JPS6225716A - 相関像比較装置及びそれを用いた焦点検出装置及び測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、物体に対する対物レンズの焦点調節状態又
は物体までの距離を求めるために、物体に対する対物レ
ンズの焦点調節状態又は物体までの距離に応じて相対位
置が変化するように、互に相関をもつ物体の万１、茅２
の光像を作成し、それら第１、第２の光像の光分布の検
出にもとづいて、画像の基準位−１からのずれ量を検出
するずれ量検出装置に関する。

第２の光像の光分布検出手段で検出し、第１の光分布検
出手段の出カバターンに対して第２の光分布検出手段の
出カバターンを所定量ｔごけ順次シフトさせる。そして
、各シフト位置での両川カバターンの相関度を計算する
と共に得られた各相関度の中から最大相関度を取出し、
次にその最大相関度を示す最大相関シフト位置を求めて
基卓シフト位置からこの最大相関シフト位置までのシフ
ト量から第１、第２像のずれ量を求める。このようにし
て行なうずれ量検出の信頼性は、求めた最大相関度が信
頼できる値をもつか否かに大きく依存しており、これを
判定する方法が特開昭５４−５１５５６号公報や持關昭
６０−３７５１３号公報で提案されている。

発明が解決しようとする問題点 最大相関度の信頼性の判定は、特開昭５４−５１５５６
号公報の場合、最大相関シフト位置での最大相関度が所
定値以上であれば信頼性ありとし、所定値よりも小さけ
れば信頼性なしとしている。

一方、特開昭６０−３７５１３号公報の場合には、最大
相関シフト位置での最大相関度をそのまま用いるのでは
なり、最大相関シフト位置での最大相関度と、その両隣
りのシフト位置での相関度を用いて幾何学的手法にもと
づく補間計算を行ない、この補間計算により新たに求め
られる最大相関度が所定値以上であれば信頼性あうとし
、所定値よりも小さければ信頼性なしとしている。

これらの判定方法によれば、第１、第２の光分布検出手
段の出カバターンの各シフト位置での相関度が最大相関
シフト位置を中心にして両側に単調減少する通常の条件
下では良好な判定結果が得られることが判っている。し
かしながら、物体が高周波の輝度分布をもつ場合や、物
体の輝度が低く、ノイズの重畳により第１、第２の光分
布検出手段の出力に高周波成分が顕著に現われる場合に
は、各シフト位置での相関度の値がふらつくため、その
中から最大となる相関度を求めてもそれが真に物体の第
１、第２の光像の最大相関度を示していないことがある
。したがって、このような場合には、上述の判定方法で
は判定結果に誤まりが生じ、本来信頼すべきではないず
れ量の検出結果にもとづいて誤まった焦点検出又は測距
をそのまま行なってしまう恐れがある。

この発明は、このような相関度についての誤判定による
誤まった焦点検出又は測距を未然に防止することができ
る相関像のずれ量検出装置を提供することを目的として
いる。

問題点を解決するための手段及び作用 この発明のずれ量検出装置は、第１、第２の光分布検出
手段の出カバターンの相関度が最大となる最大相関シフ
ト位置を求め、その最大シフト位置の１つ隣りのシフト
位置での相関度とさらに１つ隣りのシフト位置での相関
度の大小を判別し、最大シフト位置の１つ隣りのシフト
位置での相関度がさらに１つ隣りのシフト位置での相関
度よりも小さいときには、最大相関シフト位置にもとづ
くずれ量検出の演算を行なわせないようにしたことを特
徴としている。すなわら、最大相関シフト位置の１つ隣
りのシフト位置での相関度がさらに１つ隣りのシフト位
置での相関度よりも小さいということは、最大相関シフ
ト位置から相関度が単調減少していないことを意味し、
これが起こるのは相関度が最大相関シフト位置付近でふ
らついて求めた最大相関度に信頼をおけない場合である
から、そのまま検出した最大相関シフト位置にもとづい
て、ずれ量を演算しても、誤まった焦点検出又は測距が
行なわれることになるが、この発明のずれ量検出装置に
よれば、そのような場合はずれ量検出を行なわせないか
ら、誤った焦点検出又は測距が未然に防止される。

