JPS62117394A - 低温焼成セラミツクス多層配線基板 - Google Patents

低温焼成セラミツクス多層配線基板

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JPS62117394A
JPS62117394A JP60255845A JP25584585A JPS62117394A JP S62117394 A JPS62117394 A JP S62117394A JP 60255845 A JP60255845 A JP 60255845A JP 25584585 A JP25584585 A JP 25584585A JP S62117394 A JPS62117394 A JP S62117394A
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JP
Japan
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low
alumina
wiring board
conductor
glass
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JP60255845A
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福田 順三
昌志 深谷
進 西垣
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Narumi China Corp
Original Assignee
Narumi China Corp
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  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、セラミックス多層配線基板、殊に低温焼成が
可能なセラミックスの多層配線基板に関するものである
(従来技術) 従来、一般的にはW又はMoを導体とするアルミナ系の
高温焼成多層基板が使用されているが、この高温焼成多
層基板では、アルミナの誘電率が高く、導電抵抗も高い
ため、信号伝播遅延時間も長くなシコンピーータ等の高
速化、高性能化の障害となっていた。
このため、高温焼成多層基板に代わるものとして低融点
ガラスにアルミナを添加したセラミックスを基板材料と
して+ A、g + At、+ + Pt等の低抵抗金
属を導体とし、と肛らを多層に積層し7た低温焼成セラ
ミックス多層配線基板の開発が進められているO (発明が解決しようとする問題点) 低温焼成セラミックス多層配線基板←1、+ Ag+ 
Au 1pt等を導体としてお9 、 W−Mo等の高
融点金属を導体とした高温焼成セラミックス多層配線基
板に比較して ■ セラミックスの誘電率が小さく、信号伝播速度が速
い。
■ 高電気伝導性金属を導体として使用できるため配線
抵抗が小さい。
■ 空気中で800〜1,000℃で焼成可能である。
等の優れた特徴を有している。
ところが、従来の低温焼成セラミックス基板の抗折強度
は2,000kg/■2で高温焼成のアルミナ系セラミ
ックス基板の抗折強度3.000〜4. OOOkg/
mn2に比較して弱く、実用上は抗折強度の強いものが
望ましいため、抗折強度の強いものが必要な場合。
できる限シガラス成分を少くしてアルミナ成分の多い組
成としていた。
しかし、アルミナ成分の多いものはAg−Au−Pt等
の金属導体とセラミックスとを同時に焼成する際、導体
成分へのガラス成分の反応が弱くなシ。
導体の付着強度、殊に150℃での熱エージング後の付
着強度の弱いものしか得られなかった。
また、導体成分とセラミックス成分の収縮挙動の差が大
きいため、焼成後反りが発生・するという不具合があっ
た。
一方、 RuO2或はBi2Ru2O,等とガラス成分
とよフなる抵抗体を多層配線基板内に内蔵する場合には
保護層としてセラミックグリーンシートと同一の材料を
用いていたが、との月利は焼成後のレーザトリミング作
業において、レーザーの吸収が悪く、抵抗値の吸収が悪
く、抵抗値の調整に長時間が必要であると共に、調整後
の抵抗値の変化率が大きく、所定の抵抗値が得られなか
った。
更に、従来セラミックス成分と導体成分との利殖強度が
弱い場合、この欠点を解消するために。
セラミックス中にガラスフリットを添加するとと或はC
uO等アルミナ成分と化学反応を起させる添加物を加え
る方法等が試みられているが、これらの方法を低温焼成
セラミックス多層基板に適応しまた。 CuOの添加は
CuOがガラス中に拡散してしまい接着強度を高める効
果は殆んどないと共に。
焼成時の反応も大きくなる等、いずれの方法も十分満足
の行く解決手段とはなシ得なかった。
(発明の目的) 本発明は従来の低温焼成セラミックス多層配線基板の欠
点を解消した。基板強度が強く、セラミックスと導体と
の付着強度、半田ぬれ性及び焼成時の反応のいずれもが
実用上十分満足の行く良好な特性を有する低温焼成セラ
ミックス多層配線基板を得ることを目的とするものであ
る。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、低融点ガラスにアルミナを添加した低温焼成
セラミックス多層配線基板の導体間の絶縁層にMnO2
又はCr2O3を0.1〜10.0重量%添加したこと
を特徴としている。添加されるアルミナには、シリカ、
コージェライト、炭化硅素、窒化硅素、フメルステライ
ト、ジルコニア、スピネル等の不純物を10チ迄含んで
いてもよい。
また、望ましくは、低融点ガラスはCaO−Al2Os
−Sin2− B2O3又はMgO−Al2O3−Si
O2− B2O3とし。
グリーンシートと導体間の絶縁層との焼成後のアルミナ
含有率の差が0乃至:’I Owt%としたものである
(実施例) 本発明者らは低融点ガラスとして第1表に示すAI”A
2の組成と有する2種類の低融点ガラスを用意した。
第1表 また、導体成分は、 Ag −Pd −Pt等より成り
基体の焼成温度で焼結する材質であれば良いので。
第2表に示す如(、Ag −Pd −Ptの配合を異な
ら機成分をブチルカルピトール、ブチルカルピト−ルア
