JPS62115458A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS62115458A JPS62115458A JP25606485A JP25606485A JPS62115458A JP S62115458 A JPS62115458 A JP S62115458A JP 25606485 A JP25606485 A JP 25606485A JP 25606485 A JP25606485 A JP 25606485A JP S62115458 A JPS62115458 A JP S62115458A
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- layer
- photoconductive
- gas
- electrophotographic photoreceptor
- light
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
- G03G5/08242—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers at least one with varying composition
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/0825—Silicon-based comprising five or six silicon-based layers
- G03G5/08257—Silicon-based comprising five or six silicon-based layers at least one with varying composition
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が漫
れた電子写真感光体に関する。
れた電子写真感光体に関する。
[従来技術とその問題点1
従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF)等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF)等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の3慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の3慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著Cく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
影響を著Cく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有様光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a−8iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太1
1電池、?IIl!トランジスタ及びイメージセンサへ
の応用が活発になされている。このa−3iの応用の一
環として、a−8iを電子写真感光体の光導電性材料と
して使用する試みがなされており、a−3iを使用した
感光体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がな
いこと、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を
有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が浸
れていること等の利点を有する。
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太1
1電池、?IIl!トランジスタ及びイメージセンサへ
の応用が活発になされている。このa−3iの応用の一
環として、a−8iを電子写真感光体の光導電性材料と
して使用する試みがなされており、a−3iを使用した
感光体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がな
いこと、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を
有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が浸
れていること等の利点を有する。
このa−8iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間にブロッ
キング層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた
積層型の構造にすることにより、このような要求を満足
させている。
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間にブロッ
キング層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた
積層型の構造にすることにより、このような要求を満足
させている。
ところで、a−8iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8ill中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気
的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−3i1
1に侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャ
ップが大きくなり、a−3iの抵抗が高くなるが、それ
にともない、長波長光に対する光感度が低下してしまう
ので、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプ
リンタに使用することが困難である。また、a−3i1
11中の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって
、(SiH2)n及びSiH2等の結合構造を有するも
のが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうする
と、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増
加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体とし
て使用不能になる。逆に、a−8i中に侵入する水素の
量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、
その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増
加する。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダン
グリングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が
少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低
下し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してし
まい、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8ill中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気
的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−3i1
1に侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャ
ップが大きくなり、a−3iの抵抗が高くなるが、それ
にともない、長波長光に対する光感度が低下してしまう
ので、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプ
リンタに使用することが困難である。また、a−3i1
11中の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって
、(SiH2)n及びSiH2等の結合構造を有するも
のが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうする
と、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増
加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体とし
て使用不能になる。逆に、a−8i中に侵入する水素の
量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、
その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増
