JPS622172A - Ｉｃハンドラの測定部 - Google Patents
Ｉｃハンドラの測定部Info
- Publication number
- JPS622172A JPS622172A JP60142065A JP14206585A JPS622172A JP S622172 A JPS622172 A JP S622172A JP 60142065 A JP60142065 A JP 60142065A JP 14206585 A JP14206585 A JP 14206585A JP S622172 A JPS622172 A JP S622172A
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- Japan
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- lifting
- elevating
- roof guide
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Manipulator (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣの電気的特性を測定するＩＣハンドラの測
定部に係り、特にリードが環状に湾曲した新しい形状の
ＩＣに通用することができるＩＣハンドラの測定部に関
する。
定部に係り、特にリードが環状に湾曲した新しい形状の
ＩＣに通用することができるＩＣハンドラの測定部に関
する。
従来のｒＣは第５図（ａｌ示のようにリード８ａの先端
が切り放し状態になっている旧ＬＰ型のものが主流であ
った。このＤＩＬＰ型のＩＣ５ａはプリント基板（図示
せず）にスルーホールを穿孔し、自動機にてリード８ａ
をスルーホールに挿通し、スルーホールにリード８ａを
半田付けし、余分のリード先端を切断していた。ところ
がリード８ａの先端が切り放し状態になっていて曲がり
易いため自動化工程でスルーホールにリード８ａを自動
挿入する際、リード先端が曲がって挿入できないことが
あった。またスルーホールにリード８ａを挿通するので
あるからプリント基板の実装は片面しか行われず、電装
部品の実装密度が低いという問題点もあった。
が切り放し状態になっている旧ＬＰ型のものが主流であ
った。このＤＩＬＰ型のＩＣ５ａはプリント基板（図示
せず）にスルーホールを穿孔し、自動機にてリード８ａ
をスルーホールに挿通し、スルーホールにリード８ａを
半田付けし、余分のリード先端を切断していた。ところ
がリード８ａの先端が切り放し状態になっていて曲がり
易いため自動化工程でスルーホールにリード８ａを自動
挿入する際、リード先端が曲がって挿入できないことが
あった。またスルーホールにリード８ａを挿通するので
あるからプリント基板の実装は片面しか行われず、電装
部品の実装密度が低いという問題点もあった。
そこで登場したのが第５図（ｂ）に示すＩＣ５で、ＰＬ
ＣＣ型ＩＣと呼ばれるものであり、リード８の先端が環
状に湾曲してＩＣ本体内に埋設されているものである。
ＣＣ型ＩＣと呼ばれるものであり、リード８の先端が環
状に湾曲してＩＣ本体内に埋設されているものである。
かかる形状のＩＣ５はスルーホールを用いず、プリント
基板（図示せず）の表面に直接半田付けされるためプリ
ント基板の実装密度は従来の倍となるものである。
基板（図示せず）の表面に直接半田付けされるためプリ
ント基板の実装密度は従来の倍となるものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら従来のＩＣハンドラの測定部はＤＩＬＰ型
ＩＣ５ａの電気的特性の測定に適合した構造であったた
め、ＤＩＬＰ型ＩＣ５ａとはその形状を全く異にするＰ
ＬＣＣ型ＩＣ５の電気的特性の測定に適用することがで
きない。
ＩＣ５ａの電気的特性の測定に適合した構造であったた
め、ＤＩＬＰ型ＩＣ５ａとはその形状を全く異にするＰ
ＬＣＣ型ＩＣ５の電気的特性の測定に適用することがで
きない。
そこで、本発肌はリードが環状に湾曲した形状のＰＬＣ
Ｃ型ＩＣに適用できるＩＣハンドラの測定部を提供する
ため、第１図示のようにＩＣ供給・排出位置である上死
点、途中の中段点、ＩＣ測定位置直上の下死点の３停止
点間を昇降し、下面にＩＣ５のガイド溝２９を有する昇
降屋根ガイド部１及び当該昇降屋根ガイド部１の昇降手
段Ａと、上死点と中段点間をこの昇降屋根ガイド部ｌと
連動して昇降する昇降ブ！ツタ３０及び当該昇降ブロッ
ク３０の連動手段Ｂと、この昇降ブロック３０に設けら
れて中段点での下降停止時と上昇開始時にそれぞれ開、
閉され、昇降中及び上死点では閉状態を保ってＩＣ５を
支え、開状態ではＩＣ５の支えを解放する一対の可動レ
ール部２及び当該可動レール部２の開閉手段Ｃと、昇降
屋根ガイド部１に上下動自在に設けられ、上死点でのＩ
