JPS62278508A - 回折格子の製造方法 - Google Patents

回折格子の製造方法

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JPS62278508A
JPS62278508A JP12312986A JP12312986A JPS62278508A JP S62278508 A JPS62278508 A JP S62278508A JP 12312986 A JP12312986 A JP 12312986A JP 12312986 A JP12312986 A JP 12312986A JP S62278508 A JPS62278508 A JP S62278508A
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JP
Japan
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diffraction grating
substrate
negative resist
pattern
region
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Pending
Application number
JP12312986A
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English (en)
Inventor
Shigeru Murata
茂 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/124Geodesic lenses or integrated gratings

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 (産業上の利用分野) 本発明は、回折格子の製造方法に関する。
(従来の技術) 同一半導体基板上の、特定の場所に任意の周期を有する
回折格子を形成する技術は、光集積素子を実現する上で
重要な技術である。例えば同一基板上に複数の波長で発
振する分布帰還形(以下DFE)レーザのアレーを実現
するためには、適当な間隔をあけて、ストライプ状に、
それぞれ周期のわずかずつ異なる回折格子を形成する必
要が・ある。従来、この目的のためには、例えば英日ら
によって電子通信学会技術研究報告(○QE84−76
.1984年)に報告された次のような方法が用いられ
ていた。すなわち、半導体基板全面にフォトレジストを
塗布し、良く知られた干渉露 −光性によって回折格子
を形成する。この際、金属性のストライブマスクを用い
て基板の一部のみ露光されるようにする。続いてマスク
の位置をわずかにずらしかつ、干渉光の角度を変えて再
び露光し、基板上の他の部分に周期の異なる回折格子を
露光する。以下この手順を繰り返した後、フォトレジス
トを現象し、化学エツチングによって半導体基板に、周
期の異なるストライプ状の回折格子を形成する。
(発明が解決しようとする問題点) 以上に述べた回折格子の製造方法には、次のような問題
点があった。すなわち、干渉露光法によって、多段階の
露光を行う際に、金属マスクを用いているために、微細
なパターンを形成することが出来ない点である。金属マ
スクを使用する場合、フォトレジストを塗布した基板表
面にマスクを完全に合着することは、フォトレジストを
傷つける5のでできない。また金属マスク自体にも10
0μm以上の厚さがある。そこで、干渉露光の際、マス
クのエツジ部での光の回折によって、基板上のパターン
の境界部分にはけが生ずる。この境界領域の幅は50〜
100μm程度であるから、10μm程度の微細なパタ
ーンを形成することは不可能であった。
回折格子を形成する他の方法としては、電子ビーム露光
による直接描画がある。この方法は、本発明が目的とす
るような微細なパターンを形成する有力な方法であるが
、現状では、DFBレーザに必要とされる2 00 n
m程度の周期を有する回折格子の形成は困碓であり、ま
た、生産性の点からも干渉露光法に劣っている。
本発明の目的は、以上に述べた問題点を改善臥同−基板
上の特定の領域に、任意の大きさと周期を有する微細な
回折格子パターンを高い生産性で製造する回折格子の製
造方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 鹸述の問題点を解決し上記目的を達成するために本発明
が提供する手段は、基板上の特定の領域に、任意の周期
を有する回折格子を製造する方法であって、フォトレジ
ストとしてネガレジストを用い、前記基板上の前記領域
を除いた部分をフォトマスクを用いて露光し、かつ、干
渉露光法によって前記基板全面を露光する2段階の露光
を行った後、エツチングにより紡記領域にのみ回折格子
を製造する方法である。
(作用) 第1図を用いて、本発明による回折格子の製造方法にお
ける基本的な過程を、半導体基板上の特定の領域に回折
格子を形成する場合を例にとって説明する。第1図の(
a)から(、)は回折格子を形成する手順を示している
。まず半導体基板10の全面にネガレジスト20を塗布
し、通常のフォトマスクを用いた露光法によって回折格
子を形成したい領域50を除いた基板10の全語を露光
する。図ではネガレジストの露光された部分をハツチン
グで示している。当然、光の当っていない領域50の部
分のネガレジストは塗布した状態のままである(第1図
(a))。次に基板全面を三光束干渉露光法によって露
光する(第1図(b))。
なお、この2段階の露光については、どちらの工程を先
に行っても同等である。次に、ネガレジスト20の現象
を行う。ネガレジスト20は光に当った場所が残るから
、領域50にのみ周期的な回折格子パターンが形成され
、それ以外の部分はネガレジスト20で覆われたパター
ンが形成できる(第Le(c))。次にこのネガレジス
