JPS62242831A - 圧力検出器 - Google Patents
圧力検出器Info
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- JPS62242831A JPS62242831A JP8628886A JP8628886A JPS62242831A JP S62242831 A JPS62242831 A JP S62242831A JP 8628886 A JP8628886 A JP 8628886A JP 8628886 A JP8628886 A JP 8628886A JP S62242831 A JPS62242831 A JP S62242831A
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、油や気体のような流体の圧力が電圧に変換す
るための圧力変換素子を用いた圧力検出器に係り、特に
高圧流体の圧力を検出するのに適した圧力検出器に関す
るものである。
るための圧力変換素子を用いた圧力検出器に係り、特に
高圧流体の圧力を検出するのに適した圧力検出器に関す
るものである。
一般に高い圧力を検出する場合にはブルドン管を用いた
圧力計や金属箔ゲージを用いた圧力計が使用される。前
者は構成が簡単で安定した出力を得ることができるが、
形状が大きいという難点があり、後者は金属箔ゲージの
感度が小さいために回路処理が難しく計測器として使用
するのには良いが圧力検出センサとして常時使用するに
は零ドリフトが問題となる。
圧力計や金属箔ゲージを用いた圧力計が使用される。前
者は構成が簡単で安定した出力を得ることができるが、
形状が大きいという難点があり、後者は金属箔ゲージの
感度が小さいために回路処理が難しく計測器として使用
するのには良いが圧力検出センサとして常時使用するに
は零ドリフトが問題となる。
感度の高いゲージとして半導体ゲージを用いたものが知
られている(例えば、実開昭55−47615号公報、
実開昭56−96344号公a)。
られている(例えば、実開昭55−47615号公報、
実開昭56−96344号公a)。
これらは一般に大気圧前後の低圧の流体圧力を検出する
ことを目的としたもので、このため、半導体ウェハーの
片面をエツチングすることにより薄いダイヤフラム部分
が形成されている。
ことを目的としたもので、このため、半導体ウェハーの
片面をエツチングすることにより薄いダイヤフラム部分
が形成されている。
ここで本発明の目的のように高耐圧を実現するにはダイ
ヤフラムとなる半導体ウェハーを厚くする必要があり、
検出可能な感度を確保するようにシリコンの板厚を決め
た場合ダイヤフラム周辺において応力が集中し、シリコ
ンの強度(曲げ強度7〜35kg/cal)からみて破
壊の危険性があり、破壊しないように十分に厚くした場
合には所望の感度が得られないという問題のため高耐圧
の圧力検出器の実現はできなかった。
ヤフラムとなる半導体ウェハーを厚くする必要があり、
検出可能な感度を確保するようにシリコンの板厚を決め
た場合ダイヤフラム周辺において応力が集中し、シリコ
ンの強度(曲げ強度7〜35kg/cal)からみて破
壊の危険性があり、破壊しないように十分に厚くした場
合には所望の感度が得られないという問題のため高耐圧
の圧力検出器の実現はできなかった。
本発明は、上記した問題点を解消すべく、ダイヤフラム
となるチップを小型にでき、量産的であり、しかも高耐
圧の圧力検出器を提供することを目的とする。
となるチップを小型にでき、量産的であり、しかも高耐
圧の圧力検出器を提供することを目的とする。
本発明は、ダイヤフラムに窒化ケイ素系のセラミックス
(例えば曲げ強度60kg/ca1以上)を用い、また
窒化ケイ素系セラミックスの上への歪ゲージの構成はシ
リコンウェハーと同様に、厚さ0゜2〜0.5鰭程度の
シートをつくり、これを研摩して用いる。
(例えば曲げ強度60kg/ca1以上)を用い、また
窒化ケイ素系セラミックスの上への歪ゲージの構成はシ
リコンウェハーと同様に、厚さ0゜2〜0.5鰭程度の
シートをつくり、これを研摩して用いる。
本発明による圧力検出器においては、ダイヤフラムに窒
化ケイ素系のセラミックスを用いているから、ダイヤフ
ラム自体の強度を大きくすることができ、またセラミッ
クスのウェハー上の歪ゲージの形成プロセスは半導体の
プロセスを用いることができる。
化ケイ素系のセラミックスを用いているから、ダイヤフ
ラム自体の強度を大きくすることができ、またセラミッ
クスのウェハー上の歪ゲージの形成プロセスは半導体の
プロセスを用いることができる。
以下、本発明を図に示す実施例について説明する。
第1図は本発明になる圧力検出器の一実施例の構成を示
す要部縦断面図で、■は圧力を検出するセンシングエレ
メント、2はハウジングであり、このハウジング2には
ネジ山2bが形成されており、図示していない被検出体
に取り付けられるようになっている。前記センシングエ
レメント1の端部1aとハウジング2の端部2aとは電
気溶接等により密着固定されている。3はセンシングエ
レメント1の信号を処理して出力するための処理回路で
ある。4はセンシングエレメントと処理回路を電気的に
接続するための第1リード線である。
す要部縦断面図で、■は圧力を検出するセンシングエレ
メント、2はハウジングであり、このハウジング2には
ネジ山2bが形成されており、図示していない被検出体
に取り付けられるようになっている。前記センシングエ
レメント1の端部1aとハウジング2の端部2aとは電
気溶接等により密着固定されている。3はセンシングエ
レメント1の信号を処理して出力するための処理回路で
ある。4はセンシングエレメントと処理回路を電気的に