Ｃ供給以前に下動しガイド溝２９より突出してＩＣ５の
停止位置を決定し、上死点でのＩＣ排出時に上動しガイ
ド溝２９より没入してＩＣ５をフリーにするストッパ３
及び当該ストッパ３の上下動手段りと、中段点と下死点
間を昇降屋根ガイド部１と連動して昇降しＩＣ５の腹４
を支持する棒状のＩＣ支持部６及び当３ｇ Ｉ Ｃ支持
部６の連動手段Ｅと、ＩＣ測定位置に設けられ下死点で
のＩＣ停止時にＩＣ５のり一ド８が係合してｉｃｓの電
気的特性を測定し、下死点よりのＩＣ上昇によりＩＣ５
のリード８が離脱する測定用接点９を備えたソケット７
とよりなる構成としたものである。
Ｃ型ＩＣに適用できるＩＣハンドラの測定部を提供する
ため、第１図示のようにＩＣ供給・排出位置である上死
点、途中の中段点、ＩＣ測定位置直上の下死点の３停止
点間を昇降し、下面にＩＣ５のガイド溝２９を有する昇
降屋根ガイド部１及び当該昇降屋根ガイド部１の昇降手
段Ａと、上死点と中段点間をこの昇降屋根ガイド部ｌと
連動して昇降する昇降ブ！ツタ３０及び当該昇降ブロッ
ク３０の連動手段Ｂと、この昇降ブロック３０に設けら
れて中段点での下降停止時と上昇開始時にそれぞれ開、
閉され、昇降中及び上死点では閉状態を保ってＩＣ５を
支え、開状態ではＩＣ５の支えを解放する一対の可動レ
ール部２及び当該可動レール部２の開閉手段Ｃと、昇降
屋根ガイド部１に上下動自在に設けられ、上死点でのＩ
Ｃ供給以前に下動しガイド溝２９より突出してＩＣ５の
停止位置を決定し、上死点でのＩＣ排出時に上動しガイ
ド溝２９より没入してＩＣ５をフリーにするストッパ３
及び当該ストッパ３の上下動手段りと、中段点と下死点
間を昇降屋根ガイド部１と連動して昇降しＩＣ５の腹４
を支持する棒状のＩＣ支持部６及び当３ｇ Ｉ Ｃ支持
部６の連動手段Ｅと、ＩＣ測定位置に設けられ下死点で
のＩＣ停止時にＩＣ５のり一ド８が係合してｉｃｓの電
気的特性を測定し、下死点よりのＩＣ上昇によりＩＣ５
のリード８が離脱する測定用接点９を備えたソケット７
とよりなる構成としたものである。
ＩＣ５の電気的特性の測定に際し、昇降屋根ガイド部１
と一対の可動レール部２は上死点にあり、一対の可動レ
ール部２は閉じた状態にある。また、ストッパ３はガイ
ド溝２９より突出した状態にある。
と一対の可動レール部２は上死点にあり、一対の可動レ
ール部２は閉じた状態にある。また、ストッパ３はガイ
ド溝２９より突出した状態にある。
このような状態でＩＣ５が測定部１５に供給されルト、
当該ｘｃｓは昇降屋根ガイド部１のガイド溝２９と一対
の可動レール部２との間で一対の可動′−ル部２上を滑
走してきてストッパ３に衝突し停止する（第１図参照）
。
当該ｘｃｓは昇降屋根ガイド部１のガイド溝２９と一対
の可動レール部２との間で一対の可動′−ル部２上を滑
走してきてストッパ３に衝突し停止する（第１図参照）
。
次いで昇降屋根ガイド部１を昇降手段Ａにより上死点か
ら中段点まで下降させ停止させると、昇降ブロック３０
及びこれに設けた一対の可動レール部２もガイド溝２９
との間でＩＣ５を挟持じたまま（第３図（ａ）及び第４
図（ａ）参照）、連動手段Ｂにより連動して上死点より
中段点まで下降し停止する。
ら中段点まで下降させ停止させると、昇降ブロック３０
及びこれに設けた一対の可動レール部２もガイド溝２９
との間でＩＣ５を挟持じたまま（第３図（ａ）及び第４
図（ａ）参照）、連動手段Ｂにより連動して上死点より
中段点まで下降し停止する。
このとき、ＩＣ支持部６はＩＣ５の腹４に当接してＩＣ
５を支持し、昇降屋根ガイド部ｌのガイド溝２９との間
でＩＣ５を挟持する一方、一対の可動レール部２を開閉
手段Ｃによって開く （第３図（ａ）及び第４図（ｂ）
参照）。しかる後、昇降屋根ガイド部ｌを昇降手段Ａに
より中段点より下死点まで下降させ停止させると、ＩＣ
支持部６もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま
連動手段Ｅにより連動して下死点まで下降し停止する（
第３図（ｂｌ及び第４図（Ｃ１参照）。下死点で停止し
たところでＩＣ５のリード８はソケット７の測定用接点
９と係合する（第３図ｔｂ＞及び第４図（Ｃ）参照）。
５を支持し、昇降屋根ガイド部ｌのガイド溝２９との間
でＩＣ５を挟持する一方、一対の可動レール部２を開閉
手段Ｃによって開く （第３図（ａ）及び第４図（ｂ）
参照）。しかる後、昇降屋根ガイド部ｌを昇降手段Ａに
より中段点より下死点まで下降させ停止させると、ＩＣ
支持部６もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま
連動手段Ｅにより連動して下死点まで下降し停止する（
第３図（ｂｌ及び第４図（Ｃ１参照）。下死点で停止し
たところでＩＣ５のリード８はソケット７の測定用接点
９と係合する（第３図ｔｂ＞及び第４図（Ｃ）参照）。
次いでＩＣ５のリード８に測定用接点９を通して通電し
