JPS6218503A - 回折格子の製造方法 - Google Patents

回折格子の製造方法

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JPS6218503A
JPS6218503A JP15874685A JP15874685A JPS6218503A JP S6218503 A JPS6218503 A JP S6218503A JP 15874685 A JP15874685 A JP 15874685A JP 15874685 A JP15874685 A JP 15874685A JP S6218503 A JPS6218503 A JP S6218503A
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Japan
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diffraction grating
mask
substrate
phase
light
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Masataka Shirasaki
白崎 正孝
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 DFBレーザなどの回折格子を作製する際に、予め位相
差がずれた回折格子を形成したマスクを使用し、該マス
クを通して露光を行なうことで、簡単かつ小型の装置で
、位相差のついた回折格子を作製する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばDFBレーザの回折格子等のように領
域によって位相のずれのある回折格子を作製する方法に
関する。
〔回折格子の用途〕
第3図に示すようにDFBレーザは、半導体チップ7上
に回折格子8を形成し、その上側に活性層9、電極10
が形成された構造になっている。このレーザの正負の電
極間に通電すると、回折格子8および活性層9の部分で
レーザ発振を起こし、レーザ光を放出する。
ところが単に回折格子を形成しただけでは、゛回折格子
における位相関係がずれるため、DFBレーザの縦モー
ドが2つ発生するという不都合がある。これを解消する
には、第4図のように、回折格子8のピッチをレーザ発
振の中心部Cを境にしてずらすことで、左右の位相関係
を予めずらしておくことが知られている。
〔従来の技術〕
このように位相差を持った回折格子の作製方法として、
本発明の出願人は、先に特願昭60−57455号とし
て、第5図のような露光方法を提案した。
第5図の(イ)は基本構成を示す断面図、(ロ)は回折
格子部の拡大図である。4は回折格子を形成する基板で
あり、その上にガラスなどの透明体マスク3が載置され
る。このマスク3は、発振中心部C上で、凸部1と凹部
2間の段差11がつき、その両側の光路長が異なる。あ
るいは発振中心部C上を境にして、左右の屈折率が異な
る構成としてもよい。
この基板4の面に、前記マスク3を介して、2つの光束
5と6が照射される。その際光束5と6が角度2θの角
度をなして入射し、媒体4上のフォトレジスト13で2
つの光束の干渉が行なわれる。
また2つの光束5と6の成す中心軸Aは、法線Vに対し
角度φだけ傾き、非対称の状態で照射される。
第5図(ロ)に示すように、マスク3の厚さは、段差部
11を境にして異なり、左側の厚さLlより右側の厚さ
L2が小さい。そのため段差部11の左側と右側とでは
、光路長が異なり、また2つの光束5.6が角度ψだけ
傾き非対称に照射されるので、段差部11を境にして干
渉縞の位相がずれる。その結果、2方向の光束による干
渉縞をエツチングして形成される回折格子8も、段差部
11を境にして位相がずれる。
この段差部11を有するマスク3は、実際には第6図の
ような方法で作製される。すなわち同時に多数のDFB
レーザを製造できるように、マスク3に、レーザの寸法
lと同じピッチで多数の段差部11・・・が形成されて
いる。2つの光束5.6を照射すると、それぞれの段差
部11・・・を境にして、両側の光路長が異なり、かつ
光束5.6の入射方向を法線■に対し角度φだけ傾けて
非対称に照射することで、それぞれの段差部11を境に
して位相のずれた回折格子が、基板4上に形成される。
エツチングして回折格子を形成した後に、段差部11が
中心に来るように、鎖線12・・・の位置で基板4が切
り離される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで2つの光束5.6を発生させるには、第5図(
イ)に示されているように、1本のレーザ光14を、ハ
ーフミラ−15に入射し、その透過光16をミラー17
で反射させ、また反射光18をミラー19で反射させる
ことが行なわれる。ところがこのように複数のミラーな
どを要する光学系を使用するため、装置が複雑かつ大形
となり、また振動に弱(取扱いが不便である。
本発明の技術的課題は、従来の回折格子の製造方法にお
けるこのような問題を解消し、小型・簡単で、振動など
にも強い、取扱いの簡便な方法を実現することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本発明による回折格子の製造方法の基本原理を
説明する断面図である−04は回折格子が形成される基
板であり、表面にフォトレジスト13が塗布されている
。このフォトレジスト13の上にマスク14が配設され
、このマスク14に露光用の光15が入射する。マスク
14の基板4側の面には、途中の0部で位相がずれた回
折格子16が予め形成されている。
〔作用〕
露光用の光15が回折格子付マスク14に入射すると、
透過光17と一次回折光18に分かれる。そして回折光
18が、第5図、第6図の光束5に対応し、透過光17
が第5図、第6図の光束6に対応する。
したがって2方向の光束18.17による干渉縞がフォ
トレジスト13上に形成され、基板4に回折格子が作製
される。そして0部を境にして、マスク14の回折格子
16の位相が予めずらされているので、フォトレジスト
