JPS62174615A - 電極回路における障害電圧の補償方法 - Google Patents

電極回路における障害電圧の補償方法

Info

Publication number
JPS62174615A
JPS62174615A JP61250945A JP25094586A JPS62174615A JP S62174615 A JPS62174615 A JP S62174615A JP 61250945 A JP61250945 A JP 61250945A JP 25094586 A JP25094586 A JP 25094586A JP S62174615 A JPS62174615 A JP S62174615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
voltage
period
compensation
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61250945A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0554886B2 (ja
Inventor
マツクス・ブラツター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Endress and Hauser Flowtec AG
Original Assignee
Flowtec AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Flowtec AG filed Critical Flowtec AG
Publication of JPS62174615A publication Critical patent/JPS62174615A/ja
Publication of JPH0554886B2 publication Critical patent/JPH0554886B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/56Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects
    • G01F1/58Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects by electromagnetic flowmeters
    • G01F1/60Circuits therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Volume Flow (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上のfil用分野 本発明は、磁界が連続する半周期において交互に反対の
極性の値を有しかつ信号電圧を各々の半周期において測
定信号−標本化期間の間標本化しかつ磁界の反対の極性
の値において得られた、その都度2つの信号値の差を形
成することによって、有効信号を取り出し、かつ同じ半
周期内の各々の測定信号−標本化期間に続く補償期間に
おいて信号電圧の標本化および記憶によって信号電圧に
反対方向に重畳される補償電圧を発生し、該17償電圧
が補償期間内の信号電圧を0に補償しかつ次のhli償
期開期間推持する、周期的に極性が交番する直流磁界を
用いた磁気−誘導形成量測定における電極回路における
障害電圧の補償方法に関する。
従来の技術 このような形式の方法は、西独国特許第2744845
号明細書および西独国特許第3132471号明細書か
ら公知である。これら公知の方法においては、各々の半
周期において測定信号−標本化期間およびそれに続く補
償期間がある。重畳される補償電圧およびその都度2つ
の順次得られた信号値の差形成によって、信号電圧に含
まれている障害直流電圧は、それらが2つの連続する測
定信号−標本化期間の間においてリニヤに変化する時で
も、抑圧される。上記西独国特許第3132471号明
細書では、磁界は各々の半周期の終了時に直ちに反対の
極性の値に極性変換される。従って磁界は各々の補償期
間において先行する測定信号−標本化期間と同じ値を有
し、その結果補償期間において記憶された補償電圧は、
全体の測定電圧も含んでいる。従って差形成によって得
られる有効信号値は、・1つの順次検出された測定電圧
値、即ち信号電圧中に含まれている測定電圧成分の約4
倍の値に相応する。これに対して上記西独国特許第27
44845号明細書に記載の方法では、各々の半周期に
おいて、磁界が2つの反対の極性の値の一方または他方
の値をとる、アクティブな時相に、磁界が値0をとる、
磁界の加わらない時…が続く。各々の半周期において測
定信号−標本化期間はアクティブな時相にあり、h11
償期間は磁界の加わらない時相にある。この場合差形成
によって得られる有効信号値は、2つの順次検出された
測定電圧値、即ち信号電圧中に含まれている1flll
定市圧成分の約2倍の値に相応する。その理由は、磁界
の加わらない時相において検出されかつ記憶されたMl
i償電圧電圧定電圧成分を含んでいないからである。
磁気−誘導形成量測定は、次の2つの傾向を呈している 一磁界周波数が益々高くなる傾向がありかつこれとの関
連において遮断周波数特性が改善されなければならない
ニ ー消費電力を一層小さくしようと努力が払われているが
、このことは感度の低下と結び付いている。
一層小さなコイル電力ですませようという傾向は、一層
小さな電界強度を実現するが、結果的にこれに相応して
信号レベルら−5留低くなる。その際有効信号レベルは
、増幅器雑音、流れの乱れおよび類似の効果によってi
J起こされかつ以下その全体をひっくるめて雑音信号と
表すことにする交番電圧障害レベルに益々近付く。公知
の方法は、雑音信号抑圧に関して最適ではない。その理
由は、標本化の都度検出された有効信号に雑音信号の偶
然の瞬時値が重畳されるからである。
発明が解決しようとする問題点 確かに標本化および記憶回路において積分作用するr(
C素子を使用することによって、雑音信号のある程度の
平均化を実現することが出来るが、この作用は非常に制
限されている。というのは、RC時定数は常時、利用す
ることが出来る標本化および補償期間の持続時間より著
しく小さく選定されなければならないからである。補償
期間の持続時間が十分に長くない時、補償電圧断しい値
に完全には調整しきれず、結果的に、測定結果に関わっ
てくる誤差が付随することになる。次の点にも別の誤差
発生源がある。即ち出力側において取り出されろ各々の
有効信号値から組み合わされて成る個別測定電圧成分が
、場合によっては同じ周波数特性を有していない種々の
増幅器を介して取り出されることである。
本発明の課題は、雑音信号が大幅に抑圧され補償電圧の
場合によって生じる誤差が作用することがないようにな
りかつ測定結果が増幅器の種々の周波数特性によって妨
害作用を受けることがないようにした、冒頭に述へfこ
形式の方法を提供することである。
問題点を解決するための手段 本発明によればこの課題は、次のように解決される。即
ち a)各々の測定信号−標本化期間におけろ信号電圧の標
本化によって得られた信号値を記憶しb)同じ半周期内
の各々の補償期間に続く補正−標本化期間において信号
電圧を新たに標本化しかつこれにより得られた信号値を
記憶し、C)異なった半周期における2つの補償期間の
間においてその都度得られた、記憶された信号値の差を
形成し、 d) このようにして得られた、その都度2つの差値の
差を、有効信号を取り出すために形成するのである。
発明の作用および発明の効果 本発明の方法では、各々の半周期において信号電圧の2
