JPS63200011A - 光電式位置検出装置 - Google Patents
光電式位置検出装置Info
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- JPS63200011A JPS63200011A JP3266987A JP3266987A JPS63200011A JP S63200011 A JPS63200011 A JP S63200011A JP 3266987 A JP3266987 A JP 3266987A JP 3266987 A JP3266987 A JP 3266987A JP S63200011 A JPS63200011 A JP S63200011A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 8
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、光電式位置検出装置に係り、特に、遠隔物体
のJゾさや変位等を三角測量方式により非接触で測定す
る際に用いるのに好適な、測定対象物に光ビームを照射
する照明系と、測定対象物からの前記光ビームの反射光
を集めて結像する対物レンズと、結像された像の光量分
布に対応した検出信号を生成する光電センサと、該検出
信号から前記光量分布の重心位置に対応した重心信号を
生成する処理回路とを含み、該重心信号の変化から測定
対象物の位d又は変位を求める光電式位置検出装置の改
良に関する。
のJゾさや変位等を三角測量方式により非接触で測定す
る際に用いるのに好適な、測定対象物に光ビームを照射
する照明系と、測定対象物からの前記光ビームの反射光
を集めて結像する対物レンズと、結像された像の光量分
布に対応した検出信号を生成する光電センサと、該検出
信号から前記光量分布の重心位置に対応した重心信号を
生成する処理回路とを含み、該重心信号の変化から測定
対象物の位d又は変位を求める光電式位置検出装置の改
良に関する。
産業・界における生産の自動化、ロボット導入等に伴い
、計測のインプロセス化、高速度化、高精度化が急速に
要請されており、赤熱した鉄板の圧延工程における厚さ
のインプロセス測定のように、遠隔物体の厚さや変位等
を非接触で測定できる位置検出装置の必要性も大となっ
ている。 このような非接触の位置検出装置の有力な例として、第
7図に示す如く、測定対象物10にレーザビーム14等
の光ビームを照射して、三角側壁方式で位置や変位を検
出する光電式変位検出装置が知られている。 第7図の位置検出装置は、測定対象物10にレーザビー
ム14を照射する照明系12と、測定対象物10からの
レーザビームの反射光を集めて結像面上に結像する対物
レンズ16と、結像された像の光量分布に対応した検出
信号す、cを生成する光電センサとしての半導体装置検
出器(PSD)18と、前記検出信号す、cから前記光
量分布の重心位置0′又はA′に対応した重心信号dを
生成する処理回路20とを含んで構成されている。 二二で測定対象物10をX方向に相対変位させると、レ
ーザビーム14の照射点は点0から点Aに変化し、それ
に伴って対物レンズ16による結像位置の重心を点O′
から点A′に移動して、重心信号dが対応して変化する
。 従って、測定対象物10をX方向に相対変位させながら
重心信号dを記録することにより、測定対象物10の形
状測定が可能である。又、X方向への相対変位がない場
合でも、測定対象物10がZ方向に変位する場合には、
その変位置又はZ方向の位置を、同様にして重心信号d
から求めることができる。
、計測のインプロセス化、高速度化、高精度化が急速に
要請されており、赤熱した鉄板の圧延工程における厚さ
のインプロセス測定のように、遠隔物体の厚さや変位等
を非接触で測定できる位置検出装置の必要性も大となっ
ている。 このような非接触の位置検出装置の有力な例として、第
7図に示す如く、測定対象物10にレーザビーム14等
の光ビームを照射して、三角側壁方式で位置や変位を検
出する光電式変位検出装置が知られている。 第7図の位置検出装置は、測定対象物10にレーザビー
ム14を照射する照明系12と、測定対象物10からの
レーザビームの反射光を集めて結像面上に結像する対物
レンズ16と、結像された像の光量分布に対応した検出
信号す、cを生成する光電センサとしての半導体装置検
出器(PSD)18と、前記検出信号す、cから前記光