実施例 第１図及び第２図は、カメラの撮影レンズの物体（被写
体）に対する焦点調節状態を検出するために像間隔検出
を行なうこの発明の一実施例における光学系を示してい
る。

この光学系は撮影レンズ（２）の後方の予定焦点面（４
）あるいはこの面からさらに後方の位置にコンデンサレ
ンズ（６ンを有し、さらにその後方に再結像しく１２　
、　Ｑ−Ｃを配しである。各ラインセンサＯｏ、０◇上
の像は、第２図に示すように、ピントを合わすべき物体
の像が予定焦点面より前方に結像する、いわゆる前ビン
の場合、光軸０８）に近くなり互に近づき、反対に後ピ
ンの場合、夫々光軸α＆から遠くなる。ピントが合った
場合、二つの像の互いに対応し合う二点の間の間隔は、
ピント検出装置の光学系の構成によって規定される特定
の距離となる。

したがって、原理的には二つの像の間隔を検出すればピ
ント状態が分かることになる。

第３図は第１図のラインセンサ０２．Ｑ◇として用いら
れるラインセンサの正面図である。この実施例において
は、１つの半導体チップ上に作られた１つのラインセン
サーの異なる２つの領域を２つのラインセンサＱ２１　
、　Ｏ４）として用いているが、これに限らず２つのラ
インセンサ（１２）　、　（１４）を独°立して設けて
もよいことはもちろんである。第３図においで、囚は撮
影レンズの光軸の通る位置を示す。光軸通過位置囚の近
くの画素の出力は用いられない。

（１１）〜（１２３）は、一方のラインセンサに対応す
る基準部（Ｌ）内の画素を示し、基準部（Ｌ）は、２３
個の画素を有する。基準部（Ｌ）の上方には画素上の照
度をモニタする為のモニタ用受光素子が設けられている
（図示せず）。

（ｒ＋）〜（ｒａｔ）は、他方のラインセンサに対応す
る参照部（Ｒ）内の画素を示す。参照部（Ｒ）内の画素
数は３１個であり、基準部（Ｌ）内の画素数（２３面よ
りも多い。そして、基準部（Ｌ）の最も光軸通過（Ｘ）
から離れた位置にある画素（ｅｌ）と、参照部［Ｆ］の
最も光軸通過位置ｃＸ）に近い位置にある画素（ｒｌ）
との距離をＬｌとする。また、撮影レンズが予定焦点面
において合焦状態にあるときは、基パ準部（Ｌ）の　　
°　　　　　　画素（１１）〜（１２ｇ）との像が、参
照部（Ｒ）の画素（ｒ５）〜（ｒ　２７）上の像と一致
しているとする。この画素（ｒ５）〜（ｒ２７）を参照
部（Ｒ）における合焦ブロック（Ｆ）とし、基準部（Ｌ
ｉ”−、の中央にある画素（１１２）と、参照部（Ｒ）
の合焦ブロック（Ｆ′）の中央にある画素（ｒｚ）との
距離、すなわち、合焦検出時の像間隔をＬｌとする。

第４図は第３図のラインセンサとしてＣＣＤ回路ズを示
している。

（２０）は上述のラインセンサ、モニター用受光素子を
含む光主変換回路で、シフトパルス（ＳＨ’）、転送り
ロック（、σ＋）（０：）、クリアパルス（ＩＣＧＳ）
が入力され、時系列化された画素信号（Ｏ５）、モニタ
ー出力（ＡＧＣＯ３）　、参照電圧出力（ＤＯ５）を出
力する。ここでクリアパルス（ＩＣＧＳ）はラインセン
サにおける各画素を初期状態に設定するためのパルスで
、これによりラインセンサーにおける各画素は蓄積電荷
を排出して、新たに光り分、すなわち電荷蓄積を開始す
る。又、このパルスによって、モニター用受光素子の出
力の積分が光電変換回路（２０）内で開始され、モニタ
ー出力（ＡＧＣＯ５）が時間の経過と共に物体の明るさ
に応じた速度で参照電圧出力（ＤＯ５）に対し変化する
。シフトパルス（ＳＨ）はラインセンサーの画素部から
シフトレジスタ一部へ蓄積電荷をシフトさせるパルスで
あり、これが入力されると画素部での光積分が終了する
。転送りロック（０１）（β２）はシフトレジスタ一部
にシフトした蓄積電荷を順次時系列的にそのシフトレジ
スタ一部から出力させるための互に位相の１８０°ずれ
たパルスであり、これにより出力された蓄積電荷は光電
変換回路（２ω内で各々負の電圧信号に変換され、画素
信号（Ｏ８）として出力される。

