JPS62216795A - 光学記録体 - Google Patents

光学記録体

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JPS62216795A
JPS62216795A JP61061869A JP6186986A JPS62216795A JP S62216795 A JPS62216795 A JP S62216795A JP 61061869 A JP61061869 A JP 61061869A JP 6186986 A JP6186986 A JP 6186986A JP S62216795 A JPS62216795 A JP S62216795A
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JP
Japan
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optical recording
substrate
semiconductor laser
recording layer
recording medium
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Pending
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JP61061869A
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Shuichi Maeda
修一 前田
Yutaka Kurose
裕 黒瀬
Tetsuo Ozawa
鉄男 尾澤
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Mitsubishi Kasei Corp
Original Assignee
Mitsubishi Kasei Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、レーザー光等を用いる高密度の情報記録保存
及び同記録再生を可能にするだめの光学記録体に関する
ものである。
レーザーを用いた光学記録は、高密度の情報記録保存及
び再生を可能とするため、近年、特に、開発が望−まれ
ている。
(従来の技術) レーザー光等を用いる光学記録体の一例としては、光デ
ィスクを挙げることができる。一般に光ディスクは、円
形の基体に設けられた薄い記録層に、1μm8度に集束
したレーザー光を照射し、高密度の情報記録を行うもの
でちる。すなわち記録は、照射されたレーザーエネルギ
ーの吸収によりその開所に生じた記録層の分解、蒸発、
溶解等の熱的変形により生成し、そして記録された情報
の再生は、レーザー光により変形が起きている部分と起
きていない部分の反射率の差を読み取ることにより行わ
れる。
したがって、記録体としては、レーザー光のエネルギー
を効率良く吸収する必要があるため、記録に使用する特
定波長のレーザー光に対する吸収が大きいこと、及び情
報の再生を正確に行うため、再生に吏用する特定波長の
レーザー光に対する反射率が高いことが必要である。
このような光学記録体としては、これ壕で、各種の金属
、金属化合物やカルコゲナイド等の無機化合物が提案さ
れているが、これらの薄膜は、空気酸化を受けやすく、
長期間の保存が困難であったり、紫外部や可視部の光に
対して感応性であり、日光、その他の光に弱い等の欠点
があった。
(発明が解決しようとする問題点) 一方、有機の色素化合物を用いた光学記録体としては、
例えば特開昭59−24692号公報、特開昭59−6
7092号公報、特開昭59−71895号公報、特開
昭58−83344号公報、特開昭58−224793
号公報等には、例えばシアニン系色素、スクワリリウム
系色素、ナフトキノン系色素等が提案されている。しか
しながら、これら従来の有機色素化合物には、一般に安
定性が悪く、長期間にわたる保存が難しく、さらには反
射率が低いため記録された情報を読みだしにくいなどの
問題点があった。
また、フタロンアニン系化合物は、一般に耐候性が優れ
ているため、光学記録体用としても種々の提案(例え(
ず特開昭55−97033号公報等)がなされてきた。
しかしながら、従来光学記録体用として提案されてきた
Snフタロシアニン、VOフタロシアニン、Pbフタロ
シアニン、AlClフタロシアニン等には、蒸着性が悪
いため均一な膜面を得にくい、結晶変態により吸収ピー
クが容易に変化する、800nm前後の吸収強度が小さ
い等の問題点があり、未だ満足すべき光学記録体は得ら
れていないのが現状である。
本発明は、上記のような従来の問題点を解決しうる有機
色素化合物を用いた、レーザー光、とりわけ半導体レー
ザー光による書き込み感度が高く、反射率が高く、かつ
保存安定性の良好な光学記録体の提供を目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、基板上にハロゲン化スズフタロシアニンを真
空蒸着して得られる記録層を設けたことを特徴とする光
学記録体を要旨とするものである。かかる本発明の光学
記録体としては、ハロゲン化スズフタロシア二/が一般
E (1)(式中、AはSnBr2又はSnI2を表わ
す。)で示される化合物であるものかがましく、更には
ハロゲン化スズフタロシアニンが前足−1(1)におけ
るAがSnI2を表わす場合の化合物でちるものが特に
好ましい。
本発明で用いられる上記のハロゲン化スズフタロシア二
/は、フタロニトリルドア・ロゲン化第−スズとを、2
−クロロナフタレン中で250°Cに加熱する公知の方
法により容易に合成することができる。
本発明の光学記録体における基板の材料としては、ガラ
ス、プラスチックス等が挙げられるが、なかでもプラス
チックスは、安全性、@置注等の点で好適である。プラ
スチ、クスとしては、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、
ポリカーボネート樹脂、塩化ビニル樹脂、酢酸ビニル嶺
脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリアミド
樹脂、ポリスチレン樹脂、エポキン樹脂等が挙げられる
かかる基板上に設ける記録層の成膜方法としては、基板
上にハロゲン化スズフタロシアニンを真空蒸着する方法
を採り、この場合の真空蒸着法としては、例えば1. 
