1)・(2)式より、本発明で能率が低下しない準備
時間T1の領域は、次式で与えられる。
時間T1の領域は、次式で与えられる。
TR＜Ｔより
T1＋（T1）×T2＜Ｔ0nax (3)
即ち、第１のタイマー回路３０の準備時間T1
を(3)式を満足するように選択すればよい。
を(3)式を満足するように選択すればよい。
上記の検査機において、供給部１より供給され
た被検査物６が間歇駆動されて測定位置５にくる
と、外観検査が開始されるが、準備時間T1にお
いては、カメラ７からの出力信号は判断されず、
準備時間T1経過後、被検査物６からの反射光を
とらえたカメラ７からの出力信号が処理回路３２
において判断される。この処理回路３２で被検査
物６が良品と判断されれば、制御回路３３から検
査終了後に間歇駆動指令が出され、被検査物６は
移動する。もし上記第１回目の検査において、不
良品と判定された場合には、制御回路３３より第
２のタイマー回路３１へ再度測定するためのの測
定時間発生が指令される。その結果、処理回路３
２は再度カメラ７の出力信号を入力し、被検査物
６の良否を判断する。このときのカメラ７の出力
信号の状態は第６図に示されるように間歇駆動直
後の被検査物６の振動、油膜およびごみ等による
カメラ７の出力信号の不安定さが全くなく、また
被検査物６に付着しているごみや汚れが自転によ
り取り除かれるので、正確な検査が実施される。
た被検査物６が間歇駆動されて測定位置５にくる
と、外観検査が開始されるが、準備時間T1にお
いては、カメラ７からの出力信号は判断されず、
準備時間T1経過後、被検査物６からの反射光を
とらえたカメラ７からの出力信号が処理回路３２
において判断される。この処理回路３２で被検査
物６が良品と判断されれば、制御回路３３から検
査終了後に間歇駆動指令が出され、被検査物６は
移動する。もし上記第１回目の検査において、不
良品と判定された場合には、制御回路３３より第
２のタイマー回路３１へ再度測定するためのの測
定時間発生が指令される。その結果、処理回路３
２は再度カメラ７の出力信号を入力し、被検査物
６の良否を判断する。このときのカメラ７の出力
信号の状態は第６図に示されるように間歇駆動直
後の被検査物６の振動、油膜およびごみ等による
カメラ７の出力信号の不安定さが全くなく、また
被検査物６に付着しているごみや汚れが自転によ
り取り除かれるので、正確な検査が実施される。
第２回目の検査で良品と判定されたものは、前
記第１回目の検査で良品と判定されたものと同様
に扱われ良品として処理される。一方第２回目の
検査においても、不良品と判定された場合のみ不
良品として処理される。
記第１回目の検査で良品と判定されたものと同様
に扱われ良品として処理される。一方第２回目の
検査においても、不良品と判定された場合のみ不
良品として処理される。
上記の実施例においては、第１のタイマー回路
の設定時間を(3)式を満足するように選択すること
を述べたが、必ずしも(3)式を満足しない場合にお
いても、被検査物の振動、油膜の不安定さおよび
ごみ、汚れ等の影響による誤判定を除去できる場
合もある。
の設定時間を(3)式を満足するように選択すること
を述べたが、必ずしも(3)式を満足しない場合にお
いても、被検査物の振動、油膜の不安定さおよび
ごみ、汚れ等の影響による誤判定を除去できる場
合もある。
この発明は上記のように構成されているので、
間歇駆動によつて生ずる振動の影響を回避でき、
しかも間歇駆動方式による検査精度の高い検査
を、従来の装置より能率を向上して実施すること
が出来る。
間歇駆動によつて生ずる振動の影響を回避でき、
しかも間歇駆動方式による検査精度の高い検査
を、従来の装置より能率を向上して実施すること
が出来る。
また第１回目の検査で外観不良と判定された被
検査体も、同位置で第２回目の検査が行われるた
め、間歇駆動された直後の振動による被検査物の
不安定さは確実に除去された状態で検査され、検
査ミスを犯す確率はほぼ零となり、さらに被検査
物に塗油されている油膜は均一となり、付着して
いるごみ等は除去されることが多いので、良品を
不良品と誤つて判定することは皆無に近い。
検査体も、同位置で第２回目の検査が行われるた
め、間歇駆動された直後の振動による被検査物の
不安定さは確実に除去された状態で検査され、検
査ミスを犯す確率はほぼ零となり、さらに被検査
物に塗油されている油膜は均一となり、付着して
いるごみ等は除去されることが多いので、良品を
不良品と誤つて判定することは皆無に近い。
さらに電気回路構成は簡単であり、故障の心配
は極めて少い等の有用な特長をもつている。
は極めて少い等の有用な特長をもつている。
第１図は被検査物が測定位置へ間歇駆動された
