JPS62241368A - Mos型ダイナミツクram - Google Patents

Mos型ダイナミツクram

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Publication number
JPS62241368A
JPS62241368A JP61083629A JP8362986A JPS62241368A JP S62241368 A JPS62241368 A JP S62241368A JP 61083629 A JP61083629 A JP 61083629A JP 8362986 A JP8362986 A JP 8362986A JP S62241368 A JPS62241368 A JP S62241368A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dynamic ram
type dynamic
trench
mos type
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61083629A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Iwamatsu
誠一 岩松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP61083629A priority Critical patent/JPS62241368A/ja
Publication of JPS62241368A publication Critical patent/JPS62241368A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices
    • H10B12/30DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells
    • H10B12/39DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells the capacitor and the transistor being in a same trench
    • H10B12/395DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells the capacitor and the transistor being in a same trench the transistor being vertical

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 不発明はMO3型ダイナミックRAMのセル構造に関す
る。
〔発明の概要〕
本発明はMOS型ダイナミックRAMに関し、sta!
i板にはトレンチが形成され、該トレンチ内にキャパシ
ター領域とトランスファー領域とが形成されて成る事を
t#徴とする。
〔従来の技術〕
従来、MOS型ダイナミックRAMは第2図に示す如き
ラテラルDRAM構造を用いるのが通例であった。すな
わち、81基板11の表面には、フィールド酸化膜18
、酸化膜12と多結晶siよシなる蓄積電極15とによ
りキャパシター領域を形成し、酸化1A14と多結晶f
91よシなるゲート電4ii15及びチタンシリサイド
よシなる金t4電極16よシトランスファー領域な形成
し、拡散層17にJニジ電荷のやりとシを行なう、メモ
リ信号人・出力領域を形成するのが通例であった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上記従来技術によると、MOS型ダイナミック
RAMのキャパシター領域及びトランスファー領域がラ
テラルに形成される為、集積度を上げる事が困難である
という問題点かあつ1こ。
本発明は、かかる従来技術の問題点をなくし、極めて高
集積のMO3型ダイナミックRAMを可能にするセル構
造を提供する事な目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、本発明は、W1O8型ダ
イナミックRAMに関し、81基板にトレンチを形成し
、該トレンチ内にキャパシター領域とトランスファー領
域とを形成する手段をとる。
〔作用〕
MOS型ダイナミックRAMに於て、Si基板に形成さ
れたトレンチ内にキャパシター領域とトランスファー領
域とが形成される事により、基本セルが三次元的に配置
される作用が生じ、従来のラテラルDRAMKPける二
次元配置よシ、より高集積に出来る作用が生じる。
〔実施例〕
以下、実施列により本発明を詳述する。
第1図は本発明の実施例を示すMOS型トレンチDRA
Mのセルの断面構造である。すなわち、Si基板1には
トレンチ((#)が形成され、該溝内に酸化膜2と多結
晶Stよりなる蓄積′成極3よυなるキャパシター領域
と、その上に、酸化膜4と多結晶81よシなるゲート電
極5及びチタンシリサイドよりなる金W411[m6が
形成され、Si基板18表面に拡散層7を形成し、電荷
のやりとりを行なうメモリ1号人・出力領域を形成して
成る。
〔発明の効果〕
本発明のRD<、Mos型ダ型ダイラミックRAM本セ
ルであるキャパシター領域とトランスファー領域を1つ
のトレンチ内に三次元的に配する事に工り極めて高集積
のMOS型ダイナミックRAMを提供できる幼果がある
【図面の簡単な説明】
・L1図は本発明の一実施例を示すMOS型ダイナミッ
クRAMの基本セルのトレンチoRAMd造の断面図を
示し、第2図は従来技術によるラテラルD RA M 
+lt造の断面図を示す。 1.11・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
si基板2.4,12.14・・・・・・酸化膜5、1
5・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ゲート
を極6.16・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・金稿′成極7.17・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・拡散層18・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・フィールド酸化膜。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. Si基板にはトレンチ(溝堀り構造)が形成されており
    、該トレンチ内にキャパシター(電荷蓄積)領域とトラ
    ンスファー(電荷転送)領域とが形成されて成る事を特
    徴とするMOS型ダイナミックRAM。
JP61083629A 1986-04-11 1986-04-11 Mos型ダイナミツクram Pending JPS62241368A (ja)

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JPS62241368A true JPS62241368A (ja) 1987-10-22

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583269A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 Fujitsu Ltd 縦型mosダイナミツクメモリ−セル
JPS61174670A (ja) * 1984-10-31 1986-08-06 テキサス インスツルメンツ インコ−ポレイテツド Dramセルおよびその製作方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583269A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 Fujitsu Ltd 縦型mosダイナミツクメモリ−セル
JPS61174670A (ja) * 1984-10-31 1986-08-06 テキサス インスツルメンツ インコ−ポレイテツド Dramセルおよびその製作方法

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