セテート或はテレピネオール等の溶剤に溶解したビヒク
ル中に分散させた導体ペーストを用意した。
第2表 そして、前記した第1表にガラス成分にアルミナを混合
したものに重量比でアクリル樹脂10チトルエン30%
、イソゾロビルアルコール10チ及びジブチルフタレー
ト5チを混合して基体(セラミックグリーンシート)を
作成し、また、導体間絶縁材料は、前記基体材料にM 
n 02又はCr206を重量比で0.1〜10.0%
添加したものを作成した。
第3表は2本発明の実施例と比較例としての従来例につ
いて異なる絶縁体組成、基体(セラミックグリーンシ・
−ト)組成及び導体組成のもので900〜i、o o 
o℃の焼成温度で焼成したセラミックス基板(焼成物)
の導体特性を示1−たものである。
以下余白 第3表の実施例1〜13は第1表のA2のガラス組成を
有するガラスとアルミナとの配合を変えると共にCr2
O,の添加量を変えたもの、実施例14〜26は第1表
の盃2のガラス組成を有するガラスとアルミナとの配合
を変えると共に+ MnO2の添加量を変えたもの2寸
だ、実施例27〜31は、第1表扁lのガラス組成を有
するガラス6()チにアルミナ4.0 %を混合したも
のに添加物を代えて添加したもの、更に、実施例32〜
34は。
ガラスとアルミナの混合割合及び添加物としてのMn 
O2を一定にして導体組成を第2表に示す組成に変えた
ものである。
そして、実施例1〜34はいずれもセラミックグリーン
シート(基体)と導体及び導体間絶縁体とを同時に一体
焼成したもの、また、実施例35は実施例20と同一条
件の材料をグリーンシート上に導体絶縁体を印刷して9
00℃で焼成した基板上に導体ペーストを印刷して90
0℃で焼成したものである。
第3表から明らかな通り、比較例1,3,4゜5は引張
り強度(土田伺強度)が弱く、比較例2゜4は焼成後の
反りが大きいのに対し1本発明の実施例1〜34はいず
JlもGf FTIぬノ1性15以下。
150℃熱エーノング後の引張強度t、 2 kg/2
ym”以上、焼成後の反り0.20 +@/ −10m
ar−1以下であり、比較例として示す従来の低温焼成
セラミックス多層配線基板に比較して優れた4!J性を
有している。
また、実施例35の十うミッ、タグリーンシートと導体
及び導体間絶縁体を1回毎に焼成したものも比較例1に
比較して明らかな如く良好な特性を有している。
実施例から明らかな通シ、絶縁体にCr2O3又はMn
Oを添加するととによって、これらの成分によシ導体と
セラミックス間の接合が強くなる。
しかしt Cr2O,の添加量が多くなると反りが大き
くなり、かつMnO2の添加量が多くなると利殖強度が
低下するので、 MnO2はCr2O3の添加量は10
wt%以下でなければならない。
また、Cr2O3又はMnO2の成分は酸化物に限らず
金属Cr又はMnでもよく、焼成してCr2O5或はM
n O2となる。例えばp Cr l Mn vジネー
ト或はアルコQ;ユ)ド等の有機Cr + Mn化合物
であっても良い。
更に、添加方法は、絶縁体セラミック中に直接添加する
方・法、ガラス中に添加してMnO2又はCr2O3人
シのガ゛ラスを作成してこれとアルミナとを所定の割合
で混合する方法等でもよい。
なお、セラミックス多層配線基板の最上層部の導体の付
着強度だけが問題になる場合、最上層導体の下一層のみ
を本発明を実施して、他は従来通シ、セラミックスグリ
ーンシートと導体間絶縁体とを同一の組成として積層し
ても同効である。
(発明の効果)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)低融点ガラスにアルミナを添加した低温焼成セラ
    ミックス多層配線基板において、焼成後の導体間の絶縁
    層にMnO_2又はCr_2O_3を0.1〜10.0
    重量%添加したことを特徴とする低温焼成セラミックス
    多層配線基板。
  2. (2)低融点ガラスをCaO−Al_2O_3−SiO
    _2−B_2O_3又はMgO−Al_2O_3−Si
    O_2−B_2O_3としたことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載の低温焼成セラミックス多層配線基
    板。
  3. (3)基体となるグリーンシートと導体間の絶縁層との
    焼成後のアルミナ含有率の差が0〜30wt%としたこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の低温焼成
    セラミックス多層配線基板。
JP60255845A 1985-11-16 1985-11-16 低温焼成セラミツクス多層配線基板 Expired - Lifetime JPH069320B2 (ja)

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JP60255845A JPH069320B2 (ja) 1985-11-16 1985-11-16 低温焼成セラミツクス多層配線基板
US06/931,697 US4748085A (en) 1985-11-16 1986-11-14 Multilayer ceramic circuit board fired at a low temperature
EP86115894A EP0223220B1 (en) 1985-11-16 1986-11-15 Multilayer ceramic circuit board fired at a low temperature
DE8686115894T DE3681120D1 (de) 1985-11-16 1986-11-15 Bei niedriger temperatur gefrittete keramische mehrschichtschaltungsplatte.

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JPH069320B2 JPH069320B2 (ja) 1994-02-02

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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