加する。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダン
グリングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が
少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低
下し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してし
まい、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
尚、長波長光に対する感度を高める技術として、シラン
系ガスとゲルマンQeH4とを混合し、グロー放電分解
することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生成
するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH4と
では、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造欠
陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。ま
た、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなるの
で、廃ガス処理も?!雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
系ガスとゲルマンQeH4とを混合し、グロー放電分解
することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生成
するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH4と
では、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造欠
陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。ま
た、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなるの
で、廃ガス処理も?!雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、広い波長領域
に亘って感度が高く、耐環境性が優れた電子写真感光体
を提供することを目的とする。
、帯電能が優れており、残留電位が低く、広い波長領域
に亘って感度が高く、耐環境性が優れた電子写真感光体
を提供することを目的とする。
c問題点を解決するための手段j
この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体上に形成されたブロッキング層と、この
ブロッキング層の上に形成された光導電層と、を有する
電子写真感光体において、前記ブロッキング層は、炭素
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第1II族及び第1Viから選択された少
なくとも一種の原子を含有するマイクロクリスタリンシ
リコンで形成され、前記光導電層は、マイクロクリスタ
リンシリコン層と、第1のアモルファスシリコン層と、
炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原
子を含有し、前記炭素、窒素及び酸素から選択された少
なくとも一種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形
成している第2のアモルファスシリコン層との積層体か
ら成ることを特徴とする。
の導電性支持体上に形成されたブロッキング層と、この
ブロッキング層の上に形成された光導電層と、を有する
電子写真感光体において、前記ブロッキング層は、炭素
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第1II族及び第1Viから選択された少
なくとも一種の原子を含有するマイクロクリスタリンシ
リコンで形成され、前記光導電層は、マイクロクリスタ
リンシリコン層と、第1のアモルファスシリコン層と、
炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原
子を含有し、前記炭素、窒素及び酸素から選択された少
なくとも一種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形
成している第2のアモルファスシリコン層との積層体か
ら成ることを特徴とする。
この発明の電子写真感光体は、前述の従来技術の欠点を
解消し、優れた光導電特性(電子写真特性)と耐環境性
とを兼備えた電子写真感光体を開発すべく本願発明者等
が種々実験研究を重ねた結果、光導電層の一部又は全部
が、種としてマイクロクリスタリンから成るか、又はア
モルファスシリコンとマイクロクリスタリンシリコンと
の積層体とすることにより、この目的を達成することが
できることに想到して、この発明を完成させたものであ
る。
解消し、優れた光導電特性(電子写真特性)と耐環境性
とを兼備えた電子写真感光体を開発すべく本願発明者等
が種々実験研究を重ねた結果、光導電層の一部又は全部
が、種としてマイクロクリスタリンから成るか、又はア
モルファスシリコンとマイクロクリスタリンシリコンと
の積層体とすることにより、この目的を達成することが
できることに想到して、この発明を完成させたものであ
る。
以下、この発明について具体的に説明する。
この発明の電子写真感光体のブロッキング層には、半導
体としてのアモルファスシリコン(以下a−5iとする
)又はマイクロクリスタリンシリコン(以下μC−8i
とする)が使用される。
体としてのアモルファスシリコン(以下a−5iとする
)又はマイクロクリスタリンシリコン(以下μC−8i
とする)が使用される。
μC−3iは、以下のような物性上の特徴により、a−
31及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、×1!回折測定において
は、a−8iは、無定形であるため、ハローのみが現れ
、回折パターンを認めることができないが、μC−8i
は、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パタ
ーンを示す。
31及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、×1!回折測定において
は、a−8iは、無定形であるため、ハローのみが現れ
、回折パターンを認めることができないが、μC−8i
は、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パタ
ーンを示す。
また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が10”Ω・
c#Iテあルノニ対し、uC−8it、t109Ω・c
m以上の暗抵抗を有する。このμC−8iは粒径が約数
十オンゲストa−ム玖上である微結晶が集合して形成さ
れている。
c#Iテあルノニ対し、uC−8it、t109Ω・c
m以上の暗抵抗を有する。このμC−8iは粒径が約数
十オンゲストa−ム玖上である微結晶が集合して形成さ
れている。
このようなμC−8iを有するブロッキング層は、a−
3iと同(藁に、高周波グロー放電分解法により、シラ
ンガスを原料として、導電性支持体上にμC−8iを[
Inさせることにより製造することができる。この場合
に、支持体の温度をa−3iを形成する場合よりも高く
設定し、高周波電力もa−5iの場合よりも高く設定す
ると、μC−8iを形成しやすくなる。また、支持体温
度及び高周波電力を高くすることにより、シランガスな
どの原料ガスの流量を増大させることができ、その結果
、成膜速度を早くすることができる。
3iと同(藁に、高周波グロー放電分解法により、シラ
ンガスを原料として、導電性支持体上にμC−8iを[
Inさせることにより製造することができる。この場合
に、支持体の温度をa−3iを形成する場合よりも高く
設定し、高周波電力もa−5iの場合よりも高く設定す
ると、μC−8iを形成しやすくなる。また、支持体温
度及び高周波電力を高くすることにより、シランガスな
どの原料ガスの流量を増大させることができ、その結果
、成膜速度を早くすることができる。
また、原料ガスのSiH4及び5i2Hs等の高次のシ
ランガスを水素で希釈したガスを使用することにより、
μC−8iを一層高効率で形成することができる。
ランガスを水素で希釈したガスを使用することにより、
μC−8iを一層高効率で形成することができる。
第1図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1.2゜3.4には、例
えば、夫々SiH+ 、82 H6。
置を示す図である。ガスボンベ1.2゜3.4には、例
えば、夫々SiH+ 、82 H6。
H2、CH4等の原料ガスが収容されている。これらの
ガスボンベ1,2.3.4内のガスは、流量調整用のパ
ルプ6及び配管7を介して混合器8に供給されるように