回の標本化が行われ、その際1回目の標本化は公知のよ
うに補償期間の前に行われる。これに対して2回目の標
本化は、同じ半周期において補償期間後に補償され)二
信号電圧、従って実質的に雑音信号成分、補償電圧の場
合によって生じた誤差および測定電圧の一時的な変化か
ら成る補償された信号電圧に基いて行われる。付加的に
行われる差形成によって、補正−標本化期間において得
られかつ記憶された信号値が、引続く半周期の測定信号
−標本化期間において同じ補償電圧を使用して得られか
つ記憶されている信号値から減算される。従ってこのよ
うな2回の標本化において得られた信号値に含まれてい
る、雑音信号成分および補償電圧の場合によって生じた
誤差は、差形成によって除去される。このようにして障
害成分を含んでいない、順次得られた2つの差値はそれ
からまず、新たな差形成によって有効信号を取り出す2
つの信号値として使用される。このようにして得られる
有効信号値は、公知の方法におけるように、重畳された
障害直流電圧およびこの障害直流電圧のリニヤな変化も
含んでいない。
本発明の方法は、上記西独間特許第3132471号明
細書におけるように、磁界の加わらない時相のない磁気
誘導形成量測定においてら、上記西独間特許第2744
845号明細書におけるように、磁界の加わらない時相
を含む磁気誘導形成量測定においても使用される。出力
側に取り出される有効電圧値はこの場合ら、旧習の場合
信号電圧に含まれている測定電圧成分の4倍の値に相応
し、後者の場合には2倍の値に相応する。
本発明の何初な実施例によれば、信号1u圧を各々の標
本化期間の持続時間に4つたって積分しかつ積分によっ
て得られた積分値を信号値として記憶することによって
、雑音信号の持に申し分のない抑圧が実現される。
実施例 次に本発明を図示の実施例につき図面を用いて詳細に説
明する。
第1図は、流量測定装置を略示する。この流量測定装置
は一部、西独国特許第3132471号明細書に図示さ
れかつ記載されている流量測定装置と一致する。流量測
定装置は、図平面に対して垂直に導電性の液体か流れる
内側が抱締された導管を含んでおり、かつ流量測定装置
は、導管1内の導電性液体の平均流量速度を表す電気信
号を発生する目的を何する。対称性の理由から、導管1
の両側に配置されている、2つの同じ半部に分割されて
いる磁界コイル2が、導管内に管軸線に対して垂直に配
向された磁界I4を発生する。導管lの内部には、2つ
の電極3および4が配設されている。これら電極におい
て、ファラデイーの法則に基いている磁気−誘導形成全
測定計の周知の測定原理に従って、磁界を横切る導電性
の液体の平均の流れ速度に比例する誘起された測定電圧
を取り出すことができる。この測定電圧は磁気−誘導形
流量測定計において通例、障害直流電圧に重畳されてい
る。このような障害直流電圧は、その原因が殊に種々の
電子−化学的な平衡ポテンシャルにありかつ時間の経過
と共に測定電圧の数倍の値をとるようになる可能性があ
る。
コイル制御回路5は、磁界コイル2を流れる電流を制御
回路6の出力側6aから供給されかつコイル制御回路5
の制御入力側5aに加わる制御信号Aに依存して制御す
る。
電極3および4は、差動増幅器7の両方の入力側に接続
されている。この差動増幅器7は小さな増幅度を存する
ので、障害直流電圧が大きい場合でも(典型的な場合に
は±IV)、過制御する可能性はない。差動増幅器7の
出力側は、加算回路8の入力側に接続されており、加算
回路の出力側には、増幅度Vを有する増幅器9の入力端
が接続されている。
加算回路8の別の入力端は、増幅器9の出力側に、公知
の形式の補償回路10を介して接続されている。この補
償回路は、差動増幅器7の出力側電圧U、に含まれてい
る障害直流電圧を抑圧しかっこれにより増幅器9が過制
御されないように、この増幅器9の入力端から隔離する
目的を有している。補償回路!0は、演算増幅器11を
含んでいる。演算増幅器の反転入力側は増幅器9の出力
側に接続されておりかつ基準入力側として用いられる非
反転入力側は、アースに接続されている。演算増幅器1
1の出力側に、スイッチ13、抵抗14および蓄積コン
デンサ15を含んでいる標本化および記憶回路!2が接
続されている。スイッチ13は、制御回路6の出力側6
aから供給される制御信号Bによって操作される。標本
化および記憶回路12の出力側は、加算回路8の第2入
力端に接続されている。
スイッチ13か閉成されている時、増幅器9の出力側か
ら演算増幅器I+、標本化および記憶回路12および加
算回路8を介して増幅器9の入力側に至る閉ループ調整
回路が生じる。この調整回路は、演算増幅器11の反転
入力側、即ち増幅器9の出力電圧を、非反転入力側に加
わる基/$電位、即ちアース電位に調整する。従って標
本化および記憶回路12の出力は、スイッチ13の閉成
によって決められる、各々の補償期間において補償電圧
Ukをとる。この電圧は、加算回路8の別の入力側に同
時に加わる、差動増幅器7の出力側から供給される信号
電圧Urに反対の極性において等しく、その結果加算回
路8の出力電圧U および従って増幅器9の出力電圧v
−IJ  が零になる。蓄積コンデンす15は、抵抗1
4を介してこの補償電圧U。
に充電され、その結果この電圧は、スイッチ13の開放
後も、従って標本化および記憶回路I2の保持相におい
て、その出力が維持される。
従ってこの記憶された補@電圧U、は、次の補償期間ま
で加算回路8においてその都度用わる信号電圧Ufに加
算される。コンデンサー5がスイッチ13の開放後、放
電するのを妨げるために、標本化および記憶回路12の
出力側に通例のようにインピーダンス変換器を後置接続
することができる。このインピーダンス変換器は、簡単
にするために図示はされていない。
抵抗14およびコンデンサー5は一緒に、コンデンサ1
5のクランプ電圧が演算増幅器Mの出力電圧の変化を遅
延して追従することが出来るように作用する時定数を訂
する積分素子を形成する。これにより演算増幅器11の
出力電圧の迅速な変化がスイッチ13の閉成時間の期間
中平均化されるが、補償期間の持続時間および積分素子
の時定数を、補償電圧Ufが各々の補償期間において必
要な値に調整され得るように相互に調節することも必要
である。
増幅器9の出力側には更に積分器!6がスイッチ17を
介して接続されている。スイッチ17は、制御回路6の
出力側6cから送出される制御信号Cによって操作され
る。積分器16は、制御回路6の別の出力側6dと接続
されているりセント入力側16aを有する。制御回路6
は、出力側6dにおいて、短いリセットパルスから成る
制御信号りを送出する。入力側16aに短いリセットパ
ルスが供給される都度、積分器16は積分に対して前辺
て決められた初期値にリセットされる。初期状態は有利
には状態零であり、以下の説明においてら零として扱う
ことにする。
スイッチ17が閉成されている時、増幅器9の出力電圧
v−U  は、積分器I6の信号入力側に加わる。積分
2’s I 6は、先行のりセラー・パルスによって決
められる初期値零からスイッチ17の閉成時間によって
決められる積分期間の持続時間にわたって、信号電圧v
−IJ  を積分する。各々の積分期間の終了時に積分
器16の出力側に、出力信号が取り出されるが、それは
電圧v−U の、積分時間にわたる積分値にtI″I応
する。
積分器16の出力側には、積分器!6から供給される積
分値から、測定すべき流速を表す有効信号値UNを形成
する評価電子装置20が接続されている。評価電子装置
20は、積分器16から順次供給される、4つの積分値
を別個に記憶しかつ記憶された積分値間の既述の差を形
成することが出来るように、構成されている。
第1図に略示されている実施例では、評価電子装置20
は、この目的のために4つのメモリ21.22.23.
