JPS6224431A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS6224431A JPS6224431A JP16197485A JP16197485A JPS6224431A JP S6224431 A JPS6224431 A JP S6224431A JP 16197485 A JP16197485 A JP 16197485A JP 16197485 A JP16197485 A JP 16197485A JP S6224431 A JPS6224431 A JP S6224431A
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- magnetic layer
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技搦分り
本発明は、垂直磁気記録に用いることができる磁気記録
媒体の製造方法に関する。
媒体の製造方法に関する。
丈米み致携
従来、磁気記録は、プラスチックフィルムのような非磁
性支持体上に、酸化鉄などの強磁性体微粉末および樹脂
バインダーを主成分とする磁性層を形成し、磁性層の面
方向と平行方向に磁化を行う方法が一般に用いられてき
た。しかし、このような面内磁気記録において記録密度
を大きくしようとすると、磁性層内の減磁界が増加する
ため、記録密度の向上には限界があった。
性支持体上に、酸化鉄などの強磁性体微粉末および樹脂
バインダーを主成分とする磁性層を形成し、磁性層の面
方向と平行方向に磁化を行う方法が一般に用いられてき
た。しかし、このような面内磁気記録において記録密度
を大きくしようとすると、磁性層内の減磁界が増加する
ため、記録密度の向上には限界があった。
近年、この面内記録方式の欠点を解決するものとして、
磁性層の面方向に対して垂直方向に磁化容易軸をもつ磁
性層を用い、垂直方向に磁化を行う垂直磁気記録方式が
提案された。この方式は、記録密度が高まるほど磁性層
内の減磁界が減少するので、本質的に高密度記録に適し
ており、多くの研究が行われている。
磁性層の面方向に対して垂直方向に磁化容易軸をもつ磁
性層を用い、垂直方向に磁化を行う垂直磁気記録方式が
提案された。この方式は、記録密度が高まるほど磁性層
内の減磁界が減少するので、本質的に高密度記録に適し
ており、多くの研究が行われている。
垂、直方向に磁化容易軸をもつ磁性層としては、たとえ
ばスパッタリング法や蒸着法で形成されたCo−Cr、
C:o−0,Co−P t、Co−Pr。
ばスパッタリング法や蒸着法で形成されたCo−Cr、
C:o−0,Co−P t、Co−Pr。
F e30.、 B a F e1□01gr Co
F e Z 04N膜が検討されている。また、その他
のものとして、無電解メッキ法によるG o −N i
−P t (Re )や、塗布法によってBaFet
zOxsyγ FezO3゜CrO2などの強磁性体微
粉末を結合剤とともに支持体上に付着せしめ、磁場配向
によって磁化容易軸を垂直方向に揃える方法も検討され
ている。
F e Z 04N膜が検討されている。また、その他
のものとして、無電解メッキ法によるG o −N i
−P t (Re )や、塗布法によってBaFet
zOxsyγ FezO3゜CrO2などの強磁性体微
粉末を結合剤とともに支持体上に付着せしめ、磁場配向
によって磁化容易軸を垂直方向に揃える方法も検討され
ている。
しかしながら、塗布法によるものは結合剤を用いるため
に磁性層の磁化量が減少するので。
に磁性層の磁化量が減少するので。
記録密度の向上のためにはスパッタリング法、蒸着法等
のPVD法によるものや、メッキ法の方が好ましい。
のPVD法によるものや、メッキ法の方が好ましい。
垂直磁化材料の中でも、六方晶最密充填(hCp)構造
のマグネトブランバイト型バリウムフェライトは、磁気
異方性が大きいこと、化学的に安定であること、さらに
はコストが安いことなどの理由から多くの研究がなされ
てきており、近年、その特徴を生かし磁気光学効果を利
用して記録・再生する超高密度記録の研究も進んでいる
。
のマグネトブランバイト型バリウムフェライトは、磁気
異方性が大きいこと、化学的に安定であること、さらに
はコストが安いことなどの理由から多くの研究がなされ
てきており、近年、その特徴を生かし磁気光学効果を利