なっている。各ボンベには、圧力計5が設置されており
、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整すること
により、混合器8に供給する各原料ガスの流層及び混合
比を調節することができる。混合器8にて混合されたガ
スは反応容器9に供給される。反応容器9の底部11に
は、回転軸1oが鉛直方向の回りに回転可能に取りつけ
られており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台
12がその面を回転軸10に垂直にして固定されている
。反応容器9内には、。
ガスボンベ1,2.3.4内のガスは、流量調整用のパ
ルプ6及び配管7を介して混合器8に供給されるように
なっている。各ボンベには、圧力計5が設置されており
、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整すること
により、混合器8に供給する各原料ガスの流層及び混合
比を調節することができる。混合器8にて混合されたガ
スは反応容器9に供給される。反応容器9の底部11に
は、回転軸1oが鉛直方向の回りに回転可能に取りつけ
られており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台
12がその面を回転軸10に垂直にして固定されている
。反応容器9内には、。
円筒状の電極13がその軸中心を回転軸10の軸中心と
一致させて底部11上に設置されている。
一致させて底部11上に設置されている。
感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒータ
15が配設されている。電極13とドラム基体14との
間には、高周波電源16が接続されており、電極13及
びドラム基体14間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸1oはモータ18により回転駆動され
る。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視され
、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒータ
15が配設されている。電極13とドラム基体14との
間には、高周波電源16が接続されており、電極13及
びドラム基体14間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸1oはモータ18により回転駆動され
る。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視され
、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0,1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.1
乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ18
を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15に
よりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高周
波電源16により電極13とドラム基体14との間に高
周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0,1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.1
乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ18
を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15に
よりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高周
波電源16により電極13とドラム基体14との間に高
周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。
これにより、ドラム基体14上にμC−8iが堆積する
。なお、原料ガス中にN20. N1−13 、 NO
2、N2 。
。なお、原料ガス中にN20. N1−13 、 NO
2、N2 。
CH4、C2H4,02ガス等を使用することにより、
これらの原子をμC−8i中に含有させることができる
。
これらの原子をμC−8i中に含有させることができる
。
このように、この発明に係る電子写真感光体は従来のa
−3iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性、耐湿
性及び耐摩耗性が浸れているため、長期に亘り繰り返し
使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある
。さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。
−3iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性、耐湿
性及び耐摩耗性が浸れているため、長期に亘り繰り返し
使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある
。さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。
μC−8+には、水素を0.1乃至30原子%含有させ
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC−
8iの光学的エネルギギャップEaは、a−8iの光学
的エネルギギャップEa (1,65乃至1.70eV
)に比較して小さい。つまり、μC−8iの光学的エネ
ルギギャップは、μC−8i微結晶の結晶粒径及び結晶
化度により変化し、結晶粒径及び結晶化度の増加により
、その光学的エネルギギャップが低下して、結晶シリコ
ンの光学的エネルギギャップ1.1evに近づく。とこ
ろで、μC−8i層及びa−3i層は、この光学的エネ
ルギギャップよりも大きなエネルギの光を吸収し、小さ
なエネルギの光は透過する。このため、a−3iは可視
光エネルギしか吸収しないが、a−8iより光学的エネ
ルギギャップが小さなμC−8iは、可視光より長波長
であってエネルギが小さな近赤外光までも吸収すること
ができる。従って、μC−8iは広い波長領域に亘って
高い光感度を有する。
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC−
8iの光学的エネルギギャップEaは、a−8iの光学
的エネルギギャップEa (1,65乃至1.70eV
)に比較して小さい。つまり、μC−8iの光学的エネ
ルギギャップは、μC−8i微結晶の結晶粒径及び結晶
化度により変化し、結晶粒径及び結晶化度の増加により
、その光学的エネルギギャップが低下して、結晶シリコ
ンの光学的エネルギギャップ1.1evに近づく。とこ
ろで、μC−8i層及びa−3i層は、この光学的エネ
ルギギャップよりも大きなエネルギの光を吸収し、小さ
なエネルギの光は透過する。このため、a−3iは可視
光エネルギしか吸収しないが、a−8iより光学的エネ
ルギギャップが小さなμC−8iは、可視光より長波長
であってエネルギが小さな近赤外光までも吸収すること
ができる。従って、μC−8iは広い波長領域に亘って
高い光感度を有する。
このような特性を有するμC−8iは、半導体レーザを
光源に使用したレーザプリンタ用の感光体材料として好
適である。a−8iをレーザプリンタ用の感光体に使用
すると、半導体レーザの光波長が790nmとa−8i
が高感度である波長領域より長いため、感光体感度が不
十分になり、このため、半導体レーザの能力以上のレー
ザ強度を感光体に印加する必要があって、実用上問題が
ある。一方、μc−s iで感光体を形成した場合には
、その高感度領域が近赤外領域にまでのびているので、
光感度特性が極めて優れた半導体レーザプリンタ用の感
光体を得ることができる。
光源に使用したレーザプリンタ用の感光体材料として好
適である。a−8iをレーザプリンタ用の感光体に使用
すると、半導体レーザの光波長が790nmとa−8i
が高感度である波長領域より長いため、感光体感度が不
十分になり、このため、半導体レーザの能力以上のレー
ザ強度を感光体に印加する必要があって、実用上問題が
ある。一方、μc−s iで感光体を形成した場合には
、その高感度領域が近赤外領域にまでのびているので、
光感度特性が極めて優れた半導体レーザプリンタ用の感
光体を得ることができる。
このような優れた光感度特性を有する
μC−8iの光導電特性を一層向上させるために、μC
−8iに水素を含有させることが好ましい。
−8iに水素を含有させることが好ましい。
μC−3illへの水素のドーピングは、例えば、グロ
ー放電分解法による場合は、SiH+及び5i286等
のシラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反
応容器内に導入してグロー放電させるか、S i F4
及び5iC14等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの
混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、
ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更
に、グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物
理的な方法によってもμC−8i層を形成することがで
きる。なお、μC−8iを含む光導電層は、光導電特性
上、1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更
に膜厚を5乃至50μmにすることが望ましい。
ー放電分解法による場合は、SiH+及び5i286等
のシラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反
応容器内に導入してグロー放電させるか、S i F4
及び5iC14等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの
混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、
ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更
に、グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物
理的な方法によってもμC−8i層を形成することがで
きる。なお、μC−8iを含む光導電層は、光導電特性
上、1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更
に膜厚を5乃至50μmにすることが望ましい。
光導電層は、実質的に全ての領域をμC−8iで形成し
てもよいし、a−8iとμC−8iとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が島く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとんど
同一である。
てもよいし、a−8iとμC−8iとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が島く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとんど
同一である。
このため、感光体の用途により、実質的に全ての領域を
μC−8iにするか、又は混合体若しくは積層体で構成
すればよい。
μC−8iにするか、又は混合体若しくは積層体で構成
すればよい。
μC−8iに、窒素N1炭素C及び酸素0から選択され
た少なくとも1種の原子をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−8iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
た少なくとも1種の原子をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−8iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
これらの原子はμC−8iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制布中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制布中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
導電性支持体と光導電層との間に、ブロッキング層を配
設することが好ましい。このブロッキング層は、導電性
支持体と、光導電層との間の電荷の流れを抑制すること
により、光導電性部材の表面における電荷の保持機能を
高め、光導電性部材の帯電能を高める。カールソン方式
においては、感光体表面に正帯電させる場合には、支持
体側から光導電層へ電子が注入されることを防止するた
めに、ブロッキング層をp型にする。一方、感光体表面
に負帯電させる場合には、支持体側から光導電層へ正孔
が注入されることを防止するために、ブロッキング層を
n型にする。また、ブロッキング層として、絶縁性の膿
を支持体の上に形成することも可能である。ブロッキン
グ層はμC−8iを使用して形成してもよいし、a−8
iを使用してブロッキング層を構成することも可能であ
る。
設することが好ましい。このブロッキング層は、導電性
支持体と、光導電層との間の電荷の流れを抑制すること
により、光導電性部材の表面における電荷の保持機能を
高め、光導電性部材の帯電能を高める。カールソン方式
においては、感光体表面に正帯電させる場合には、支持
体側から光導電層へ電子が注入されることを防止するた
めに、ブロッキング層をp型にする。一方、感光体表面
に負帯電させる場合には、支持体側から光導電層へ正孔
が注入されることを防止するために、ブロッキング層を
n型にする。また、ブロッキング層として、絶縁性の膿
を支持体の上に形成することも可能である。ブロッキン
グ層はμC−8iを使用して形成してもよいし、a−8
iを使用してブロッキング層を構成することも可能であ
る。
μC−8i及びa−3iをp型にするためには、周期律
表の第1族に属する原子、例えば、ホウ素B、アルミニ
ウムAI、ガリウムGa、インジウムln、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−8i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する原
子、例えば、窒素N、リンP、ヒ素AS、アンチモンs
b、及びビスマス3i等をドーピングすることが好まし
い。
表の第1族に属する原子、例えば、ホウ素B、アルミニ
ウムAI、ガリウムGa、インジウムln、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−8i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する原
子、例えば、窒素N、リンP、ヒ素AS、アンチモンs
b、及びビスマス3i等をドーピングすることが好まし
い。
このp型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
。
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
。
光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。
光導電層のμc−s iは、その屈折率が3乃至4と比
較的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよ
うな光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割
合いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層
を設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層
を設けることにより、光導電層が損傷から保護される。
較的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよ
うな光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割
合いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層
を設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層
を設けることにより、光導電層が損傷から保護される。
さらに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し
、表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成す6
u 料、!: L、 T ハ、5isN+、SiO2
,5iC1AI203 、a−8iN:H,a−8iO
:Hl及びa−8iC:H等の無機化合物及びポリ塩化
ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
、表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成す6
u 料、!: L、 T ハ、5isN+、SiO2
,5iC1AI203 、a−8iN:H,a−8iO
:Hl及びa−8iC:H等の無機化合物及びポリ塩化
ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
電子写真感光体に適用される光導電性部材としては、上
述のごとく、支持体上にブロッキング層を形成し、この
ブロッキング層上に光導電層を形成し、この光導電層の
上に表面層を形成したものに限らず、支持体の上に電荷
移動II(CTL)を形成し、電荷移動層の上に電荷発
生層(CGL)を形成した機能分離型の形態に構成する
こともできる。この場合に、電荷移動層と、支持体との