24および3つの減算回路25.26.27を含んでい
る。積分器I6の出力信号がアナログ信号である時、評
価電子装置20の構成部分は、図示のように相互接続さ
れておりかつ同様に評価電子装置20に含まれている評
価制御部28によってその作動が制御されるアナログ回
路とすることが出来る。評価制御部28は、必要に応じ
て積分器I6の作動と同期される。このことは、例えば
この制御部が同様に制御回路6の出力側6Cから制御信
号Cを受信するようにして、行うことが出来る。通例、
評価電子回路20を、有利にはマイクロコンピュータの
使用によって、デジタル信号処理用に構成することが望
まれる。その場合第1図に別個に図示のメモリ21.2
2.23.24は、マイクロコンピュータの動作メモリ
の記憶領域であり、かつ減算回路25.26.27の機
能はマイクロコンピュータのマイクロプロセツサによっ
て実行され、その際マイクロコンビ二一夕の動作プログ
ラムが評価制御部28の機能を引き受ける。その場合積
分器!6と評価電子装置20との間に、積分器16のア
ナログ出力信号をマイクロコンピュータにおける処理に
適しているデジタル信号に変換するAD変換器を設ける
ことが出来る。しかし有利には積分器I6はこの場合、
積分器値を表すデジタル信号を直接送出するように、構
成されている。
第2図の信号波形図A、B、C,D、E、F、Gは、流
1測定装置が、西独国特許第3132471号明細書に
記載されているように、磁界の加わらない相なしに作動
する時、第1図に同じ記号が付されている回路点に発生
ずる信号の時間的な経過を示す。
信号波形図A、B%C,Dは、制御回路6から送出され
る、信号値!またはOをとる制御信号を表す。信号波形
図Aに図示されている、コイル制御回路5に供給される
制御信号Aは、2つの連続する周期PおよびP′が図示
されている周期的な矩形信号である。制御信号Aは、j
η期Pにおいて半周期HPIの期間中信号値1をとり、
別の半周期1−I P 2の期間中信号値0をとる。次
の周期P′の相応の半周期は、I(PドおよびHP 2
′によって示されている。
スイッチ13および17に加わる制御信号BないしCに
おいて、信号値1はスイッチの閉成を意味し、信号値O
はスイッチの開放を意味する。従って信号波形図Bにお
ける信号値lの各々の矩形パルスが、持続時間T、の?
i1r償期間全期間る。その経過中和算回路8の出力側
におけろ電圧U は零に補償される。信号波形図Cにお
ける信号l/41の各々の矩形パルスは、持続時間゛r
 の標本化および積分期間を決める。その経過中におい
て、電圧v−U が標本化されかつ積分器16において
積分される。
信号波形図りのリセットパルスは、時間的に信号波形図
Cの矩形パルスのその都度直前に現4する短いパルスで
ある。
コイル制御回路5は、制御信号Aの信号値1において一
定の大きさの直流電流を一方の方向において磁界コイル
2を介して送出するように、また制御信号への信号値0
において同し大きさの直流電流を反対の方向において磁
界コイル2を介して送出するように、構成されている。
コイル制御回路5は、電流を各々の極性において同し一
定の値+I ないし−I に調整するm       
         m電流調整器を含んでいる。磁界コ
イル2を流れる電流の経過は、信号波形図Eに図示され
ている。磁界コイルのインダクタンスのため、電流は切
換え後その都度反対の極性の一定の値Imに所定の遅延
の彼達する。信号波形図Eにおいて、半周期HPIにお
いて負の値から正の値へ切換わる際立上り過渡振動時間
El内に調整された正の値+I に達し、かつ半周期H
PIの残りの時間Flの期間中一定の電流値+1 が成
り立つ。相応の方法において半周期HP2において正の
値から負の値に切換わる際立上り過渡振動時間E2内に
一定の負の値−■ に達しかつ残りの時間F2の期間中
その値が維持される。同じ過程が、次の周期P′の相応
の時間間隔El’ 、Fl′、B2’ 、F2′におい
て繰返されかつ各々別の引き続く周期において同じよう
に繰返される。
磁界■]は、電流■と同じ時間的な経過を示し、その結
果信号波形図Eは磁界ト■に対しても当てはまる。磁界
1(は、時間間隔Flの期間中一方の極性の一定の磁界
強度I] を有しかつ磁界間隔F2の期間中反対の極性
の同じ一定の磁界強度Hを有する。磁界周期の周期持続
時間T。
は、制御信号Aの各々の周期P、P’ 、・・・の持続
時間に等しく、かつ磁界周期は、制御信号Aの周期P、
P′、・・と時間的に一致する。
信号波形図Fは、差動増幅器7の出力側における信号電
圧U、の時間的な経過を示す。電圧U、は、導管1にお
ける流速および磁界Hの磁界強度に比例する測定電圧成
分U、を含んでいる。流速が一定の場合または周期持続
時間T。
に比べて緩慢にしか変化しない流速の場合、測定電圧成
分U4は、磁界■]ないし信号波形図Eにrジける電流
Iと同じ時間的な経過を辿ることになる。測定電圧成分
UMのこの時間的な経過は、信号波形図Eにおいて破線
で示されている。測定電圧UMは、殊にその原因が種々
異なる電子−化学的な平衡ボテンシャルにありかつ磁界
および流速に無関係である障害直流電圧U8に重畳され
ている。障害直流電圧Usは、時間的に一定でなく、そ
れは徐々に変化する。それは測定電圧U、の数倍の値を
とることがある値に達する可能性がある。障害直流電圧
U8の時間的な変化は、簡単にするために信号波形図F
には図示されていない。即ちそれは、通例周期持続時間
の経過において非常に僅かである。
最後に測定電圧U、には、増幅器雑音、流れの乱れおよ
び別の障害作用によって発生される雑音信号URが重畳
されている。従って差動増幅器7の出力側において送出
される信号電圧U。
は、信号波形図Fにおいて実線によって示されている経
過を有する。
信号波形図Gは、補償回路10の作用によって加算回路
8の出力側に得られる電圧Ugを示す。補償電圧U、は
、各々の補償期間において、即ち制御信号Bが信号値1
を有する各々の時間期間中、信号電圧Urと同じ値をと
るが、反対の極性を存している。またこの電圧は、補償
期間の終了時に達した値を、次の補償期間の開始まで維
持する。補償によって電圧U は、各々の補償期間にお
いて値零にされ、かつ補償電圧U は、補償期間の終了
後も電圧U、に引続に き重畳された状態にあるので、信号波形図Gに図示され
た電圧U の時間的な経過が生じる。
増幅器9の出力電圧v−U は、電圧U と8g は、増幅係数Vによってのみ異なっているので、信号波
形図Gは、電圧の縮尺が異なっている点を除けば、増幅
器9の出力電圧に対しても当はまる。
信号波形図Gには、完全な測定サイクルMが図示されて
おりかつ8つの時間区間I、■、■、■、■、■、■、
■に区分されている。次の測定サイクルは、M′によっ
て示されており、かつその時間区間は、相応に記号1’
 、II’、III′、IV′ ・が付されている。測
定ザイクルとしてその都度、ず■すJ信号U8を形成す
るために使用されろすべての信号が得られる経過を何す
る時間期間が表される。各々の測定サイクルの持続時間
T、は、磁界周期の周期持続時間Tに等しいが、測定サ
イクルMは磁界周jtA Pに対して時間的にずれてい
る。
測定サイクルMの第1の時間区間Iは、制御信号Bの矩
形パルス、即ち持続時間TKの補償期間に相応する。こ
の補償期間において、同じ時間期間において生ずる信号
電圧U  とは反r(1) 対の極性だが等しい補償電圧UK(1)が形成される。
従って加算回路8の出力…りにおいて電圧Uf(I)お
よびUk(+)の加算によって得られる電圧Ug(1)
は、時間区間Iにおいて実質的に値零にされる。
時間区間Hの開始直前に、積分器16はリセットパルス
Dによって零にリセットされる。
時間区間■は、制御信号Cのパルスと合致しかつ従って
、その経過中に増幅器9の出力側における電圧”Ug(
II)がスイッチI7の開成によって標本化されかつ積
分器16において積分される、持続時MT−の標本化お
よび積分器間である。
時間区間■において、補償回路10の調整ループは開放
されているが、補償電圧Uk(1)は、引き続き電圧U
、に重畳される。時間区間■における電圧U   は、
先行の時間区間■にf(II) おける電圧Ur(1)とは異なっている。それは、障害
直流電圧Usの僅かな上昇、流速が一定でない場合の測
定電圧Uyの場合により生ずる変動によるが、重畳され
る雑音信号URの不規flll性によるらのが主な原因
である。従って障害直流電圧U および測定電圧UMが
変化することがないものと仮定すると、時間区間Hにお
けろ電圧Ug(Il)は実質的に雑音信号成分からのみ
成っている。−力測定電圧U   および障M(Il) 害直流電圧US(II)は引さ続捕(XIM、圧UK(
+)によって補償されて取り除かれる。即ち増幅器9の
出力側における相応に増幅された電圧V・Ug(fl)
は時間区間■においてスイッチ17の閉成によって標本
化されかつ積分器16において積分時間1゛、にわたっ
て零から増分積分される。積分は、時間区間Hの終了時
におけるスイッチ17の開放によって終了する。それか
ら積分器16の出力側には、積分結果として積分値U 
  が取り出される。
g(n) 時間区間Hにおいて標本化されかつ積分された雑音信号
成分および補償電圧UKの生しろ可能性がある誤差は、
後で説明するように、測定結果の補正のために使用され
る。それ故に時間区間■は、“補正−標本化期間”と表
すことか出来る。
時間区間Hの終了後、積分値しg(II)は評fill
i制御部28によってメモリ21に入力される。
この過程は、例えば制御信号Cの矩形パルスの下降する
側縁によって開始させろことが出来る次の時間区間■は
、磁界コイルにおける電流Iが正の値+! から負の値
−■ に移行しかm つ従って磁界1]の極性が反転する半周期HP 2にお
ける立ち上がり過渡振動時間E2に相応する。この時間
区間における磁界■(は一定でないので、時間区間■は
流量測定のために利用することは出来ない。
時間区間■の開始の直前に、積分器16はりセントパル
スDによって零にリセットされる。
時間区間■は、制御信号Cのパルスと一致するので、再
び標本化および積分期間である。時間区間■は、電流■
がその一定の負の値−IIllを有しかつ磁界Hが反対
極性の方向において一定である、次の補償期間の而に位
置する、時間期間F2つ部分に相応する。それ故にその
後電圧U   における測定電圧成分UMは、反対f(
IV ) の極性を有しく負)、一方障害電圧U8の極性は変化し
ない。引き続いて電圧Uv(■)には、時間区間Iにお
いて形成された補償電圧UK(1)が重畳されるので、
その後は補償電圧UK(1)に含まれている測定電圧成
分−U は電圧Ur(■)の負の測定1[圧成分−U、
に加算され、一方障害直IA?[i圧成分Usは相互に
打ち消される。従って電圧Ug(rV )は実質的に測
定電圧(負の極性をする)の2倍の値および重畳された
雑音信号から成っている。
相応の電圧v−U    は、時間区間■の持g(IV
) 続時間の期間中スイッチ17の開成によって標本化され
かつ積分器I6において積分時間T。
にわたって零から積分される。標本化された信号電圧は
実質的に有効な測定電圧成分−2U。
から成っているので、時間区間■は“測定信号標本期間
”である。
時間区間■の終了時に、積分器16の出力側において積
分値Ug(IV )が取り出される。この積分値は、評
価制御部28を介してメモリ22に入力される。
時間区間■によって、測定サイクルMの第1の半部が終
了する。第2の半部の時間区間■、■、■、■において
、同じ過程が繰り返されるが、その場合電流、磁界およ
び測定電圧の極性は反対である。
時間区間■は、同じ時間区間において生じる信号電圧U
  とは同じであるが反対の極性でr(v) あるhlt償電圧UK(v)が形成される、持続時間T
の補償期間でもある。これら2つの、電圧の加算によっ
て、加算回路8の出力側における電圧Ug(V )は、
時間区間Iにおけるように、実質的に値零にされる。時
間区間■の開始の直前に積分器16はリセットパルスD
によって零にリセットされる。
時間区間■は再び、制御信号Cのパルスによって規定さ
れかつ従って標本化および持続時間′r、の積分期間で
ある。この時間区間■において電圧U   は、重畳さ
れた雑音信号URをr(Vl ) 除けば、実質的にまだ時間区間Vの場合と同じ値を有し
、かつまた記憶かつ重畳された補償電圧U   は変わ
っていないので、時間区間■K() における電圧U   はこの場合ら実質的に雑g(■) 音信号成分と補償電圧UKの場合により生じる誤差とか
ら成る。即ちこの場合も、“補正標本期間°である。
時間区間■の終了時に電圧”Ug(Vl)の標本化およ
び積分によって得られた積分値しg(■)は、メモリ2
3に入力される。
時間区間■は、次の磁界P゛の第1の半周期HPI°に
おける立ち上がり過渡振動時間El’に相応する。この
時間区間において電流■は再び負の値−1から正の値+
I に移行しかつm                
     m磁界I4は新たに極性が切り換えられる。
従ってこの時間区間は、流ffi測定に利用することは
出来ない。 時間区間〜1の直前に、積分2”A I 
6iよりセットパルスDによって零にリセットされる時
間区間■は、測定サイクルMの最後の標本化および積分
期間である。この時間区間〜1において磁界Hは再び第
1の極性の一定の値を存し、かつ電圧Ur(■)は、障
害直流電圧Usおよび/または流速の一時的な変動並び
に重畳される雑音障害号URを考慮にいれなければ、こ
の場合ら時間区間IおよびHの場合と同じ値を何する。
測定電圧成分LIMの極性は再び正であり、一方障害電
圧成分U、の極性は依然として変わらない。信号電圧U
   には引き続き補償r(XV”M) 電圧U   が重畳され続けるので、その後らK(V 
) これら2つの電圧における正の測定電圧成分十UMが加
算され、一方障害直流電圧成分は引き続き相互に打ち消
される。それ故電圧Ug(■)は、時間区間■において
実質的にその時の測定電圧の値、時間区間Vにおいて補
正された測定電圧の値、補正電圧UKのばあいにより生
じる誤差および重畳された雑音信号URから成っている
。即ち時間区間■は、再び“測定信号標本化期間”であ
る。電圧v−U g (■)は、時間区間■においてス
イッチ17の閉成によって標本化されかつ積分器16に
おいて積分時間T、に! わたって零から積分される。時間区間■の終了時に得ら
れた積分値 g(Vl )は、評価制御部28によって
メモリ24に入力される。
このようにして、測定サイクルMが終了し、かつ評価電
子装置20のメモリ21ないし24に、この測定サイク
ルの経過中得られた4つの積分器値か記憶され、これら
は引き続き有効信号値UNを取り出すfこめに処理され
る。
この目的のために、評価制御部28は次の演算を実行す
るように動く: 1、減算回路25か、メモリ21および22に記憶され
ている積分値の間の差を形成する・U25=譜口i−η
W口 2、減算回路26が、メモリ23および24に記憶され
ている積分値の間の差を形成する3、減算回路27が、
減算回路25および26の出力側にて取り出される差値
間の差を形成する; U!1=U26  ’25″″(Ug(■)   g(
Vl))U −(Ug(■)   g(II) ) U これらの演算は、次の意味を有している:1、減算回路
25における減算により、2つの補償期間Iおよび■の
間に得られた、即ち同じ補償電圧U   を用いて形成
された2つK(1) の積分値が相互に減算される。それ故に、この補償電圧
の形成の際生じるすべての誤差およびこの補償電圧に含
まれている雑音信号成分は、この差形成によって取り除
かれる。更に積分期間■および■において積分された雑
音信号成分ら、相互に補償される。これに対して第2の
積分値Ug(IV )に含まれている、いる、積分され
た測定電圧UMの2倍の値はそのまま維持される。
2、減算回路26における減算によって、連続する測定
サイクルMの補償期間Vと次の測定サイクルM′の第1
の補償期間■゛との間に得られた、即ち同じ補償電圧U
K(V)を用いて形成された2つの積分値が相互に減算
される。
3 減算回路27における差形成によって、補償の電圧
の誤差および雑音信号成分が大幅に取り除かれた信号値
が、相互に減算される。
その際これら信号値に含まれている積分された測定電圧
成分が、反対の極性のため加算される。それ故得られた
有効信号値は、積分された測定電圧Uつの4倍の値を含
んでいる(ないし測定電圧が変化する場合、順次積分さ
れた、4つの測定電圧値の合計)。
西独間特許第3132471号明細書から公知の方法と
の比較により直ちに次のことか明らかである。2つの減
算回路25および26の出力信号が、有効電圧値を形成
するための公知の方法において使用される標本値に相当
することである。公知の方法におけるように、減算回路
27における差形成によって障害−tAE電I)EUs
のリニヤな変化ら取り除かれる。補償期間に直接続く付
加的な障害標本期間11および■においてi見られる積
分値を使用した、減算回路25および26における新た
に付は加えられた差形成により、付加的に次の利点か生
