JPS6226177B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6226177B2 JPS6226177B2 JP56029038A JP2903881A JPS6226177B2 JP S6226177 B2 JPS6226177 B2 JP S6226177B2 JP 56029038 A JP56029038 A JP 56029038A JP 2903881 A JP2903881 A JP 2903881A JP S6226177 B2 JPS6226177 B2 JP S6226177B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- prism
- bonding
- mirror surface
- semi
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 28
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路チツプ等を基板にボンデイン
グする際の位置合わせ機構に関する。
グする際の位置合わせ機構に関する。
従来のICボンデイング装置における位置合わ
せ機構を第2図を用いて説明する。同図には集積
回路チツプ1を基板2にフエイスボンデイングす
る際の位置合わせの為の手段が示される。3はボ
ンデイングヘツド、4はボンデイングステージで
ある。上記基板2としてはガラス基板が用いら
れ、この基板は透明体である。集積回路チツプ1
のボンデイングパツドと基板2上の配線パターン
の像は基板2を透過し鏡5を介してテレビジヨン
カメラ6によつてとらえられる。作業者はボンデ
イングヘツド3、ボンデイングステージ4の何れ
か或いは両者を移動(横移動、回転移動)させ、
上記テレビジヨンカメラ6によつて撮影された像
が映し出されるモニターテレビジヨン画面を観察
する。該画面上のボンデイングパツドの像と基板
2の配線パターンの像が一致した時にボンデイン
グヘツド3を下降させればボンデイングがなされ
る。この様な位置合わせ方法は作業性が良好であ
り、ボンデイング精度も高い為にボンデイング位
置合わせ方法として非常に有用なものであつた。
せ機構を第2図を用いて説明する。同図には集積
回路チツプ1を基板2にフエイスボンデイングす
る際の位置合わせの為の手段が示される。3はボ
ンデイングヘツド、4はボンデイングステージで
ある。上記基板2としてはガラス基板が用いら
れ、この基板は透明体である。集積回路チツプ1
のボンデイングパツドと基板2上の配線パターン
の像は基板2を透過し鏡5を介してテレビジヨン
カメラ6によつてとらえられる。作業者はボンデ
イングヘツド3、ボンデイングステージ4の何れ
か或いは両者を移動(横移動、回転移動)させ、
上記テレビジヨンカメラ6によつて撮影された像
が映し出されるモニターテレビジヨン画面を観察
する。該画面上のボンデイングパツドの像と基板
2の配線パターンの像が一致した時にボンデイン
グヘツド3を下降させればボンデイングがなされ
る。この様な位置合わせ方法は作業性が良好であ
り、ボンデイング精度も高い為にボンデイング位
置合わせ方法として非常に有用なものであつた。
しかし、上記位置合わせを行なう為には基板が
透明材料に限られるという制約があり、よつて不
透明基板を用いて上記位置合わせを行なう事はで
きなかつた。
透明材料に限られるという制約があり、よつて不
透明基板を用いて上記位置合わせを行なう事はで
きなかつた。
本発明は上記従来欠点に鑑みなされたものであ
り、ボンデイングを基板の材質に関係なくしかも
高精度で作業性良く行なう為の新規有用な位置合
わせ機構を提供することを目的とする。
り、ボンデイングを基板の材質に関係なくしかも
高精度で作業性良く行なう為の新規有用な位置合
わせ機構を提供することを目的とする。
以下、本発明に係わる実施例を図面を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は本発明に係わるボンデイング装置の位
置合わせ機構の一実施例の説明図である。尚、第
2図と同一部分は同一符号をもつて示す。
置合わせ機構の一実施例の説明図である。尚、第
2図と同一部分は同一符号をもつて示す。
集積回路チツプ1と該チツプ1をボンデイング
する為の基板2との間に一定の間隔が設けられ、
この空間に長方形状のビームスプリツター状プリ
ズム7が配設される。同図でプリズム7の一端面
αβは鏡面であり内部の斜面γδは半透過鏡面で
ある。このプリズム7を通して集積回路チツプ1
のA点及び基板2のA′点の像を同時にテレビジ
ヨンカメラ6に導入せしめ撮影する。作業者はテ
レビジヨンモニタ画面上に写される集積回路チツ
プ1のボンデイングパツドと基板2上の配線パタ
ーンとを観察しつつチツプ1又は基板2を移動さ
せ位置合わせを行なう。この時A点及びA′点か
らE点までの光路は各々、 (A→E)A→B→C→D→C→E (A′→E)A′→B′→C→E となるが、テレビジヨンモニタ画面においてA点
及びA′点の両者に同時に焦点が合致する為には
A点からの光路長とA′点からの光路長が等しく
なければならない。
する為の基板2との間に一定の間隔が設けられ、
この空間に長方形状のビームスプリツター状プリ
ズム7が配設される。同図でプリズム7の一端面
αβは鏡面であり内部の斜面γδは半透過鏡面で
ある。このプリズム7を通して集積回路チツプ1
のA点及び基板2のA′点の像を同時にテレビジ
ヨンカメラ6に導入せしめ撮影する。作業者はテ
レビジヨンモニタ画面上に写される集積回路チツ