間に、ブロッキング層を設けてもよい。電荷発生層は、
光の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生層は
、層の一部又は全部がμC−5i又はa−8iでできて
おり、その厚さは0.1乃至10μmにすることが好ま
しい。電荷移動層は電荷発生層で発生したキャリアを高
効率で支持体側に到達させる層であり、このため、キャ
リアの寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが
必要である。電荷移動層はa−8iで形成することがで
きる。暗抵抗を高めて帯電能を向上させるために、周期
律表の第■族又は第V族のいずれか一方に属する原子を
ライトドーピングすることが好ましい。また、帯電能を
一層向上させ、電荷移動層と電荷発生層との両機能を持
たせるために、C9N、Oの原子のうち、いずれか1種
以上を含有させてもよい。電荷移動層は、その膜厚が薄
過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能を充分に発揮し
ない。このため、電荷移動層の厚さは3乃至80μmで
あることが好ましい。
述のごとく、支持体上にブロッキング層を形成し、この
ブロッキング層上に光導電層を形成し、この光導電層の
上に表面層を形成したものに限らず、支持体の上に電荷
移動II(CTL)を形成し、電荷移動層の上に電荷発
生層(CGL)を形成した機能分離型の形態に構成する
こともできる。この場合に、電荷移動層と、支持体との
間に、ブロッキング層を設けてもよい。電荷発生層は、
光の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生層は
、層の一部又は全部がμC−5i又はa−8iでできて
おり、その厚さは0.1乃至10μmにすることが好ま
しい。電荷移動層は電荷発生層で発生したキャリアを高
効率で支持体側に到達させる層であり、このため、キャ
リアの寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが
必要である。電荷移動層はa−8iで形成することがで
きる。暗抵抗を高めて帯電能を向上させるために、周期
律表の第■族又は第V族のいずれか一方に属する原子を
ライトドーピングすることが好ましい。また、帯電能を
一層向上させ、電荷移動層と電荷発生層との両機能を持
たせるために、C9N、Oの原子のうち、いずれか1種
以上を含有させてもよい。電荷移動層は、その膜厚が薄
過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能を充分に発揮し
ない。このため、電荷移動層の厚さは3乃至80μmで
あることが好ましい。
ブロッキング層を設けることにより、電荷移動層と電荷
発生層とを有する機能分離型の感光体においても、その
電荷保持機能を高め、帯電能を向上させることができる
。なお、ブロッキング層をp型にするか、又はn型にす
るかは、そ−の帯電特性に応じて決定される。このブロ
ッキング層は、μC−3iで形成することができる。
発生層とを有する機能分離型の感光体においても、その
電荷保持機能を高め、帯電能を向上させることができる
。なお、ブロッキング層をp型にするか、又はn型にす
るかは、そ−の帯電特性に応じて決定される。このブロ
ッキング層は、μC−3iで形成することができる。
この出願に係る発明の特徴は、ブロッキング層が、炭素
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第■族及び第■族から選択された少なくと
も一種の原子を含有するマイクロクリスタリンシリコン
で形成され、光導電層が、マイクロクリスタリンシリコ
ン層と、第1のアモルファスシリコン層と、炭素、窒素
及び酸素から選択された少なくとも一種の原子を含有し
、前記炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一
種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形成している
第2のアモルファスシリコン層との積層体から成ること
にある。
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第■族及び第■族から選択された少なくと
も一種の原子を含有するマイクロクリスタリンシリコン
で形成され、光導電層が、マイクロクリスタリンシリコ
ン層と、第1のアモルファスシリコン層と、炭素、窒素
及び酸素から選択された少なくとも一種の原子を含有し
、前記炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一
種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形成している
第2のアモルファスシリコン層との積層体から成ること
にある。
[実施例]
次に、第2及び3図を参照してこの発明を具体化した電
子写真感光体の層の構成について説明する。
子写真感光体の層の構成について説明する。
第2図に示す電子写真感光体において、アルミニウム製
導電性支持体101の上には、シリコン原子を母体とし
て水素を含有し、更に、C,o、Nの原子の少なくとも
1つ以上の原子を含有するp型又はn型の特性を有する
μC−3iからなるブロッキング層102と、光導N1
1103とが積層されている。光導電層103は、μC
−8iFi!J104と、第1のa−8iWIJ105
と、第2のa−8ill 06とが積層され、この第2
のa−3i層106には、C,O,N(7)原子ノ少す
くとも1つ以上の原子が含有されている。更に、この第
2のa−8i層106に含有されている、C,O,Nの
原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚み方向であって
、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が形成さ
れている。尚、第2のa−8ilii106上には表面
層107が積層されている。
導電性支持体101の上には、シリコン原子を母体とし
て水素を含有し、更に、C,o、Nの原子の少なくとも
1つ以上の原子を含有するp型又はn型の特性を有する
μC−3iからなるブロッキング層102と、光導N1
1103とが積層されている。光導電層103は、μC
−8iFi!J104と、第1のa−8iWIJ105
と、第2のa−8ill 06とが積層され、この第2
のa−3i層106には、C,O,N(7)原子ノ少す
くとも1つ以上の原子が含有されている。更に、この第
2のa−8i層106に含有されている、C,O,Nの
原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚み方向であって
、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が形成さ
れている。尚、第2のa−8ilii106上には表面
層107が積層されている。
この発明の電子写真感光体によれば、光導電層103に
は支持体101から順次μC−8i層104、光導電性
の第1のa−3ilii105、且つ第2a−3i層1
06の順序で積層している。
は支持体101から順次μC−8i層104、光導電性
の第1のa−3ilii105、且つ第2a−3i層1
06の順序で積層している。
このような電子写真感光体の構成によれば、電子写真感
光体に可視光付近の光が照射された場合は、主に第1の
a−8i 11105が吸収し、ここで吸収しきれない
光をマイクロクリスタリンシリコンμC−81lW10
4が吸収する。また、近赤外線付近の波長の光が照射さ
れた場合には、第1のa−3i層105は数十%しか吸
収せず、その残り全てをμc−s r Ill 04が
吸収することができる。
光体に可視光付近の光が照射された場合は、主に第1の
a−8i 11105が吸収し、ここで吸収しきれない
光をマイクロクリスタリンシリコンμC−81lW10
4が吸収する。また、近赤外線付近の波長の光が照射さ
れた場合には、第1のa−3i層105は数十%しか吸
収せず、その残り全てをμc−s r Ill 04が
吸収することができる。
a−3iのみを光導電層として用いた場合には、可視光
付近の感度が高く、通常レーザプリンタに用いられる近
い赤外線付近の波長の光に対して光感度が急激に落ちる
ので、画像のカブリ、カブリ、カブリ、il衝縞による
画像の濃度ムラ等画像欠陥が生じるという不都合がある
。しかし、本願の電子写真感光体によれば、上述したよ
うに、μC−8i層104を備えているから、広いIi
!囲の波長の光を吸収することができ、その結果鮮明な
画像を得ることができる。
付近の感度が高く、通常レーザプリンタに用いられる近
い赤外線付近の波長の光に対して光感度が急激に落ちる
ので、画像のカブリ、カブリ、カブリ、il衝縞による
画像の濃度ムラ等画像欠陥が生じるという不都合がある
。しかし、本願の電子写真感光体によれば、上述したよ
うに、μC−8i層104を備えているから、広いIi
!囲の波長の光を吸収することができ、その結果鮮明な
画像を得ることができる。
電子写真感光体が帯電された場合には、第2のa−3i
層106は、その自由表面側に電荷を保持し、次に、光