X 10 = Torr以上、好ましくは2X10−’
 Torr以上の高真空下、抵抗加熱又はその他の方法
で前足一般式〔I〕で示される[化合物を約300°C
に加熱し、基板上に真空蒸着膜を得る方法が挙げられる
。膜厚は、200〜5.000穴、特に好ましくは50
0〜λooozである。
本発明の光学記録体の記録層は、基板の両面に設けても
よいし、片1■だけに設けてもよい。
上記のようにして得られた記録体への記録は、基体の両
面又は片面に設けた記録層に1μm程度′に集束したレ
ーザー光、好ましくは半導体レーザー光をあてることに
より行う。すなわち、レーザー光の照射された部分には
、レーザーエネルギーの吸収による記録層の分解、蒸発
、溶融等の熱的変形を起こすことによって記録が行われ
る。
記録された情報の再生は、レーザー光(でより、記録層
における上記の熱的変形が起きている部分と起きていな
い部分の反射率の差を読み取ることにより行う。
光源としては、He −Neレーザー、Arレーザー、
半導体レーザー等の各種のレーザーを用いることができ
るが、価格と大きさの点で半導体レーザーが特に好まし
い。半導体レーザーとしては、中心波長830 nm 
、  中心波長780 nm。
そしてそれより短波長のレーザーを使用することができ
る。
(実施例) 次に、本発明を実施例により更に具体的に説明するが、
本発明は、その要旨を超えない限り、以下の実施例によ
り制限されるものではない。
なお、「チ」は特に断らない限り「重量係」である。
実施P7リ 1 (5)光吸収物質の合成 本発明で用いる特に好ましい光吸収物質として下記構造
式(ID で示されるヨウ化スズフタロシアニ/色素の合成を次に
ようにして行った。
フタロニトリル6.405’(0,05モル)、ヨウ化
第−スズ6.99f(0,018モル)をα−クロロナ
フタンン40m1中に分散させ、加熱還流下2時間かく
拌した。得られた反応液を室温まで冷却した後、メタノ
ール100mQを加え還流下30分間かく拌した。反応
液を熱濾過し、得られた結晶を50%エチルアルコール
水容液200mg中に分散させ、還流下1時間かく拌後
、熱濾過した。得られた結晶をテトラヒドロフラン20
0m1 中に分散させ、還流下1時間かく拌後、熱・ 
濾過した。得られた結晶について、テトラヒドロフラン
による同様の処理をさらに2回くり返し、前爪構造式(
II)で示される化合物(α−クロロナフタレン溶媒中
での極大吸収波長は708旧n)5.811  を得た
。得られた結晶のケイ光X線によるスズ、ヨウ素の含有
量の分析値及び理論値を下記第1表に示す。
第  1  茂 (I3)  光学記録体 上記(5)で得られた前爪構造式〔■〕で示される光吸
収物?I X 10−5Torrの真空下、約300℃
に加熱し、板厚1.21のメタクリル樹脂基板上に真空
蒸着した。水晶振動式膜厚計により測定した膜厚は15
00λであり、又膜面は顕微鏡で観察したところ均質で
あった。この蒸着膜の極大吸収波長は760 nmであ
り、又この樹脂基板の蒸着を施していない面から光を入
射させることにより測定した800nmでの蒸着膜の反
射率は55係であった。
上記の蒸着膜に、中心波長780nmの半導体レーザー
光を出力4mW、ビーム径約1μmで照射したところ、
巾約1μm1ビット長さ約2μmの輪郭の極めて明瞭な
孔(ピット)が形成され、その時のキャリアレベル/ノ
イズレベル比(C/N比)は51dBであった。又、保
存安定性は、温度60℃、相対湿度80係の恒湿槽中で
10日間保存した後の半導体レーザー光による書き込み
性能のキャリアレベル/ノイズレベル比(C/N比)に
よると51dBであった。
実施例2 囚 光吸収物質の合成 本発明で用いる好ましい光吸収物質として下記構造式C
I) で示される臭化スズフタロンアニン色素の合成を、実施
レリlのGA)に準じて行った。得られた前爪構造式(
1)で示される光吸収物質(α−クロロナフタレン溶媒
中での極大吸収波長は708nm)のケイ光X線による
スズ、臭素の含有量の分析値及び理論値を下記第2表に
示す。