プ1のボンデイングパツドと基板2上の配線パタ
ーンとを観察しつつチツプ1又は基板2を移動さ
せ位置合わせを行なう。この時A点及びA′点か
らE点までの光路は各々、 (A→E)A→B→C→D→C→E (A′→E)A′→B′→C→E となるが、テレビジヨンモニタ画面においてA点
及びA′点の両者に同時に焦点が合致する為には
A点からの光路長とA′点からの光路長が等しく
なければならない。
プリズムの材料であるガラスの屈折率をnとす
ると、 (A→Eの光路長)=+n+2n+n (A′→Eの光路長)=′′+n′+n であるから(A→Eの光路長)=(A′→Eの光路
長)の為には ′′−=2n であれば良い。
ると、 (A→Eの光路長)=+n+2n+n (A′→Eの光路長)=′′+n′+n であるから(A→Eの光路長)=(A′→Eの光路
長)の為には ′′−=2n であれば良い。
従つて、A点とA′点の中心からnの距離だ
け上方の位置にプリズム7を挿入すれば、A点と
A′点の像をテレビジヨンカメラにおいて同時に
焦点を合致させることが可能となる。
け上方の位置にプリズム7を挿入すれば、A点と
A′点の像をテレビジヨンカメラにおいて同時に
焦点を合致させることが可能となる。
同図の構造によればプリズム7は半透過鏡面γ
δの中心Cと鏡面のαβとの間隔であるC−D間
距離が半透過鏡面γδの中心Cと入射面αεとの
間隔であるB′−C間距離に比して長い直方体にな
つており、CDが特に大きい為に′′ととの差
を大きくできる。従つて′′即ちプリズム7と
基板2との間の空間が広くなるために、この空間
を広く有効に活用することが可能となり、該空間
における基板搬送用爪8の運動が可能となる。
δの中心Cと鏡面のαβとの間隔であるC−D間
距離が半透過鏡面γδの中心Cと入射面αεとの
間隔であるB′−C間距離に比して長い直方体にな
つており、CDが特に大きい為に′′ととの差
を大きくできる。従つて′′即ちプリズム7と
基板2との間の空間が広くなるために、この空間
を広く有効に活用することが可能となり、該空間
における基板搬送用爪8の運動が可能となる。
上記テレビジヨンカメラによつて得られた映像
を用いて位置合わせを行なつた後でプリズム7を
ボンデイングヘツド3と基板2の間から退避さ
せ、次にボンデイングヘツド3を下降させ集積回
路チツプ1を基板2にボンデイングする。このよ
うな位置合わせ方法によれば基板を透明体とする
必要はなく、不透明体であつても構わない。
を用いて位置合わせを行なつた後でプリズム7を
ボンデイングヘツド3と基板2の間から退避さ
せ、次にボンデイングヘツド3を下降させ集積回
路チツプ1を基板2にボンデイングする。このよ
うな位置合わせ方法によれば基板を透明体とする
必要はなく、不透明体であつても構わない。
以上説明した如く本発明によれば集積回路チツ
プと基板との間にプリズムを配置することによつ
て、基板の材質に関係なく両者の位置合わせが高
精度で行なうことができる。更に、プリズムと基
板との間の空間を広くできるので、その空間を利
用して基板搬送用爪の運動が可能となり、作業性
を良好にできるものである。
プと基板との間にプリズムを配置することによつ
て、基板の材質に関係なく両者の位置合わせが高
精度で行なうことができる。更に、プリズムと基
板との間の空間を広くできるので、その空間を利
用して基板搬送用爪の運動が可能となり、作業性
を良好にできるものである。
第1図は本発明に係わるボンデイング装置の位
置合わせ機構の一実施例の説明図、第2図は従来
のボンデイング装置の位置合わせ機構の説明図を
示す。 図中、1:集積回路チツプ、2:基板、3:ボ
ンデイングヘツド、4:ボンデイングステージ、
5:鏡、6:テレビジヨンカメラ、7:プリズ
ム、8:基板搬送用爪。
置合わせ機構の一実施例の説明図、第2図は従来
のボンデイング装置の位置合わせ機構の説明図を
示す。 図中、1:集積回路チツプ、2:基板、3:ボ
ンデイングヘツド、4:ボンデイングステージ、
5:鏡、6:テレビジヨンカメラ、7:プリズ
ム、8:基板搬送用爪。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電子回路部品と基板との間に、内部に半透過
鏡面γδと一端面に鏡面αβとを有するビームス
プリツター状プリズムを配置し、該プリズムによ
り上記部品と上記基板の合成像を形成し、該合成
像を用いて上記電子回路部品と基板との位置合わ
せを行なうボンデイング装置の位置合わせ機構で
あつて、 上記プリズムを長方体形状とし、該プリズムの
半透過鏡面γδの中心Cと鏡面αβとの間隔を半
透過鏡面γδの中心Cと入射面αεとの間隔に比
較して長くしたことを特徴とするボンデイング装
置の位置合わせ機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2903881A JPS57143837A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Positioning of bonder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2903881A JPS57143837A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Positioning of bonder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57143837A JPS57143837A (en) | 1982-09-06 |
JPS6226177B2 true JPS6226177B2 (ja) | 1987-06-08 |