用して記録・再生する超高密度記録の研究も進んでいる
。
しかしながら、垂直配向したマグネトブランバイト型六
方品フェライト磁性膜を形成するには、ZnO薄膜など
のエピタキシャル成長のための下地層を設け、かつ支持
体温度を500℃以上にして成膜する必要があった。5
00℃より低い温度で成膜するとアモルファス膜となり
磁性を示さないため、基板としてはシリコンウェハー等
の耐熱性を有するものを用いる必要があった。しかし、
現在500℃以上で熱変形しないプラスチックフィルム
がないため、マグネトブランバイト型六方晶フェライト
の強磁性酸化物薄膜を用いた連続磁性膜を得ることは困
難であった。
方品フェライト磁性膜を形成するには、ZnO薄膜など
のエピタキシャル成長のための下地層を設け、かつ支持
体温度を500℃以上にして成膜する必要があった。5
00℃より低い温度で成膜するとアモルファス膜となり
磁性を示さないため、基板としてはシリコンウェハー等
の耐熱性を有するものを用いる必要があった。しかし、
現在500℃以上で熱変形しないプラスチックフィルム
がないため、マグネトブランバイト型六方晶フェライト
の強磁性酸化物薄膜を用いた連続磁性膜を得ることは困
難であった。
3唄の目的
本発明は、垂直配向性に優れた磁性層を有する磁気記録
媒体を低温下に製造する方法を提供するものである。
媒体を低温下に製造する方法を提供するものである。
発明の構造
本発明の磁気記録媒体の製造方法は、支持体上に一般式
(I) %式%(I) (式中、Me、Ma’、X、nは次の通りである。
(I) %式%(I) (式中、Me、Ma’、X、nは次の通りである。
Me :Ba、Pb、SrおよびScから選ばれる少な
くとも1種の金属元素 Ma:Feと置換可能な1種または2種以上の金属元素 x:0≦X≦1 n:5≦n≦6) で表わされた強磁性酸化物からなる磁性層を形成するに
当って、低圧雰囲気下にM e OとM a xF e
1−X○、とを別々の蒸発源から蒸発せしめるととも
に、これをイオン化して支持体上に付着せしめることを
特徴とする。
くとも1種の金属元素 Ma:Feと置換可能な1種または2種以上の金属元素 x:0≦X≦1 n:5≦n≦6) で表わされた強磁性酸化物からなる磁性層を形成するに
当って、低圧雰囲気下にM e OとM a xF e
1−X○、とを別々の蒸発源から蒸発せしめるととも
に、これをイオン化して支持体上に付着せしめることを
特徴とする。
以下、本発明についてさらに詳細に説明する。
第1図は本発明で得られる磁気記録媒体の構成例を示す
断面図であり、支持体11上に下地層13が形成され、
さらに、この上に強磁性酸化物からなる磁性層15が形
成されている。
断面図であり、支持体11上に下地層13が形成され、
さらに、この上に強磁性酸化物からなる磁性層15が形
成されている。
磁性層!5は、以下の一般式(I)で表わされる強磁性
酸化物からなる。
酸化物からなる。
M−e O−n (M axF e2−xo、)
(I)(式中、 −M e * M a 、 x *
nは次の通りである。
(I)(式中、 −M e * M a 、 x *
nは次の通りである。
Me:Ba、Pb、SrおよびScから選ばれる少なく
とも1種の金属元素 Ma:Feと置換可能な1種または1以上の金属元素 X:O≦X≦1 n:5≦n≦6) ここで、Feと置換可能な金属元素Maとしては、たと
えば、Co、Mn、Ni、Ti、Zn。
とも1種の金属元素 Ma:Feと置換可能な1種または1以上の金属元素 X:O≦X≦1 n:5≦n≦6) ここで、Feと置換可能な金属元素Maとしては、たと
えば、Co、Mn、Ni、Ti、Zn。
A I + S−n HCu g Cr y M g
+ I nなどが挙げられ、これらの一種または二種
以上で置換することができる。これらの元素で置換する
ことにより、保磁力、垂直異方性、キューリ一温度など
の特性を制御することができる。一般式(I)における
置換数Xは0.1〜0.7の範囲が好ましく、より好ま
しくは0.2〜0.5である。
+ I nなどが挙げられ、これらの一種または二種
以上で置換することができる。これらの元素で置換する
ことにより、保磁力、垂直異方性、キューリ一温度など
の特性を制御することができる。一般式(I)における
置換数Xは0.1〜0.7の範囲が好ましく、より好ま
しくは0.2〜0.5である。
磁性層15の厚さは1μm以下が適当であり、好ましく