て電気的特性の測定を行う。
て電気的特性の測定を行う。
測定が完了したら、昇降屋根ガイド部１を昇降手段Ａに
より下死点より中段点まで上昇させ停止させると、ＩＣ
支持部６もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま
連動手段Ｅにより連動して中段点まで上昇し停止する。
より下死点より中段点まで上昇させ停止させると、ＩＣ
支持部６もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま
連動手段Ｅにより連動して中段点まで上昇し停止する。
次いで一対の可動レール部２を開閉手段Ｃによって閉じ
てＩＣ５を支える。この動作が完了したら昇降屋根ガイ
ド部１を昇降手段Ａにより中段点より上死点まで上昇さ
せ停止させると、昇降ブロック３０及び一対の可動レー
ル部２もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま中
段点より上死点まで上昇し停止する。しかる後、ストッ
パ３を上下動手段りにより上動すると、ストッパ３がガ
イド溝２９より引き込み、ＩＣ５をフリーにする。フリ
ーになったＩＣ５は自重で一対の可動レール部２より滑
落して排出されることになる。
てＩＣ５を支える。この動作が完了したら昇降屋根ガイ
ド部１を昇降手段Ａにより中段点より上死点まで上昇さ
せ停止させると、昇降ブロック３０及び一対の可動レー
ル部２もガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま中
段点より上死点まで上昇し停止する。しかる後、ストッ
パ３を上下動手段りにより上動すると、ストッパ３がガ
イド溝２９より引き込み、ＩＣ５をフリーにする。フリ
ーになったＩＣ５は自重で一対の可動レール部２より滑
落して排出されることになる。
第１図は本発明測定部の一実施例を示す正断面図、第２
図は第１図の本発明測定部の一実施例を適用したＩＣハ
ンドラの正面図である。
図は第１図の本発明測定部の一実施例を適用したＩＣハ
ンドラの正面図である。
まず、ＩＣハンドラについて説明する。
第２図において１１はローダで、第５図（′ｂ）示のＩ
Ｃ５を充填したマ、ガジン２１が積載されている。１２
はこのローダ１１よりマガジン２１を１本ずつ傾動アー
ム２２に供給するＩＣ供給装置で、傾動アーム２２を傾
動することによりマガジン２１内のＩＣ５を供給シュー
ト１４に滑落させるものである。１３は供給シュート１
４に滑落したＩＣ５を個別化する個別化装置で、個別化
されたＩＣ５は本発明に係る測定部１５に供給される。
Ｃ５を充填したマ、ガジン２１が積載されている。１２
はこのローダ１１よりマガジン２１を１本ずつ傾動アー
ム２２に供給するＩＣ供給装置で、傾動アーム２２を傾
動することによりマガジン２１内のＩＣ５を供給シュー
ト１４に滑落させるものである。１３は供給シュート１
４に滑落したＩＣ５を個別化する個別化装置で、個別化
されたＩＣ５は本発明に係る測定部１５に供給される。
１６はテストステーション、１７は操作部、２３はベー
スである。
スである。
測定部１５は供給された。ＩＣ５の電気的特性を測定す
る。測定後のＩＣ５は分類シュート１９に排出され、特
性別に分類されて所定のアンローダ１８に滑入し、空の
マガジン２１に収納される。なお、２０は架台である。
る。測定後のＩＣ５は分類シュート１９に排出され、特
性別に分類されて所定のアンローダ１８に滑入し、空の
マガジン２１に収納される。なお、２０は架台である。
次にこのようなＩＣハンドラにおいて供給シュート１４
と分類シュート１９との間に配設される本発明測定部１
５の一実施例の構成を第１図により詳述する。
と分類シュート１９との間に配設される本発明測定部１
５の一実施例の構成を第１図により詳述する。
第１図において１はＩＣ供給・排出位置である上死点、
途中の中段点、ＩＣ測定位置直上の下死点の３停止点間
を昇降する昇降屋根ガイド部で、下面にはＩＣ５の背部
の形状に合ったガイド溝２９を設けである。ベース２３
を貫通する一対の昇降軸２７の下端部は昇降屋根ガイド
部１に連結され、その上端部は昇降軸連結バー２８で連
結されている。
途中の中段点、ＩＣ測定位置直上の下死点の３停止点間
を昇降する昇降屋根ガイド部で、下面にはＩＣ５の背部
の形状に合ったガイド溝２９を設けである。ベース２３
を貫通する一対の昇降軸２７の下端部は昇降屋根ガイド
部１に連結され、その上端部は昇降軸連結バー２８で連
結されている。
この連結バー２８には昇降用副シリンダ２５が取着され
、この副シリンダ２５はベース２３に立設した昇降用主
シリンダ２４とカップリング２６で接続されている。こ
の主、副シリンダ２４ 、２５と一対の昇降軸２７と連
結バー２８等は屋根ガイド部１の昇降手段Ａを構成して
いる。
、この副シリンダ２５はベース２３に立設した昇降用主