（２）は各画素信号（，０５）から参照電圧出力（ＤＯ
５）を減算し、正の電圧信号としての画素信号（ＤＯ５
）を出力する減算回路、（２４）は減算回路（２つから
出力される画素信号（ＤＯ３）のっち遮光された数画素
（例えば第３図において（１１）よりもさらに左の数画
素）に対応する画素信号をピークホールドし、それらの
画素信号の最大値に相当する電圧（ｖ　ｐ）を出力する
ピークホールド回路、（２６）は減算回路（２２）から
の画素信号（ＤＯ５’）からピークホールド回路（２４
）の出力電圧（′ｖＰ）を減算して増幅する利得可変の
増幅器であり、この増幅回路での減算によって各画素信
号（ＤＯＳ　’）に含まれる暗電流成分が除去される。

（２８）はこの増幅回路（２６）からの増幅された画素
出力（ＤＯ３″）を所定ビットのディジタル値に変換す
るＡ　／　Ｄ変換回路で、その出力はマイ５クロコンピ
ユータ（３０）（以下マイコンと云う）に取込まれる。

（３２）は利得制御回路で、モニター出力（ＡＧＣＯ３
）の参照出力（ＤＯ３）に対する変化量を検出し、モニ
ター出力の変化開始から所定時間内にその変化量が所定
のＣ２８）の利得を　′″Ｘ１’に′設定する利得信号
を出力する。又、モニター出力（ＡＧＣＯ５）の出力開
始から所定時間が経過すると、マイコン（３０）から出
力される強制シフト信号（ＳＨＭ）が利得制御回路（３
２）に出力されるが、この場合利得制御回路（３２）は
信号（Ｓ　ＨＭ）入力時点でのモニター出カ（ＡＧＣＯ
５）のＳ照電圧出力（ＤＯ５）に討する変化量に応じて
、増幅器Ｑ６）の利得をＸ１′、゛Ｘ２゛、゛Ｘ４′又
はＸ８′に設定する利得信号を出力する。この場合、そ
の変化量が小さい程設定される利得は大きくなる。（Ａ
　Ｎ’）（ＯＲ）はそれぞれアンド回路、オア回路であ
り、アンド回路（ＡＮ）には利（り制御回路（３２）か
らの上述の信号（ＴＩＮＴ）及びマイコン（３０）から
の信号（ＳＨＥＮ）が入力され、オア回ｇ　（ＯＲ）に
はアンド回路（ＡＮ）の出力信号とマイコン（３０）か
らの上述信号（ＳＨＭ）が入力される。ここでマイコン
（３０）からの信号（ＳＨＥＮ）はシフトパルス発生回
路（３４）によるシフトパルス発生を許可するための信
号で、シフトパルス（ＳＨ）の発生を禁止すべき間（例
えば、光電変換回路（２０）からマイコン（３０）への
データダンプ中及びマイコン（３０）でのデータ演算中
）はＬＯＷ′となるが、その後’Ｈｉｇｈ’となって、
アンド回路（ＡＮ）を開く。したがって、この信号（Ｓ
ＨＥＮ）が’Ｈｉｇｈ′　のときに信号（ＴＩＮＴ）が
発生すると、アンド回路（ＡＮ）　　は’Ｈｊｇｔ＋’
信号（Ｔ　Ｉ　ＮＴ）を出力する。オア回路（ＯＲ）は
この信号（ＴＩＮ”ｌ”）又は信号（ＳＨＭ）をシフト
パルス発生回路（３４）に出力し、それに応答してシフ
トパルス発生回路（３４）がシフトパルス（ＳＨＪを発
生する。Ｃ３６）はマイコン（３０）からのクロックパ
ルス（ＣＬ）を受けて転送りロック　（Ｏｔ）　　（０
２）を発生する転送りロック発生回路であり、オア回路
（ＯＲ）から信号（Ｔ　Ｉ　Ｎ　Ｔ）又は（ＳＨＭ）を
受けると初期状態にリセットされ、それ以前の（、Ｏ’
＋）　　（Ｏ２）ノ位相がどうであれ、新たに（Ｏｔ）
（、σ２）を発生し始ホールド回路ｃ２４）が取込む画
素信号（ＤＯ３’）を指定するためのサンプルホールド
信号である。

