JPS62217466A - 磁気デイスクの傷位置確認方式 - Google Patents

磁気デイスクの傷位置確認方式

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JPS62217466A
JPS62217466A JP5741686A JP5741686A JPS62217466A JP S62217466 A JPS62217466 A JP S62217466A JP 5741686 A JP5741686 A JP 5741686A JP 5741686 A JP5741686 A JP 5741686A JP S62217466 A JPS62217466 A JP S62217466A
Authority
JP
Japan
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flaw
tracks
medium
positions
track
Prior art date
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Pending
Application number
JP5741686A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigenori Nishizawa
西沢 茂典
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5741686A priority Critical patent/JPS62217466A/ja
Publication of JPS62217466A publication Critical patent/JPS62217466A/ja
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  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 C概要〕 磁気ディスクの傷位置確認方式であって、同一シリンダ
上での磁気ディスクの試験信号の読み出しを磁気ヘッド
の切り替えのみで順次連続して実行し、読み出し途中で
傷を検出した場合、それらの全てをメモリ部で記憶し、
全てのヘッドによる読み出し動作終了後、メモリ部に記
憶している傷情報の集計をまとめて実行して各磁気ディ
スクの傷位置を確認する構成とし、磁気ディスクの傷位
置確認試験の能率向」二を図っている。
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスクの傷位置確認方式に関し、特に傷
位置確認試験の能率向上が得られるようにした磁気ディ
スクの傷位置確認方式に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の磁気ディスクの傷位置確認方式のブロッ
ク図であり、磁気ディスク装置は複数の磁気ディスク(
以後媒体と云う) 2−O〜2−nで形成されたシリン
ダ5と、媒体2−0〜2−nへ情報の記録と読み出しを
行なうデータヘッド1−〇〜1−nと、当該媒体に位置
情報の記録と読み出しを行なうサーボヘッドl−5とよ
り構成されている。
媒体2−0〜2−nのトラックの傷を検出するために、
データヘッド1−0〜1−nおよびサーボヘット1sよ
り読み出された当該トラックの試験信号および位置信号
より傷および傷位置を検出する傷位置検出部3と、傷位
置検出部3で検出された傷および傷位置を集計する集計
部4とを設けた構成としている。
従来の媒体の傷検出は、まず、データヘッドl−〇で媒
体2−0のトラックに書き込まれた試験信号を読み出し
、傷位置検出部3においてトラック」二の傷を検出し、
傷が検出された場合、そのトラックの一周の読み出し完
了後、集計部4において集計を行ない、媒体2−0の傷
位置を確認する。
データヘッド1−〇による媒体2−〇の集計が完了した
時点で、改番こ、データヘッド】−1により媒体2−1
のトラックの試験信号を読み出し、−に記と同じく、傷
位置検出部3においてトラック上の傷を検出して集計部
4において集計を行ない、媒体2−1の傷位置W1gを
行なう。
このように、媒体2−nまで媒体毎に傷を検出して集計
部4において集計を行ない、媒体2−1の傷位置確認を
行なう。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記、従来の傷位置確認方式においては、傷を検出する
たびに集計処理を行なっているため、集計処理毎にディ
スク1周分の回転待ちが発生し、試験能率を低下させて
いる。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、集計
処理方法を改善し、試験能率を向上することができる傷
位置確認方式を提供することを目的としている。
C問題点を解決するための手段〕 回転待ちをなくするために、データヘッドを直列状に連
続して切換えるスイッチと、スイッチの切換え動作を制
御する切換え制御部から成る切換え手段を設けている。
また、集計処理を一括して行なうために、傷位置検出部
の出刃傷情報を計測するカウンタと、カウンタの計測傷
情報を格納するメモリ部から成る格納手段を備えた構成
としている。
〔作用〕
切換制御部の制御により、データヘッドがトラックを1
周した時点で、順次データヘッドを切換えて同一シリン
ダ上での読み出しを行ない、途中で傷を検出した場合、
それらを全てカウンタを介してメモリ部に格納させてお
き、すべてのデータヘッドによる読み出しが完了した後
、メモリ部に格納された傷および傷位置を集計して確認
するようにしている。
本発明においては、全てのデータヘッドより読み出され
た傷情報を一括して集計するようにしたことにより、従
来のデータヘッド毎の集計による一周遅れが解消され、
試験能率をよくすることができる。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例の傷確認方式のブロフク図を
示している。
第1図において、データヘッド1−0〜1−nを直列状
に連続して切換えて傷位置検出部3に出力するスイッチ