シリンダ２４とカップリング２６で接続されている。こ
の主、副シリンダ２４ 、２５と一対の昇降軸２７と連
結バー２８等は屋根ガイド部１の昇降手段Ａを構成して
いる。
３０は上死点と中段点間を昇降屋根ガイド部１と連動し
て昇降する昇降ブロックで、ベース２３の下方に配設さ
れている。ベース２３を貫通する一対の昇降シャフト３
４の下端部はこの昇降ブロック３０に連結され、その上
端部はシャフト連結バー３５で連結されている。この連
結バー３５はこれに螺着された高さ調整ボルト３６で上
記昇降手段Ａの昇降軸連結バー２８に支えられている。
て昇降する昇降ブロックで、ベース２３の下方に配設さ
れている。ベース２３を貫通する一対の昇降シャフト３
４の下端部はこの昇降ブロック３０に連結され、その上
端部はシャフト連結バー３５で連結されている。この連
結バー３５はこれに螺着された高さ調整ボルト３６で上
記昇降手段Ａの昇降軸連結バー２８に支えられている。
また、ベース２３と昇降ブロック３０との間には一対の
昇降シャフト３４に嵌め込んだ圧縮ばね４１が介装され
、一対の昇降シャフト３４には移動量規制リング３７が
取付けられている。一対の昇降シ中フト３４と連結バー
３５と高さ調整ボルト３６と移動量規制リング３７と圧
縮ばね４１等は、昇降屋根ガイド部１と連動して昇降ブ
ロック３０を上死点と中段点間で昇降させるための連動
手段Ｂを構成している。移動量規制リング３７は、ベー
ス２３に当接して中段点で連動を中断する役目を果たす
ものである。
昇降シャフト３４に嵌め込んだ圧縮ばね４１が介装され
、一対の昇降シャフト３４には移動量規制リング３７が
取付けられている。一対の昇降シ中フト３４と連結バー
３５と高さ調整ボルト３６と移動量規制リング３７と圧
縮ばね４１等は、昇降屋根ガイド部１と連動して昇降ブ
ロック３０を上死点と中段点間で昇降させるための連動
手段Ｂを構成している。移動量規制リング３７は、ベー
ス２３に当接して中段点で連動を中断する役目を果たす
ものである。
２は中段点での下降停止時と上昇開始時にそれぞれ開閉
される一対の可動レール部で、昇降中及び上死点では閉
状態を保ってＩＣ５を支え、開状態ではＩＣ５の支えを
解放するものである。この一対の可動レール部２は、昇
降屋根ガイド部１の通孔３３に挿通した一対の揺動アー
ム３１の下端に設けられ、この一対の揺動アーム３１の
、基端は昇降ブロック３０に枢支されている。一対の揺
動アーム３１は昇降ブロック３０に取付けた開閉用シリ
ンダ３２とリンク機構４２で連結されており、これによ
って一対の可動レール部２は開閉できるようになってい
る。一対の揺動アーム３１と開閉用シリンダ３２とリン
ク機構４２等は一対の可動レール部２の開閉手段Ｃを構
成している。
される一対の可動レール部で、昇降中及び上死点では閉
状態を保ってＩＣ５を支え、開状態ではＩＣ５の支えを
解放するものである。この一対の可動レール部２は、昇
降屋根ガイド部１の通孔３３に挿通した一対の揺動アー
ム３１の下端に設けられ、この一対の揺動アーム３１の
、基端は昇降ブロック３０に枢支されている。一対の揺
動アーム３１は昇降ブロック３０に取付けた開閉用シリ
ンダ３２とリンク機構４２で連結されており、これによ
って一対の可動レール部２は開閉できるようになってい
る。一対の揺動アーム３１と開閉用シリンダ３２とリン
ク機構４２等は一対の可動レール部２の開閉手段Ｃを構
成している。
３は昇降屋根ガイド部１の通孔３８に上下動自在に設け
られたストッパで、上死点でのＩＣ供給以前に下動しガ
イド溝２９より突出してＩＣ５の停止位置を決定し、上
死点でのＩＣ排出時に上動しガイド溝２９より没入して
ＩＣ５をフリーにするためのものである。３９は屋根ガ
イド部１の上面に設けられたストッパ３の上下動手段、
例えばストッパ駆動シリンダである。
られたストッパで、上死点でのＩＣ供給以前に下動しガ
イド溝２９より突出してＩＣ５の停止位置を決定し、上
死点でのＩＣ排出時に上動しガイド溝２９より没入して
ＩＣ５をフリーにするためのものである。３９は屋根ガ
イド部１の上面に設けられたストッパ３の上下動手段、
例えばストッパ駆動シリンダである。
７はＩＣ測定位置に設けられたソケットで、下死点での
ＩＣ停止時にＩＣ５のリード８が湾曲部１０に係合して
ＩＣ５の電気的特性を測定し、下死点よりのＩＣ５の上
昇によりＩＣ５のリード８が湾曲部１０より離脱する測
定用接点９を備えている。
ＩＣ停止時にＩＣ５のリード８が湾曲部１０に係合して
ＩＣ５の電気的特性を測定し、下死点よりのＩＣ５の上
昇によりＩＣ５のリード８が湾曲部１０より離脱する測
定用接点９を備えている。
６は中段点と下死点間を昇降屋根ガイド部１と連動して
昇降しＩＣ５の腹４を支持する棒状のＩＣ支持部である
。このＩＣ支持部６はソケット７の中央の孔に上下動自
在に挿通して設けられており、ＩＣ支持部６とソーケラ
ト７との間には当該ＩＣ支持部６に嵌め込んだ支持部昇