接続するための第1リード線である。
5はハウジング2の上面をシールするためのシール樹脂
である。6はシール樹脂5を押さえるためのリングであ
り、ハウジング2に打ち込み固定しである。7はシール
のためのモールド樹脂である。
である。6はシール樹脂5を押さえるためのリングであ
り、ハウジング2に打ち込み固定しである。7はシール
のためのモールド樹脂である。
8は処理回路3の信号を外部に取り出すための第2リー
ド線であり、前記シール樹脂5とは密着固定されており
気密が保たれている。第2図(A)、(B)は前記セン
シングエレメントlの詳細を示す図で、第2図(A)は
上部から見た平面図、第2図(B)は縦断面図で、10
は金属からなるセンシングエレメントのボディであり、
端部1aは突起状になっており、中央に直径りの円形の
穴10aが設けられている。11はセラミックス(この
場合は窒化ケイ素系セラミックス)から成るチップであ
り、12はチップ11上に形成された5iOt等からな
るセラミックスとポリシリコンとになじみの良い絶縁膜
であり、13はポリシリコンの歪ゲージで、図示のよう
に4個の歪ゲージ13a、13bs 100% 13d
より構成されている。14は金属薄膜より成る電極で、
4個の電極14a、14b、14c、14dより構成さ
れ、これにより前記歪ゲージ13はフルブリッジに構成
されている。15は前記各電極上に設置されたポストで
ある。16はボディlOとチップ11を接合するための
ロー材である。
ド線であり、前記シール樹脂5とは密着固定されており
気密が保たれている。第2図(A)、(B)は前記セン
シングエレメントlの詳細を示す図で、第2図(A)は
上部から見た平面図、第2図(B)は縦断面図で、10
は金属からなるセンシングエレメントのボディであり、
端部1aは突起状になっており、中央に直径りの円形の
穴10aが設けられている。11はセラミックス(この
場合は窒化ケイ素系セラミックス)から成るチップであ
り、12はチップ11上に形成された5iOt等からな
るセラミックスとポリシリコンとになじみの良い絶縁膜
であり、13はポリシリコンの歪ゲージで、図示のよう
に4個の歪ゲージ13a、13bs 100% 13d
より構成されている。14は金属薄膜より成る電極で、
4個の電極14a、14b、14c、14dより構成さ
れ、これにより前記歪ゲージ13はフルブリッジに構成
されている。15は前記各電極上に設置されたポストで
ある。16はボディlOとチップ11を接合するための
ロー材である。
次にチップ11の製作について述べると、窒化ケイ素系
セラミックスを薄板状にしセラミックスウェハー(例え
ば直径30〜15fl)をつ(る。
セラミックスを薄板状にしセラミックスウェハー(例え
ば直径30〜15fl)をつ(る。
これの表面を研摩し、ラッピングして表面を平坦化した
後洗浄し、表面にS I Oを等よりなる絶縁膜をスパ
ッタリング等の薄膜形成技術で形成する。
後洗浄し、表面にS I Oを等よりなる絶縁膜をスパ
ッタリング等の薄膜形成技術で形成する。
その後ポリシリコンを減圧CVD装置等で形成し不純物
をドープして所定キャリア濃度のポリシリコン膜とする
。その後歪ゲージのパターニングをホトリングフライの
工程で行い、エツチングにより歪ゲージ13を形成する
。4個の歪ゲージをフルブリフジにて接続させるために
、例えばアルミ等の金属薄膜を蒸着等により成膜し、ホ
トリングラフィとエツチングの工程により第2図(A)
に示すようにパターニングを行い、その後ダイシングソ
ーにてウェハーをチップの大きさに切断して各チップを
ボディ10とロー付けし、その後電極14上にポスト1
5をつける。
をドープして所定キャリア濃度のポリシリコン膜とする
。その後歪ゲージのパターニングをホトリングフライの
工程で行い、エツチングにより歪ゲージ13を形成する
。4個の歪ゲージをフルブリフジにて接続させるために
、例えばアルミ等の金属薄膜を蒸着等により成膜し、ホ
トリングラフィとエツチングの工程により第2図(A)
に示すようにパターニングを行い、その後ダイシングソ
ーにてウェハーをチップの大きさに切断して各チップを
ボディ10とロー付けし、その後電極14上にポスト1
5をつける。
次に、上記構成になる本発明圧力検出器の作動について
説明する。センシングエレメント1に圧力が印加される
と、チップ11はボディ10の円穴10aの部分に対応
する部分が周辺固定の円形ダイヤフラムとなって歪み、
歪ゲージ13a、13cは引張り応力を受けて抵抗値が
増加し、一方正ゲージ13b、13dには圧縮応力が加
わって抵抗値が減少する。4個の歪ゲージ13a、13
b、13c、13dはフルブリッジ構成となっているの
で、例えば、電極14aと14cの間に一定電圧Eを印
加し、電極14bと14dの間の電圧を出力とすれば、
流体圧力の変化に対応した出力が得られる。この出力を
処理回路3で増幅し、かつ温度補償をして第21J−ド
線8より外部に出力する。
説明する。センシングエレメント1に圧力が印加される
と、チップ11はボディ10の円穴10aの部分に対応
する部分が周辺固定の円形ダイヤフラムとなって歪み、
歪ゲージ13a、13cは引張り応力を受けて抵抗値が
増加し、一方正ゲージ13b、13dには圧縮応力が加
わって抵抗値が減少する。4個の歪ゲージ13a、13
b、13c、13dはフルブリッジ構成となっているの
で、例えば、電極14aと14cの間に一定電圧Eを印
加し、電極14bと14dの間の電圧を出力とすれば、
流体圧力の変化に対応した出力が得られる。この出力を
処理回路3で増幅し、かつ温度補償をして第21J−ド
線8より外部に出力する。
上述のように、本発明になる圧力検出器においては、被