トパターンをマスクとして基板10のエツチングを行え
ば、領域50にのみ回折格子55を形成することができ
る(第1図(d))。最後にネガレジスト20を除去す
る(第1図(e))。
7この方法の特徴は次の点にある。すなわち、フォトリ
ソグラフィ一工程が1度だけであるから(ただし露光は
2段階)工程が単純化されること、および回折格子55
を形成したい領域50を特定するための工程が通常のフ
ォトマスクを用いた露光工程であるから領域50の大き
さと場所を精度よく決定でき、かつ微細な領域に回折格
子を形成できることである。したがって従来例で述べた
ような金属マスクを用いる場合と比べて、境界領域を非
常に小さくできる。通常この境界領域の幅は1μ口程度
以下にすることができるから、10μm程度の幅の領域
にのみ回折格子55を形成することも可能である。
(実施例) 第2図(a)〜(d)に本発明の一実施例による回折格
子の製造工程を示す。
この実施例は、2波長DFBレーザを実現するために、
InP基板110 の上にそれぞれ異った周期を有する
回折格子のストライプ状のパターンを形成する方法であ
る。基本的には(作用)の項で述べた手順を2回繰り返
せばよい。具体的には、まず(100)面InP基板1
10全面にノボラック系ネガレジスト0UDR120の
希釈液を塗布し、回折格子を形成する領域150以外の
部分に光が当るようなフォトマスクを用いて紫外線露光
を行う。領域150は<o t t>方向の@20μm
のストライプとした。続いて波長325 nmのHaC
dレーザを用いた干渉露光法によってストライプ方向に
240nmピッチの周期構造を持つ回折格子パターンを
露光する(第2図(a))。
次に臭素系エッチャントを用いた化学エツチングによ’
)、InP基板110のストライプ領域150に回折格
子155を形成した後、ネガレジスト120を除去する
(第2図(b))。なお第2図は<010>面から見た
断面図であるため、第1図に示したような周期構造は表
示していない。次に第2の回折格子を形成するためにこ
れまでの工程を繰り返す。すなわち、再びInP基板1
10全面にネガレジスト120を塗布した後、回折格子
155を形成したストライプ領域150と平行に、@2
の回折格子を形成する幅20μmの第2のストライプ領
域160を、先はどと同様なフォトマスクを用いた紫外
線露光によって形成する。
領域150と領域160の間隔は30μmである。
続いて、やはり干渉露光法によってストライプ方向に2
42 nmピッチの周期構造を持つ回折格子パターンを
露光する(第2図(C))。最後に化学エツチングによ
り領域160に回折格子165を形成し、ネガレジスト
120を除去する(第2図(d))。このエツチングの
際、先に形成した回折格子155はネガレジスト120
によって保護されているために変形を受けない。こうし
て周期がわずかに異なる回折格子のストライプ状くター
ンを同一基板の30μ口という近接した領域に形成する
ことができた。
このようにして製造したInP 基板を用いて、ストラ
イプ構造のDFBレーザアレーを、製作したところ、隣
り合うレーザの発振波長は、回折格子の周期240 n
m と242 nmに対応して、それぞれ1.550μ
mと1.585μmであった。このような多波長DFB
レーザアレーは波長分割多重光通信用光源として用いる
ことができる。
なお、上述した実施例は、2つの周期の異なる回折格子
を形成した例であるカ瓢この方法を繰り返せば、さらに
多数の周期を有する回折格子のパターンを、それぞれご
く接近させて形成することもできる。また回折格子を形
成する領域の形状も必ずしもストライプ状である必要は
ない。さらにネガレジストについても、実施例で述べた
ノボラック系の他に環化ゴム系ネガレジストなどを用い
てもよい。
(発明の効果) 以上のように、本発明によれば、同一基板上の特定の領
域に任意の周期と形状を有する微細な回折格子パターン
を高い生産性で製造できる。2波長DFBレーザアレー
を試作した例では、1[20μmのストライプ状の回折
格子パターンを30μmの間隔で形成し、2つのレーザ
の間隔が30ttmとご〈接近したレーザアレーを実現
した。このように微細な領域に回折格子を形成すること
は、高密度の光集積素子を実現する上で重要な技術であ
る。なお、この製造方法は、InP基板に限られたもの
ではな(、GaAsや他の半導体基板、さらにLiNb
0.などの誘導体にも適用できることは首うまでもない
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の基本的な製造方法を示す図で、(a
)〜(e)はその製造手順を示している。 第2図(a)〜(d)は実施例の製造手順を示す図であ
る。 図中、10は基板、20はネガレジスト、50゜tso
、160は回折格子を形成する領域、55゜155.1
65は回折格子、110はInP基板、120はノボラ
ック系ネガレジストである。 代理人 弁理士  本 庄 伸 介 第1図(a)     第1図(d) 第1図(b)    第1図(e) 第1図(c) 第2図(a) 第2図(b) 第2図(c) 第2図(d)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上の特定の領域に、任意の周期を有する回折格子を
    製造する方法において、フォトレジストとしてネガレジ
    ストを用い、前記基板上の前記領域を除いた部分をフォ
    トマスクを用いて露光し、かつ、干渉露光法によって前
    記基板全面を露光する2段階の露光を行った後、エッチ
    ングにより前記領域にのみ回折格子を製造する回折格子
    の製造方法。
JP12312986A 1986-05-27 1986-05-27 回折格子の製造方法 Pending JPS62278508A (ja)

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