降ばね４０が介装されている。この昇降ばね４０は昇降
屋根ガイド部ｌと連動してＩＣ支持部６を中段点と下死
点間で昇降させるための連動手段Ｅとなっている。
昇降しＩＣ５の腹４を支持する棒状のＩＣ支持部である
。このＩＣ支持部６はソケット７の中央の孔に上下動自
在に挿通して設けられており、ＩＣ支持部６とソーケラ
ト７との間には当該ＩＣ支持部６に嵌め込んだ支持部昇
降ばね４０が介装されている。この昇降ばね４０は昇降
屋根ガイド部ｌと連動してＩＣ支持部６を中段点と下死
点間で昇降させるための連動手段Ｅとなっている。
以下、本発明測定部の一実施例の作用を説明する。
ＩＣ５の電気的特性の測定に際し、昇降屋根ガイド部１
と一対の可動レール部２は上死点にあり、一対の可動レ
ール部２は閉じた状態にある。また、ストッパ３はガイ
ド溝２９より突出した状態にある。
と一対の可動レール部２は上死点にあり、一対の可動レ
ール部２は閉じた状態にある。また、ストッパ３はガイ
ド溝２９より突出した状態にある。
このような状態でＩＣ５が測定部１５に供給シュート１
４により供給されると、当該ＩＣ５は昇降屋根ガイド部
１のガイド溝２９と一対の可動レール部２との間で一対
の可動レール部２上を滑走してきてストッパ３に衝突し
停止する（第１図参照）。
４により供給されると、当該ＩＣ５は昇降屋根ガイド部
１のガイド溝２９と一対の可動レール部２との間で一対
の可動レール部２上を滑走してきてストッパ３に衝突し
停止する（第１図参照）。
次いで昇降用副シリンダ２５または昇降用上、シリンダ
２４が作動し、これによって連結バー２８及び一対の昇
降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１が、上死点から中段
点まで下降し停止する。これと同時に連結バー２８に高
さ調整ボルト３６で支えられた連結バー３５及び一対の
昇降シャフト３４を経て昇降ブロック３０とこれに一対
の揺動アーム３１を介して設けられた一対の可動レール
部２も、ガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま（
第３図（ａｌ及び第４図（ａ）参照）、上死点から中段
点まで下降し停止する。
２４が作動し、これによって連結バー２８及び一対の昇
降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１が、上死点から中段
点まで下降し停止する。これと同時に連結バー２８に高
さ調整ボルト３６で支えられた連結バー３５及び一対の
昇降シャフト３４を経て昇降ブロック３０とこれに一対
の揺動アーム３１を介して設けられた一対の可動レール
部２も、ガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持したまま（
第３図（ａｌ及び第４図（ａ）参照）、上死点から中段
点まで下降し停止する。
この場合、圧縮ばね４１は伸長して行き、そのばね力に
よって高さ調整ボルト３６は連結バー２８に当接した状
態を保ち、連動動作を達成する。
よって高さ調整ボルト３６は連結バー２８に当接した状
態を保ち、連動動作を達成する。
屋根ガイド部１と可動レール部２が中段点で停止したと
き、ＩＣ支持部６はＩＣ５の腹４に当接して昇降ばね４
０を撓ませた状態でＩＣ５を支持し、昇降屋根ガイド部
１のガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持する一方、開閉
用シリンダ３２が作動し、これによってリンク機構４２
を経て一対の揺動アーム３１を開き、一対の可動レール
部２を開く （第３図（ａｌ及び第４図ｆｂ）参照）。
き、ＩＣ支持部６はＩＣ５の腹４に当接して昇降ばね４
０を撓ませた状態でＩＣ５を支持し、昇降屋根ガイド部
１のガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持する一方、開閉
用シリンダ３２が作動し、これによってリンク機構４２
を経て一対の揺動アーム３１を開き、一対の可動レール
部２を開く （第３図（ａｌ及び第４図ｆｂ）参照）。
しかる後、昇降用主シリンダ２４または昇降用副シリン
ダ２５が作動し、これによって連結バー２８及び一対の
昇降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１が、中段点より下
死点まで下降し停止す北。これと同時にＩＣ支持部６も
ＩＣ５の腹４に当接しガイド溝２９との間でＩＣ５を挟
持したまま、昇降ばね４０のばね力に抗して中段点より
下死点まで下降し停止する（第３図（ｂ）及び第４図（
Ｃ）参照）。
ダ２５が作動し、これによって連結バー２８及び一対の
昇降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１が、中段点より下
死点まで下降し停止す北。これと同時にＩＣ支持部６も