直後から、測定が完了し、次の被検査物が間歇駆
動されてくるまでの検出器よりの出力信号の包絡
線を示した線図、第２図は不安定時間の発生ひん
度を示す線図、第３図ないし第６図はこの発明に
関するもので、第３図はこの発明の一実施例を示
す検査機の概略を示す平面図、第４図は前記検査
機の電気制御回路図、第５図は準備時間と不安定
時間の分布から求まる関数の関係を示す線図、第
６図は検査器よりの出力信号の包絡線を示す線図
である。 符号の説明、１は供給部、２はケージ、４は光
源、５は測定位置、６は被検査物、７はカメラ、
８は案内板、３０は第１のタイマー回路、３１は
第２のタイマー回路、３２は処理回路、３３は制
御回路。
直後から、測定が完了し、次の被検査物が間歇駆
動されてくるまでの検出器よりの出力信号の包絡
線を示した線図、第２図は不安定時間の発生ひん
度を示す線図、第３図ないし第６図はこの発明に
関するもので、第３図はこの発明の一実施例を示
す検査機の概略を示す平面図、第４図は前記検査
機の電気制御回路図、第５図は準備時間と不安定
時間の分布から求まる関数の関係を示す線図、第
６図は検査器よりの出力信号の包絡線を示す線図
である。 符号の説明、１は供給部、２はケージ、４は光
源、５は測定位置、６は被検査物、７はカメラ、
８は案内板、３０は第１のタイマー回路、３１は
第２のタイマー回路、３２は処理回路、３３は制
御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検査物を順次供給し、間歇駆動によつて測
定位置へ移送し、被検査物へ光を投射し、その反
射光を光電変換素子によつて電気信号に変換して
被検査物の表面を検査、選別する外観検査装置に
おいて、被検査物を測定位置へ間歇駆動完了後、
下式で与えられる準備時間T1の設定を行う第１
のタイマー回路と、 T1＋（T1）×T2＜Ｔ0nax T1；準備時間 （T1）；不安定時間の分布から求まる関数 T2；測定時間 Ｔ0nax；最大不安定時間 前記第１のタイマー回路がタイムアツプし後に
セツトされ、少くとも被検査物が１回転に要する
時間以上経過後にタイムアツプすることによつて
測定時間を生成する第２のタイマー回路と、前記
被検査物からの反射光に対する光電変換素子出力
を処理演算して被検査物の良否を判定する処理回
路と、前記処理回路によつて最初の検査結果が不
良と判定された場合に前記第２のタイマー回路を
再度セツトし被検査物の再検査結果に基づいて被
検査物の良否を判定する制御回路とを備えた外観
検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2659380A JPS56124002A (en) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | Inspecting apparatus for exterior view |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2659380A JPS56124002A (en) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | Inspecting apparatus for exterior view |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56124002A JPS56124002A (en) | 1981-09-29 |
| JPS6226405B2 true JPS6226405B2 (ja) | 1987-06-09 |
Family
ID=12197825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2659380A Granted JPS56124002A (en) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | Inspecting apparatus for exterior view |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56124002A (ja) |
-
1980
- 1980-03-05 JP JP2659380A patent/JPS56124002A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56124002A (en) | 1981-09-29 |
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