JPS62217165A - 検査用接触体 - Google Patents
検査用接触体Info
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- JPS62217165A JPS62217165A JP61059506A JP5950686A JPS62217165A JP S62217165 A JPS62217165 A JP S62217165A JP 61059506 A JP61059506 A JP 61059506A JP 5950686 A JP5950686 A JP 5950686A JP S62217165 A JPS62217165 A JP S62217165A
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- Japan
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- conductive
- bars
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- Pending
Links
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は面突装置Ｃの装着検査に好適な検査用接触体に
関する。
関する。
（従来の技術）
一般に回路基板に電子部品をはんだ付けした場合は、は
んだ付は部位をテスタなどを用いて検査することが行な
われている。しかし最近は取付ける部品の数も多く、ま
たＩＣなどのようにリード。
んだ付は部位をテスタなどを用いて検査することが行な
われている。しかし最近は取付ける部品の数も多く、ま
たＩＣなどのようにリード。
パターンなどが微細になり従来のテスターの２本の接触
体で検査部位の導通を調べることは多大の労力を要する
ので、目視による外観検査で装着の確認を行ない１機能
検査で最終検査とすることが広く行なわれているのが現
状である。
体で検査部位の導通を調べることは多大の労力を要する
ので、目視による外観検査で装着の確認を行ない１機能
検査で最終検査とすることが広く行なわれているのが現
状である。
しかし０例えば、−° 本体Ｎ、から突出した複数
個のリード＃；＝を内側に曲げたようなＩＣは外観だけ
では検査はできない。さらに接触体が太いと接触させて
検査するのは非常に作業性が悪い不都合がある。
個のリード＃；＝を内側に曲げたようなＩＣは外観だけ
では検査はできない。さらに接触体が太いと接触させて
検査するのは非常に作業性が悪い不都合がある。
（発明が解決しようとする問題点）
上記したように検査部位が細かになり、従来の接触体２
個を接触させて検査することは作業性が悪く、また目視
による外観検査では確認できないものがあるなどの不都
合がある。本発明はこれらの不都合を解決するためにな
されたもので、小形な部品の電気的な検査に適し、しか
も検査の自勧化にも適した作業性を向上した検査用接触
体を提供することを目的とする。
個を接触させて検査することは作業性が悪く、また目視
による外観検査では確認できないものがあるなどの不都
合がある。本発明はこれらの不都合を解決するためにな
されたもので、小形な部品の電気的な検査に適し、しか
も検査の自勧化にも適した作業性を向上した検査用接触
体を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段と作用）本発明は薄板状
の絶縁条体の両面に薄板状の導電条体を固着して構成し
た可撓性を有する検査用接触体で、従来の２本の接触体
を１本にまとめ２個所に同時に接触するようにした検査
接触体である。
の絶縁条体の両面に薄板状の導電条体を固着して構成し
た可撓性を有する検査用接触体で、従来の２本の接触体
を１本にまとめ２個所に同時に接触するようにした検査
接触体である。
（実施例）
以下本発明の詳細を図示の各実施例により説明する。第
１図〜第６図は第１の実施例を示すもので、（１）は細
長い薄板状の塩化ビニルからなる絶縁条片で、これの表
面（２）および裏面（３）には薄板状の細長い銅からな
る導電条片（４） 、 （５）が互に絶縁された状態で
接着されていて、矢印（６）で示す重ねた方向には容易
に湾曲自在な検査用接触体（力が構成される。そして例
えばテスタ（８）に導電条片（４）、＋５）を接続して
１４Ｌ′Ａ的導通を検査する検査装置（９）が構成され
る。
１図〜第６図は第１の実施例を示すもので、（１）は細
長い薄板状の塩化ビニルからなる絶縁条片で、これの表
面（２）および裏面（３）には薄板状の細長い銅からな
る導電条片（４） 、 （５）が互に絶縁された状態で
接着されていて、矢印（６）で示す重ねた方向には容易
に湾曲自在な検査用接触体（力が構成される。そして例
えばテスタ（８）に導電条片（４）、＋５）を接続して
１４Ｌ′Ａ的導通を検査する検査装置（９）が構成され
る。
次に使用状態につき説明すると、第３図は回路基板ａυ
にはんだ付けされたＩＣ（ｌりの接合状態を検査する場
合で、リードＱ３の下端部とパターンＩとの間に接触体
（７）の先端を当てる。可撓性を有するので、当てる角
度を調節すること番こより第４図に拡大して示すように
導電条片（４）がリード（１３＃こ導電条片（５）がパ
ターンａａにそれぞれ接触し、はんだ付けの良否が判定
される。
にはんだ付けされたＩＣ（ｌりの接合状態を検査する場
合で、リードＱ３の下端部とパターンＩとの間に接触体
（７）の先端を当てる。可撓性を有するので、当てる角
度を調節すること番こより第４図に拡大して示すように
導電条片（４）がリード（１３＃こ導電条片（５）がパ
ターンａａにそれぞれ接触し、はんだ付けの良否が判定
される。
第５囚は上述の実施例を用いて自動検査をする場合で、
上方から接触体（７）を下降させ、リードｆ１３に接触
させながら下降させると、接触体（７）の先端はパター
ン（ｔυに当接して屈曲し、リードαＪとパターンαυ
に接触するようｉこなる。
上方から接触体（７）を下降させ、リードｆ１３に接触
させながら下降させると、接触体（７）の先端はパター
ン（ｔυに当接して屈曲し、リードαＪとパターンαυ
に接触するようｉこなる。
第６図はＩＣではなく一般の電気部品で、この場合も第
３図の場合と同様に検査できる。
３図の場合と同様に検査できる。
次に第７図、第８図は第２の実施例を示すもので、矢印
（ｔ！９方向に可撓性のある薄板状の塩化ビニルからな
る絶縁条片αＱの表面αη、裏面αＱに導電条片（」１
．・・・、（至）、・・−を埋め込んで形成したもので
、導電条片α■、・・・、（２）、・・・は表面αηと
裏面ａ１題こあるものがそれぞれ対をなすように配設さ
れていて、導電条片（１１，・・・、翰、・・・のピッ
チ（Ｐ）は検査すべきＩＣ０１１のリードＱ４のピッチ
（Ｐ）に等しくなっている。
