JPS62247230A - 光の透過測定法及び光の透過測定装置 - Google Patents

光の透過測定法及び光の透過測定装置

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JPS62247230A
JPS62247230A JP62021920A JP2192087A JPS62247230A JP S62247230 A JPS62247230 A JP S62247230A JP 62021920 A JP62021920 A JP 62021920A JP 2192087 A JP2192087 A JP 2192087A JP S62247230 A JPS62247230 A JP S62247230A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野］ この発明は、トランスミッタから光を送り出し、このト
ランスミッタから離間して配設された受光器で受けられ
た光の強さを７１１１１定し透過度を計算する光の透過
測定法及び光の透過Ａｌｌｌ装定に関する。
［従来の技術］ 光の透過測定装置は可視度を記録するために用いられて
おり、例えば、飛行場や７１１１１候所をも含む可視度
について正確な情報を必要とする種々の場所で種々の形
式の装置が用いられている。測定法は、受光器で測定さ
れた光の強さＩが媒体を通過した光の透過（透過ｆ？）
Ｔに正比例し、式Ｔ−に−１で与えられるという認識に
基づいている。
ここで、Ｉ（は媒体によって定まる比例定数である。
／Ｉ？＋定はトランスミッタ及び受光器の保護ガラスの
経年変化と共にこれらの保護ガラスの汚れや傷によって
乱される。これらの要素が保護ガラスを透過する光線に
減衰を起こさせるため媒体の光の透過測定に誤差を生じ
させる。この問題を軽減するために、保護ガラスを定期
的に掃除したり、計算値に透過の変化が起り得る事を考
慮して保護ガラスを交換する事が行われて来たが、これ
らの作業か不便であり、時間がかかり、かつ、費用がか
さむものである。
［発明が解決しようとする問題点］ この発明の目的は、従来の測定法及び／１Ｊｌｌ定装置
の不具合を克服し、保護ガラスの特性の変化による透過
の変化を測定に当って考慮にいれ、７１１１１定が容易
で信頼性の高い光の透過Ｍ１定法及びＭ１定装置を提供
する事にある。
ｃ問題点を解決するための手段〕 この目的を達成するために、この発明に基づく光の透過
４拳１定法は、トランスミッタがらの光を受けてその強
さを測定して透過を計測する受光器をトランスミッタか
ら離間して設け、光を光源からトランスミッタ及び受光
器の保護ガラス内に案内して保護ガラスの中で全内反射
させ、全内反射された光線の強さを検出器で測定し、こ
のようにして得られた光の強さによって保護ガラス及び
保護ガラスの１９れで生じたトランスミッタから受光器
への光の強さの減衰を補正する構成になっている。
更に、トランスミッタは１個であり、受光器はトランス
ミッタから異なった距離にある少なくとも２個より成り
、トランスミッタから最も遠くにある受光器で得られる
測定結果をトランスミッタに近い方の受光器の正確な光
の強さを決定するために用いるように構成されている。
又、この発明に基づ（光の透過Ａｌ１１定装置は、光を
送り出すトランスミッタと、このトランスミッタから距
離を置いて配設されトランスミッタから受けた光の強さ
を測定するための受光器を有し、トランスミッタ及び受
光器内に光源を設け、トランスミッタ及び受光器に光源
からの光を受けて全内反射する保護ガラスを設け、トラ
ンスミッタ及び受光器に全内反射された光線の強さを測
定するための検出器を設けて成る。
更に、トランスミッタ及び受光器の保護ガラスはごみが
付管せずに落下するように傾斜して設けられる。
更に又、光源とこれらに対応する保護ガラスとの間に光
源からの光線を保護ガラスで全内反射させる角度で保護
ガラスに入射させるためのコリメータを設け、保護ガラ
スに対応のコリメータからの光線を入射させ全内反射後
保護ガラスから対応の検出器へ光線を案内する光学要素
を保護ガラス上に設ける。
［作用及び発明の効果コ この発明に基づく光の透過測定法及びａＩｌｊ定装置に
於いては、トランスミッタ及び受光器の保護ガラス内で
全内反射を起こすように光源からの光をこれらの保護ガ
ラス内に入射させ、全反射された光線の強さを検出器で
測定し、得られた光の強さを、トランスミッタから受光
器への光路上で保護ガラス及びそれらの汚れによって生