は0.1〜0.5μmの範囲である。
は0.1〜0.5μmの範囲である。
本発明では、低圧雰囲気下にM e OとMa、Fe、
、O,とを別々の蒸発源から蒸発せしめるとともに、こ
れをイオン化して支持体上に付着せしめる。
、O,とを別々の蒸発源から蒸発せしめるとともに、こ
れをイオン化して支持体上に付着せしめる。
スパッタ法はターゲットと得られる膜の組成の間にズレ
が少ないため、本発明のような複雑な組成の強磁性酸化
物を薄膜化するには適していた。しかし、中性粒子で成
膜するスパッタ法では強磁性酸化物薄膜を得るのに50
0℃以上の支持体温度を必要とするため、プラスチック
フィルムのような耐熱性の小さい基板上に、磁性層を形
成することが困難であった。これに対し、イオン化され
た活性で大きな運動エネルギーをもつ粒子で成膜する本
方法によれば、強磁性酸化物の結晶化温度を低下させる
ことができ、低い支持体温度で良好な垂直磁化膜が得ら
れる。
が少ないため、本発明のような複雑な組成の強磁性酸化
物を薄膜化するには適していた。しかし、中性粒子で成
膜するスパッタ法では強磁性酸化物薄膜を得るのに50
0℃以上の支持体温度を必要とするため、プラスチック
フィルムのような耐熱性の小さい基板上に、磁性層を形
成することが困難であった。これに対し、イオン化され
た活性で大きな運動エネルギーをもつ粒子で成膜する本
方法によれば、強磁性酸化物の結晶化温度を低下させる
ことができ、低い支持体温度で良好な垂直磁化膜が得ら
れる。
このとき、イオン化された粒子のみでなく励起状態とな
った蒸発粒子も低温化に効果をもたらしていると考えら
れる。支持体温度は、より高い温度を用いることもでき
るが、200〜350℃程度で十分である。
った蒸発粒子も低温化に効果をもたらしていると考えら
れる。支持体温度は、より高い温度を用いることもでき
るが、200〜350℃程度で十分である。
蒸発粒子のイオン化のための方式としては、プラズマを
発生させてプラズマ中の電子でイオン化する方式、熱陰
極からの電子を蒸発粒子に当ててイオン化する方式、イ
オン化電極を設けて加熱材料からの二次電子線でイオン
化する方式、グリッドを用いてイオン化効率を向上させ
る方式(特開昭57−171666号公報)など1種々
の方式を用いることができる。
発生させてプラズマ中の電子でイオン化する方式、熱陰
極からの電子を蒸発粒子に当ててイオン化する方式、イ
オン化電極を設けて加熱材料からの二次電子線でイオン
化する方式、グリッドを用いてイオン化効率を向上させ
る方式(特開昭57−171666号公報)など1種々
の方式を用いることができる。
しかし、酸化物をイオン化して蒸着する方法では、スパ
ッタ法と比較して磁性層の組成を一般式(I)の範囲内
におさめるのが困難であり、特に連続して蒸着している
と蒸発源中の組成が変化してくる。殊に、一般式(I)
のMeとしてpbを選んだときには、蒸発源中で元素の
偏析が現われ長時間にわたって均一な組成の強磁性酸化
物薄膜を形成することが困難となる。
ッタ法と比較して磁性層の組成を一般式(I)の範囲内
におさめるのが困難であり、特に連続して蒸着している
と蒸発源中の組成が変化してくる。殊に、一般式(I)
のMeとしてpbを選んだときには、蒸発源中で元素の
偏析が現われ長時間にわたって均一な組成の強磁性酸化
物薄膜を形成することが困難となる。
この問題は、M e OとM a X F e 2−
X O3とを分離させた蒸発源から別々にかつ同時に蒸
発させて支持体上に付着せしめることにより改善するこ
とができる。この結果、組成の変化を著しく抑えて一般
式(I)で表わす範囲の強磁性酸化物薄膜を低支持体温
度で、かつ長時間連続成膜した場合にも、良好な垂直磁
気特性の磁性層を安定して形成することができる。各酸
化物はそれぞれ別の蒸発源から、その蒸気圧等を考慮し
て個々の条件で蒸発され、一般式(I)に示した組成の
磁性層が形成されるように付着速度が制御される。また
、必要により一般式(I)のMaの酸化物と、Feの酸
化物とを、同様に別々゛の蒸発源から蒸発せしめること
もできる。さらに、蒸着時に酸化物が分解し、酸素の不
足した低次酸化物に変化するのを防止するために、真空
槽内に酸素を導入することもできる。
X O3とを分離させた蒸発源から別々にかつ同時に蒸
発させて支持体上に付着せしめることにより改善するこ
とができる。この結果、組成の変化を著しく抑えて一般