量分布の重心位置0′又はA′に対応した重心信号dを
生成する処理回路20とを含んで構成されている。 二二で測定対象物10をX方向に相対変位させると、レ
ーザビーム14の照射点は点0から点Aに変化し、それ
に伴って対物レンズ16による結像位置の重心を点O′
から点A′に移動して、重心信号dが対応して変化する
。 従って、測定対象物10をX方向に相対変位させながら
重心信号dを記録することにより、測定対象物10の形
状測定が可能である。又、X方向への相対変位がない場
合でも、測定対象物10がZ方向に変位する場合には、
その変位置又はZ方向の位置を、同様にして重心信号d
から求めることができる。
しかしながら、このような光電式位置検出装置において
は、測定対象物10の測定面の表面粗さ等の表面性状に
よって、重心信号dに一種のノイズ信号が!rc畳され
て、検出精度が悪化するという問題点があった。 即ち、′第8図に示す如く、測定対象物10の測定面1
0Sは、微視的には不規則な凹凸が形成されており、結
像面上の光量分布もそれに応じて不規則な分布となって
いる。従って、測定対象物10をX方向に移動させると
、測定対象物10のZ方向への変位が平均として無視で
きるような場合でも、光量分布はa又はbの如く変化し
て、重心信号dには一種のノイズ信号が混入するため、
不要な変位信号が出力され測定精度が悪化してしまう。 これを解決するため、レーザビーム14の径φを大きく
することも考えられるがX方向の分解能が低下しなり、
結像面上での像に歪みが生ずる等の問題点がある。
は、測定対象物10の測定面の表面粗さ等の表面性状に
よって、重心信号dに一種のノイズ信号が!rc畳され
て、検出精度が悪化するという問題点があった。 即ち、′第8図に示す如く、測定対象物10の測定面1
0Sは、微視的には不規則な凹凸が形成されており、結
像面上の光量分布もそれに応じて不規則な分布となって
いる。従って、測定対象物10をX方向に移動させると
、測定対象物10のZ方向への変位が平均として無視で
きるような場合でも、光量分布はa又はbの如く変化し
て、重心信号dには一種のノイズ信号が混入するため、
不要な変位信号が出力され測定精度が悪化してしまう。 これを解決するため、レーザビーム14の径φを大きく
することも考えられるがX方向の分解能が低下しなり、
結像面上での像に歪みが生ずる等の問題点がある。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、測定対数物の測定面の表面粗さ等による影響を受
は難い光電式位置検出装置を提供することを目的とする
。
ので、測定対数物の測定面の表面粗さ等による影響を受
は難い光電式位置検出装置を提供することを目的とする
。
本発明は、測定対象物に光ビームを照射する照明系と、
測定対象物からの前記光ビームの反射光を集めて結像す
る対物レンズと、結像された像の光量分布に対応した検
出信号を生成する光電センサと、該検出信号から前記光
量分布の重心位置に対応した重心信号を生成する処理回
路とを含み、該重心信号の変化から測定対象物の位置又
は変位を求める光電式位置検出装置において、前記照明
系に、前記光ビームの方向を変える振動ミラーと該振動
ミラーを往復回動する加振器とを備えて、前記光ビーム
を測定対象物上で微少振動させるとともに、前記処理回
路に、前記加振器の往復回動に同期して加振器が中立領
域にある時のみ前記重心信号を精分する積分回路を設け
、該積分回路の積分信号をもって測定対象物の位置又は
変位の信号とすることにより、前記目的を達成したもの
である。 又、本発明の実施態様は、前記照明系に前記光ビームを
集束する照明レンズを設け、該照明レンズの焦点近傍に
前記振動ミラーを配設したものである。
測定対象物からの前記光ビームの反射光を集めて結像す
る対物レンズと、結像された像の光量分布に対応した検
出信号を生成する光電センサと、該検出信号から前記光
量分布の重心位置に対応した重心信号を生成する処理回
路とを含み、該重心信号の変化から測定対象物の位置又
は変位を求める光電式位置検出装置において、前記照明
系に、前記光ビームの方向を変える振動ミラーと該振動
ミラーを往復回動する加振器とを備えて、前記光ビーム
を測定対象物上で微少振動させるとともに、前記処理回
路に、前記加振器の往復回動に同期して加振器が中立領
域にある時のみ前記重心信号を精分する積分回路を設け
、該積分回路の積分信号をもって測定対象物の位置又は
変位の信号とすることにより、前記目的を達成したもの
である。 又、本発明の実施態様は、前記照明系に前記光ビームを
集束する照明レンズを設け、該照明レンズの焦点近傍に
前記振動ミラーを配設したものである。
本発明は、前記のような三角測量方式の光電式位置検出
装置において、照明系に、光ビームの方向を変える振動
ミラーと該振動ミラーを往復回動する加振器を備え、前
記光ビームを測定対象物上で微少振動させるようにして
いるので、測定対象物の測定面の粗さの影響を減少させ
ることができる。又、処理回路に、前記加振器の往復回
動に同期して加振器が中立位置にある時のみ前記重心信
号を閉会する積分回路を設け、該積分回路の積分信号を
もって測定対象物の位置又は変位の信号としているので
、振動ミラーの往復回動が不安定な領域の重心信号が除
かれ、高精度で位置又は変位の検出が可能となる。 又、前記照明系に前記光ビームを集束する照明レンズを
設け、該照明レンズの焦点近傍に前記振動ミラーを配設
した場合には、光ビームが測定対象物上で平行に微少振
動するので、より正確な重心信号が得られる。
装置において、照明系に、光ビームの方向を変える振動
ミラーと該振動ミラーを往復回動する加振器を備え、前
記光ビームを測定対象物上で微少振動させるようにして
いるので、測定対象物の測定面の粗さの影響を減少させ
ることができる。又、処理回路に、前記加振器の往復回
動に同期して加振器が中立位置にある時のみ前記重心信
号を閉会する積分回路を設け、該積分回路の積分信号を
もって測定対象物の位置又は変位の信号としているので
、振動ミラーの往復回動が不安定な領域の重心信号が除
かれ、高精度で位置又は変位の検出が可能となる。 又、前記照明系に前記光ビームを集束する照明レンズを
設け、該照明レンズの焦点近傍に前記振動ミラーを配設
した場合には、光ビームが測定対象物上で平行に微少振
動するので、より正確な重心信号が得られる。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。 本実施例は、第1図に示す如く、測定対象物10に光ビ
ームとしてのレーザビーム14を照射するための、レー
ザダイオード32、コリメータレンズ34、振動ミラー
36、加振器38及び照明レンズ40からなる照明系3
0と、測定対象物10からの前記レーザビーム14の反
射光を集めて結像する、従来と同様の対物レンズ16と
、結像された像の光量分布に対応した検出信号す、cを
生成する、従来と同様の光電センサとしてのPSD18
と、該検出信号す、cから前記光量分布の重心位置に対
応した重心信号dを生成する処理回路42とを含んで構
成されている0図において、44はフレームである。 前記照明系30において、レーザダイオード32はコリ
メータレンズ34の焦点近傍に設けられ、fii%)l
ミラー36は、照明レンズ40の焦点近傍に配設されて
いる。従って、加振器38によって振動ミラー36がθ
方向に@!(往復回動)すると、レーザビーム14は、
測定対象物10の表面に対して平行なX方向に微少振動
する。 この場合、レーザビーム14は、照明レンズ40の振動
ミラー36とは反対側の焦点近傍で集光することになる
が、照明レンズ40に入射するレーザビーム14の径は
それほど大きくないなめ、その焦点を含む前後の広い区
間がZ方向の測定範囲となる。 前記加振器38としては、例えば第2図に示す如く、磁
性体フレーム38Aと、永久磁石38Bと、コイル38
Cと、鉄片を含む回動軸38Dとを含んで構成され、該
回動軸38Dに振動ミラー36が固定された、ガルバノ
メータ方式の加振器を用いることができる。このガルバ
ノメータ方式の加振器においては、コイル38Cに加振
信号aとして正弦波状の交流電流を流すと、回動軸38
Dがθ方向に往復回動する。 又、前記加振器38として、第3図に示す如く、コイル
38Eと鉄製のU字型振動板38Fとを含んで構成され
、該U字型振動板38Fに振動ミラー36が固定された
、固有振動方式の加振器を用いることもできる。この固
有振動方式の加振器においても、コイル38Eに加振信
号aとして正弦波状の交流電流を流すと、U字型fii
動板38Fがその固有振動数で振動するので、振動ミラ
ー36がθ方向に往復回動する。 第2図及び第3図に示した加振器は、いずれも公知の構
成であるが、加振器38はこの他の構成でもよく、要は