7と、スイッチ7の切換え動作を制御する制御部6を設
けるとともに、傷位置検出部3の出刃傷情報を計測する
カウンタ8と、カウンタ8の計測傷情報を格納するメモ
リ部9と、メモリ部9で記憶された傷情報を集計部4で
集計する構成としている。
その動作は、まづ、切換え制御部6の制御によってスイ
ッチ7はデータヘッドI−0に接続され、データヘッド
l−0によって同一シリンダ上での媒体2−0のトラッ
クの試験信号が読み出されて傷位置検出部3に出力され
る。
傷位置検出部3は、データヘッド1−0により読み出さ
れた試験信号より同一シリンダ上での媒体2−0のトラ
ックの傷を検出するとともに、サーボヘッド11−5よ
り出力される位置情報より前記トラックの傷位置を検出
する。
検出された媒体2−0のトラックの傷と傷位置はカウン
タ8により計測され、メモリ部9の規定のアドレスに格
納される。
次に、媒体2−0のトラックの一周の試験が完了した時
点で出力されるサーボヘッドl−nよりの信号によって
切換え制御部6がスイッチ7を切換えてデータヘッド1
−2を傷位置検出部3に接続し、その読み出し試験信号
を傷位置検出部3に入力して媒体2−1のトラックの傷
と傷位置を検出し、カウンタ8を介してメモリ部9に格
納する。
このように、同一シリンダー上の磁気ディスクのトラッ
クの一周の試験が完了した時点で磁気ヘッドを順次切換
え、連続してトラックの試験を行なうようにし、各トラ
ックの傷および傷位置をメモリ部9に格納する。
全てのデータヘッドによって同一シリンダ上の磁気ディ
スクのトラックの傷検出が完了すると、メモリ部9に格
納されている傷および傷位置を読み出して集計H4に入
力し、集計部4において、各トラックの傷位置の確認を
行なう。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、同一シリンダ上の
磁気ディスクのトラックより読み出される傷情報を一括
して集計処理し、各トラックの傷位置を確認するように
したことにより、従来のデータヘッド毎の集計による一
周遅れが解消され、試験能率をよくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の傷確認方式のブロック図、 第2図は従来の磁気ディスクの傷位置確認方式のブロッ
ク図である。 図において、1−〇〜1−nはデータヘッド、1−5は
サーボヘッド、2−0〜2−nは媒体、3は傷位置検出
部、4は集計部、6は切換え制御部、7はスイッチ、8
はカウンタ、9はメモリ部を示している。 本を明の一犬施ゆ像凋V誌方式め7“口・・17邑@ 
1 図 争〔禾、の處気テ核7の□□□し有り買メ會認方式の7
”口・77図@ 2 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 磁気ディスク(2−0〜2−n)のトラックに書き込ま
    れた試験信号を、前記トラックと対応する磁気ヘッド(
    1−0〜1−n)を切換えて読み出し、該読み出し信号
    より前記トラックの傷位置を確認する方式において、同
    一シリンダ上に試験信号を書き込み前記トラックの一周
    づつ前記磁気ヘッドを順次連続して切換える切換え手段
    (6、7)と、前記全ての磁気ヘッドで読み取られた傷
    情報を一時格納する格納手段(8、9)とを設けて成る
    ことを特徴とする磁気ディスクの傷位置確認方式。
JP5741686A 1986-03-14 1986-03-14 磁気デイスクの傷位置確認方式 Pending JPS62217466A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5741686A JPS62217466A (ja) 1986-03-14 1986-03-14 磁気デイスクの傷位置確認方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5741686A JPS62217466A (ja) 1986-03-14 1986-03-14 磁気デイスクの傷位置確認方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62217466A true JPS62217466A (ja) 1987-09-24

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ID=13055043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5741686A Pending JPS62217466A (ja) 1986-03-14 1986-03-14 磁気デイスクの傷位置確認方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008192220A (ja) * 2007-02-02 2008-08-21 Showa Denko Kk 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法

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JPS4944725A (ja) * 1972-06-01 1974-04-27
JPS5835733A (ja) * 1981-08-26 1983-03-02 Fujitsu Ltd 情報記録再生方式
JPS5936329A (ja) * 1982-08-20 1984-02-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法

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JP2008192220A (ja) * 2007-02-02 2008-08-21 Showa Denko Kk 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法
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