第  2  表 但)光学記録体 上記穴で得られた前爪構造式(III)で示される光吸
収物質を、実施例1とほぼ同様の条件で、メタクリル樹
脂基板上に真空蒸着した。得られた膜厚は水晶振動膜厚
計611定によシ1stoXであり、膜面は顕微鏡観察
により均質であった。
この蒸着膜の極大吸収波長は760nmであり、又実施
例1と同様にして測定したこの蒸着膜の800nmでの
反射率はso%であった。
上記の蒸着膜に、中心波長780 nmの半導体レーザ
ー光を実施例1の(B)におけると同様にして照射した
ところ、明瞭な孔(ピット)が形成され、その時のC/
N比は48dBであった。又、保存安定性は、実施例1
の(13)におけると同様にして保存後の半導体レーザ
ー光による書き込み性能のC/N比によると47dBで
あった。
比紋例1 (5)光吸収物質の合成 下記構造式〇) で示されるスズフタロシアニン色素の合成を次のように
して行った。
フタロニトリル10fとスズ粉末47の混合物を加熱し
、300℃で3時間かく拌した。得られた反応液を室温
まで冷却した後、過剰のスズ粉末を取り除いた。得られ
た結晶をアルコール200mB中に分散させ、還流下1
時間かく拌後熱濾過しだ。得られた結晶をテトラヒドロ
フラン200m((中に分散させ、還流下1時間かくシ
゛1゛後、熱濾過した。得られた結晶について、テトラ
ヒドロフランによる同様の処理をさらに2回くシ返し、
前爪構造式(V)で示される化合物(α−クロロナフタ
レン溶媒中での極大吸収波長は708nm)3.5 ?
を得た。得られた結晶のケイ光X線によるスズの含有量
の分析値及び理論(直を下記第3表に示す。
第  3  表 の)光学記録体 上記(5)で得られた前爪溝造式〔■〕で示される光吸
収物質を、I X 10 ’−5Torr  の真空下
、約450°Cに加熱し、板厚1. ’l rR+1の
メタクリル樹脂基板上に真空蒸着した。加熱の温度は、
300°C前後では全く蒸着膜が得られず、実施例1及
び2に比べ高温が必要であった。水晶脹動式膜厚計によ
り測定した膜厚は、1580人でちった。
又、得られた膜面を顕微鏡で観察しだところ膜面ば不均
一であり、微結晶が点在していた。この蒸着膜の極太吸
収波長は7201mであり、実施例1及び2の場合に比
べて短波長であった。
この蒸着膜に、中心波長780nmの半導体レーザー光
を実施例1と同様の方法で照射したが、ピット(孔)の
生成は認められなかった。
(発明の効果) 以上の結果から明らかなように、本発明の光学記9.体
は、・・ロゲン化スズフタロシアニン、好ましくは臭化
スズフタロ7アニン、特に好ましくはヨウ化スズフタロ
ンアニンを基板上に真空蒸着して均質な記録層を設けえ
たことによって、半導体ンーザー光による書き込み感度
が高く、反射率が高く、かつ保存安定性も良好である、
という工業的価値ある顕著な効果を奏するものである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上にハロゲン化スズフタロシアニンを真空蒸
    着して得られる記録層を設けたことを特徴とする光学記
    録体。
  2. (2)ハロゲン化スズフタロシアニンが、一般式〔 I
    〕 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・・・・・・・
    〔 I 〕 (式中、AはSnBr_2又はSnI_2を表わす。)
    で示される化合物である特許請求の範囲第1項記載の光
    学記録体。
JP61061869A 1986-03-19 1986-03-19 光学記録体 Pending JPS62216795A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02208838A (ja) * 1989-02-08 1990-08-20 Toshiba Corp 光記録媒体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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