θ方向に往復回動できるものであればよい。 前記処理回路42は、第4図に詳細に示す如く、前記P
SD18から出力される検出信号す、cを電圧に変換す
る電流電圧変換器42Aと、該電流電圧変換器42Aの
出力の差及び和をそれぞれ演算する減算器42B及び加
算器42Cと、これらの出力から光量分布の重心位置に
対応する重心信号dを生成する除算器42Dとを含んで
いる。該重心信号dは、係数kを用いて次式で表わされ
、光量が全体として小さくなっても正確な重心位置に対
応するようにされている。 d=k (b−c)/(b+c) ・・・(1)こ
の重心信号dは、アナログスイッチ42Eがオフの間に
積分回F&42Fで積分されて積分信号eとなり、この
積分信号eは、アナログスイッチ42Gがオフとなると
、サンプル/ホールド(S/H)回路42Hに保持され
る。S/H回路42Hに保持された信号は、アナログ/
デジタル(A/D)変換器42Iを介してマイクロプロ
セッサ、 (CPU)42Jに取込まれ、平均化等
の処理が施された後、デジタル/アナログ(D/A)変
換器42Kを介して変位信号fとして外部に出力される
。 前記アナログスイッチ42E、42Gのオンオフの制御
回路は、発振器42L、ウィンドウコンパレータ42M
及び反転器42Nから構成されている。前記発振器42
Lからは加振器38に対する加振信号aのために正弦波
状の交流信号が発生され、その一部は、参照信号がVr
ef中、Vref−のウィンドウコンパレータ42Mに
入力される。 このウィンドウコンパレータ42Mでは、加振信号aが
参照信号Vref”及びVref″″の中間レベルにあ
るときは高レベルで、他の場合は低レベルである信号・
hが出力される。 以下、実施例の作用を説明する。 第5図は、本実施例で得られる重心信号dを示したもの
であり、まず第1図の状態では、重心信号dがレーザビ
ーム14の振動に対応して、第5図の区間T1のように
平均値d1で正弦波状に変化するが、表面粗さ等の影響
によるノイズが重なっている0次いで測定対象物10が
X方向に変位して段差を越えると、第5図に示した区間
T2のように重心信号dがT1からΔd変化した平均値
d2で正弦波状の振動を繰返す、従って、平均値dl等
を求めればよいわけであるが、単純なローパスフィルタ
を用いたのでは誤差が生じる恐れがある。 即ち、第6図(C)に示した重心信号dの拡大図から明
らかなように、重心信号dは凸部(領域Q)と四部(領
域R)では、ノイズ成分を除いた信号が理想的な正弦波
(r&線)から外れていることが実験により判明しな、
即ち、領域Q、Rは、第1図の振動ミラー36が往復回
動の中立点から最も大きく変位している領域を含むこと
になり、加振信号aは、第6図(A)で示したように、
これらの領域Q、R″1″最大又は最小となっている。 従って、111ii動ミラー36が振動の折返し点近傍
では動作が不安定となるため、重心信号dも不安定にな
るものと考えられる。 そこで本発明では、実施例のように参照信号vref
令、Vref−を有するウィンドウコンパレータ42M
を用いている。このウィンドウコンパレータ42Mの出
力りは、第6図(B)に示す如くとなり、出力りが窩レ
ベルのときだけ重心信号dを積分することによって、重
心信号dが正弦波で近似できる中立領域にあるときの信
号のみを抽出するようにしている。又、この部分は、正
弦波がvL線でも近似できる領域であり、実質的には重
心信号dが直線近似できる部分のみを抽出して積分して
いると考えることもできる。 具体的には、積分するのは第6図(C)の領域P1、P
2であり、加振器38から見れば第6図(A)に示した
如く、加振器38が中立領域Pにある範囲でのみ重心信
号dが積分されることになる。なお積分信号eは、第6
図(D)のように、最大値がe2→e1→e2・・・と
変化するが、この値はS/H回路42Hを介してCPU
42Jに取込まれる。 CPU42Jの演算としては、最大値e2、elの平均
を取る、予め配位しである係数を乗する等が考えられる
。これらの値は、いずれにしても表面粗さ等の影響が平
均化され除去されており、第5図の平均値6重又はzl
に対応するもので、変位信号fとして外部に出力される
。ここで、第6図(C)の重心信号dの理想的正弦波か
らの偏差は常に一定したものではなく、時に変化する場
合があるため、領域P1、P2を抽出して処理しない従
来の装置では、平時は一定誤差で補正も可能であるが、