ＩＣ５の腹４に当接しガイド溝２９との間でＩＣ５を挟
持したまま、昇降ばね４０のばね力に抗して中段点より
下死点まで下降し停止する（第３図（ｂ）及び第４図（
Ｃ）参照）。
この場合、中段点で移動量規制リング３７がベース２３
に当たっているため、連結バー２８に高さ調整ボルト３
６で支えられた連結バー３５．一対の昇降シャフト３４
．昇降ブロック３０．一対の揺動アーム３１及び一対の
可動レール部２等は、中段点と下死点間で昇降すること
はない。
に当たっているため、連結バー２８に高さ調整ボルト３
６で支えられた連結バー３５．一対の昇降シャフト３４
．昇降ブロック３０．一対の揺動アーム３１及び一対の
可動レール部２等は、中段点と下死点間で昇降すること
はない。
昇降屋根ガイド部１とＩＣ支持部６が下死点で停止した
ところで、ＩＣ５のリード８はソケット７の測定用接点
９の湾曲部１０と係合する（第３図（ｂｌ及び第４図（
Ｃ１参照）。次いでＩＣ５のリード８に測定用接点９を
通して通電して電気的特性の測定を行う。
ところで、ＩＣ５のリード８はソケット７の測定用接点
９の湾曲部１０と係合する（第３図（ｂｌ及び第４図（
Ｃ１参照）。次いでＩＣ５のリード８に測定用接点９を
通して通電して電気的特性の測定を行う。
測定が完了すると、昇降用主シリンダ２４または昇降用
副シリンダ２５が逆方向に作動し、これによって昇降屋
根ガイド部１を下死点より中段点まで上昇させ停止させ
ると、ＩＣ支持部６も昇降ばね４０のばね力によって下
死点より上昇してＩＣ５をソケ、ドアから離脱させた後
、ＩＣ支持部６をガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持し
たまま、中段点まで上昇し停止する（第３図（ａ）及び
第４図（ａ）参照）。
副シリンダ２５が逆方向に作動し、これによって昇降屋
根ガイド部１を下死点より中段点まで上昇させ停止させ
ると、ＩＣ支持部６も昇降ばね４０のばね力によって下
死点より上昇してＩＣ５をソケ、ドアから離脱させた後
、ＩＣ支持部６をガイド溝２９との間でＩＣ５を挟持し
たまま、中段点まで上昇し停止する（第３図（ａ）及び
第４図（ａ）参照）。
次いで開閉用シリンダ３２が逆方向に作動して一対の可
動レール部２をリンク機構４２を介して閉じ、ＩＣ５を
支える（第３図（ａ）及び第４図（ａ）参照）。
動レール部２をリンク機構４２を介して閉じ、ＩＣ５を
支える（第３図（ａ）及び第４図（ａ）参照）。
この動作が完了すると昇降用副シリンダ２５または昇降
用主シリンダ２４を逆方向に作動し、これによって昇降
屋根ガイド部１を中段点より上死点まで上昇させ停止さ
せると、昇降ブロック３０．一対の揺動アーム３１及び
一対の可動レール部２もガイド溝２９との間でＩＣ５を
挟持したまま、中段点より上死点まで上昇し停止する。
用主シリンダ２４を逆方向に作動し、これによって昇降
屋根ガイド部１を中段点より上死点まで上昇させ停止さ
せると、昇降ブロック３０．一対の揺動アーム３１及び
一対の可動レール部２もガイド溝２９との間でＩＣ５を
挟持したまま、中段点より上死点まで上昇し停止する。
その結果、供給シュート１４と分類シュート１９との間
に昇降屋根ガイド部１と一対の可動レール部２が位置せ
しめられ正確に接続される。この接続が完了す、ると、
ストッパ駆動シリンダ３９が作動してストッパ３を上動
させ、ガイド溝２９より引き込ませてＩＣ５をフーリー
にする。フリーになったＩＣ５は自重で一対の可動レー
ル部２より滑落して分類シュート１９に排出されること
になる。
に昇降屋根ガイド部１と一対の可動レール部２が位置せ
しめられ正確に接続される。この接続が完了す、ると、
ストッパ駆動シリンダ３９が作動してストッパ３を上動
させ、ガイド溝２９より引き込ませてＩＣ５をフーリー
にする。フリーになったＩＣ５は自重で一対の可動レー
ル部２より滑落して分類シュート１９に排出されること
になる。
なお、本発明における昇降手段Ａ、連動手段Ｂ。
開閉手段Ｃ１上下動手段り及び連動手段Ｅは実施例の構
造に限定されず、例えばＩＣ支持部６の連動手段Ｅは第
１９図の仮想線で示すようにばね駆動に代えてシリンダ
駆動としてもよい。
造に限定されず、例えばＩＣ支持部６の連動手段Ｅは第
１９図の仮想線で示すようにばね駆動に代えてシリンダ
駆動としてもよい。
上述のように本発明によれば、ＩＣ供給・排出位置であ
る上死点と途中の中段点との間では、昇降屋根ガイド部
１と一対の可動レール部２の間でＩＣ５を挟持して昇降
させ、途中の中段点とＩＣ測定位置直上の下死点との間
では、一対の可動レール部２を開状態に保持すると共に
昇降屋根ガイド部１と棒状のＩＣ支持部６の間でＩＣ５
を挟持して昇降させ、ｊＣ測定位置のソケット７の測定
用接点９にＩＣ５のリード８を係合しあるいはこれより
離脱できるようにしたので、たとえリード８がＩＣ５の
