JPS62211578A - 放射線線量測定装置 - Google Patents
放射線線量測定装置Info
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- JPS62211578A JPS62211578A JP5405986A JP5405986A JPS62211578A JP S62211578 A JPS62211578 A JP S62211578A JP 5405986 A JP5405986 A JP 5405986A JP 5405986 A JP5405986 A JP 5405986A JP S62211578 A JPS62211578 A JP S62211578A
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、小型で身体に装着して使用するポケット線量
計や可搬型のサーベイメータ等の放射線線量測定装置に
関する。
計や可搬型のサーベイメータ等の放射線線量測定装置に
関する。
従来の技術
ポケット線量計やポケット警報計などの被ばく線量測定
器においては、従来はＧＭ管や電離箱式のセンサが使用
されており、被ばくした放射線の種類やエネルギの測定
は不可能であった。
器においては、従来はＧＭ管や電離箱式のセンサが使用
されており、被ばくした放射線の種類やエネルギの測定
は不可能であった。
発明が解決しようとする問題点
個人線量計やサーベイメータなどの測定は被ばく線量値
の測定のみがなされてきたが、被ばく環境管理の高度化
にともない、被ばくにおける放射線の種類やエネルギの
測定に対する要求が強くなっている。本発明は、個人線
量計用の小型のセンサにおいて、被ばく放射線の平均エ
ネルギを測定するとともに、その測定値を使って、従来
困難であった被ばく放射線のエネルギ情報の報知や種々
の制御を行なう装置を提供するものである。
の測定のみがなされてきたが、被ばく環境管理の高度化
にともない、被ばくにおける放射線の種類やエネルギの
測定に対する要求が強くなっている。本発明は、個人線
量計用の小型のセンサにおいて、被ばく放射線の平均エ
ネルギを測定するとともに、その測定値を使って、従来
困難であった被ばく放射線のエネルギ情報の報知や種々
の制御を行なう装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段
入射放射線のエネルギに対応したパルス波高分布を出力
するセンナを使用し、これに各々接続された複数個のパ
ルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁別器よりの出
力パルス数の比を計算する手段を設け、その計算値より
検出する放射線の平均エネルギを求める。
するセンナを使用し、これに各々接続された複数個のパ
ルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁別器よりの出
力パルス数の比を計算する手段を設け、その計算値より
検出する放射線の平均エネルギを求める。
作 用
線量測定においては、散乱線を含めた二次電子平衡状態
での測定が行なわれるため、特に高エネルギの放射線の
小型セ／すでの検出放射線のパルス波高出力は、センサ
内部で発生した二次電子による出力と同時に多くの数の
セ／す外部に発生した二次電子の信号も含まれている。
での測定が行なわれるため、特に高エネルギの放射線の
小型セ／すでの検出放射線のパルス波高出力は、センサ
内部で発生した二次電子による出力と同時に多くの数の
セ／す外部に発生した二次電子の信号も含まれている。
そして、その信号のエネルギ分布は、入射放射線に対応
してセンサの材質と形状さらに周囲の材質により決まる
。
してセンサの材質と形状さらに周囲の材質により決まる
。
そして、その波高分布は、照射した放射線エネルギを最
大エネルギとし、コンプトン散乱による信号が低エネル
ギに行くにしたがって増加する分布となる。このため、
例えば高レベルと低レベルの２段のディスクリミネータ
でパルス波高弁別を行なった場合、照射された放射線エ
ネルギに対応した応答を各々のレベルで行なう。本発明
ではこの作用を使い、高レベルと低レベルの出力の比よ
り逆に、照射された放射線のエネルギ値が得られる。
大エネルギとし、コンプトン散乱による信号が低エネル
ギに行くにしたがって増加する分布となる。このため、
例えば高レベルと低レベルの２段のディスクリミネータ
でパルス波高弁別を行なった場合、照射された放射線エ
ネルギに対応した応答を各々のレベルで行なう。本発明
ではこの作用を使い、高レベルと低レベルの出力の比よ
り逆に、照射された放射線のエネルギ値が得られる。
実施例
本発明は、比例計数管、シンチレータと光検出器の組合
せによるパルス検出器そしてパルス検出法による半導体
センサを使った線量測定器、線量率測定器に適用出来る
。近年、パルス検出法による半導１体センサが、個人線
量計用に開発され、低線量率から太線量率まで優れた直
線性を有している。Ｓ ｉ 、ＧａＡｓ 、ＣｄＴｅな
どが、冷却の必要のないセンサとして、実用化され、本
発明の適用が可能である。
せによるパルス検出器そしてパルス検出法による半導体
センサを使った線量測定器、線量率測定器に適用出来る