マイコン（３０）は表示回路（３８）及びレンズ駆動表
示回路（３８）に表示させる一方、それにもとづいてレ
ンズ駆動装置（４０）に撮影レンズ駆ｔ）ノを行なわせ
る。なお、マイコンで演算により求められる撮影レンズ
（１２）の焦点調節状態は、この実施例の場合デフォー
カス量とデフォーカス方向で表わされ、このためレンズ
駆動装置（４ｏ）による撮影レンズ（２ン治≠の駆動量
及び駆動方向が決められる。レンズ（３０）へ実行され
たレンズ　駆動量を示す信号を出力し、マイコン（３０
）はその実行されたレンズ駆動量が演算により求めた駆
動量に到達すると、レンズ駆動を停止させる信号をレン
ズ駆動装置へ出力する。

なお、第４図において（ＡＦｓλ１）はマイコン（３ｏ
）にずれ舟検出及びそｎにもとづく自動焦点調のを開始
させるスタート信号を入力するためのスタートスイッチ
である。

次に、第５図を参暇してマイコン（３ｏ）の動作を説明
する。まず、図示しないカメラの７ｒ！、源スイッチが
オンされるとフローがスター）Ｌ、＃１のステップでス
タートスイッチ（、ＸＦ　Ｓ　Ｗ）がオンされて−Ａる
かどうかを判汐］する。ここで、スタートスイッチ（Ａ
ＦＳＷ）がオンされてい乙と判別すると、マイコン（３
０）はクリアパルス（ＩＣＧ）を出力して、＃２のステ
ップでラインセンサの各画素を初期状態に設定した後、
各画素に光積分を開始させる。

又、このとき上述したように光電変換回路（２０）内の
モニター回路もモニター用受光素子の出力をｂ１分開始
し、モニター出力（ＡＧＣＯ５）が変化し始める。次に
、利得制御回路（３２）が信号（ＴＩＮＴ）を出力する
と、これにもとづきシフトパルス発生回路（３４）力；
シフトパルス（Ｓ　Ｈ）を発生する結果、井２のステッ
プでの光積分が終了し、光電変換回路（２０）から画素
信号（Ｏ５）が時系列的に出力さベマイコン（３０）は
Ａ　／’　Ｄ変換回路（２８）からのディジタル化され
た画素信＠　（Ｄｏｇ’）を＃３のステップで取込む（
データダンプ）、又、被写体が暗いために、信号（ＴＩ
ＮＴ）が発生しないまま光積分開始から所定時間が経過
すると、マイコン（３０）が信号（ＳＨＭ）を出力し、
これにより上記と同様シフトパルス発生回路（３４）が
シフトパルス（ＳＨ）を発生する結果、＃２のステップ
での光積分が終了し、光電変換回路（２０）から画素信
＠（Ｏ５）が時系列的に出力され、マイコン（３０）は
４＼／Ｄ変換回路（２８）からのディジタル化された画
素信号（Ｌ）Ｏ５’）を取込む。その優マイコン（，３
０）ｉ１相関度の検出を＃４のステップで行なうが、こ
の相関度検出は相関値計算式にもとづいてｊを１から９
まで順次シフトさせて行ない、これによって９通りの相
関値が検出される。ここで、相関度は、相関値１」（ｊ
）が大きい程小さく、小さい程大きい。＃５のステップ
はこの中から最小の相関値Ｍ　ｉ　ｎ　Ｈ（ｊ）、換言
すると最大相関度を求めるステップで、さらに＃６のス
テップはその最少相関値＼目ｎ１Ｉ（ｊ）を与えるＪの
値ｊｎ。

すなわち最大相関シフト位置を求めるステップでちる。

この＃５　、　＃６のステップは、Ｗ４のステもとづい
てｊを順次シフトさせつつ、より小さな相関値Ｈ（ｊ）
をホールドすると共に、そのホールドされた相関値を与
えるｊの値」ｎすなわち最大相関ノット位置をホールド
して行くようにしてもよい。

なお、ここでｔｉ＋ｒｉはそれぞれ便宜上基準部（Ｌ）
、参照部（Ｉ切に対応する。Ａ／Ｄ変換回路からのディ
ジタル化さｎだ画素信号（ＤＯ５’）を表わしているも
のとする。

次：・ζ＃７のステップでマイコン（３０）は基準部（
Ｌ）：？一対てする画素信号ｔ１を士いて、Ｃ−ΣＩｔ
ｋ−に冨１ ｔｋ＋＋　ｌなる計算式により基準部（Ｌ）上における
像つコノトラス）Ｃを演算し、＃８のステップではゴ吸
・］・侶′寛′二＼ｌｉ　ｎ）セｊ）２＝ン：・ラスト
Ｃで正規化したへ目ｎ　ｊｌ（ｊＪ　／　Ｃを演算する
。そして、＃９のステップでコントラストＣがＬ！？定
匝Ａよりも犬さいかど）″、・をト］別し、人きけＪ′
−：ゴ＃１０７）ステップに進む。＃ｌＯのステップで
：ま正規化さｔ′した最小相ｉ′ＡｌｊｉＳｉ　ｉ　ｎ
　Ｈ（ｊ）／　Ｃが所定：ｆｉＩ）よりも大きいかどう
かを判別し、小てければ＃１１のステップ：て進む。

ｆｌｌのステップで：１最小相関値へｔ　ｉ　ｎ　Ｈ（
ｊ）を与えるｊｎが３以上ちるかどうかを判別し、ｊｎ
≧３であればμ１２のステップでｊｎの１つ手前Ｏノッ
ト位置（」ｒｌ−１）で・、つす１関“−＃ｉ　ＩＩ　
（ｊ　ｎ−１）ｉ：さらに１手Ｐゴの７・フト’ｍ　”
３　（ｊ　ｎ　−２）での相１７’ｊ　！ｎ　ＩＩ　（
Ｊ　ｎ−２）よりも小さいかどうかを５．’：’　、：
＋ｊＩＪする。そして、７＃１２のステップでＨ（ｊｎ
−１）≦Ｈ（ｊｎ−２）が判別されると、次には＃１３
のステップでｊｎが７より大きいかどうかを判別し、３
ｎ−７であれば、＃１４のステップでｊｎの１つ先のシ
フト位置（ｊｎ＋１）の での相関値Ｈ（ｊｎ＋１）がさらに１つ先兵シフト位置
（ｊｎ＋２）での相関値Ｈ（ｊｎ＋２）よりも小さいか
どうかを判別する。＃１４のステップでＨ（ｊｎ工１）
　’：Ｈ（ｊ＊＋２）であることが判別された場合後述
のずれ量演算のステップ＃１５に進む。なお、＃１１の
ステップでｊｎ＜３が判別された場合、すなわちｊｎ＝
１又は２の場合は、Ｈ（ｊｎ−１）、Ｈ（ｊｎ−２）が
存在しないので、＃１２のステップで判別を行なわず、
＃１３のステップに進む。同様に＃１３のステップでｊ
ｎ＞７が判別された場合、すなわちｊｎ＝３又は９の場
合、Ｈ（ｊｎ＋１）、Ｈ（ｊｎ＋２）が存在しないので
、＃１４のステップでの判別を行なわず、＃１５のステ
ップに進む。又、＃９のステップでＣ＜Ａが判別された
時、＃１゜のステップでＭ　ｉ　ｎ　Ｈ（ｊ）　七Ｂが
判ゴされたとき、＃１２のステップでＨ（ｊｎ−１）　
＞Ｈ（ｊｎ−２）が判別されたとき、＃１４のステップ
でＨ（ｊｎ＋１）　＞Ｈ（ｊｎ＋２）が判別されたとき
は、それぞれ＃２αステップに戻って再び光積分を行な
い、＃１５のステップでのずれ量演算は行なわせない。