Family
ID=12265225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2903881A Granted JPS57143837A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Positioning of bonder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57143837A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58182718A (ja) * | 1982-04-20 | 1983-10-25 | Datsuku Eng Kk | 位置合わせ装置 |
JPS59218516A (ja) * | 1983-05-25 | 1984-12-08 | Nichiden Mach Ltd | 同軸直射照明を有する位置決め装置 |
JP2746930B2 (ja) * | 1988-08-24 | 1998-05-06 | 株式会社日立製作所 | カラーブラウン管用マグネット装置 |
JP2871698B2 (ja) * | 1988-08-24 | 1999-03-17 | 株式会社日立製作所 | 偏向ヨーク付きカラーブラウン管 |
JP2746932B2 (ja) * | 1988-08-24 | 1998-05-06 | 株式会社日立製作所 | カラーブラウン管用マグネット装置 |
JPH06232214A (ja) * | 1993-02-03 | 1994-08-19 | Torai Tec:Kk | フリップチップボンデイング装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5552229A (en) * | 1978-10-11 | 1980-04-16 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53140049U (ja) * | 1977-04-13 | 1978-11-06 |
-
1981
- 1981-02-27 JP JP2903881A patent/JPS57143837A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5552229A (en) * | 1978-10-11 | 1980-04-16 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57143837A (en) | 1982-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO1998012502A1 (en) | Device for imaging object to be inspected and device for inspecting semiconductor package | |
EP0314113A3 (en) | Optical fiber alignment and fixing method and apparatus therefor | |
ES2058648T3 (es) | Circuito optoelectrico y metodo para fabricarlo. | |
CN105247848B (zh) | 摄像装置、摄像装置的制造方法以及内窥镜系统 | |
CA1046823A (en) | Double focusing microscope for registering semiconductor wafers and masks | |
JPH07115300A (ja) | 電子部品位置決め装置 | |
JPS6226177B2 (ja) | ||
US3667848A (en) | Semiconductor chip bonding method | |
US4417789A (en) | Observation device | |
SE9403478L (sv) | Avbildning av komponenter | |
US6381359B1 (en) | Bonding apparatus | |
JP2524275B2 (ja) | 光部品−光ファイバ調芯方法及び光部品 | |
JP2006114842A (ja) | ボンディング装置 | |
JPH0618771A (ja) | 拡大倍率撮像装置におけるオートフォーカス装置 | |
JPH01184473A (ja) | プリント配線板検査機の位置合せ装置 | |
JPS61198739A (ja) | 電子部品接続用高精度位置決め機構 | |
TWI388020B (zh) | 使用稜鏡標示毛細用具的尖端位置的方法與裝置 | |
JP3412305B2 (ja) | 表裏パターン検査装置 | |
JPH03208399A (ja) | Ic位置決め装置 | |
JP3393353B2 (ja) | 電子部品ボンデイング装置 | |
JP2005024579A (ja) | 光伝送モジュールの接続方法および装置、および光導波路におけるコア位置検出方法 | |
JPS5917521A (ja) | 倒立顕微鏡に使用する描画装置又はマクロ写真用付属装置 | |
JPH07159659A (ja) | 光半導体装置の位置合わせ方法 | |
JPH03180046A (ja) | 半導体素子観察装置 | |
JPS6281039A (ja) | 微小ピツチ位置決め方法 |