じる光に強さの減衰を補正するために利用される。
全反射された光線の強さは保護ガラス面の汚れ、傷、そ
の他これに類するものによって変わり、これらが透過光
を減衰させる。同様に、これらの汚れ、傷等が保護ガラ
スを通る光を減衰させる。この発明に基づく方法及び装
置は、透過光の減衰及び変化を検出するために反射光の
減衰を用いる。
保護ガラスの傷、汚れ、経年変化、その他の要素による
光の透過の減衰の原因を解き明かす実験を行なって測定
値が作動条件にどのように関連するかを調べる事が出来
る。このため、保護ガラスを定１υｊ的に１，１）除し
たり、交換したりする必要がなくなるという効果がある
。
［実施例１ 以ド図面を参照してこの発明を実施例に基づいて説明す
る。
図示の光の透過測定装置は、トランスミッタ１とこのト
ランスミッタからある距離を置いて設けられた受光器２
を有する。トランスミッタ１の保、２Φガラス３の近傍
に光源５が設置されており、この光ｉ」ｌ　５と保護ガ
ラス３との間にコリメータ９が配設されており、光学要
素たるプリズムマトリックス１１．１１−が保護ガラス
３の一つの辺部及びこれと反対側の辺部上に設けられて
おり、プリズムマトリックス１１゛に対向して検出器７
が設けられている。コリメータ９は光源５から射出され
た光を平行にしこの光をプリズムマトリックス１１の方
へ向ける。プリズムマトリックス１１は保護ガラス３の
外側の面で全内反射をするように保護ガラス３内へ光を
案内するが、同じ目的のために他の従来の光学要素を用
いてもよい。光源５から射出された光は保護ガラス３内
に案内されて保護ガラス３の外側の表面で全内反射され
、その後保護ガラス３から導出され、検出器７で光の強
さが測定される。
同様に、受光器２はそれの保護ガラス４の近傍に光源６
とコリメータ１０及び検出器８を有し、保護ガラス４の
対向辺部上に光学要素であるプリズムマトリックス１２
．１２″を設けてあり、これらの要素はトランスミッタ
１のそれらと配置及び作用が同様である。
トランスミッタ１に透Ａ瓜を測定されるべき光を射出す
る光源１３が設けられており、受光器２にこの光源１３
からの光を受ける検出器１４が設けられている。
保護ガラス３．４がきれいな場合には、図示の装置は媒
体内での光の透過Ｔを正確にａｌｌ定し、検出器１４に
よる光の強さＩは式Ｔ−に−１で与えられるように光の
透過Ｔに正比例する、トランスミッタ１と受光器２との
保護ガラス３゜４の特性の変化によって生じる測定誤差
は保護ガラス３．４内で全内反射した光線の強さを測定
する事によって補正できる。検出器７はトランスミッタ
１の保護ガラス３内で全内反射された光線の強さＩ１を
Ｍ１定し、受光器２の検出器８は受光器８の保護ガラス
４内で全内反射された光線の強さＩ２を測定する。両方
の保護ガラス３，４が汚れている場合、測定された光の
強さを１＝、１１　＋。
１２−とする。トランスミッタ１の保護ガラス３がきれ
いにされると、測定された光の強さはｌ　ｊ。
１１＋　　Ｉ２−になる。トランスミッタ１と受光器２
との保護ガラス３，４がきれいにされると、光の強さは
、Ｉ、Ｉよ、Ｉ２になる。
これらから次の式が成立つ。
ここで、Ｔ１はトランスミッタ１の保護ガラス３の汚れ
によって生じた透過光の強さの変化であり、Ｒ１はトラ
ンスミッタ１の保護ガラス３の汚れによって生じた保護
ガラス３内での全反射光の強さの変化であり、Ｉ２は受
光Ｓ２の保護ガラス４の汚れによって生じた透過光の強
さの変化であり、Ｒ２は受光器２の保護ガラス４によっ
て生じた保護ガラス４内での全内反射光の強さの変化で
ある。
保護ガラスが汚れた時の状態ときれいにされた時の状態
の透過光及び反射光の強さを測定する事によって常に（
Ｔ工、Ｒ２）及び（Ｉ２　、Ｒ２）の対になった新しい
値が得られる。これらの対の値から、Ｔｌ　−ｆ　ｔ　
　（ＴＩ　）及びＩ２−Ｉ２　（１２）の関数をさられ
す表が得られる。保護ガラスのをきれいにする前後の光
の強さの測定を十分な数だけ繰返して関数ｆ、及びＩ２
を求めて置くと、媒体を通しての光の透過の測定結果に
ついては次式によって保護ガラスの汚れによって生じた
誤差の分を補正する事が出来る。
ここて Ｋ　−比例定数 １−検出器１４での受光の強さ ！、−検出器７での受光の強さ Ｉ２−検出器８での受光の強さ 関数ｆ１及びＩ２は保護ガラスが置かれた環境及び測定
される全反射光の幾何学的形状によって決まる。測定形
状を標阜化するｉｌＧによって、もし測定結果が測定装
置が使用される予定になっている環境に対応する環境で
得られるならば、関数ｆ、及びＩ２を既にある測定結果