。近年、パルス検出法による半導１体センサが、個人線
量計用に開発され、低線量率から太線量率まで優れた直
線性を有している。Ｓ ｉ 、ＧａＡｓ 、ＣｄＴｅな
どが、冷却の必要のないセンサとして、実用化され、本
発明の適用が可能である。
第１図に、本発明の実施の一例を示す。センサ１よりの
パルス出力はアンプ２により増幅され、複数のディスク
リミネータ３でパルス波高弁別される。本実施例におい
ては、ディスクリミネータ３は２個としているが、より
多くすることにより、複雑になるがより詳しい測定が可
能となる。波高弁別された出力は、線量表示のため次段
に送られるとともにわり算器６にて、高レベルの出力ｎ
、１と低レベルの出力ｎ２との比を計算し、出力する。
パルス出力はアンプ２により増幅され、複数のディスク
リミネータ３でパルス波高弁別される。本実施例におい
ては、ディスクリミネータ３は２個としているが、より
多くすることにより、複雑になるがより詳しい測定が可
能となる。波高弁別された出力は、線量表示のため次段
に送られるとともにわり算器６にて、高レベルの出力ｎ
、１と低レベルの出力ｎ２との比を計算し、出力する。
これらの回路構成は、アナログ回路でデジタル回路でも
、マイクロコンピュータでも、実施出来る。
、マイクロコンピュータでも、実施出来る。
計算のタイミングは、一定時間、一定線量毎種々適用で
きる。第４図はＣｄＴｅ半導体センサを１×１ｘ０．３
ｗ＋の形状にし、周囲にｐｂシールド０．８ｔを付加し
た状態で使用し、その出力を約１０ＫｅＶと約１５０Ｋ
ｅＶのディスクリ電圧で分離した場合の、低ディスクリ
特性と高ディスクリ特性を示す。このように、１６０Ｋ
ｅＶ 〜１０ＭｅＶまで測定可能な応答を示すことがわ
かる。脅≠〒−高デイスクリレベルをもっと低エネルギ
にすることにより、１００ＫｅＶ以下のエネルギについ
ても測定可能となる。
きる。第４図はＣｄＴｅ半導体センサを１×１ｘ０．３
ｗ＋の形状にし、周囲にｐｂシールド０．８ｔを付加し
た状態で使用し、その出力を約１０ＫｅＶと約１５０Ｋ
ｅＶのディスクリ電圧で分離した場合の、低ディスクリ
特性と高ディスクリ特性を示す。このように、１６０Ｋ
ｅＶ 〜１０ＭｅＶまで測定可能な応答を示すことがわ
かる。脅≠〒−高デイスクリレベルをもっと低エネルギ
にすることにより、１００ＫｅＶ以下のエネルギについ
ても測定可能となる。
第２図、第３図に第１図で例示したわシ算器６よりの出
力の使用の実施例を示す。
力の使用の実施例を示す。
第２図は、第１図のわシ算器６の出力に比較器ｅを付加
したものである。この実施例では、ある特定なエネルギ
ー領域の出力信号に対する情報を区分することが可能で
ある。例えば、高エネルギ放射線の多い場所に行った場
合は、線量値が同じでも、ｎ１／ｎ２の値は増加する。
したものである。この実施例では、ある特定なエネルギ
ー領域の出力信号に対する情報を区分することが可能で
ある。例えば、高エネルギ放射線の多い場所に行った場
合は、線量値が同じでも、ｎ１／ｎ２の値は増加する。
このため、そのような場合への立入りを禁止したい場合
には、あらかじめ比較器ｅの値を設定しておくことによ
り可能となる。また、低エネルギ放射線においても同様
に可能である。また、エネルギ分布変化を既定値よりの
ズレから判別することが出来るため一定作業中で異常事
態の検知等も可能となる。
には、あらかじめ比較器ｅの値を設定しておくことによ
り可能となる。また、低エネルギ放射線においても同様
に可能である。また、エネルギ分布変化を既定値よりの
ズレから判別することが出来るため一定作業中で異常事
態の検知等も可能となる。
第３図は、第１図のわ９算６の出力に対応した定数ｋを
出力する回路７を付加したものである。
出力する回路７を付加したものである。
回路７よりの出力には線量測定値にかけ算又はわり算処
理される。本実施例においては、線量計のエネルギ応答
特性を自由に調整出来るため、レントゲン表示、レム表
示等も自由に行なえるように出来る。
理される。本実施例においては、線量計のエネルギ応答
特性を自由に調整出来るため、レントゲン表示、レム表
示等も自由に行なえるように出来る。
ｔ’ｃ、本発明はシリコンのように低原子番号のセンサ
材料への適用が考えられるがセンサ材料や形状による応
答特性の補正も可能となるため、従来、線量測定には、
不適当と言われていた高原子番号材料であるヒ化ガリウ
ム、テルル化カドミウム、沃化第２水銀のセンサの使用
も可能となる。
材料への適用が考えられるがセンサ材料や形状による応
答特性の補正も可能となるため、従来、線量測定には、
不適当と言われていた高原子番号材料であるヒ化ガリウ
ム、テルル化カドミウム、沃化第２水銀のセンサの使用
も可能となる。
逆に高原子番号材料のほうが、エネルギ分離性能は向上
することとなる。
することとなる。
本発明は、サーベイメータ、エリアモニタにも適用可能
であり、安価で高精度な測定を可能とする。
であり、安価で高精度な測定を可能とする。
発明の効果
小型・軽量な個人用線量計のエネルギ評価が可能となり
、安全管理の精度を高めることが出来るとともに、個人
用線量計の低コスト化をはかることが出来る。
、安全管理の精度を高めることが出来るとともに、個人
用線量計の低コスト化をはかることが出来る。