式(I)で表わす範囲の強磁性酸化物薄膜を低支持体温
度で、かつ長時間連続成膜した場合にも、良好な垂直磁
気特性の磁性層を安定して形成することができる。各酸
化物はそれぞれ別の蒸発源から、その蒸気圧等を考慮し
て個々の条件で蒸発され、一般式(I)に示した組成の
磁性層が形成されるように付着速度が制御される。また
、必要により一般式(I)のMaの酸化物と、Feの酸
化物とを、同様に別々゛の蒸発源から蒸発せしめること
もできる。さらに、蒸着時に酸化物が分解し、酸素の不
足した低次酸化物に変化するのを防止するために、真空
槽内に酸素を導入することもできる。
下地層13は、磁性層15の配向性を改善するために設
けられるものである。下地層13は、たとえば、Zn○
、 A I N、 B eO,A 1□0.、 c5−
Fe20.などのhap構造のもの、MgO。
けられるものである。下地層13は、たとえば、Zn○
、 A I N、 B eO,A 1□0.、 c5−
Fe20.などのhap構造のもの、MgO。
Au、Pt、Tiなどの面心立方構造(f、c、c)の
ものから形成され、これらの0面または(I11)面上
に磁性層がエピタキシャル成長する。下地層13の膜厚
は1μm以下が適当であり、好ましくは500〜300
0人である。下地層13の形成方法としては、真空蒸着
法、イオンブレーティング法、スパッタリング法などの
PVD法(物理的気相成長法)やその他の薄膜形成方法
が使用できる。
ものから形成され、これらの0面または(I11)面上
に磁性層がエピタキシャル成長する。下地層13の膜厚
は1μm以下が適当であり、好ましくは500〜300
0人である。下地層13の形成方法としては、真空蒸着
法、イオンブレーティング法、スパッタリング法などの
PVD法(物理的気相成長法)やその他の薄膜形成方法
が使用できる。
また、磁性層15の上には、11的に応じて誘導体層1
反射層、さらには保護層や潤滑層などを設けることがで
きる。
反射層、さらには保護層や潤滑層などを設けることがで
きる。
支持体11としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリエ
ーテルサルホンなどの耐熱性プラスチックは勿論のこと
、ポリエチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、三酢
酸セルロース、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリ
レ−1−の如きプラスチックも使用できる。また、従来
用いられていたシリコンウェハーやガラスなどのセラミ
ックス、金属支持体なども使用できる。
ーテルサルホンなどの耐熱性プラスチックは勿論のこと
、ポリエチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、三酢
酸セルロース、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリ
レ−1−の如きプラスチックも使用できる。また、従来
用いられていたシリコンウェハーやガラスなどのセラミ
ックス、金属支持体なども使用できる。
支持体の形状としては、シート状、カード状。
ディスク状、ドラム状、長尺テープ状など任意の形態を
とることができる。プラスチックフィルムを支持体とし
たときは、テープ状の連続磁気記録媒体が可能となる。
とることができる。プラスチックフィルムを支持体とし
たときは、テープ状の連続磁気記録媒体が可能となる。
テープ状とすることにより、ディスク状と比較して飛躍
的に、大面積化が可能となり、高記録密度・高記録容量
の記録媒体が実現できる。また、プラスチックフィルム
を用いたときは、支持体の薄型化が可能であり、たとえ
ば1〜100μ■、より好ましくは5〜30μmの厚さ
とすることもできる。
的に、大面積化が可能となり、高記録密度・高記録容量
の記録媒体が実現できる。また、プラスチックフィルム
を用いたときは、支持体の薄型化が可能であり、たとえ
ば1〜100μ■、より好ましくは5〜30μmの厚さ
とすることもできる。
見更勿羞来
本発明によれば、一般式(I)の強磁性酸化物薄膜から
なる磁性層を形成するに際し、M e OとM a X
F e 2−Xo、とを蒸発せしめるとともに、イオ
ン化して支持体上に付着せしめることにより、低支持体
温度で垂直磁気特性に優れた磁気記録媒体を得ることが