じる。即ち雑音信号が、使用される観察時間区間■、■
、■、■にわたって最適に平均化され、かつ補償電圧U
Kの形成の際場合により生じた誤差が、取り除かれるこ
とである。殊に4つの測定信号、値は、測定増幅器特性
および雑音電圧抑圧に関して等GTIiに処理される。
付加的に、時間区間■、■ないし■、■において得られ
た積分値の差を、仔利にもデジタルフィルタリングの後
にら引き続き処理することか出来、これにより変化する
障害直流電圧差も最適に抑圧される。
同じ過程が、再び4つの積分値が評価電子装置に入力さ
れかつ有効信号値を形成するために既述の仕方で処理さ
れる経過を存する次の測定サイクルM′において繰り返
される。
付加的に、各々の積分値を2回利用することによって、
得られた有効信号値の数を2倍にすることか出来る。第
2図の信号波形図Gには、その都度半分が測定サイクル
MおよびM′とオーバラップしている測定サイクルM*
が図示されている。即ち測定サイクルM*は、測定サイ
クルMの時間区間■、■、■、■と、測定サイ* クルM の時間区間1′、n’、II[′、l’V’ 
とから組み合わされて成っている。ia++定サイクす
MおよびM′の上うに、測定サイクルM′ も補償期1
?Jlによって始まる。ill+定サイクすM′の第1
の半部は、時間区間■および■における積分値し   
およびUg(〜1)がメモリ23およびg(Vl) 24に入力された時、自動的に実現され、かつ測定サイ
クルM*の第2の半部は、次の測定サイクルM′の時間
区間■′および■′における積分値しg(If・)およ
びUg(IV’)がメモリ21および22に人力された
時、自動的に実現される。既述の仕方においてこれら4
つの記憶された標本値の差形成によって、測定サイクル
M*に対しても有効信号値UNが形成される。このよう
にして、磁界の各々の半周期の後、導管lにおける流量
に対する効果的な測定値を取り出すことが出来る。
第2図に種々に示されている、測定サイクルの時間区間
を設定するために、次の点を説明しておく: 流量測定計の所定の構成に対して、各々の周期における
立ち上がり過渡振動時間E1およびE2の持続時間T、
が決められる。その際補償期間の持続時間TKも、補償
回路の調整ループの最小時定数によってオーダが前以て
決められる。従って測定サイクルMの全体の持続時間の
うち立ち上がり過渡振動時間区間■および■および補償
時間区間Iおよび■は、その持続時間に関してもはや自
由に選択可能でない。これら時間区間は、信号観察およ
び流量測定のために利用することが出来ない“デッドタ
イム”である。従って測定サイクルMにおけるデッドタ
イム全体TXは、固定的に前以て決められておりかつ次
の値を有する: T  = T 、 + T ■+ T y + T  
〜Iこれに対して標本化および積分期間■、■、■およ
び■は、自由に選択可能である。既述の実施例では、ず
ぺての積分期間は同じ持続時間T6を在ずろ・ ′rH−TI’l’ = T■= Tbm = Tiこ
のことは、最適である。その理由は、その場合相応に積
分された信号電圧は同じ重みで測定に係わってくるから
である。
従って、最適な積分時間T を雑音抑圧に関して求める
ことか、重要である。
信号観察および流量測定のために利用可能な全体の時間
TNは、各々の測定サイクルMにおいて4つの巨木化お
よび積分期間の和に等しいTN−T■+T■+T■+T
■=4・T1更に最適値を定めるために、スペクトル雑
音電圧密度は、磁界周波数の根に反比例することが、仮
定される(例えば半導体におけるI/f−雑音が参考に
なる)。更に、雑音信号は係数に相応して比TN/T、
が上昇するに従って低下することが、周知である。
従って結果として生じる雑音電圧を最小限にするために
、次の関数の最小値 を求めることが出来る。
分析により、この関数がその最小値を TN=T X において有することか、認められる。即ち、全体の積分
時間は、信号観察のために利用出来ない全体の時間と同
じ長さを育しているはずである。
別の理由から、磁界切換周波数を出来るだけ高く選択し
たい場合があるが、その場合でも雑音信号抑圧の最適値
から余り離れないようにしたい。第3図には、関数f(
TN)の相対的な経過が図示されている。全体の積分時
間は、結果的に生じる雑音電圧が10%以上高められる
ことなく、おおよそ次の領域 T  = 0.4T x−1,OT xに選択すること
が出来ることが解る。
第4図の信号波形図A、B、C,D、Eは、西独間特許
第2744845号明細書に記載されているような、磁
気誘導形流量測定装置が磁界の加わらない時相によって
作動される時、第1図の同じ記号が付されている回路点
に発生する信号の時間的な経過を示している。第4図に
示されている記号および値が、第2図の記号および値と
一致する場合には、それらは同じ意味を有する。それ故
詳細な説明は繰り返さない。
第2図の電圧波形図FおよびGは、第4図には簡単にす
るために省略されている。その理由は、磁界の別の時間
的な経過に関して測定サイクル部分の時間的な位置のみ
が重要だからである第4図の方法の、第2図の方法に対
する重要な差異は、制御信号Aの別の時間的な経過によ
って得られる磁界Hが別の時間的な経過を辿ることにあ
る(波形図E)。制御信号Aは、3つの異なった値+1
.01−1をとることが出来、かつコイル制御回路5は
、コイル電流■も、それに応じて磁界Hも制御信号Aに
依存して3つの値を取るように構成されており、その際
次の対応関係が成り立つ: 制御信号A  コイル電流T  磁界H+1     
  +1゜     +HIn−1−IIll−H。
磁界周期Pは、この場合も2つの半周期HP1およびH
F2に分割されている。制御信号Aは、信号値+1を半
周期HPIの第1の部分H1においてのみ取り、−男手
周期HPIの残りの部分R1において信号値0を有する
。第2の半周期HP 2の第1の部分H2において、制
御信号Aは、信号値−■を取り、かつ半周期HP2の残
りの部分において制御信号は再び信号値0を有する。
従って第1の半周期HPIにおいて、磁界I]か値+1
1  をとるアクティブな時相HIがあり、かつそれに
続く、磁界ト■が値Oを取る磁界の加イっらない時相R
1がある。第2の半周JCIJ Iイ2において、磁界
I]が反対の極性の値−1夏  をとるアクティブな時
相H2、および磁界I−1が値0を取る、引き続く磁界
の加わらない時相R2がある。勿論同じ過程は、次の周
期P′および引き続く各々の周期において繰り返される
制御信号B、Cおよび測定サイクルMの相応の時間区間
は、これら磁界時相に関連して次の時間的な位置を有す
る: 制御パルスBと一致する補償期間Iは、磁界の加わらな
い時相R1第1の部分にある。
制御パルスCと一致する補正標本期間■は、補償期間I
に続いて同じく磁界の加わらない時相r(1にある。
同じく制御信号Cと一致する測定信号標本期間■は、磁
界I(がその一定の値−Hに達するアクティブな時相ト
【2の部分にある。
hli償期間■は、磁界の加わらない時相R2の第1の
部分にある。
補正標本期間■は、補償期間Vに続いて同様磁界の加わ
らない時相R2にある。
測定信号標本期間■は、次の周期P′のアクティブな時
相ト■1′にある。
評価電子装置20における補償電圧U、の形成および記
憶並びに電圧v−U gの標本化および積分、積分値の
記憶および記憶された積分値の差の形成は、第2図の信
号波形図に基いて既に説明したのとまさに同じ仕方にお
いて行われる。同じことは、既述の、積分時間の最適な
設定に対する規則にも当てはまる。
しかし既述の方法に対して次の差異がある:補償電圧U
Kの形成および記憶がここでは磁界の加わらない時相に
おいて行われるので、記憶された補償電圧値は測定電圧
成分を含んでいない。それ故評価電子装置20の出力側
において得られるそれぞれの有効信号値UNは、第2図
の方法における4つの標本化された測定電圧値の和に代
イつって、2つの標本化された測定電圧値の和に相応す
る。
しかしこの差異を除けば、第4図の方法によって、第1
図の方法の場合と同じ有利な作用が実現される。
第5図は、第1図の流量測定装置とは次の点でのみ異な
っている流量測定装置の変形実施例を示す。即ち積分器
I6の代わりに補償信号IOの標本化および記憶回路I
2と同じ構成および同じ動作方法を有することが出来る
標本化および記憶回路30が設けられていることである
。標本化および記憶回路30は、スイッチ31、抵抗3
2および蓄積コンデンサ33を含んでいる。スイッチ3
Iは、制御回路6の出力側6Cから送出される制御信号
Cによって操作される。第1図の実施例において制御回
