JPS6221102A - フレネルレンズの製造方法 - Google Patents
フレネルレンズの製造方法Info
- Publication number
- JPS6221102A JPS6221102A JP16052185A JP16052185A JPS6221102A JP S6221102 A JPS6221102 A JP S6221102A JP 16052185 A JP16052185 A JP 16052185A JP 16052185 A JP16052185 A JP 16052185A JP S6221102 A JPS6221102 A JP S6221102A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist
- electron beam
- fresnel lens
- type resist
- negative
- Prior art date
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- Pending
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- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、マイクロフレネルレンズの製造方法に関する
ものであり、特に集光特性のよいレンズの製造方法を提
供するものである。
ものであり、特に集光特性のよいレンズの製造方法を提
供するものである。
従来の技術
近年、マイクロフレネルレンズは小形軽量で再現性がよ
く収差の小さいマイクロレンズとして注目されている。
く収差の小さいマイクロレンズとして注目されている。
従来の集光効率の高いすなわち適当な膜厚を有し断面形
状が鋸歯状のマイクロフレネルレンズの製造方法として
は、第2図(a)〜(d)に示すものがある。これは、
まず、透明導電膜ITO2の付いたガラス基板1上に、
電子ビームレジスト6を一層コーティングし、その後、
レンズの位相変調量に対応するように電子ビームを直接
描画し、現像処理をすることにより断面形状が鋸歯状の
フレネルレンズを製造するものである。(榎本他:I′
電子ビーム描画マイクロフレネルレンズの回折効率1.
信学会光量子エレクトロニクス研究会資料、0QE−a
s−89) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の製造方法では、コーティングした電子
ビームレジスト6の膜厚を現像処理後最適膜厚になるよ
うに設定しなければならず、このため、例えば1.2μ
m必要であった。このようにレジスト6が厚いときは電
子ビーム5を照射するとレジスト6中°で電子ビーム5
が散乱する前方散乱の影響が大きく、又基板1からの電
子ビームの後方散乱により隣接した鋸歯に影響を及ぼす
近接効果も大きくなシ、理想的な鋸歯形状の実現は難し
かった。そのため集光特性のよいフレネルレンズは得ら
れにくかった。
状が鋸歯状のマイクロフレネルレンズの製造方法として
は、第2図(a)〜(d)に示すものがある。これは、
まず、透明導電膜ITO2の付いたガラス基板1上に、
電子ビームレジスト6を一層コーティングし、その後、
レンズの位相変調量に対応するように電子ビームを直接
描画し、現像処理をすることにより断面形状が鋸歯状の
フレネルレンズを製造するものである。(榎本他:I′
電子ビーム描画マイクロフレネルレンズの回折効率1.
信学会光量子エレクトロニクス研究会資料、0QE−a
s−89) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の製造方法では、コーティングした電子
ビームレジスト6の膜厚を現像処理後最適膜厚になるよ
うに設定しなければならず、このため、例えば1.2μ
m必要であった。このようにレジスト6が厚いときは電
子ビーム5を照射するとレジスト6中°で電子ビーム5
が散乱する前方散乱の影響が大きく、又基板1からの電
子ビームの後方散乱により隣接した鋸歯に影響を及ぼす
近接効果も大きくなシ、理想的な鋸歯形状の実現は難し
かった。そのため集光特性のよいフレネルレンズは得ら
れにくかった。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、集光特性の
優れたフレネルレンズを提供することを目的とする。
優れたフレネルレンズを提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、電子ビームレジス
トを、上層はネガ形レジスト、下層はネガ形レジストよ
り感度の悪いポジ形レジストの2層に分けて基板上に塗
布して製造するものである。
トを、上層はネガ形レジスト、下層はネガ形レジストよ
り感度の悪いポジ形レジストの2層に分けて基板上に塗
布して製造するものである。
作 用
本発明は上記した方法により、電子ビームの前方散乱及