すなわち、このフローでは、焦点検出不能である条件と
して、コントラストＣが所定値よりも小さい場合、最大
相関度が所定値よりも小さい場合（相関値Ｈ（ｊ）で言
えば最小相関値が所定値よりも大きい場合）をチェック
した後、最大相関度を与える最大相関シフト位置ｊｎを
中心として相関度が単調減少しているか否か（相関値Ｈ
Ｕ）で言えば単調増加しているか否か）をさらに焦点検
出不能である条件としてチェックしている。すなわち、
＃１２のステップでＨ（ｊｎ−１）”　Ｈ（ｊｎ−２）
が判別さｈｎば、Ｈ（ｊｎ）　＜Ｈ（ｊｎ−１）　、、
Ｈ（ｊｎ−２）であり、ｊｎの手前のシフト位置では相
関度が単調減少（相関値Ｈ（ｊ）は単調増加）している
ことになるが、　Ｈ（ｊｎ−１）　＞Ｈ（ｊｎ−２）が
判別されれば、ｊｎの手前のシフト位置で相関度がふら
ついていることになる。同様に＃１４のステップでＨ（
ｊｎ＋ｉ）≦Ｈ（ｊｎ＋２）が判別サレれば、Ｈ（ｊｎ
）　＜Ｈ（ｊｎ＋１）’−Ｈ（ｊｎ＋２）であり、ｊｎ
の先のシフト位置で相関度が単調減少（相関値Ｈ（ｊ）
は単調増加）していることになるが、Ｈ（ｊ　ｎ＋１）
　＞Ｈ（ｊｎ＋２）が判別されれば、ｊｎの先のシフト
位置で相関度がふらついていることになる。

第６図は、ｊｎ−５であって、＃１２、＃１４のステッ
プにおいて、それぞれＨ（ｊｎ−１）　、、Ｈ（ｊｎ−
２）　、Ｈ（ｊｎ＋１）　、＝Ｈ（ｊｎ＋２）が判別サ
レル場合の相関値ＨＵ）の変化を例示しており、第７図
は、ｊｎ＝４であって、＃１４のステップにおいてＨ（
ｊ：ｑ＋１）　＞Ｈ（ｊ　ｎ＋１）が判別される場合の
相関値ＨＯ）の変化を例示している。

次に＃１５のステップでの合焦時からの像のずれ量ｅを
検出する演算は、ラインセンサーにおける画素のピッチ
をｄとして、計算式 ％式％） にもとづいて行なう。この＃１５のステップでの演算が
終わると、マイコン（３０）は＃１６のステップでデフ
ォーカス量ΔＥ及びデフォーカス方向を演算するが、こ
のときの計算式は基本的にΔＥ−α×ｅでよく“（・α
は光学系によって定まる定数）厳密にはさらにこれを像
倍率に応じた補正系数（前ピンのとき〉１、後ピンのと
きく１）で補正すればよい。この点については、詳しく
は特開昭６０−４９１４号公報に記載されているので、
これ以上の説明は省略する。なお、ΔＥｇｏならば前ピ
ン、△Ｅ＞Ｏならば後ピンである。

デフォーカス量ΔＥが求まると、マイコン（３０）は次
に＃１７のステップでΔＥが合焦とみなせる所定幅内に
入っているかどうかを判別し、入っておれば＃１８のス
テップで表示装置（３８）に合焦表示を行なわせる。一
方、ΔＥがその所定幅から外れていると、＃１９のステ
ップでレンズ駆動装置ブに戻って光積分を繰返させる。

以上説明したフローは一例であり、これを次のように変
形してもよい。

変形例１ ＃９、＃１０１＃１２、＃１４のステップから＃Φのス
テップに戻るとき、併せて表示装置（３８）に警告を行
なわせる。

変形例２ ＃９、＃１０、＃１２、＃１３のステップを＃１５のス
テップと＃１６のステップの間に置き、常時ずれ量演算
は行なうが、＃９、＄１０．＄１２、＃１３のステップ
から＃２のステップに戻るときにはデフオー−カス量演
算を行なわせない。

変形例３ ＃９、＃１０、＃１２、＃１３の　ステップを＃１６と
＃１７のステップの間、又は＃１７と＃１８のステップ
の間に置き、常時デフォーカス量まで演算するが、＃９
、＃１０、＃１２、＃１４のステップから＃２のステッ
プに戻るときは、表示装置（３８）に合焦表示の代わり
に警告表示を行なうか、又はレンズ駆動装置（４０）に
レンズ駆動を行なわせない。