に基づいて予め定める事が出来る。測定結果が作動条件
にあったものでない場合、関数ｆ１及びＩ２として既に
ある測定結果の内で最も近いものを当て、これらを清（
，４作業と関連させて行なう測定によって訂正する。
図示の測定装置に於いては、トランスミッタと受光器と
の保護ガラスは下向きに傾斜している。
このため、測定に影響があり得る保護ガラスの表面にご
みが付芒せず落下する。
２以上の光の透過測定装置があってシステムの中でトラ
ンスミッタから受光器までの距離が異なっている場合、
媒体を通しての透過が十分に高ければ、この発明に基づ
く測定方法及び測定装置が、最長の距離にある受光器で
の測定結果によって短い距離にある受光器について正確
な透過値を決定するのに利用出来る。この場合、短い距
離にある受光器の正確な透過値は関数ｆ１及びＩ２の自
動修正に用いる事が出来る。
この発明は上記の実施例に限定されるものではなく特許
請求の範囲内での種々の変形例を包含するものである。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の１実施例の縦断概略図である。 １・・・トランスミッタ、２・・・受光器、３．４・・
・保護ガラス、５．６・・・光源、７，８・・・検出器
、９゜１０・・・コリメータ、１１．１１−．１２．１
２−・・・プリズムマトリックス、１３・・・光源、１
４・・・検出器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、光をトランスミッタ（１）から送り、該トランスミ
    ッタ（１）から距離を置いて設けられた受光器（２）に
    よって受光された光の強さを測定しその光の透過を計測
    する光の透過測定法において、光を光源（５、６）から
    該トランスミッタ（１）及び該受光器（２）の保護ガラ
    ス（３、４）内に案内して該保護ガラス（３、４）の中
    で全内反射させ、全内反射された光線の強さを検出器（
    ７、８）で測定し、このようにして得られた光の強さに
    よって該保護ガラス（３、４）及び該保護ガラス（３、
    ４）の汚れで生じた該トランスミッタ（１）から該受光
    器（２）への光の強さの減衰を補正する事を特徴とする
    光の透過測定法。 ２、前記トランスミッタ（１）は１個であり、前記受光
    器（２）は該トランスミッタ（１）から異なった距離に
    ある少なくとも２個より成り、該トランスミッタ（１）
    から最も遠くにある受光器で得られる測定結果を該トラ
    ンスミッタ（１）に近い方の受光器の正確な光の強さを
    決定するために用いる事を特徴とする特許請求の範囲第
    １項に記載の光の透過測定法。 ３、光を送り出すトランスミッタ（１）と、該トランス
    ミッタ（１）から距離を置いて配設され該トランスミッ
    タ（１）から受けた光の強さを測定するための受光器（
    ２）を有する光の透過測定装置に於いて、該トランスミ
    ッタ（１）及び該受光器（２）内に光源（５、６）を設
    け、該トランスミッタ（１）及び該受光器（２）に該光
    源（５、６）からの光を受けて全内反射する保護ガラス
    （３、４）を設け、該トランスミッタ（１）及び該受光
    器（２）に全内反射された光線の強さを測定するための
    検出器（７、８）を設けて成る事を特徴とする光の透過
    測定装置。 ４、前記トランスミッタ（１）及び前記受光器（２）の
    前記保護ガラス（３、４）はごみが付着せずに落下する
    ように傾斜して設けられる事を特徴とする特許請求の範
    囲第３項に記載の光の透過測定装置。 ５、前記光源（５、６）とこれらに対応する前記保護ガ
    ラス（３、４）との間に該光源（５、６）からの光線を
    該保護ガラス（３、４）で全内反射させる角度で該保護
    ガラス（３、４）に入射させるためのコリメータ（９、
    １０）を設け、該保護ガラス（３、４）に対応の該コリ
    メータ（９、１０）からの光線を入射させ該全内反射後
    該保護ガラス（３、４）から対応の前記検出器（７、８
    ）へ光線を案内する光学要素（１１、１１′、１２、１
    ２′）を該保護ガラス（３、４）上に設ける事を特徴と
    する特許請求の範囲第３項又は第４項に記載の光の透過
    測定装置。
JP62021920A 1986-02-04 1987-02-03 光の透過測定法及び光の透過測定装置 Pending JPS62247230A (ja)