13上の干渉縞も、0部を境にして位相がずれ、位相差
の付いた回折格子が得られる。
〔実施例〕
次に本発明による回折格子の製造方法が実際上どのよう
に具体化されるかを実施例で説明する。
第2図のように、表面に回折格子16の付いたマスク1
4をInP基板4上のフォトレジスト13に密着させる
。そして露光用光15としてS偏光を入射させると、透
過光17と一次回折光18に分かれ、それぞれ等しい強
度、等しい出射角で基板4に向がい、基板4上に回折格
子パターンが作製される。ここでマスク14上の回折格
子16の位相を、第6図の段差部11に対応するC・・
・位置で、1/2ピッチ分ずらす。こうすると、透過光
17の位相は一定であるが、回折光180位相が反転し
、基板4上の回折格子パターンも位相シフトが生じる。
このようにしてD′F Bレーザのλ/4シフトの回折
格子が得られる。
なおマスク14の回折格子16は、第5図、第6図の方
法で作製し、また一定間隔の段差部11・・・に対応す
る位相ずれ部C・・・を形成しておき、以後同回折格子
付マスク14を繰り返し使用することによって、回折格
子付の基板4を量産できる。またマスク14の回折格子
16は、電子ビームで描くこともできる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、予め位相差の付いた回折
格子16を作製してマスク14とするので、従来のよう
に複雑で大型の光学系を使用する場合に比べて、薄い1
枚のマスク14を重ねるだけで済み、装置が簡単かつ小
型となり、取扱いも極めて簡便となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による回折格子の製造方法の基本原理を
説明する断面図、第2図は同回折格子の製造方法の実施
例を示す断面図、第3図はDFBレーザの断面図、第4
図はDFBレーザの位相差回折格子を示す断面図、第5
図は位相差干渉縞の形成方法を示す断面図、第6図は同
時に多数の位相差回折格子を形成する方法を示す断面図
である。 図において、4は基板、5.6は光束、8は回折格子、
13はフォトレジスト、14はマスク、16はマスク1
4の回折格子、17は透過光、18は回折光をそれぞれ
示す。 特許出願人     富士通株式会社 代理人 弁理士   青 柳   稔 第1図 ズ施例 第2図 DFBb−サバ−僧賀耐 第3図 is4図 第5図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、露光用の光(15)に対し透明なマスク(14
    )の、基板(4)側面に、位相差のずれた回折格子(1
    6)を予め形成しておき、このマスク(14)を通して
    、基板(4)上に露光を行なうことを特徴とする回折格
    子の製造方法。
  2. (2)、前記回折格子(16)は、回折光(18)と透
    過光(17)の出射角度が等しく、しかも強度も等しく
    なるように形成されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第(1)項記載の回折格子の製造方法。
  3. (3)、前記のマスク(14)の回折格子(16)の位
    相のずれ量が、回折格子(16)の周期の2分の1であ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の回
    折格子の製造方法。
JP60158746A 1985-03-20 1985-07-17 回折格子の製造方法 Expired - Lifetime JP2537596B2 (ja)

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CA000504383A CA1270934A (en) 1985-03-20 1986-03-18 Spatial phase modulating masks and production processes thereof, and processes for the formation of phase-shifted diffraction gratings
EP86400592A EP0195724B1 (en) 1985-03-20 1986-03-20 Spatial phase modulating masks and production processes thereof, and processes for the formation of phase-shifted diffraction gratings
DE8686400592T DE3687845T2 (de) 1985-03-20 1986-03-20 Raeumliche phasenmodulationsmasken, verfahren zu deren herstellung und verfahren zur bildung von phasenverschobenen beugungsgittern.
US06/841,801 US4806442A (en) 1985-03-20 1986-03-20 Spatial phase modulating masks and production processes thereof, and processes for the formation of phase-shifted diffraction gratings

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JPS63231403A (ja) * 1987-03-11 1988-09-27 アメリカン テレフォン アンド テレグラフ カムパニー 光導波路を有する光学装置

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JPS6091302A (ja) * 1983-10-26 1985-05-22 Nec Corp 異周期回折格子パタ−ン作成用露光マスク及び異周期回折格子パタ−ン作成方法

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