さらに、第５図のフロー、及び上記変形例においで、＃
９、＃１０のステップは必要に応じて設ければよく、こ
の発明の目的を達成する上では不可欠なステップではな
い。

以上、被写体に対する撮影レンズの焦点調節状態を検出
するカメラの焦点検出装置に適用したこの発明の一実施
例について説明したが、同じく互に相関をもつ第１、第
２の光像の基準位置からの・熾 ずれ量を検出するものとして、所定の基・＾長離して設
置した第１、第２の対物レンズにより形成される物体の
第１、第２の光像の光分布を第３図に示したと同様のラ
インセンサで検出し、以後上記実施例と同様の処理で第
１、第２の光像のずれ量を求めて、それにもとづいて物
体までの距離を検出する三角測距方式の測距装置がある
が、これにもこの発明を適用できることは明らかである
。

又、上述の実施例では各画素信号（ＤＯ５’）をル′Ｄ
変換回路（ｚ８）ｌＦｒ定ビットのディジタル値に変換
したが、これを上述の特開昭５４−５１５５６号に示さ
れるように２値化してもよく、この場合、基準部（ト）
に対応する２値化された画素信号と参照部図に対応する
２値化された画素信号との各シフト位置での相関度は、
対応する画素信号同士の一致数で表わされ、その一致数
が大きい程相関度も大きいことになる。したがって、最
大の一致数が最大相関度を示し、それを与える最大相関
シフト位置を中心として、一致数が単調減少しているか
どうかを、その最大相関シフト位置の１つ隣りのシフト
位置での一致数とさらに１つ隣りのシフト位置相関度共
り大相関シフト位置を中心に単調減少しており、その関
係が逆であれば、一致数相関度共ふらついているため、
ずれ量検出を禁止すべき場、−合であるとすればよし１
゜ 発明の効果 以上述べた通り、この発明によれば、第１、第２の光分
布検出手段の出カバターンの相関度が求め得た最大相関
シフト位置の周辺でふらつく場合これを判別してずれ量
検出演算を行なわせないようにしたから、ずれ爪の誤検
出にもとづく誤まった焦点検出や測距を未然に防ぐこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図はこの発明の一実施例に用いた光学系
を示す図、！′ｆＪ３図は同実施例に用いたラインセン
サーの平面【４、第４図は同実施例の回路図、第５図は
第４図の回路におけるマイコン（３０）の動作を示すフ
ローチーート、第６図は通常条件下での相関値Ｈ（ｊ）
の変化を示す図、第７図は最大相関シフト位置周辺で相
関度がふらつく場合の相関値Ｈ（ｊ）の変化を示すコで
ある。 （６）　（８）　（１０）・・−・・光学手段、　　（
１２）（１４）・・−・・第１、第２の光分布検出手段
、　　　（２０）・・−・・光電変換回路、（３０）・
・−・・マイクロコンピュータ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、物体に対する対物レンズの焦点調節状態又は物体ま
   での距離に応じて相対位置が変化するように互いに相関
   をもつ物体の第１、第２の光像を作成する光学手段と、 第１、第２の光像の光分布をそれぞれ検出する第１、第
   ２の光分布検出手段と、 第１の光分布検出手段の出力パターンに対して第２の光
   分布検出手段の出力パターンを所定量ずつ順次シフトし
   、それぞれのシフト位置での両出力パターンの相関度を
   検出する相関度検出手段と、相関度検出手段により検出
   された相関度のうちで最大の相関度を示す最大相関シフ
   ト位置を求める最大相関シフト位置検出手段と、 最大相関シフト位置検出手段により求められた最大相関
   シフト位置にもとづいて第１、第２の光像の基準位置か
   らのずれ量を求めるずれ量検出手段と、 最大相関シフト位置の１つ隣りのシフト位置での相関度
   とさらに１つ隣りのシフト位置での相関度の大小を判別
   する判別手段と、 この判別手段により最大相関シフト位置の１つ隣りのシ
   フト位置での相関度がさらに１つ隣りのシフト位置での
   相関度よりも小さいときに上記ずれ量検出手段を不能化
   する不能化手段 とを備えたことを特徴とする相関像のずれ量検出装置。