時として大きな糾差が生じてしまう恐れがあった。 本実′施例においては、加振信号aが直ちに積分のタイ
ミングを定める信号りを生成していたので、信号りが比
較的容易に得られる。なお、積分のタイミングを定める
信号を生成する方法はこれに限定されず、例えば加振器
38の動きをフィードバックして得られた信号を加振信
号aの代わりにウィンドウコンパレータ42Mに入力す
ることによって、より高精度なタイミングを得ることも
可能である。これは、特に加振器が固有振動方式の場合
に有効である。 又、本実施例においては、照明系30に照明レンズ40
が付加されていたので、レーザビーム14を測定対象物
10上で平行に振動させることができ、高精度の測定を
行うことができる。なお照明レンズ40を省略すること
も可能である。この場合には、レーザビームが扇型に振
動されることになるが、fi動量が少なければ誤差は無
視できる程度になる。 なお、前記実施例においては、光電センサとしてPSD
18が用いられていたが、光電センサの種類はこれに限
定されず、2分割のフォトダイオードなども使用可能で
ある。
。 本実施例は、第1図に示す如く、測定対象物10に光ビ
ームとしてのレーザビーム14を照射するための、レー
ザダイオード32、コリメータレンズ34、振動ミラー
36、加振器38及び照明レンズ40からなる照明系3
0と、測定対象物10からの前記レーザビーム14の反
射光を集めて結像する、従来と同様の対物レンズ16と
、結像された像の光量分布に対応した検出信号す、cを
生成する、従来と同様の光電センサとしてのPSD18
と、該検出信号す、cから前記光量分布の重心位置に対
応した重心信号dを生成する処理回路42とを含んで構
成されている0図において、44はフレームである。 前記照明系30において、レーザダイオード32はコリ
メータレンズ34の焦点近傍に設けられ、fii%)l
ミラー36は、照明レンズ40の焦点近傍に配設されて
いる。従って、加振器38によって振動ミラー36がθ
方向に@!(往復回動)すると、レーザビーム14は、
測定対象物10の表面に対して平行なX方向に微少振動
する。 この場合、レーザビーム14は、照明レンズ40の振動
ミラー36とは反対側の焦点近傍で集光することになる
が、照明レンズ40に入射するレーザビーム14の径は
それほど大きくないなめ、その焦点を含む前後の広い区
間がZ方向の測定範囲となる。 前記加振器38としては、例えば第2図に示す如く、磁
性体フレーム38Aと、永久磁石38Bと、コイル38
Cと、鉄片を含む回動軸38Dとを含んで構成され、該
回動軸38Dに振動ミラー36が固定された、ガルバノ
メータ方式の加振器を用いることができる。このガルバ
ノメータ方式の加振器においては、コイル38Cに加振
信号aとして正弦波状の交流電流を流すと、回動軸38
Dがθ方向に往復回動する。 又、前記加振器38として、第3図に示す如く、コイル
38Eと鉄製のU字型振動板38Fとを含んで構成され
、該U字型振動板38Fに振動ミラー36が固定された
、固有振動方式の加振器を用いることもできる。この固
有振動方式の加振器においても、コイル38Eに加振信
号aとして正弦波状の交流電流を流すと、U字型fii
動板38Fがその固有振動数で振動するので、振動ミラ
ー36がθ方向に往復回動する。 第2図及び第3図に示した加振器は、いずれも公知の構
成であるが、加振器38はこの他の構成でもよく、要は
θ方向に往復回動できるものであればよい。 前記処理回路42は、第4図に詳細に示す如く、前記P
SD18から出力される検出信号す、cを電圧に変換す
る電流電圧変換器42Aと、該電流電圧変換器42Aの
出力の差及び和をそれぞれ演算する減算器42B及び加
算器42Cと、これらの出力から光量分布の重心位置に
対応する重心信号dを生成する除算器42Dとを含んで
いる。該重心信号dは、係数kを用いて次式で表わされ
、光量が全体として小さくなっても正確な重心位置に対
応するようにされている。 d=k (b−c)/(b+c) ・・・(1)こ
の重心信号dは、アナログスイッチ42Eがオフの間に
積分回F&42Fで積分されて積分信号eとなり、この
積分信号eは、アナログスイッチ42Gがオフとなると
、サンプル/ホールド(S/H)回路42Hに保持され
る。S/H回路42Hに保持された信号は、アナログ/
デジタル(A/D)変換器42Iを介してマイクロプロ
セッサ、 (CPU)42Jに取込まれ、平均化等
の処理が施された後、デジタル/アナログ(D/A)変