第１図は本発明の基本となる放射線線量測定装置の一実
施例の構成を示すブロック図、第２図。 第３図は本発明の他の実施例の構成を示すブロック図、
第４図は第１図に示した実施例の低ディスクリと高ディ
スクリのエネルギ応答特性を示すグラフ、第５図は半導
体センサよりのパルス出力波高分布の一例を示すグラフ
である。 １・・・・・・センサ、アンプ、３・・・・・・パルス
波高弁別器、５・・・・・・わシ算器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 比較奏 第３図 ｔｏｏ４ ＩＭ ｔＯＭ笑
劾工オルギ（シＶ〕
施例の構成を示すブロック図、第２図。 第３図は本発明の他の実施例の構成を示すブロック図、
第４図は第１図に示した実施例の低ディスクリと高ディ
スクリのエネルギ応答特性を示すグラフ、第５図は半導
体センサよりのパルス出力波高分布の一例を示すグラフ
である。 １・・・・・・センサ、アンプ、３・・・・・・パルス
波高弁別器、５・・・・・・わシ算器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 比較奏 第３図 ｔｏｏ４ ＩＭ ｔＯＭ笑
劾工オルギ（シＶ〕
Claims (5)
- （１）入射放射線のエネルギに対応したパルス波高分布
を出力するセンサを使用し、これに各々接続された複数
個のパルス波高弁別器を有し、このパルス波高弁別器よ
りの出力パルス数の比を計算する手段を有することを特
徴とする放射線線量測定装置。 - （２）出力パルス数の比の値が一定の範囲の値を示した
場合に、信号を出力する手段を有することを特徴とする
特許請求の範囲第１項に記載の放射線線量測定装置。 - （３）出力パルス数の比の値に対応した値を出力する手
段を有することを特徴とする特許請求の範囲第１項に記
載の放射線線量測定装置。 - （４）センサが半導体センサであることを特徴とする特
許請求の範囲第１項に記載の放射線線量測定装置。 - （５）半導体センサ材料がシリコン、ヒ化ガリウム、テ
ルル化カドミウム沃化第２水銀であることを特徴とする
特許請求の範囲第４項に記載の放射線線量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5405986A JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5405986A JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62211578A true JPS62211578A (ja) | 1987-09-17 |
| JPH0641981B2 JPH0641981B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=12960041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5405986A Expired - Lifetime JPH0641981B2 (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | 放射線線量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641981B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100499665B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2005-07-07 | 국방과학연구소 | 광대역 감마 방사선 측정장치 및 방법 |
| JPWO2011039819A1 (ja) * | 2009-10-01 | 2013-02-21 | 株式会社島津製作所 | パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置 |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP5405986A patent/JPH0641981B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100499665B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2005-07-07 | 국방과학연구소 | 광대역 감마 방사선 측정장치 및 방법 |
| JPWO2011039819A1 (ja) * | 2009-10-01 | 2013-02-21 | 株式会社島津製作所 | パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置 |
| JP5531021B2 (ja) * | 2009-10-01 | 2014-06-25 | 株式会社島津製作所 | パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0641981B2 (ja) | 1994-06-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |