JPS62197078U - - Google Patents

Info

Publication number
JPS62197078U
JPS62197078U JP1986084733U JP8473386U JPS62197078U JP S62197078 U JPS62197078 U JP S62197078U JP 1986084733 U JP1986084733 U JP 1986084733U JP 8473386 U JP8473386 U JP 8473386U JP S62197078 U JPS62197078 U JP S62197078U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
socket base
gear
socket
utility
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1986084733U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1986084733U priority Critical patent/JPS62197078U/ja
Priority to US07/055,195 priority patent/US4812755A/en
Priority to CA000538801A priority patent/CA1266333A/en
Publication of JPS62197078U publication Critical patent/JPS62197078U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図：本考案の前提となる集積回路の静電破
壊のテストの原理を示す回路図。 １：集積回路、２１，２２：スイツチ、３：電
圧計、４１：電圧電源、４２：プログラマーコン
トローラー、４３：電流源、５１，５２：ピン切
替装置。 第２ａ図、第２ｂ図：集積回路の作動特性及び
集び集積回路の作動特性及び静電破壊の有無を一
挙に判定するための本考案前の構成を示す破断側
面図及び上面図。第３ａ図：グランドピンおよび
アース接続帯を用いた本考案の実施例を示す見取
図。第３ｂ図、第３ｃ図、第３ｄ図：ソケツト基
盤に固着した歯車にグランドピンを設けたことに
よる本考案の実施例を示す裏面平面図、側面図及
び表面平面図。第３ｅ図：第３ｂ，ｃ，ｄに示す
実施例において、中間ピンからアースに接続する
歯車にジヤンパーを差込む状態を示す断面図。第
３ｆ図、第３ｇ図：ソケツト基盤を円盤状とし、
外周部に歯車を固着させた実施例の裏面平面図及
び表面平面図。第４ａ図、第４ｂ図：大容量物体
を用いた本考案の実施例のソケツト基盤及びこれ
に附随する静電気印加部分及び測定部の状況を示
す側面図。第５図：大容量物体を直接設置させた
本考案のソケツト基盤及びこれに附随する静電印
加部及び測定部の状況を示す側面図。第６ａ図、
第６ｂ図：接触端子を複数個の列の同心円状に配
列した本考案の実施例を示す表面平面図。第６ｃ
図：ソケツト基盤のソケツト部分を多層化した実
施例の断面図を示す。尚点線はソケツトと接触端
子を接続する配線である。 １……集積回路、２……静電印加部、２１……
印加用接触ピン、３……測定部、３１……測定用
接触ピン、６……ソケツト用基盤、６１……接触
端子、６２……アース接続部又はこれを兼用する
歯車、６２１……中間ピン、６２２……グランド
ピン、６３……ジヤンパー、６４……ソケツト、
７……駆動装置からの回転を伝える歯車、８……
大容量物体、９……刷子、１０……駆動装置。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 集積回路の端子を差込む為の複数のソケツ
    トと該ソケツトと夫々接続し、且つ同一円周上に
    配列された複数の接触端子とを有し、複数の接触
    端子の中心点を回転の中心として駆動装置によつ
    て回転され得る集積回路のソケツト基盤。 (2) 回転の中心点を中心とする円輪をなし、刷
    子を介してアースと接続するアース接続帯を有す
    ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲(1)
    記載の集積回路のソケツト基盤。 (3) 駆動装置からの回転を伝達する歯車と噛合
    する歯車をソケツト基盤に固着し、固着した歯車
    を介してアースと接続させることを特徴とする実
    用新案登録請求の範囲(1)記載の集積回路のソケ
    ツト基盤。 (4) ソケツト基盤の形状を回転の中心点を中心
    とする円盤状とし、該円盤の外周に駆動装置から
    の回転を伝達する歯車と噛合する歯車を固着し、
    該歯車を介してアースを接続させることを特徴と
    する実用新案登録請求の範囲(3)記載の集積回路
    のソケツト基盤。 (5) アース接続帯にジヤンパーを介して接触端
    子と接続されるグランドピンを設けたことを特徴
    とする実用新案登録請求の範囲(2)記載の集積回
    路のソケツト基盤。 (6) ソケツト基盤に固着した歯車にグランドピ
    ンを設けたことを特徴とする実用新案登録請求の
    範囲(3)記載の集積回路のソケツト基盤。 (7) グランドピンと接触端子との中間にジヤン
    パーを差込む為の中間ピンを設けたことを特徴と
    する実用新案登録請求の範囲(5)、(6)記載の集積
    回路のソケツト基盤。 (8) 集積回路に近接した位置にある大容量物体
    とアース接続帯とを接続したことを特徴とする実
    用新案登録請求の範囲(2)記載の集積回路のソケ
    ツト基盤。 (9) 集積回路に近接した位置にある大容量物体
    とソケツト基盤に固着された歯車とを接続させた
    ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲(3)記
    載の集積回路のソケツト基盤。 (10) 集積回路に近接された大容量物体はアース
    に直接接続され、ソケツト基盤と接触点を有しな
    いことを特徴とする実用新案登録請求の範囲(1)
    記載の集積回路のソケツト基盤。 〓(11)１１〓 接触端子を複数個の同心円状に配
    列したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲
    (1)記載の集積回路のソケツト基盤。
JP1986084733U 1986-06-05 1986-06-05 Pending JPS62197078U (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986084733U JPS62197078U (ja) 1986-06-05 1986-06-05
US07/055,195 US4812755A (en) 1986-06-05 1987-05-28 Base board for testing integrated circuits
CA000538801A CA1266333A (en) 1986-06-05 1987-06-04 Plug board with concentric grounding belt for testing integrated circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986084733U JPS62197078U (ja) 1986-06-05 1986-06-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62197078U true JPS62197078U (ja) 1987-12-15

Family

ID=13838895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986084733U Pending JPS62197078U (ja) 1986-06-05 1986-06-05

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4812755A (ja)
JP (1) JPS62197078U (ja)
CA (1) CA1266333A (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132612A (en) * 1991-03-14 1992-07-21 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Apparatus for electrostatic discharge (ESD) stress/testing
FI99169C (fi) * 1991-09-16 1997-10-10 Picopak Oy Menetelmä puolijohdepiirin testauksessa käytettävän apuvälineen valmistamiseksi
US5410254A (en) * 1993-03-04 1995-04-25 Lsi Logic Corporation Method for optimizing the structure of a transistor to withstand electrostatic discharge
JP2836676B2 (ja) * 1996-02-09 1998-12-14 日本電気株式会社 半導体要素の試験方法及び装置
US5808852A (en) * 1996-05-30 1998-09-15 Emi Holding Corp. Chain mail ground for electromagnetic testing platform
KR100231649B1 (ko) * 1996-08-03 1999-11-15 윤종용 커패시터 충전회로를 갖는 검사용 기판 및 이를이용한 집적회로 검사 방법
EP2859365A1 (en) * 2012-11-05 2015-04-15 ISMECA Semiconductor Holding SA An assembly for testing the performance of a component

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3988049A (en) * 1973-09-12 1976-10-26 The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration Apparatus for high speed rotation of electrically operated devices
JPS5724869A (en) * 1980-07-22 1982-02-09 Nec Corp High voltage pulse applicator
US4677375A (en) * 1985-06-14 1987-06-30 Hanwa Electronic Co., Ltd. Apparatus for testing integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
CA1266333A (en) 1990-02-27
US4812755A (en) 1989-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62197078U (ja)
JPS61179747U (ja)
JPH0361589U (ja)
JPS62145170U (ja)
JPS6422034U (ja)
JPH0328465U (ja)
JPH0328477U (ja)
JPS63164225U (ja)
JPS6291438U (ja)
JPS61136540U (ja)
JPS58184677U (ja) テストプロ−ブ
JPS5857615U (ja) 電気カ−ペツト
JPS58120967U (ja) オシロスコ−プ用プロ−ブ
JPS6249770U (ja)
JPS6218676U (ja)
JPS6367978U (ja)
JPS62140445U (ja)
JPS6039590U (ja) 半導体装置用ソケット
JPH0353259U (ja)
JPS63146397U (ja)
JPH0195738U (ja)
JPS61149881U (ja)
JPH0248366U (ja)
JPH044754U (ja)
JPH0377672U (ja)