換器42Kを介して変位信号fとして外部に出力される
。 前記アナログスイッチ42E、42Gのオンオフの制御
回路は、発振器42L、ウィンドウコンパレータ42M
及び反転器42Nから構成されている。前記発振器42
Lからは加振器38に対する加振信号aのために正弦波
状の交流信号が発生され、その一部は、参照信号がVr
ef中、Vref−のウィンドウコンパレータ42Mに
入力される。 このウィンドウコンパレータ42Mでは、加振信号aが
参照信号Vref”及びVref″″の中間レベルにあ
るときは高レベルで、他の場合は低レベルである信号・
hが出力される。 以下、実施例の作用を説明する。 第5図は、本実施例で得られる重心信号dを示したもの
であり、まず第1図の状態では、重心信号dがレーザビ
ーム14の振動に対応して、第5図の区間T1のように
平均値d1で正弦波状に変化するが、表面粗さ等の影響
によるノイズが重なっている0次いで測定対象物10が
X方向に変位して段差を越えると、第5図に示した区間
T2のように重心信号dがT1からΔd変化した平均値
d2で正弦波状の振動を繰返す、従って、平均値dl等
を求めればよいわけであるが、単純なローパスフィルタ
を用いたのでは誤差が生じる恐れがある。 即ち、第6図(C)に示した重心信号dの拡大図から明
らかなように、重心信号dは凸部(領域Q)と四部(領
域R)では、ノイズ成分を除いた信号が理想的な正弦波
(r&線)から外れていることが実験により判明しな、
即ち、領域Q、Rは、第1図の振動ミラー36が往復回
動の中立点から最も大きく変位している領域を含むこと
になり、加振信号aは、第6図(A)で示したように、
これらの領域Q、R″1″最大又は最小となっている。 従って、111ii動ミラー36が振動の折返し点近傍
では動作が不安定となるため、重心信号dも不安定にな
るものと考えられる。 そこで本発明では、実施例のように参照信号vref
令、Vref−を有するウィンドウコンパレータ42M
を用いている。このウィンドウコンパレータ42Mの出
力りは、第6図(B)に示す如くとなり、出力りが窩レ
ベルのときだけ重心信号dを積分することによって、重
心信号dが正弦波で近似できる中立領域にあるときの信
号のみを抽出するようにしている。又、この部分は、正
弦波がvL線でも近似できる領域であり、実質的には重
心信号dが直線近似できる部分のみを抽出して積分して
いると考えることもできる。 具体的には、積分するのは第6図(C)の領域P1、P
2であり、加振器38から見れば第6図(A)に示した
如く、加振器38が中立領域Pにある範囲でのみ重心信
号dが積分されることになる。なお積分信号eは、第6
図(D)のように、最大値がe2→e1→e2・・・と
変化するが、この値はS/H回路42Hを介してCPU
42Jに取込まれる。 CPU42Jの演算としては、最大値e2、elの平均
を取る、予め配位しである係数を乗する等が考えられる
。これらの値は、いずれにしても表面粗さ等の影響が平
均化され除去されており、第5図の平均値6重又はzl
に対応するもので、変位信号fとして外部に出力される
。ここで、第6図(C)の重心信号dの理想的正弦波か
らの偏差は常に一定したものではなく、時に変化する場
合があるため、領域P1、P2を抽出して処理しない従
来の装置では、平時は一定誤差で補正も可能であるが、
時として大きな糾差が生じてしまう恐れがあった。 本実′施例においては、加振信号aが直ちに積分のタイ
ミングを定める信号りを生成していたので、信号りが比
較的容易に得られる。なお、積分のタイミングを定める
信号を生成する方法はこれに限定されず、例えば加振器
38の動きをフィードバックして得られた信号を加振信
号aの代わりにウィンドウコンパレータ42Mに入力す
ることによって、より高精度なタイミングを得ることも
可能である。これは、特に加振器が固有振動方式の場合
に有効である。 又、本実施例においては、照明系30に照明レンズ40
が付加されていたので、レーザビーム14を測定対象物
10上で平行に振動させることができ、高精度の測定を
行うことができる。なお照明レンズ40を省略すること
も可能である。この場合には、レーザビームが扇型に振
動されることになるが、fi動量が少なければ誤差は無
視できる程度になる。 なお、前記実施例においては、光電センサとしてPSD
18が用いられていたが、光電センサの種類はこれに限