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FI860499A FI75669C (fi) 1986-02-04 1986-02-04 Foerfarande foer maetning av transmission av ljus och apparatur foer tillaempning av foerfarandet.
FI860499 1986-02-04

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AU (1) AU591961B2 (ja)
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DE (1) DE3703180A1 (ja)
FI (1) FI75669C (ja)
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GB (1) GB2186077B (ja)
IT (1) IT1208241B (ja)
SE (1) SE466717B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0228541A (ja) * 1988-07-19 1990-01-30 Meidensha Corp 光式濃度検出装置
JPH02281132A (ja) * 1989-04-21 1990-11-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 汚れ検出器

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI75669C (fi) * 1986-02-04 1988-07-11 Vaisala Oy Foerfarande foer maetning av transmission av ljus och apparatur foer tillaempning av foerfarandet.
JPS63200108A (ja) * 1987-02-10 1988-08-18 シレイ・インコーポレーテッド 複数の経路を用いた光学システム
US4962746A (en) * 1988-11-23 1990-10-16 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Mixing liquid ratio detector device
EP0745839B1 (de) * 1995-05-31 1999-04-21 JENOPTIK Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Kompensation der Scheibenverschmutzung bei Sichtweitenmessgeräten
AU2003900377A0 (en) * 2003-01-30 2003-02-13 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Optical assembly
ES2276263T3 (es) * 2004-05-10 2007-06-16 C.R.F. Societa Consortile Per Azioni Sistema y procedimiento de medicion de la visibilidad.
FR2873073B1 (fr) * 2004-07-15 2007-12-07 Valeo Securite Habitacle Sas Systeme de commande pour vehicule
GB0515157D0 (en) * 2005-07-23 2005-08-31 Univ Belfast Light measurement method and apparatus
PL219266B1 (pl) * 2010-12-30 2015-04-30 Przemysłowy Inst Masz Rolniczych Sposób monitorowania oprysku agrotechnicznego polegający na wykrywaniu w atmosferze obecności substancji chemicznych w postaci wodnych aerozoli i układ do stosowania tego sposobu
WO2015095861A1 (en) 2013-12-20 2015-06-25 Zolo Technologies, Inc. Method and apparatus for monitoring port blockage for tdlas measurements in harsh environments
CN104198443B (zh) * 2014-09-02 2016-08-24 四川鼎林信息技术有限公司 能见度标校系统对产品机的标校方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4886584A (ja) * 1972-02-18 1973-11-15
JPS5085376A (ja) * 1973-10-29 1975-07-09
JPS5132559B1 (ja) * 1971-07-16 1976-09-13
JPS5220282B2 (ja) * 1973-12-13 1977-06-02

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3308709A (en) * 1963-06-12 1967-03-14 Philips Corp Multiple reflection optical device
DE1247688B (de) * 1965-04-03 1967-08-17 Visomat Geraete G M B H Truebungsmesser, insbesondere Rauchdichtemesser
DE1755074B1 (de) * 1968-03-27 1970-09-10 Eltro Gmbh Anzeigevorrichtung fuer das Verschmutzen und Beschlagen von Fenstern
DE2223230C3 (de) * 1972-05-12 1975-04-30 Eltro Gmbh Gesellschaft Fuer Strahlungstechnik, 6900 Heidelberg Verfahren zur Überwachung der Durchlässigkeit der Atmosphäre
US3872315A (en) * 1973-12-21 1975-03-18 Babcock & Wilcox Co Radiation sensitive fluid analyzer
DE2420594A1 (de) * 1974-04-27 1975-11-06 Bernd Ing Grad Korndoerfer Vollautomatische scheibenwischersteuerung fuer kraftfahrzeuge
US4040749A (en) * 1975-02-05 1977-08-09 Monsanto Research Corporation Organic vapor detection with liquid crystals
US3976891A (en) * 1975-02-18 1976-08-24 Electra-Tronics, Inc. Photoelectric detector for smoke or the like
DE3206427A1 (de) * 1982-02-23 1983-09-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Messeinrichtung fuer die optische gasanalyse
CA1201299A (en) * 1982-11-29 1986-03-04 Albert Brunsting Optical readhead
US4676638A (en) * 1983-03-31 1987-06-30 Kabushiki Kaisha Tokai Rika Denki Seisakusho Light-transmissible foreign object sensor
DE3344387A1 (de) * 1983-12-08 1985-06-20 Hoechst Ag, 6230 Frankfurt Photometerkopf fuer kleine messvolumina
FI75669C (fi) * 1986-02-04 1988-07-11 Vaisala Oy Foerfarande foer maetning av transmission av ljus och apparatur foer tillaempning av foerfarandet.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5132559B1 (ja) * 1971-07-16 1976-09-13
JPS4886584A (ja) * 1972-02-18 1973-11-15
JPS5085376A (ja) * 1973-10-29 1975-07-09
JPS5220282B2 (ja) * 1973-12-13 1977-06-02

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0228541A (ja) * 1988-07-19 1990-01-30 Meidensha Corp 光式濃度検出装置
JPH02281132A (ja) * 1989-04-21 1990-11-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 汚れ検出器

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