び近接効果を低減し、良好な鋸歯形状実現が可能となシ
、集光特性のよいフレネルレンズを製造することができ
る。
び近接効果を低減し、良好な鋸歯形状実現が可能となシ
、集光特性のよいフレネルレンズを製造することができ
る。
実施例
第1図は本発明の一実施例のフレネルレンズの製造工程
図である。同図において、1はガラス基板、2は電子ビ
ームのチャージアップを防止するための導電性透明膜の
ITO膜、3はポジ形電子ビームレジスト、4はポジ形
レジスト3に比べて感度のよいネガ形電子ビームレジス
トであり、本実施例ではポジ形レジスト3としてPMM
A、ネガ形レジスト4としてCMSを用いた。ここで、
基板1としてはフレネルレンズの使用波長において透過
率の優れているものなら何でもよい。また、I TO2
は、電子ビームのチャージアップを防止するためだけに
用いているもので導電性透明膜ならITOに限らない、
又、電子ビームのチャージアップの心配のない場合、つ
まり基板1あるいはレジスト3,4が導電性がある場合
又はレジスト上にAu等の金属薄膜を堆積する場合には
必要がない。
図である。同図において、1はガラス基板、2は電子ビ
ームのチャージアップを防止するための導電性透明膜の
ITO膜、3はポジ形電子ビームレジスト、4はポジ形
レジスト3に比べて感度のよいネガ形電子ビームレジス
トであり、本実施例ではポジ形レジスト3としてPMM
A、ネガ形レジスト4としてCMSを用いた。ここで、
基板1としてはフレネルレンズの使用波長において透過
率の優れているものなら何でもよい。また、I TO2
は、電子ビームのチャージアップを防止するためだけに
用いているもので導電性透明膜ならITOに限らない、
又、電子ビームのチャージアップの心配のない場合、つ
まり基板1あるいはレジスト3,4が導電性がある場合
又はレジスト上にAu等の金属薄膜を堆積する場合には
必要がない。
次に、製造工程について説明する。まず、第1図(、)
のI TO2付ガラス基板1上に、ポジ形レジスト3と
してPMMAを例えば0.6μmスピンコーティングし
、プリベーク後ネガ形レジスト4としてCMSを例えば
0.6μmスピンコーティングして、プリベークした(
同図0)))。このときのレジスト3,4の塗布膜厚は
それぞれ従来例のレジスト6塗布膜厚の約半分である。
のI TO2付ガラス基板1上に、ポジ形レジスト3と
してPMMAを例えば0.6μmスピンコーティングし
、プリベーク後ネガ形レジスト4としてCMSを例えば
0.6μmスピンコーティングして、プリベークした(
同図0)))。このときのレジスト3,4の塗布膜厚は
それぞれ従来例のレジスト6塗布膜厚の約半分である。
次に、ネガ形レジスト4に電子ビーム5をフレネルレン
ズの上部の形状4Aになるように露光量を変えて描画し
た(同図(’))o電子ビームの加速電圧は10に7以
上で行い照射した電子ビーム5はポジ形レジスト3も透
過するが、本実施例で用いたネガ形レジスト4CMSの
感度は、ポジ形レジスト3の感度に比べて30倍もよい
ため、(C)で照射した電子ビーム5の量では、ポジ形
レジスト3にほとんど影響を及ぼさない。現像処理後、
ネガ形レジスト4は膜厚が変化しフレネルレンズの上部
の形状4Aになった(同図(d))。このとき、ネガ形
レジスト4の塗布膜厚は従来例のレジスト6塗布膜厚の
約半分であったから、レジスト4内で生じる電子ビーム
6の前方散乱は大幅に減少し、又フレネルレンズの上部
の形状4Aは、各鋸歯は互いに一周期分だけ分離した構
造をしているため、電子ビーム5を照射したときに、隣
接する鋸歯に与える近接効果の影響も大幅に減少し、良
好な鋸歯形状が実現できた。次に、ポジ形レジスト3に
電子ビーム5をフレネルレンズの下部の形状3Aになる
ように露享量を変えて描画しく同図(e))現像処理を
行い、レジスト3A 、4Aから成るフレネルレンズが
完成した(同図(f))ポジ形レジスト3は電子ビーム
5の露光量が多い所はど現像処理によりはく離するから
、フレネルレンズの下部3Aを形成するため電子ビーム
6を露光する部分は、ポジ形レジスト3上にネガ形レジ
スト4で形成された鋸歯4Aのない部分であり、ポジ形
レジスト3を露光するときでもレジスト3の膜厚は従来
例の約半分であるため同じくレジスト3内での電子ビー
ム5の前方散乱は大幅に減少し、又フレネルレンズの下
部3Aの溝の形状も、互いに一周期分能した構造をして
いるため、同じく近接効果の影響が大幅に減少した。こ
のため、下部3Aの形状も良好に実現できた。なお、本
実施例ではネガ形レジスト4としてCMS、ポジ形レジ
スト3としてPMMAを用いたが、この組合わせは、フ
レネルレンズの使用波長に対して透光性の優れているも
のでかつネガ形レジスト4の方が感度のよいものなら同
様の効果が匈られるのは言うまでもない。レジスト3゜
4の最大膜厚(これをそれぞれdl、d2とする。)は
レンズの使用波長をλ、屈折率をn 1p !! 2
としたとき、 の関係を満たすときには、レンズの効率が最大になるが
、本実施例では、λ=0.6328μm、n1ユn2>
1.5に対してd1ユd2さ0.6μmとした。
ズの上部の形状4Aになるように露光量を変えて描画し
た(同図(’))o電子ビームの加速電圧は10に7以
上で行い照射した電子ビーム5はポジ形レジスト3も透
過するが、本実施例で用いたネガ形レジスト4CMSの
感度は、ポジ形レジスト3の感度に比べて30倍もよい
ため、(C)で照射した電子ビーム5の量では、ポジ形
レジスト3にほとんど影響を及ぼさない。現像処理後、
ネガ形レジスト4は膜厚が変化しフレネルレンズの上部
の形状4Aになった(同図(d))。このとき、ネガ形
レジスト4の塗布膜厚は従来例のレジスト6塗布膜厚の
約半分であったから、レジスト4内で生じる電子ビーム
6の前方散乱は大幅に減少し、又フレネルレンズの上部
の形状4Aは、各鋸歯は互いに一周期分だけ分離した構
造をしているため、電子ビーム5を照射したときに、隣
接する鋸歯に与える近接効果の影響も大幅に減少し、良
好な鋸歯形状が実現できた。次に、ポジ形レジスト3に
電子ビーム5をフレネルレンズの下部の形状3Aになる
ように露享量を変えて描画しく同図(e))現像処理を
行い、レジスト3A 、4Aから成るフレネルレンズが
完成した(同図(f))ポジ形レジスト3は電子ビーム
5の露光量が多い所はど現像処理によりはく離するから
、フレネルレンズの下部3Aを形成するため電子ビーム
6を露光する部分は、ポジ形レジスト3上にネガ形レジ
スト4で形成された鋸歯4Aのない部分であり、ポジ形
レジスト3を露光するときでもレジスト3の膜厚は従来
例の約半分であるため同じくレジスト3内での電子ビー
ム5の前方散乱は大幅に減少し、又フレネルレンズの下
部3Aの溝の形状も、互いに一周期分能した構造をして
いるため、同じく近接効果の影響が大幅に減少した。こ
のため、下部3Aの形状も良好に実現できた。なお、本
実施例ではネガ形レジスト4としてCMS、ポジ形レジ
スト3としてPMMAを用いたが、この組合わせは、フ
レネルレンズの使用波長に対して透光性の優れているも
のでかつネガ形レジスト4の方が感度のよいものなら同
様の効果が匈られるのは言うまでもない。レジスト3゜
4の最大膜厚(これをそれぞれdl、d2とする。)は
レンズの使用波長をλ、屈折率をn 1p !! 2
としたとき、 の関係を満たすときには、レンズの効率が最大になるが
、本実施例では、λ=0.6328μm、n1ユn2>
1.5に対してd1ユd2さ0.6μmとした。
これはレジストの膜厚が薄いと良好な鋸歯形状が実現し
やすくなるが、片方のレジスト膜を薄くしても上式で述
べた通シもう一方のレジスト膜を厚くしなければならな
くなるわけであシ、本実施例ではフレネルレンズの上部
4A、下部3Aが同じように良好に鋸歯形状実現が可能
となるように同じ膜厚とした。しかしながらこれに限る
ものではなく上式を満たすようにそれぞれの膜厚を変化
させても従来例よりもレンズの特性の向上は、はかれる
。
やすくなるが、片方のレジスト膜を薄くしても上式で述
べた通シもう一方のレジスト膜を厚くしなければならな
くなるわけであシ、本実施例ではフレネルレンズの上部
4A、下部3Aが同じように良好に鋸歯形状実現が可能
となるように同じ膜厚とした。しかしながらこれに限る
ものではなく上式を満たすようにそれぞれの膜厚を変化
させても従来例よりもレンズの特性の向上は、はかれる
。
発明の効果
以上のように、本発明によれば電子ビームの前方散乱、
近接効果を減少させ良好な鋸歯形状実現が可能となりつ
まりは集光特性のよいフレネルレンズが実現できるとい
う効果を有する。
近接効果を減少させ良好な鋸歯形状実現が可能となりつ
まりは集光特性のよいフレネルレンズが実現できるとい
う効果を有する。
第1図は本発明の一実施例のフレネルレンズの製造工程
における断面図、第2図は従来例のフレ゛ ネルレンズ
の製造工程における断面図である。 1・・・・・・基板、3・・・・・・ポジ形電子ビーム
レジスト、3A・・・・・・フレネルレンズ下部、4・
・・・・・ネガ形電子ピームレジス)、4A・・・・・
・フレネルレンス上部。
における断面図、第2図は従来例のフレ゛ ネルレンズ
の製造工程における断面図である。 1・・・・・・基板、3・・・・・・ポジ形電子ビーム
レジスト、3A・・・・・・フレネルレンズ下部、4・
・・・・・ネガ形電子ピームレジス)、4A・・・・・
・フレネルレンス上部。
Claims (2)
- (1)基板上に、電子ビームレジストのポジ形と、前記
ポジ形レジストより感度のよいネガ形レジストを順次塗
布し、電子ビームでまず、フレネルレンズの上部に対応
するように描画、現像処理を行い前記ネガ形レジストの
膜厚を変化させ次に前記電子ビームで上記フレネルレン
ズの下部に対応するように描画、現像処理を行い上記ポ
ジ形レジストの膜厚を変化させることを特徴とするフレ
ネルレンズの製造方法。 - (2)電子ビームの加速電圧は10KV以上であること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のフレネルレ
ンズの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16052185A JPS6221102A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | フレネルレンズの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16052185A JPS6221102A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | フレネルレンズの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6221102A true JPS6221102A (ja) | 1987-01-29 |
Family
ID=15716753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16052185A Pending JPS6221102A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | フレネルレンズの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6221102A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6415705A (en) * | 1987-07-09 | 1989-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Production of fine element |
EP0379358A2 (en) * | 1989-01-17 | 1990-07-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | A method for producing a diffraction grating in optical elements |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5376757A (en) * | 1976-12-20 | 1978-07-07 | Oki Electric Ind Co Ltd | Photoetching method |
JPS55165631A (en) * | 1979-06-12 | 1980-12-24 | Fujitsu Ltd | Manufacture of semiconductor device |
JPS6020512A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-02-01 | Matsushita Electronics Corp | パタ−ン形成方法 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP16052185A patent/JPS6221102A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5376757A (en) * | 1976-12-20 | 1978-07-07 | Oki Electric Ind Co Ltd | Photoetching method |
JPS55165631A (en) * | 1979-06-12 | 1980-12-24 | Fujitsu Ltd | Manufacture of semiconductor device |
JPS6020512A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-02-01 | Matsushita Electronics Corp | パタ−ン形成方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6415705A (en) * | 1987-07-09 | 1989-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Production of fine element |
EP0379358A2 (en) * | 1989-01-17 | 1990-07-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | A method for producing a diffraction grating in optical elements |
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