定されず、2分割のフォトダイオードなども使用可能で
ある。
以上説明した通り、本発明によれば、測定対象物の測定
面の表面粗さ等による影響を受は難く、且つ、高精度の
測定を行うことが可能となるという優れた効果を有する
。
面の表面粗さ等による影響を受は難く、且つ、高精度の
測定を行うことが可能となるという優れた効果を有する
。
第1図は、本発明に係る光電式位置検出装置の実施例の
全体構成を示す断面図、第2図は、前記実施例で用いら
れている加振器の一例の構成を示す断面図、第3図は、
同じく加振器の他の例の構成を示す正面図、第4図は、
前記実施例で用いられている処理回路の構成を示すブロ
ック線図、第5図は、前記実施例における重心信号dの
変化状態の例を示す線図、第6図は、前記実施例におけ
る各部信号波形の例を示す線図、第7図は、従来の光電
式位置検出装置の一例の構成を示す断面図、第8図は、
前記従来技術の表面粗さなどによる問題点を説明するた
めの拡大断面図である。 10・・・測定対象物、 14・・・レーザビーム
、16・・・対物レンズ、 18・・・PSD (光電センサ)、 b、c・・・検出信号、 O’ 、A’・・・重心位
置、30・・・照明系、 32・・・レーザダイオード、 36・・・振動ミラー、 38・・・加振器、a・・
・加振信号、 40・・・照明レンズ、42・・
・処理回路、 d・・・重心信号、42E、42G
・・・アナログスイッチ、42F・・・積分回路、
e・・・積分信号、f・・・変位信号、 42L
・・・発振器、42M・・・ウィンドウコンパレータ、
42N・・・反転器、 Pl、P2・・・積分領域、 p・・・中立領域。
全体構成を示す断面図、第2図は、前記実施例で用いら
れている加振器の一例の構成を示す断面図、第3図は、
同じく加振器の他の例の構成を示す正面図、第4図は、
前記実施例で用いられている処理回路の構成を示すブロ
ック線図、第5図は、前記実施例における重心信号dの
変化状態の例を示す線図、第6図は、前記実施例におけ
る各部信号波形の例を示す線図、第7図は、従来の光電
式位置検出装置の一例の構成を示す断面図、第8図は、
前記従来技術の表面粗さなどによる問題点を説明するた
めの拡大断面図である。 10・・・測定対象物、 14・・・レーザビーム
、16・・・対物レンズ、 18・・・PSD (光電センサ)、 b、c・・・検出信号、 O’ 、A’・・・重心位
置、30・・・照明系、 32・・・レーザダイオード、 36・・・振動ミラー、 38・・・加振器、a・・
・加振信号、 40・・・照明レンズ、42・・
・処理回路、 d・・・重心信号、42E、42G
・・・アナログスイッチ、42F・・・積分回路、
e・・・積分信号、f・・・変位信号、 42L
・・・発振器、42M・・・ウィンドウコンパレータ、
42N・・・反転器、 Pl、P2・・・積分領域、 p・・・中立領域。
Claims (2)
- (1)測定対象物に光ビームを照射する照明系と、測定
対象物からの前記光ビームの反射光を集めて結像する対
物レンズと、結像された像の光量分布に対応した検出信
号を生成する光電センサと、該検出信号から前記光量分
布の重心位置に対応した重心信号を生成する処理回路と
を含み、該重心信号の変化から測定対象物の位置又は変
位を求める光電式位置検出装置において、 前記照明系に、前記光ビームの方向を変える振動ミラー
と該振動ミラーを往復回動する加振器とを備えて、前記
光ビームを測定対象物上で微少振動させるとともに、 前記処理回路に、前記加振器の往復回動に同期して加振
器が中立領域にある時のみ前記重心信号を積分する積分
回路を設け、 該積分回路の積分信号をもって測定対象物の位置又は変
位の信号とすることを特徴とする光電式位置検出装置。 - (2)前記照明系に前記光ビームを集束する照明レンズ
が設けられ、該照明レンズの焦点近傍に前記振動ミラー
が配設されている特許請求の範囲第1項記載の光電式位
置検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3266987A JPS63200011A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 光電式位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3266987A JPS63200011A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 光電式位置検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63200011A true JPS63200011A (ja) | 1988-08-18 |