四辺に設けられていても一対の可動レール部２が邪魔に
なることはなく、ソケット７に１０５を自由に脱着でき
、ＩＣ５の電気的特性の測定を行うことができ、新しい
形状のＰＬＣＣ型ＩＣにも通用することができる。
る上死点と途中の中段点との間では、昇降屋根ガイド部
１と一対の可動レール部２の間でＩＣ５を挟持して昇降
させ、途中の中段点とＩＣ測定位置直上の下死点との間
では、一対の可動レール部２を開状態に保持すると共に
昇降屋根ガイド部１と棒状のＩＣ支持部６の間でＩＣ５
を挟持して昇降させ、ｊＣ測定位置のソケット７の測定
用接点９にＩＣ５のリード８を係合しあるいはこれより
離脱できるようにしたので、たとえリード８がＩＣ５の
四辺に設けられていても一対の可動レール部２が邪魔に
なることはなく、ソケット７に１０５を自由に脱着でき
、ＩＣ５の電気的特性の測定を行うことができ、新しい
形状のＰＬＣＣ型ＩＣにも通用することができる。
第１図は本発明測定部の一実施例を示す正断面図、第２
図は第１図の本発明測定部の一実施例を適用したＩＣハ
ンドラの正面図、第３図（ａｌ 、 （ｂ）はそれぞれ
本発明におけるソケットにＩＣを装着する前の状態及び
装着時の状態を示す断面図、第４図（ａｌ〜（Ｃ）はそ
れぞれ同じくソケットへのＩＣの装着を開始する前の状
態、装着直前の状態及び装着時の状態を示す斜視図、第
５図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ従来のＤＩＬＰ型Ｉ
Ｃの斜視図及び新しく登場したＰＬＣＣ型ＩＣを下方よ
り見た斜視図である。 １・・・・・・昇降屋根ガイド部、２・・・・・・可動
レール部、３・・・・・・ストッパ、４・・・・・・腹
、５・・・・・・ＩＣ，６・・・・・・ＩＣ支持部、７
・・・・・・ソケット、８・・・・・・リード、９・・
・・・・測定用接点、１０・・・・・・湾曲部、１５・
・・・・・測定部、２４・・・・・・昇降用主シリンダ
、２５・・・・・・昇降用副シリンダ、２６・・・・・
・カップリング、２７・・・・・・昇降軸、２８・・・
・・・昇降軸連結バー、２９・・・・・・ガイド溝、３
０・・・・・・昇降ブロック、３１・・・・・・揺動ア
ーム、３２・・・・・・開閉用シリンダ、３４・・・・
・・昇降シャフト、３５・・・・・・シャフト連結バー
、３６・・・・・・高さ調整ボルト、３７・・・・・・
移動量規制リング、３９・・・・・・ストッパ駆動シリ
ンダ、４０・・・・・・支持部昇降ばね、４１・・・・
・・圧縮ばね、４２・・・・・・リンク機構、Ａ・・・
・・・昇降屋根ガイド部１の昇降手段、Ｂ・・・・・・
昇降ブロック３０の連動手段、Ｃ・・・・・・可動レー
ル部２の開閉手段、Ｄ・・・・・・ストッパ３の上下動
手段、Ｅ・・・・・・ＩＣ支持部６の連動手段。 各１２ 淳３目 （ｆｆｌ） （ｂン 各９２ （ｈ） ′喜５ノ （劃 （ｂ）
図は第１図の本発明測定部の一実施例を適用したＩＣハ
ンドラの正面図、第３図（ａｌ 、 （ｂ）はそれぞれ
本発明におけるソケットにＩＣを装着する前の状態及び
装着時の状態を示す断面図、第４図（ａｌ〜（Ｃ）はそ
れぞれ同じくソケットへのＩＣの装着を開始する前の状
態、装着直前の状態及び装着時の状態を示す斜視図、第
５図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ従来のＤＩＬＰ型Ｉ
Ｃの斜視図及び新しく登場したＰＬＣＣ型ＩＣを下方よ
り見た斜視図である。 １・・・・・・昇降屋根ガイド部、２・・・・・・可動
レール部、３・・・・・・ストッパ、４・・・・・・腹
、５・・・・・・ＩＣ，６・・・・・・ＩＣ支持部、７
・・・・・・ソケット、８・・・・・・リード、９・・
・・・・測定用接点、１０・・・・・・湾曲部、１５・
・・・・・測定部、２４・・・・・・昇降用主シリンダ
、２５・・・・・・昇降用副シリンダ、２６・・・・・
・カップリング、２７・・・・・・昇降軸、２８・・・
・・・昇降軸連結バー、２９・・・・・・ガイド溝、３
０・・・・・・昇降ブロック、３１・・・・・・揺動ア
ーム、３２・・・・・・開閉用シリンダ、３４・・・・
・・昇降シャフト、３５・・・・・・シャフト連結バー
、３６・・・・・・高さ調整ボルト、３７・・・・・・
移動量規制リング、３９・・・・・・ストッパ駆動シリ
ンダ、４０・・・・・・支持部昇降ばね、４１・・・・
・・圧縮ばね、４２・・・・・・リンク機構、Ａ・・・
・・・昇降屋根ガイド部１の昇降手段、Ｂ・・・・・・
昇降ブロック３０の連動手段、Ｃ・・・・・・可動レー
ル部２の開閉手段、Ｄ・・・・・・ストッパ３の上下動
手段、Ｅ・・・・・・ＩＣ支持部６の連動手段。 各１２ 淳３目 （ｆｆｌ） （ｂン 各９２ （ｈ） ′喜５ノ （劃 （ｂ）
Claims (1)
- ＩＣ供給・排出位置である上死点、途中の中段点、Ｉ
Ｃ測定位置直上の下死点の３停止点間を昇降し、下面に
ＩＣ５のガイド溝２９を有する昇降屋根ガイド部１及び