が照射された場合には、第1のa−8il105とμC
−8i層104とに光キャリヤが発生する。発生した光
キャリヤは瞬時に輸送され第2のアモルファスシリコン
層106の自由表面側に保持されている電荷を中和する
。この場合、光導Illが第1のa−3i層105とμ
C−8i層104とを含有しているから、帯電能が向上
し、且つ高いコントラストを得ることができる。
層106は、その自由表面側に電荷を保持し、次に、光
が照射された場合には、第1のa−8il105とμC
−8i層104とに光キャリヤが発生する。発生した光
キャリヤは瞬時に輸送され第2のアモルファスシリコン
層106の自由表面側に保持されている電荷を中和する
。この場合、光導Illが第1のa−3i層105とμ
C−8i層104とを含有しているから、帯電能が向上
し、且つ高いコントラストを得ることができる。
第2のa−3i層106には、C,O,Nの原子の少な
くとも1つの原子が含有されているが、この含有物の濃
度は層圧方向に不均一に形成されている。この場合、層
の剥がれまたはクラックの発生が防止でき、更に、キャ
リヤのトラップが防止されるから、画像のぼけ又は流れ
を防止できる。
くとも1つの原子が含有されているが、この含有物の濃
度は層圧方向に不均一に形成されている。この場合、層
の剥がれまたはクラックの発生が防止でき、更に、キャ
リヤのトラップが防止されるから、画像のぼけ又は流れ
を防止できる。
もし、含有物の11度が層圧方向に一定であると、この
層に光学的禁止帯幅の比較的大きい層を形成する場合、
成膜後、これらの2層間の密着性が悪いという問題があ
る。その結果、2層間の密着性が悪く剥がれあるいはク
ラックが生じる。又は、2層の特質が相違するためこれ
らの居間にキャリヤがトラップされ、画像がボケたり流
れたりする。
層に光学的禁止帯幅の比較的大きい層を形成する場合、
成膜後、これらの2層間の密着性が悪いという問題があ
る。その結果、2層間の密着性が悪く剥がれあるいはク
ラックが生じる。又は、2層の特質が相違するためこれ
らの居間にキャリヤがトラップされ、画像がボケたり流
れたりする。
ブロッキング層に含有されるC、O,Nの原子の含有量
は1乃至20原子%が好ましく、また周期律表の第■族
又は第V族に属する原子の含有量は、lXl0−3ない
し5原子%が好ましい。ブロッキング層の層厚は100
人ないし10μmである事が好ましくより好ましくは0
.1ないし3μmである。
は1乃至20原子%が好ましく、また周期律表の第■族
又は第V族に属する原子の含有量は、lXl0−3ない
し5原子%が好ましい。ブロッキング層の層厚は100
人ないし10μmである事が好ましくより好ましくは0
.1ないし3μmである。
この発明によれば、可視光から近赤外線までの波長の光
に対して高い感度であるため、長波長光に対して高感度
であり、レーザプリンタ用の感光体として使用すること
ができ、更に高い解像度及び高いコストで帯電能が優れ
た感光体を提供することができる。
に対して高い感度であるため、長波長光に対して高感度
であり、レーザプリンタ用の感光体として使用すること
ができ、更に高い解像度及び高いコストで帯電能が優れ
た感光体を提供することができる。
第3図は、この発明による電子写真感光体の他の層構成
を示している。この第3図に示す層構成では、第2図に
示すFIi構成に比較してマイクロクリスタリンシリコ
ン層104と第1のa−8il1105とが入替わって
いる。即ち、光導電層103には支持体101側から順
次光導電性の第1のa−8i層105、μc−8i層1
04、そして第2のa−8ilii106の順序で積層
している。この場合、前述した第2図に示す層構造と同
様な効果を得ることができる。
を示している。この第3図に示す層構成では、第2図に
示すFIi構成に比較してマイクロクリスタリンシリコ
ン層104と第1のa−8il1105とが入替わって
いる。即ち、光導電層103には支持体101側から順
次光導電性の第1のa−8i層105、μc−8i層1
04、そして第2のa−8ilii106の順序で積層
している。この場合、前述した第2図に示す層構造と同
様な効果を得ることができる。
更に、第2のa−8i層106においてC10、・ N
の原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚方向であって
、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が形成さ
れてている。従って、光導電層103に光が照射された
際に、光導電層では帯電した電極と同極性の電荷と逆極
性の電荷とが発生し、同極性の電荷は帯電側に流れ、帯
電した電荷を打消し、一方、逆極性の電荷は支持体側に
流れるが、濃度分布を形成することにより、この逆極性
の電荷の流れを許可し、且つ電荷保持機能を保持するこ
とができる。
の原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚方向であって
、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が形成さ
れてている。従って、光導電層103に光が照射された
際に、光導電層では帯電した電極と同極性の電荷と逆極
性の電荷とが発生し、同極性の電荷は帯電側に流れ、帯
電した電荷を打消し、一方、逆極性の電荷は支持体側に
流れるが、濃度分布を形成することにより、この逆極性
の電荷の流れを許可し、且つ電荷保持機能を保持するこ
とができる。
次に、この発明の実施例について説明する。
LLfL上
導電性基板としてのA1製ドラム(直径80mm、長さ
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
後、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面がIll処理、アルカリ処理又はサンドブラ
スト処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体1
01を加熱し、約320℃に保持する。次いで、S i
H4ガス流量に対する流量比が104の82 H6ガ
ス、5%のCH4ガス、600%のH2ガスを混合して
反応容器に供給した。その後、メカニカルブースタポン
プ及びロータリポンプにより反応容器内を排気し、反応
圧力を1Tor(トル)に調整した。
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
後、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面がIll処理、アルカリ処理又はサンドブラ
スト処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体1
01を加熱し、約320℃に保持する。次いで、S i
H4ガス流量に対する流量比が104の82 H6ガ
ス、5%のCH4ガス、600%のH2ガスを混合して
反応容器に供給した。その後、メカニカルブースタポン
プ及びロータリポンプにより反応容器内を排気し、反応
圧力を1Tor(トル)に調整した。
モータ18により基体14を回転させながら、電極に6
00W(ワット)の高周波電力を印加して、電極とドラ
ム基体との間に、SiH+、B2Hs及びCH4のプラ
ズマを生起させる(グロー放電)。この条件下で、約1
5分間成膜を続け、支持体101上に、膜厚0.5μm
、結晶粒径30人、結晶化度70%のμC−8iのブロ
ッキング層102を形成した。
00W(ワット)の高周波電力を印加して、電極とドラ
ム基体との間に、SiH+、B2Hs及びCH4のプラ
ズマを生起させる(グロー放電)。この条件下で、約1
5分間成膜を続け、支持体101上に、膜厚0.5μm
、結晶粒径30人、結晶化度70%のμC−8iのブロ
ッキング層102を形成した。
ブロッキング層の成膜終了後、82 H6及びCH4ガ
スの流入を止め、5時間成膜を続け、膜厚12μm、結
晶粒径40人、結晶化度60%のμC−8i層104を
形成した。次に、S i H4ガス流量に対してH2ガ
スを100%、82H6ガスを10−6の流量比で供給
し、反応圧力が0.5トル、150Wの高周波電力を印
加して、グロー放電を生起させる。この条件で45分間
成膜を続け、膜厚3μmの第1のa−8il105を形
成した。続いて、SiH+ガス流發に対してCH4ガス
の流量を5%供給し30分間成膜し、その後、S i
H4ガス流量に対して、CH4の供給量を次第に増し続
け、CH4ガスの流量を400%にまで増し、15分間
成膜し、3μmの第2のa−3i層106と表面層10
7(第2図に示す)とを形成した。
スの流入を止め、5時間成膜を続け、膜厚12μm、結
晶粒径40人、結晶化度60%のμC−8i層104を
形成した。次に、S i H4ガス流量に対してH2ガ
スを100%、82H6ガスを10−6の流量比で供給
し、反応圧力が0.5トル、150Wの高周波電力を印
加して、グロー放電を生起させる。この条件で45分間
成膜を続け、膜厚3μmの第1のa−8il105を形
成した。続いて、SiH+ガス流發に対してCH4ガス
の流量を5%供給し30分間成膜し、その後、S i
H4ガス流量に対して、CH4の供給量を次第に増し続
け、CH4ガスの流量を400%にまで増し、15分間
成膜し、3μmの第2のa−3i層106と表面層10