でき、プラスチック基板を用いた記録媒体の製造に好適
である6本発明の磁気記録媒体は、たとえば、記録、再
生用のトランスデユーサ−として補助磁極励磁型垂直ヘ
ッドを用い、直接媒体に記録、再生を行うこともできる
し、光磁気記録とよばれているような、磁界と熱を用い
て記録し、磁気光学効果を利用して再生する記録、再生
方式に応用することも可能である。
なる磁性層を形成するに際し、M e OとM a X
F e 2−Xo、とを蒸発せしめるとともに、イオ
ン化して支持体上に付着せしめることにより、低支持体
温度で垂直磁気特性に優れた磁気記録媒体を得ることが
でき、プラスチック基板を用いた記録媒体の製造に好適
である6本発明の磁気記録媒体は、たとえば、記録、再
生用のトランスデユーサ−として補助磁極励磁型垂直ヘ
ッドを用い、直接媒体に記録、再生を行うこともできる
し、光磁気記録とよばれているような、磁界と熱を用い
て記録し、磁気光学効果を利用して再生する記録、再生
方式に応用することも可能である。
実施例1
イオンブレーティング装置を用いて、50μm厚のポリ
イミドフィルム(支持体)上に、下記の条件により下地
層として厚さ2000人のZnOの薄膜を形成した。
イミドフィルム(支持体)上に、下記の条件により下地
層として厚さ2000人のZnOの薄膜を形成した。
蒸発材料 ZnO
支持体温度 300”C真空槽内の背
圧 1〇−薯orr蒸発源一基板間隔
30cm酸素圧力 2X1
0−’Torr高周波電力 120w
得られたZnO薄膜のX線回折図形にはZnOの0面の
回折ピークしか見られず、また、(002面)のΔθ、
。は2度であった。
圧 1〇−薯orr蒸発源一基板間隔
30cm酸素圧力 2X1
0−’Torr高周波電力 120w
得られたZnO薄膜のX線回折図形にはZnOの0面の
回折ピークしか見られず、また、(002面)のΔθ、
。は2度であった。
次いで、同上の装置を用いて次の条件により上記ZnO
@膜上に厚さ0.3μmの Ba0・6 F e20.の磁性層を形成して磁気記録
媒体を作成した。このとき、蒸発源は2つ用い、それぞ
れにBaOとFe2O,とを別個に入れ、2つの電子銃
により個々に蒸発速度を制御して同時に蒸発せしめ、磁
性層が上記組成となるようにした。
@膜上に厚さ0.3μmの Ba0・6 F e20.の磁性層を形成して磁気記録
媒体を作成した。このとき、蒸発源は2つ用い、それぞ
れにBaOとFe2O,とを別個に入れ、2つの電子銃
により個々に蒸発速度を制御して同時に蒸発せしめ、磁
性層が上記組成となるようにした。
イオンブレーティング 件
支持体温度 350℃真空槽内の背圧
10”−’ Torr蒸発源一基板間隔
30cll酸素圧力
G X 10−’Torr高周波電力
50W この磁性層をVSMで保磁力(Hc)、飽和磁化(Ms
)、異方性磁界(Hk)を測定した結果は次の通りであ
り、良好な垂直磁化膜であった。
10”−’ Torr蒸発源一基板間隔
30cll酸素圧力
G X 10−’Torr高周波電力
50W この磁性層をVSMで保磁力(Hc)、飽和磁化(Ms
)、異方性磁界(Hk)を測定した結果は次の通りであ
り、良好な垂直磁化膜であった。
Hc 工=2.1KQe
HQ /=0.28にOa
Ms 上=370esu/。。
Hk 上= 16KOe
さらに、この磁性層にX線回折分析を行ったところ、第
2図に示すように(006)、(008)の0面の強い
回折ピークがみられ、かつ、0面以外の回折ピークはみ
られず、C面配向膜となっていることが判った。
2図に示すように(006)、(008)の0面の強い
回折ピークがみられ、かつ、0面以外の回折ピークはみ
られず、C面配向膜となっていることが判った。
また、この方法によれば、2枚、3枚と作製枚数を増加
しても、また、連続的に製造しても。
しても、また、連続的に製造しても。
同条件で同様の特性のものが得られた6比較例1
蒸発源を1つとし、蒸発材料として
Ba0・4Fe203を用いる他は実施例1と全く同様
にして磁気記録媒体を作成した。得られた記録媒体のX
線回折による回折ピークや磁気特性は実施例1と同様で
あった。しかし、2枚目、3枚目の磁気記録媒体を作成
するに従い、回折ピークが低下し、磁気特性も劣化して
ぃった。
にして磁気記録媒体を作成した。得られた記録媒体のX
線回折による回折ピークや磁気特性は実施例1と同様で
あった。しかし、2枚目、3枚目の磁気記録媒体を作成