当該昇降屋根ガイド部１の昇降手段Ａと、上死点と中段
点間をこの昇降屋根ガイド部１と連動して昇降する昇降
ブロック３０及び当該昇降ブロック３０の連動手段Ｂと
、この昇降ブロック３０に設けられて中段点での下降停
止時と上昇開始時にそれぞれ開、閉され、昇降中及び上
死点では閉状態を保ってＩＣ５を支え、開状態ではＩＣ
５の支えを解放する一対の可動レール部２及び当該可動
レール部２の開閉手段Ｃと、昇降屋根ガイド部１に上下
動自在に設けられ、上死点でのＩＣ供給以前に下動しガ
イド溝２９より突出してＩＣ５の停止位置を決定し、上
死点でのＩＣ排出時に上動しガイド溝２９より没入して
ＩＣ５をフリーにするストッパ３及び当該ストッパ３の
上下動手段Ｄと、中段点と下死点間を昇降屋根ガイド部
１と連動して昇降しＩＣ５の腹４を支持する棒状のＩＣ
支持部６及び当該ＩＣ支持部６の連動手段Ｅと、ＩＣ測
定位置に設けられ下死点でのＩＣ停止時にＩＣ５のリー
ド８が係合してＩＣ５の電気的特性を測定し、下死点よ
りのＩＣ上昇によりＩＣ５のリード８が離脱する測定用
接点９を備えたソケット７とよりなるＩＣハンドラの測
定部。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60142065A JPS622172A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Ｉｃハンドラの測定部 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60142065A JPS622172A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Ｉｃハンドラの測定部 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS622172A true JPS622172A (ja) | 1987-01-08 |
| JPH0569189B2 JPH0569189B2 (ja) | 1993-09-30 |
Family
ID=15306613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60142065A Granted JPS622172A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Ｉｃハンドラの測定部 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS622172A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0246157U (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-29 | ||
| JPH03104965U (ja) * | 1990-02-13 | 1991-10-30 | ||
| JPH03106744U (ja) * | 1990-02-19 | 1991-11-05 | ||
| WO1996025672A1 (fr) * | 1995-02-14 | 1996-08-22 | Advantest Corporation | Structure de contact d'un automate programmable pour installation d'essai de circuits integres |
-
1985
- 1985-06-28 JP JP60142065A patent/JPS622172A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0246157U (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-29 | ||
| JPH03104965U (ja) * | 1990-02-13 | 1991-10-30 | ||
| JPH03106744U (ja) * | 1990-02-19 | 1991-11-05 | ||
| WO1996025672A1 (fr) * | 1995-02-14 | 1996-08-22 | Advantest Corporation | Structure de contact d'un automate programmable pour installation d'essai de circuits integres |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0569189B2 (ja) | 1993-09-30 |
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