路6の出力側6dにおいて送出されるリセットパルスD
は、第5図の実施例においては必要ない。第5図の装置
の残りの構成部分およびその機能は、第1図の実施例と
比べて変わっていないので、第2図および第4図の信号
波形図が基本的に第5図に対しても該当する。
スイッチ3Iの閉成によって規定されるその都度の標本
期間の期間中、増幅器9の出力電圧v−U が標本化さ
れかつ蓄積コンデンサ33に記憶され、その際標本期間
中に発生する電圧v−U の変動は、RC素子32.3
3の積分作用によって平均化される。迅速な用途の場合
、勿論抵抗32を省略することが出来る。各々の標本期
間の終了後、標本化および記憶回路30の出力側におい
て標本値が取り出される。測定信号標本期間役得られる
2つの新しい標本値は、第1図の装置の場合に得られる
積分値と同じ仕方において評価電子装置20のメモリ2
1ないし24に入力され、かつ各々の測定信号標本期間
の終了の後、記憶された標本値の差が既述の方法におい
て減算回路25.26.27によって形成されて、これ
により有効信号値UNが得られる。標本値がそれ以前に
AD変換されていれば、勿論このことをマイクロプロセ
ッサによって実施することが出来る。
標本化および記憶回路30は、RC素子32.33の積
分作用にも拘わらず第1図の積分器I6の意味における
積分器を形成するのではないことに注目すべきである。
標本化および記憶回路30は、各々の標本過程の前に所
定の出発状態にリセットされないので、この回路は、標
本化された信号電圧v−U の積分を実施せず、かつ従
って各々の標本期間の終わりに得られる標本値は、同じ
信号電圧において積分器I6において得られるはずの積
分値とは異なってLする。
第1図の流出測定装置における積分によって得られる、
雑音信号の抑圧は最適であるが、第5図において適用さ
れる簡単な信号標本化においても、西独間特許第313
2471号明細書および西独間特許第2744845号
明細書から公知である方法に比べて著しい改良が実施さ
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の方法を実施するための装置のブロッ
ク回路図であり、第2図は、磁界の加わらない時相のな
い磁気誘導形流量測定が実施される時の、第1図の装置
の種々の回路点に生ずる信号の波形図であり、第3図は
、積分時間の最適な設定を説明する信号波形図であり、
第4図は、磁界の加わらない時相がある磁気誘尊影流量
測定が実施される時の、第1図の装置の種々の回路点に
生ずる信号の波形図であり、第5図は、第1図の装置の
変形実施例のブロック回路図である。 l・・・導管、2・・・磁界コイル、3.4・・・電極
、5・・・コイル制御回路、6・・・制御回路、7・・
・差動増幅器、8・・・加算回路、9・・・増幅器、1
0・・・補償回路、12・・・標本化および記憶回路、
16・・・積分器、20・・・評価電子回路、21,2
2,23.24・・・メモリ、28・・・評価制御部−
一一−I°−一一一一 FIG、3 有効な領域 FIG、4 一一一一−N”−一 手続補正書(方式) 昭和62年2 月10日 1、テ許庁艮官殿 1、事件の表示  昭和61年特許願第250945号
2・発IU7の名称 電極回路における障害電圧の補償方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称  フローチック・アクチェンゲゼルシャフト4
、代理人 昭和 62年 1 月 27日   (発送日)別紙の
通り

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、磁界が連続する半周期において交互に反対の極性の
    値を有しかつ信号電圧を各々の半周期において測定信号
    −標本化期間の間標本化しかつ磁界の反対の極性の値に
    おいて得られた、その都度2つの信号値の差を形成する
    ことによって、有効信号を取り出し、かつ同じ半周期内
    の各々の測定信号−標本化期間に続く補償期間において
    信号電圧の標本化および記憶によって信号電圧に反対方
    向に重畳される補償電圧を発生し、該補償電圧が補償期
    間内の信号電圧を値0に補償しかつ次の補償期間まで維
    持する、周期的に極性が交番する直流磁界を用いた磁気
    −誘導形流量測定における電極回路における障害電圧の
    補償方法において、 a)各々の測定信号−標本化期間における信号電圧の標
    本化によって得られた信号値を記憶し、 b)同じ半周期内の各々の補償期間に続く補正−標本化
    期間において信号電圧を新たに標本化しかつこれにより
    得られた信号値を記憶し、 c)異なった半周期における2つの補償期間の間におい
    てその都度得られた、記憶された信号値の差を形成し、 d)このようにして得られた、その都度2つの差値の差
    を、有効信号を取り出すために形成することを特徴とす
    る電極回路における障害電圧の補償方法。 2、信号電圧を各々の標本化期間の持続時間にわたって
    積分しかつ積分によって得られた積分値を信号値として
    記憶する特許請求の範囲第1項記載の電極回路における
    障害電圧の補償方法。 3、すべての積分期間は相互に実質的に同じ大きさであ
    る特許請求の範囲第2項記載の電極回路における障害電
    圧の補償方法。 4、各々の磁界周期において積分期間の全体の持続時間
    の、残りの期間の全体の持続時間に対する比は、約0.
    4ないし1.0の領域にある特許請求の範囲第2項また
    は第3項記載の電極回路における障害電圧の補償方法。 5、各々の磁界周期において積分期間の全体の持続時間
    は、残りの期間の全体の持続時間に実質的に等しい特許
    請求の範囲第5項記載の電極回路における障害電圧の補
    償方法。
JP61250945A 1985-10-23 1986-10-23 電極回路における障害電圧の補償方法 Granted JPS62174615A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19853537752 DE3537752A1 (de) 1985-10-23 1985-10-23 Verfahren zur kompensation von stoerspannungen im elektrodenkreis bei der magnetisch-induktiven durchflussmessung
DE3537752.6 1985-10-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62174615A true JPS62174615A (ja) 1987-07-31
JPH0554886B2 JPH0554886B2 (ja) 1993-08-13

Family

ID=6284286

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61250945A Granted JPS62174615A (ja) 1985-10-23 1986-10-23 電極回路における障害電圧の補償方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4704908A (ja)
EP (1) EP0219725B1 (ja)
JP (1) JPS62174615A (ja)
CN (1) CN1016276B (ja)
DE (2) DE3537752A1 (ja)
DK (1) DK164608C (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003329499A (ja) * 2002-05-14 2003-11-19 Krohne Messtech Gmbh & Co Kg 測定周波数により動作する測定方法の不確実性を検出する方法

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625155A (en) * 1901-09-03 1997-04-29 Aichi Tokei Denki Co., Ltd. Electromagnetic flowmeter
JP2514960B2 (ja) * 1987-04-13 1996-07-10 愛知時計電機株式会社 電磁流量計
DE3812309C1 (ja) * 1988-04-13 1989-12-21 Flowtec Ag, Reinach, Basel, Ch