検出流体に面するダイヤフラムを耐強度に優れた窒化ケ
イ素系セラミックスを用い、しかもボディにロー付けに
より接合しであるので、チップの破損やチップとボディ
のはく離等がなく、高耐圧であり、高圧の検出を安定に
行うことができるという優れた効果がある。
検出流体に面するダイヤフラムを耐強度に優れた窒化ケ
イ素系セラミックスを用い、しかもボディにロー付けに
より接合しであるので、チップの破損やチップとボディ
のはく離等がなく、高耐圧であり、高圧の検出を安定に
行うことができるという優れた効果がある。
また、セラミックスでセンシングエレメントを一体型で
作ることも考えられるが、この場合には、セラミックス
の製作上、またフォトリングラフィの工程が難しくなる
のに対し、本発明においては、セラミックスのウェハー
に歪ゲージを形成し、それをカットして用いているので
、ウェハーの製作は容易となり、歪ゲージの形成も半導
体製造のプロセスを適用できるので、簡単になるという
優れた効果がある。
作ることも考えられるが、この場合には、セラミックス
の製作上、またフォトリングラフィの工程が難しくなる
のに対し、本発明においては、セラミックスのウェハー
に歪ゲージを形成し、それをカットして用いているので
、ウェハーの製作は容易となり、歪ゲージの形成も半導
体製造のプロセスを適用できるので、簡単になるという
優れた効果がある。
第1図は本発明になる圧力検出器の一実施例の構成を示
す要部縦断面図、第2図(A)、(B)は第1図図示の
本発明圧力検出器におけるセンシングエレメントの詳細
を示す平面図及び縦断面図である。 1・・・センシングエレメント、2・・・ハウジング。 3・・・処理回路、10・・・ボディ、11・・・チッ
プ、12・・・絶縁膜、13・・・歪ゲージ、13a、
13b。 13C,13d・・・歪ゲージ、14・・・電極。
す要部縦断面図、第2図(A)、(B)は第1図図示の
本発明圧力検出器におけるセンシングエレメントの詳細
を示す平面図及び縦断面図である。 1・・・センシングエレメント、2・・・ハウジング。 3・・・処理回路、10・・・ボディ、11・・・チッ
プ、12・・・絶縁膜、13・・・歪ゲージ、13a、
13b。 13C,13d・・・歪ゲージ、14・・・電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体歪ゲージにより圧力を検出するセンシングエレ
メントと、 前記センシングエレメントと密着固定されたハウジング
と、 前記半導体歪ゲージに接続されその信号を増幅し温度補
償をする処理回路と、この処理回路に接続され電気信号
を外部に取り出すコネクタ手段とから成り、 前記センシングエレメントは中央部に穴を有する金属の
ボディと、このボディの片面に密着固定され開口部がダ
イヤフラムとなる窒化ケイ素系セラミックスの上にポリ
シリコンからなる半導体歪ゲージを複数個配置したこと
を特徴とする圧力検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8628886A JPS62242831A (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 圧力検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8628886A JPS62242831A (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 圧力検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62242831A true JPS62242831A (ja) | 1987-10-23 |
Family
ID=13882647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8628886A Pending JPS62242831A (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 圧力検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62242831A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01182729A (ja) * | 1988-01-16 | 1989-07-20 | Ngk Insulators Ltd | 圧力センサ |
CN101832830A (zh) * | 2010-03-22 | 2010-09-15 | 西安交通大学 | 一种齐平封装的耐高温高频响压力传感器 |
JP2021025957A (ja) * | 2019-08-08 | 2021-02-22 | アズビル株式会社 | 圧力センサ |
-
1986
- 1986-04-15 JP JP8628886A patent/JPS62242831A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01182729A (ja) * | 1988-01-16 | 1989-07-20 | Ngk Insulators Ltd | 圧力センサ |
CN101832830A (zh) * | 2010-03-22 | 2010-09-15 | 西安交通大学 | 一种齐平封装的耐高温高频响压力传感器 |
JP2021025957A (ja) * | 2019-08-08 | 2021-02-22 | アズビル株式会社 | 圧力センサ |
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