するに従い、回折ピークが低下し、磁気特性も劣化して
ぃった。
比較例2
実施例1と同様にして’、ZnO薄膜を形成した。つい
で、空気中で焼結した Ba0・6Fe20.をターゲットとして用い、対向タ
ーゲット式スパッタ装置にて総ガス圧3mTorr、膜
形成速度20人/分の条件で、上記ZnO薄膜の上に0
.3μ腸厚のBa0・6Fe20゜薄膜を作成した。
で、空気中で焼結した Ba0・6Fe20.をターゲットとして用い、対向タ
ーゲット式スパッタ装置にて総ガス圧3mTorr、膜
形成速度20人/分の条件で、上記ZnO薄膜の上に0
.3μ腸厚のBa0・6Fe20゜薄膜を作成した。
支持体温度が550℃では、良好な垂直磁化膜が得られ
たが、350℃ではアモルファスとなり磁性層とはなら
なかった。
たが、350℃ではアモルファスとなり磁性層とはなら
なかった。
実施例2
実施例1と同様にしてZnO薄膜を作成した。
ついで、同じイオンブレーティング装置を用いて、支持
体温度を300℃とした以外は実施例1と全く同様の条
件で、pboとFe、03とを別々の蒸発源に入れて加
熱し、厚さ0.3μmのpbo・6 F e20.薄膜
を形成して磁気記録媒体を得た。
体温度を300℃とした以外は実施例1と全く同様の条
件で、pboとFe、03とを別々の蒸発源に入れて加
熱し、厚さ0.3μmのpbo・6 F e20.薄膜
を形成して磁気記録媒体を得た。
VSMでの1llI11定結果は次の通りであり、良好
な垂直磁化膜であった。
な垂直磁化膜であった。
Hc上=1.9に0e
1−1 c / =0.34KOe
M s 上= 330emu/cc
Hk上=14にOe
X線回折ピークは、実施例1と同様に(006)、(0
08)の0面の回折ピークがみられた。
08)の0面の回折ピークがみられた。
比較例3
蒸発源を1つにし、蒸発材料を
pb○’nF8203(nは3〜9の7種類)とした以
外は実施例2と全く同様にして薄膜を作成した。しかし
、できた薄膜はいずれもpbo。
外は実施例2と全く同様にして薄膜を作成した。しかし
、できた薄膜はいずれもpbo。
γ−Fe20..Fe、04等の混晶からなっており、
PbO−nFe2O,は得られなかった。
PbO−nFe2O,は得られなかった。
第1図は本発明により得られる磁気記録媒体の構成例を
示す断面図である。 第2図は、実施例で得られた磁性体層のX線回折スペク
トルである。
示す断面図である。 第2図は、実施例で得られた磁性体層のX線回折スペク
トルである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、支持体上に一般式( I ) MeO・n(Ma_xFe_2_−_xO_3)( I
)(式中、Me、Ma、x、nは次の通りである。 Me:Ba、Pb、SrおよびScから選 ばれる少なくとも1種の金属元素 Ma:Feと置換可能な1種または2種以 上の金属元素 x:0≦x≦1 n:5≦n≦6) で表わされた強磁性酸化物からなる磁性層を形成するに
当って、低圧雰囲気下にMeOとMa_xFe_2_−
_xO_3とを別々の蒸発源から蒸発せしめるとともに
、これをイオン化して支持体上に付着せしめることを特
徴とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16197485A JPS6224431A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16197485A JPS6224431A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6224431A true JPS6224431A (ja) | 1987-02-02 |
Family
ID=15745619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16197485A Pending JPS6224431A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6224431A (ja) |
-
1985
- 1985-07-24 JP JP16197485A patent/JPS6224431A/ja active Pending
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