（ｔ！９方向に可撓性のある薄板状の塩化ビニルからな
る絶縁条片αＱの表面αη、裏面αＱに導電条片（」１
．・・・、（至）、・・−を埋め込んで形成したもので
、導電条片α■、・・・、（２）、・・・は表面αηと
裏面ａ１題こあるものがそれぞれ対をなすように配設さ
れていて、導電条片（１１，・・・、翰、・・・のピッ
チ（Ｐ）は検査すべきＩＣ０１１のリードＱ４のピッチ
（Ｐ）に等しくなっている。
すなわち例えば対をなす導電条片（１９ａ）、 （２０
ａ）で１個の接触体（７ａ）が構成され、複数個の接触
体（７）。
ａ）で１個の接触体（７ａ）が構成され、複数個の接触
体（７）。
・・・を一体に並設したものである。そして先端には絶
縁条片（１（９の先端を切欠して案内部＠が形成されて
いる。これの使用状態も前述のものと同様である。
縁条片（１（９の先端を切欠して案内部＠が形成されて
いる。これの使用状態も前述のものと同様である。
以上詳述したように１本発明の検査用接触体は、可撓性
をもった２個の導電条片に可撓性をもった絶縁条片を介
装して構成したので全体が重ね方向に屈曲自在で、しか
も全体が、従来のものよりはるかに薄いので狭い所でも
先端部を＠接するだけで、細い部分の導通を検査でき、
当接方向も自由に変えられるので、様々な形状のものに
も適用ができる。また片手だけで操作できるので作業性
も極めて高いなどの効果を奏するものである。
をもった２個の導電条片に可撓性をもった絶縁条片を介
装して構成したので全体が重ね方向に屈曲自在で、しか
も全体が、従来のものよりはるかに薄いので狭い所でも
先端部を＠接するだけで、細い部分の導通を検査でき、
当接方向も自由に変えられるので、様々な形状のものに
も適用ができる。また片手だけで操作できるので作業性
も極めて高いなどの効果を奏するものである。
なお本実施例は主としてＩＣの検査の場合につき説明し
たが、これに限定されず、他の電気部品でもよいことは
云うまでもないことである。
たが、これに限定されず、他の電気部品でもよいことは
云うまでもないことである。
第１図は本発明の第１の実施例の斜視囚、第２図は第１
図の■−■線に沿った断面図、第３図は第１の実施例の
使用状態説明図、第４図は同じく第３図のＡ部拡大図、
ｐ４Ｓ図は同じく自動化した場合の説明図、第６図は同
じく他の部品の場合の使用状態説明ス、第７図は第２の
実施例の平面図、ｗＸｓ図は第７図の■−■線に沿った
断面図である。 （１）、叫・・・絶縁条片、 （４）、（５）、（Ｉｎ、（至）・・・導電条片。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 紀姑奈朽 第２図 第１図 第３図 第４図 第６図 ２！ 第７図 第８９図
図の■−■線に沿った断面図、第３図は第１の実施例の
使用状態説明図、第４図は同じく第３図のＡ部拡大図、
ｐ４Ｓ図は同じく自動化した場合の説明図、第６図は同
じく他の部品の場合の使用状態説明ス、第７図は第２の
実施例の平面図、ｗＸｓ図は第７図の■−■線に沿った
断面図である。 （１）、叫・・・絶縁条片、 （４）、（５）、（Ｉｎ、（至）・・・導電条片。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 紀姑奈朽 第２図 第１図 第３図 第４図 第６図 ２！ 第７図 第８９図
Claims (2)
- （１）薄板状の電気絶縁部材からなる絶縁条片と、これ
の表裏両面に沿って互に上記絶縁条片により電気的に絶
縁されて固定された導電部材からなる導電条片とを有し
かつ重ね方向に対し可撓性を有する検査用接触体。 - （２）絶縁条片の表裏両面に互に離間した複数個の導電
条片を表裏対応した位置にそれぞれ固定したことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の検査用接触体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61059506A JPS62217165A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 検査用接触体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61059506A JPS62217165A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 検査用接触体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62217165A true JPS62217165A (ja) | 1987-09-24 |
Family
ID=13115214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61059506A Pending JPS62217165A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 検査用接触体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62217165A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63175771A (ja) * | 1987-01-14 | 1988-07-20 | Rohm Co Ltd | 電子部品用探触子構造 |
| JPH0187256U (ja) * | 1987-12-01 | 1989-06-08 | ||
| GB2581129A (en) * | 2019-01-21 | 2020-08-12 | Megger Instruments Ltd | Test apparatus |
-
1986
- 1986-03-19 JP JP61059506A patent/JPS62217165A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63175771A (ja) * | 1987-01-14 | 1988-07-20 | Rohm Co Ltd | 電子部品用探触子構造 |
| JPH0187256U (ja) * | 1987-12-01 | 1989-06-08 | ||
| GB2581129A (en) * | 2019-01-21 | 2020-08-12 | Megger Instruments Ltd | Test apparatus |
| GB2581129B (en) * | 2019-01-21 | 2021-08-04 | Megger Instruments Ltd | Conductive probe |
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