JPS62125440A - 試験実施方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、システムを試験する方式に係り、特に多くの
装置から構成されたシステムを試験する場合に好適な試
験方式に関する。

〔発明の背景〕

従来の試験構成を第６図に示す。

従来は、装置を試験する場合、被試験装置に対応する試
験プログラムを、外部入力装置６から、上記℃は装置２
にロードし、保守者が、諸条件を８足し起動する方式を
とっている。

被試験装置毎に、上記操作を行うため、システム全体の
装置を試験す／）場合、保守者の操作がγ帖：′こなり
、かつ定期試験を実施する場合、毎回同一操作を全装置
数分行なうのは無駄である。

ン’ｌおこの種の方式に関するものには、例えばＮＥＣ
技報（Ｓ５０．５月号）Ｄ７０自動交換機特集の中のＤ
７０形自動交換機システム試験診断プログラムが挙げら
れる。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、多くの装ｄから構成されるシステムに
おいて、全装置を試験する場合各々装置試験プログラム
をその都度実施することなく一度の起動により可能な試
験方式を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、装置を試験プログラムにより試験する際の実
施方法を、記憶すれば、その都度各装置対応の試験プロ
グラムの起動することなく試験実施可能と考え、試験実
施条件と試験プログラムの実施順序を記憶させ、＋ａ序
と条件により逐次装置の試験を実施する方式に上り前記
目的を達成するものである。

［発明の果廊例〕 以下本発明の一メ凡例を図により説明する。

第１図ｅま、不発明による試験実行時の構成を示し、第
２図は、本発明によるメモリに記憶される。試験実施順
序と、各装置試験プログラムの諸条件を示す。本実施例
によれば、システムで必要とする装置試験プログラムの
全てを外部入力装［ｉｉ３から、ファイルメモリ５にロ
ードしておく。

またファイルメモリには、各装置試験プログラムを実施
するために必要な諸条件と、試験プログラムの実行順序
を記憶させておく。本実施例では第２図の１次テーブル
に示す様に、試験プログツムの実行順序が、装置Ａの試
験プログラム（Ａ’ｒＰ）を１＃ｒに、２＃にＢＴＰ、
３＠にＣＴＰとなっており、システム内の装置試験プロ
グラムの実施は終了する。また２次テーブルには各装置
試験プログラムを実施するための諸条件が書かれている
。

保守者が試、横−Ｉｉ１！施の指示を行なうと、プロセ
ッサ１は、前記の試験実施順序に従い、あらかじめファ
・「ルメモリ５に入っているＡＴＰを上記１１を装置２
にロードし、ＡＴＰの諸条件により、試験を実施する。

Ａ　’ｒ　Ｐの試験が終了すると５次ノＢ　Ｔ　Ｐおよ
びＣＴＰｉ同様の手順で実施する方式である。本実施例
によれば、一度の起動により、ゾスデムト″Ｊのあらか
じめ指示された順序に従い、全Ｃの試験を実施する効果
がある。

〔発明の効果〕

不発明によｒＬば、一度の起動により、システム内の指
示のある装置全てが、試験を実施可能であり、保守者の
操作の繁雑さをなくし、また定期試験の様に、毎回同一
操作を全装置数分行なう場合の無駄な時間を削減する等
の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の試験方式の構成とデータ
の流れ図、第２図は、本発明による装置試験プログラム
の実行順序と、各装置試験プログラムを実施するための
諸条件の書かれたテーブルの説明図、 第３図は、従来のｆ′、鋏方式の構成とデータの流れ図
である。 １・・・プロセッサ　　　　　　２・・・主記憶装置３
・・・外部入力装置　　　　　４・・・被試験装置５・
−・７ア／ｆルメモリ　　　　　６山−次テーブル７・
・・二次テーブル。 第　Ｉ　区 ！ Ｊ” 嘉２　同 、、’　　　　　　　　７ 第　３　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、複数の装置から構成されているシステムで各装置対
   応の装置試験プログラムを持ち、そのシステム内のプロ
   セツサにより装置試験プログラムが実施し、装置の機能
   確認がされるシステムにおいて、各々の装置試験プログ
   ラム実施のための諸条件と、起動順序を、メモリに記憶
   させ、保守者の起動指示により、システム内のプロセツ
   サは、前記メモリの装置試験プログラムの実施条件を解
   釈し、指示された装置試験プログラムを、主記憶装置に
   引上げ、逐次試験実施することを特徴とする試験実施方
   式。