JPH0449048B2 JPH0449048B2 (ja) | 1992-08-10 |
Family
ID=12365278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3266987A Granted JPS63200011A (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 光電式位置検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63200011A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63238508A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Toshiba Corp | 位置測定装置 |
JPH02276907A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-13 | Fanuc Ltd | Ccd固体撮像素子を用いたアークセンサ |
JPH0447210A (ja) * | 1990-06-13 | 1992-02-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザスポット光による高さ計測装置 |
JPH0593625A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Mitsutoyo Corp | 光学式変位計 |
US5631738A (en) * | 1995-08-30 | 1997-05-20 | Hewlett-Packard Co. | Laser ranging system having reduced sensitivity to surface defects |
JP2018109544A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 株式会社キーエンス | 光走査高さ測定装置 |
-
1987
- 1987-02-16 JP JP3266987A patent/JPS63200011A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63238508A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Toshiba Corp | 位置測定装置 |
JPH02276907A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-13 | Fanuc Ltd | Ccd固体撮像素子を用いたアークセンサ |
JPH0447210A (ja) * | 1990-06-13 | 1992-02-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザスポット光による高さ計測装置 |
JPH0593625A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Mitsutoyo Corp | 光学式変位計 |
US5631738A (en) * | 1995-08-30 | 1997-05-20 | Hewlett-Packard Co. | Laser ranging system having reduced sensitivity to surface defects |
JP2018109544A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 株式会社キーエンス | 光走査高さ測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0449048B2 (ja) | 1992-08-10 |
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