7(第2図に示す)とを形成した。
【1九二
この比較例ではa−3i層のみからなる感光体を形成し
た。この場合、ブロッキング層102は、SiH+ガス
流量に対して、82 Hsガスを10゛3の流m比で供
給し、反応圧力が0.5トル、150Wの高周波電力を
印加して、10分間成膜した。光導電層は、実施例1の
第1のa−3i層105と同様の条件、即ち、第SiH
+ガス流最に対してH2ガスを100%、82 f−1
6ガスを10−6の流量比で供給し、反応圧力が0.5
トル、150Wの高周波電力を印加して、4時間成膜し
た。光導N層の成膜後、S i H4ガス流量に対して
、500%の流量のCH4を供給し、反応圧力が0.6
トル、ioowの高周波電力を印加して、グロー放電を
生起させ、5分間成膜して表面層を形成した。この場合
ブロッキング層の膜厚は0.5μm、光導電層の膜厚は
12μm1表面否の膜厚は0.1μmであった。
た。この場合、ブロッキング層102は、SiH+ガス
流量に対して、82 Hsガスを10゛3の流m比で供
給し、反応圧力が0.5トル、150Wの高周波電力を
印加して、10分間成膜した。光導電層は、実施例1の
第1のa−3i層105と同様の条件、即ち、第SiH
+ガス流最に対してH2ガスを100%、82 f−1
6ガスを10−6の流量比で供給し、反応圧力が0.5
トル、150Wの高周波電力を印加して、4時間成膜し
た。光導N層の成膜後、S i H4ガス流量に対して
、500%の流量のCH4を供給し、反応圧力が0.6
トル、ioowの高周波電力を印加して、グロー放電を
生起させ、5分間成膜して表面層を形成した。この場合
ブロッキング層の膜厚は0.5μm、光導電層の膜厚は
12μm1表面否の膜厚は0.1μmであった。
以上のように形成した実施例1と比較例1との感光体に
ついて、比較実験をした。各感光体に6.5KV (キ
ロボルト)の電圧を印加したところ、実施例1の表面電
位は500V、15秒の保持率は65%であった。一方
、比較例の表面電位は400Vであり、保持率は30%
であった。
ついて、比較実験をした。各感光体に6.5KV (キ
ロボルト)の電圧を印加したところ、実施例1の表面電
位は500V、15秒の保持率は65%であった。一方
、比較例の表面電位は400Vであり、保持率は30%
であった。
更に、第4図のグラフに示すように、夫々の感光体につ
いて波長に対する光感度を測定した。この第4図は、横
軸に光の波長(nm)、縦軸に感度(Cm/erg)を
取り、多光の波長における感度を測定した。このグラフ
において、実線は実施例1の測定結果、破断線は比較例
1による測定結果を示す。このグラフから明らかなよう
に、この実施例1によれば約700乃至800nmの長
波長領域の光について良好な感度を得ることができた。
いて波長に対する光感度を測定した。この第4図は、横
軸に光の波長(nm)、縦軸に感度(Cm/erg)を
取り、多光の波長における感度を測定した。このグラフ
において、実線は実施例1の測定結果、破断線は比較例
1による測定結果を示す。このグラフから明らかなよう
に、この実施例1によれば約700乃至800nmの長
波長領域の光について良好な感度を得ることができた。
次に、各感光体をレーザプリンタに装着し、このレーザ
プリンタにより画像を形成し、この画像を比較した。こ
の場合、実施例1では高い解像度且つ高いコントラスト
の鮮明な画像が得られた。
プリンタにより画像を形成し、この画像を比較した。こ
の場合、実施例1では高い解像度且つ高いコントラスト
の鮮明な画像が得られた。
一方、比較例1の場合には、カブリまたは干渉縞による
画像の濃度ムラ等が生じた。
画像の濃度ムラ等が生じた。
実施例2
実施例1において、a−3i層106を形成する場合に
、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流量比を様々
に変化させて第2のa−8i層106を形成した。その
他の点については実施例1と同じ条件で成膜し、炭素C
の添加濃度をその層厚方向に濃度分布を形成した。第2
のa−3i層106における層厚と、SiH+ガス流量
に対するCH4ガスの流量比との関係を第5乃至第10
図に示す。第5乃至第10図において、横軸にガスFR
m比、縦軸に層の厚みをしめしている。
、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流量比を様々
に変化させて第2のa−8i層106を形成した。その
他の点については実施例1と同じ条件で成膜し、炭素C
の添加濃度をその層厚方向に濃度分布を形成した。第2
のa−3i層106における層厚と、SiH+ガス流量
に対するCH4ガスの流量比との関係を第5乃至第10
図に示す。第5乃至第10図において、横軸にガスFR
m比、縦軸に層の厚みをしめしている。
いずれの場合においても層の厚みが厚く成るに従って、
即ち自由表面側においてCH4ガスの流量比を不均一に
増加させている。この実施例2の場合、実施例1と同様
の効果を得ることができた。
即ち自由表面側においてCH4ガスの流量比を不均一に
増加させている。この実施例2の場合、実施例1と同様
の効果を得ることができた。
支11工
この実施例の場合には、実施例2において用いたCH4
ガスに変えてN2ガスを使用して電子写真感光体を形成
した。即ち、第2のa−5i層106の成膜時に、窒素
Nを添加するとともに、窒素Nの添加濃度をその層厚方
向に111分布を形成した。この実施例3の場合にも実
施例1と同様な効果を得ることができた。
ガスに変えてN2ガスを使用して電子写真感光体を形成
した。即ち、第2のa−5i層106の成膜時に、窒素
Nを添加するとともに、窒素Nの添加濃度をその層厚方
向に111分布を形成した。この実施例3の場合にも実
施例1と同様な効果を得ることができた。
11」L
実施例4では、光導電層103を第1のa−8it!t
105、μc−8i層104、第2のa−s を層10
6の順序でブロッキング層102上に積層している。
105、μc−8i層104、第2のa−s を層10
6の順序でブロッキング層102上に積層している。
導電性基板としてのAl製ドラム(直径80mm、長さ
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
侵、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドブラスト
処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体を加熱
し、約320℃に保持する。次いで、5iH−+ガス流
量に対する流儀比が5X104のB2 H6ガス、10
%のN2ガス、700%のH2ガスを混合して反応容器
に供給した。その後、メカニカルブースタポンプ及びロ
ータリポンプにより反応容器内を排気し、その圧力を調
整した。モータ18により基体14を回転させながら、
電極に500W(ワット)の高周波電力を印加して、こ
の条件下で、約1時間成膜し、支持体101上に、結晶
粒径30人、結晶化度60%のμc−s iのブロッキ
ング層102を形成した。
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
侵、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドブラスト
処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体を加熱
し、約320℃に保持する。次いで、5iH−+ガス流
量に対する流儀比が5X104のB2 H6ガス、10
%のN2ガス、700%のH2ガスを混合して反応容器
に供給した。その後、メカニカルブースタポンプ及びロ
ータリポンプにより反応容器内を排気し、その圧力を調
整した。モータ18により基体14を回転させながら、
電極に500W(ワット)の高周波電力を印加して、こ
の条件下で、約1時間成膜し、支持体101上に、結晶
粒径30人、結晶化度60%のμc−s iのブロッキ
ング層102を形成した。
ブロッキング層102の成膜終了後、SiH4ガス流量
に対してArガスを150%、B2 Hsガスを3x1
0−sの流量比で供給し、反応圧力が0.4トル、10
0Wの高周波電力を印加して、グロー放電を生起させる
。この条件で約1時間成膜を続け、膜厚3umの第1の
a−8il105を形成した。
に対してArガスを150%、B2 Hsガスを3x1
0−sの流量比で供給し、反応圧力が0.4トル、10
0Wの高周波電力を印加して、グロー放電を生起させる
。この条件で約1時間成膜を続け、膜厚3umの第1の
a−8il105を形成した。
第1のa−8i層105成膜終了後、S i H4ガス
流量に対してH2ガスを8倍の流量比で供給し、反応圧
力が1.0トル、400Wの高周波電力を印加して、グ
ロー放電を生起させる。この条件で5時間成膜を続け、
膜厚10μm、結晶粒径40人、結晶化度55%のμC
−8i層104を形成した。
流量に対してH2ガスを8倍の流量比で供給し、反応圧
力が1.0トル、400Wの高周波電力を印加して、グ
ロー放電を生起させる。この条件で5時間成膜を続け、
膜厚10μm、結晶粒径40人、結晶化度55%のμC
−8i層104を形成した。
続いて、SiH4ガス流毒に対して、N2ガスを50%
、Arガスを100%の混合比で供給し、反応圧力が0