DE3815190A1 (de) * 1988-05-04 1989-11-16 Fischer & Porter Gmbh Verfahren zur kompensation vom im elektrodenkreis einer magnetisch-induktiven durchflussmesser-anordnung auftretenden stoerspannungen sowie offset-spannungen von dem elektrodenkreis nachgeschalteten verstaerkerstufen
DE3829063C3 (de) * 1988-08-26 1998-01-29 Danfoss As Verfahren zur Drift-Erkennung eines Meßwertumformers bei magnetisch-induktiver Durchflußmessung und magnetisch-induktiver Durchflußmesser
DE3903068A1 (de) * 1989-02-02 1990-08-16 Turbo Werk Messtechnik Gmbh Induktiver durchflussmesser
EP0521169B1 (de) * 1991-06-08 1995-11-08 Endress + Hauser Flowtec AG Magnetisch-induktiver Durchflussmesser
DE4119372A1 (de) * 1991-06-12 1992-12-17 Fischer & Porter Gmbh Schaltungsanordnung fuer eine vorrichtung zur messung des volumenstroms eines ein rohr durchfliessenden mediums
DE4122225A1 (de) * 1991-07-04 1993-01-07 Fischer & Porter Gmbh Schaltungsanordnung zur ermittlung von fehlern in einer magnetisch-induktiven durchflussmessanordnung
EP0596153A1 (de) * 1992-11-06 1994-05-11 TURBO-WERK Messtechnik GmbH Induktiver Durchflussmesser
DE4423169C2 (de) * 1994-07-04 2000-09-07 Krohne Ag Basel Verfahren zur Messung des Durchflusses eines strömenden Mediums
SE510296C2 (sv) * 1995-05-22 1999-05-10 Jerker Delsing Sätt och anordningar vid mätning av flöde
DE59509590D1 (de) * 1995-10-20 2001-10-18 Flowtec Ag Magnetisch-induktiver Durchflussmesser zur Messung von nicht-newtonschen Flüssigkeiten
US5907103A (en) * 1996-06-20 1999-05-25 Endress + Hauser Flowtec Ag Instrumentation amplifier arrangements of electromagnetic flowmeters
DK0814324T3 (da) * 1996-06-20 2000-03-27 Flowtec Ag Måleforstærkerindretninger i magnetisk-induktive gennemstrømningsmålere
JP3238084B2 (ja) * 1996-12-04 2001-12-10 株式会社東芝 電磁式流量計測システム
GB2324606B (en) * 1997-04-25 2002-01-16 Kent Meters Ltd Electromagnetic flowmeter
DE19938160C2 (de) * 1999-08-16 2003-11-20 Krohne Messtechnik Kg Magnetisch-induktives Durchflußmeßverfahren und Durchflußmeßgerät
US6708569B2 (en) 2001-07-06 2004-03-23 Endress + Hauser Flowtec Ag Method of operating an electromagnetic flowmeter
EP1273891A1 (de) * 2001-07-06 2003-01-08 Endress + Hauser Flowtec AG Verfahren zum Betrieb eines magnetischinduktiven Durchflussmessers
DE10317456B4 (de) * 2003-04-16 2005-09-29 Siemens Flow Instruments A/S Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflußmessers
DE10326374A1 (de) * 2003-06-12 2005-01-05 Siemens Flow Instruments A/S Magnetisch-induktiver Durchflußmesser
DE102005033290B4 (de) * 2005-07-16 2013-11-28 Abb Ag Verfahren und Einrichtung zur Erkennung von physikalisch-chemischen Zuständen an Messelektroden eines Durchflussmessers
DE502005009845D1 (de) * 2005-09-21 2010-08-12 Siemens Ag Verfahren zum betreiben eines elektromagnetischen durchflussmessers sowie elektromagnetischer durchflussmesser
GB2451284B (en) * 2007-07-26 2012-10-17 Abb Ltd Flowmeter
DE102012106926A1 (de) 2012-07-30 2014-05-15 Endress + Hauser Flowtec Ag Meßelektronik sowie damit gebildetes Meßsystem
DE102013103211A1 (de) * 2013-03-28 2014-10-02 Endress + Hauser Flowtec Ag Magnetisch-induktives Durchflussmessgerät
EP2923182B1 (de) * 2013-09-25 2016-11-30 Krohne Messtechnik Gmbh & Co. Kg Verfahren zum betreiben eines magnetisch-induktiven durchflussmessgeräts
CN103728576B (zh) * 2013-12-30 2016-03-02 中国计量科学研究院 一种用于电工钢连续铁损测量的直流磁场补偿装置及方法
DE102017105959B4 (de) 2017-03-20 2022-08-04 Endress + Hauser Flowtec Ag Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts und ein magnetisch-induktives Durchflussmessgerät
DE102018115628B4 (de) * 2018-06-28 2020-02-13 Endress+Hauser Flowtec Ag Verfahren zur Inbetriebnahme eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgerätes und ein magnetisch-induktives Durchflussmessgerät
DE102018214402A1 (de) * 2018-08-27 2020-02-27 Volkswagen Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Analog-Digital-Wandlung, elektrisches Netz

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2052175C3 (de) * 1970-10-23 1978-12-21 Karl Walter Prof. Dr.- Ing. 5910 Kreuztal Bonfig Verfahren zur Kompensation der elektrochemischen Störgleichspannung bei der induktiven Durchflußmessung mit Gleichfeld bzw. geschaltetem Gleichfeld
DE2410407C3 (de) * 1974-03-05 1981-05-21 Fa. Ludwig Krohne, 4100 Duisburg Verfahren zur Kompensation der elektrochemischen Störgleichspannung bei der induktiven Durchflußmessung mit periodisch zwischen zwei Induktionswerten hin- und hergeschaltetem Gleichfeld
DE2744845C3 (de) * 1977-10-05 1985-08-08 Flowtec AG, Reinach, Basel Verfahren zur Kompensation der elektrochemischen Störgleichspannung bei der magnetisch-induktiven Durchflußmessung mit periodisch umgepoltem magnetischem Gleichfeld
US4318617A (en) * 1979-12-14 1982-03-09 Keuffel & Esser Company DC Shift error correction for electro-optical measuring system
DE3132471C2 (de) * 1980-10-02 1984-11-29 Flowtec AG, Reinach, Basel Verfahren und Anordnung zur Kompensation der Störgleichspannungen im Elektrodenkreis bei der magnetisch-induktiven Durchflußmessung
US4382387A (en) * 1980-10-02 1983-05-10 Flowtec Ag Method of compensating the interference DC voltages in the electrode circuit in magnetic-conductive flow measurement
DE3314954A1 (de) * 1983-04-25 1984-10-25 Fischer & Porter GmbH, 3400 Göttingen Schaltungsanordnung zur unterdrueckung von gleichtaktspannungen und elektroden-stoergleichspannungen bei der auswertung von messwertspannungen, die von messelektroden eines induktiven durchflussmessgeraetes abgegeben werden
JPS604811A (ja) * 1983-06-23 1985-01-11 Yokogawa Hokushin Electric Corp 電磁流量計
DE3340330A1 (de) * 1983-11-08 1985-05-15 Flowtec AG, Reinach, Basel Verfahren und anordnung zur kompensation eines sich zeitlich nichtlinear aendernden elektrischen signals
EP0147754B1 (de) * 1983-12-16 1987-07-15 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Umwandlung des Ausgangssignals eines Drehgeschwindigkeitsmesswertgebers in ein störungsarmes Signal
DE3423076A1 (de) * 1984-06-22 1986-01-02 Bopp & Reuther Gmbh, 6800 Mannheim Magnetisch-induktives durchflussmessverfahren

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003329499A (ja) * 2002-05-14 2003-11-19 Krohne Messtech Gmbh & Co Kg 測定周波数により動作する測定方法の不確実性を検出する方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE3537752A1 (de) 1987-04-23
DE3669201D1 (de) 1990-04-05
EP0219725B1 (de) 1990-02-28
DK507386A (da) 1987-04-24
JPH0554886B2 (ja) 1993-08-13
US4704908A (en) 1987-11-10
DK507386D0 (da) 1986-10-22
EP0219725A1 (de) 1987-04-29
DK164608C (da) 1992-12-14
DK164608B (da) 1992-07-20
CN1016276B (zh) 1992-04-15
CN86106913A (zh) 1987-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62174615A (ja) 電極回路における障害電圧の補償方法
US4752733A (en) Compensating circuit for a magnetic field sensor
JPH05180674A (ja) 磁気誘導型流量計
JP3117327B2 (ja) 電磁流量計
JPS6250764B2 (ja)
US5621177A (en) Electromagnetic flowmeter
US4644799A (en) Electromagnetic flow meter
JP2661933B2 (ja) インバータの出力トランスの1次巻線を流れる電流の直流分の測定回路
JPH0258569B2 (ja)
US5641914A (en) Inductive flow meter
JP2001324520A (ja) インピーダンス検出回路、インピーダンス検出装置、及びインピーダンス検出方法
US4723449A (en) Electromagnetic flowmeters
CN113189384A (zh) 磁通门电流传感器采样电阻纹波电流补偿方法
JPS6055230A (ja) 電磁流量計
JPH05172600A (ja) 容量式電磁流量計
GB2034998A (en) Waveform distortion correction
JPS6146578A (ja) 独特な未知の時間と共に変化する信号の支配的な周波数を測定・確認する装置
JPH07333020A (ja) 電磁流量計
JPS58196420A (ja) 電磁流量計
SU1012026A1 (ru) Электромагнитный расходомер с частотным выходом
JPH0791994A (ja) 電磁流量計におけるノイズ除去方法と変換器
JPH09189588A (ja) 電磁流量計
JPS58208625A (ja) 電磁流量計
JPH0228807B2 (ja) Denjiryuryokei
JPS63252070A (ja) フイ−ドバツククランプ回路