.5トル、200Wの高周波電力を印加して、N2ガス
の流量を500%にまで次第に増して、膜厚10μmの
第2のa−3i層106を形成した。
、Arガスを100%の混合比で供給し、反応圧力が0
.5トル、200Wの高周波電力を印加して、N2ガス
の流量を500%にまで次第に増して、膜厚10μmの
第2のa−3i層106を形成した。
劃1」工
この比較例では、ブロッキング層と光sN層と表面層と
をa−3iのみで形成した。ブロッキング層は、S i
H4ガス流量に対してH2ガスを100%、82 H
6ガスを10°3の流量比で供給し、反応圧力が0.4
トル、150Wの高周波電力を印加して、グロー放電を
生起させた。この条件で約30分開成膜を続け、膜厚2
μmのブロッキング層を形成した。光導1[は、実施例
2の第1のアモルファスシリコン@105と同様な条件
、即ち、S i H4ガス流量に対してArガスを15
0%、B2 H6ガスを3X 10− sの流量比で供
給し、反応圧力が0.4トル、100Wの高周波電力を
印加して、約5時開成膜を続け、膜厚15μmの層を形
成する。更に、SiH4ガス流量に対してN2ガスを5
00%供給し、反応圧力が0.7トル、300Wの高周
波電力を印加して、約5分間成膜を続け0.1μmの表
面保護層を形成した。
をa−3iのみで形成した。ブロッキング層は、S i
H4ガス流量に対してH2ガスを100%、82 H
6ガスを10°3の流量比で供給し、反応圧力が0.4
トル、150Wの高周波電力を印加して、グロー放電を
生起させた。この条件で約30分開成膜を続け、膜厚2
μmのブロッキング層を形成した。光導1[は、実施例
2の第1のアモルファスシリコン@105と同様な条件
、即ち、S i H4ガス流量に対してArガスを15
0%、B2 H6ガスを3X 10− sの流量比で供
給し、反応圧力が0.4トル、100Wの高周波電力を
印加して、約5時開成膜を続け、膜厚15μmの層を形
成する。更に、SiH4ガス流量に対してN2ガスを5
00%供給し、反応圧力が0.7トル、300Wの高周
波電力を印加して、約5分間成膜を続け0.1μmの表
面保護層を形成した。
以上のように形成した実施例4と比較例2との電、子写
真感光体について、比較実験をした。各電子写真感光体
に6.5KV(キロボルト)の電圧を印加したところ、
実施例4の表面電位は550V、15秒の保持率は60
%であった。一方、比較例2の表面電位は350V、保
持率は30%、であった。
真感光体について、比較実験をした。各電子写真感光体
に6.5KV(キロボルト)の電圧を印加したところ、
実施例4の表面電位は550V、15秒の保持率は60
%であった。一方、比較例2の表面電位は350V、保
持率は30%、であった。
光の波長による感度を測定したところ、前)ホした第4
図に示す様に、実施例1の場合と同様の結果が得られた
。
図に示す様に、実施例1の場合と同様の結果が得られた
。
更に、実施例4、比較例2による電子写真感光体を夫々
複写数及びレーザプリンタに用いたところ、実施例1の
場合と同様な結果が得られた。即ち、比較例では、画像
にカブリや干渉縞が生じたが、実施例4による感光体で
は画像欠陥が無く、良好な画像を得ることができた。更
に、10万枚の連続使用試験をした結果、実施例4では
画像に異常や変化をきたさなかったが、比較例4では約
2万枚から画像かにじみ始めた。
複写数及びレーザプリンタに用いたところ、実施例1の
場合と同様な結果が得られた。即ち、比較例では、画像
にカブリや干渉縞が生じたが、実施例4による感光体で
は画像欠陥が無く、良好な画像を得ることができた。更
に、10万枚の連続使用試験をした結果、実施例4では
画像に異常や変化をきたさなかったが、比較例4では約
2万枚から画像かにじみ始めた。
実施例5
前述の実施例4に於いて、μC−8i層104の成膜時
に、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流山比を更
に0.3%供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の
条件で成膜した。この実施例5の電子写真感光体に6.
5KVの電圧を印加したところ、実施例4より表面電位
が20%向上し、実施例5による電子写真感光体を用い
た場合、実施例4よりも良好な画像を得ることができた
。
に、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流山比を更
に0.3%供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の
条件で成膜した。この実施例5の電子写真感光体に6.
5KVの電圧を印加したところ、実施例4より表面電位
が20%向上し、実施例5による電子写真感光体を用い
た場合、実施例4よりも良好な画像を得ることができた
。
ILL灸
実施例4に於いて、μC−81liil 04の成膜時
に、S i H4ガス流漫に対するN2ガスの流量比を
1.5%で供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の
条件で成膜した。この実施例6の電子写真感光体に6.
5KVの電圧を印加したところ、実施例4より表面電位
が25%向上し、この実施例6による電子写真感光体を
実装置に用いた場合、実施例4より良好な画像を得るこ
とができた。
に、S i H4ガス流漫に対するN2ガスの流量比を
1.5%で供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の
条件で成膜した。この実施例6の電子写真感光体に6.
5KVの電圧を印加したところ、実施例4より表面電位
が25%向上し、この実施例6による電子写真感光体を
実装置に用いた場合、実施例4より良好な画像を得るこ
とができた。
支11L
実施例4に於いて、μC−8i層104の成膜時に、S
iH+に対するB21−162の比を10−7で供給し
た。他の層の成膜は実施例4と同様の条件で成膜した。
iH+に対するB21−162の比を10−7で供給し
た。他の層の成膜は実施例4と同様の条件で成膜した。
この実施例7の電子写真感光体によれば、実施例4より
長波長感度が15%向上し、この実施例7による電子写
真感光体を実装置に用いた場合、実m例4より良好な画
像を得ることができた。
長波長感度が15%向上し、この実施例7による電子写
真感光体を実装置に用いた場合、実m例4より良好な画
像を得ることができた。
哀1」しし
実施例4においてN2ガスの代わりにCH4ガスを供給
し、CH4を10%から300%まで変化させた。この
実施例8による電子写真感光体を実装置に用いた場合、
実施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
し、CH4を10%から300%まで変化させた。この
実施例8による電子写真感光体を実装置に用いた場合、
実施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
11」L也
実施例4において、第2のa−8i層106を形成する
場合に、S i H4ガス流量に対するN2ガスの流量
比を、第5乃至第10図に示す様に、様々に変化させて
第2のa−81層106を形成した。その他の点につい
ては実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添加濃度を
その層厚方向に濃度分布を形成した。この実施例9によ
る電子写真感光体を実装置に用いた場合、実施例4と同
様に良好な画像を得ることができた。
場合に、S i H4ガス流量に対するN2ガスの流量
比を、第5乃至第10図に示す様に、様々に変化させて
第2のa−81層106を形成した。その他の点につい
ては実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添加濃度を
その層厚方向に濃度分布を形成した。この実施例9によ
る電子写真感光体を実装置に用いた場合、実施例4と同
様に良好な画像を得ることができた。
11九二工
実施例8において、S++イガス流臆に対するCH4ガ
スの流量比を、第5乃至第10図に示す様に、様々に変
化させて第2のa−5i層106を形成した。その他の
点については実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添
加濃度をその層厚方向に濃度分布を形成した。この実施
例10による電子写真感光体を実装置に用いた場合、実
施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
スの流量比を、第5乃至第10図に示す様に、様々に変
化させて第2のa−5i層106を形成した。その他の
点については実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添
加濃度をその層厚方向に濃度分布を形成した。この実施
例10による電子写真感光体を実装置に用いた場合、実
施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
[発明の効果]
この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光
た可視光及び近赤外光領域において高光
第1図はこの発明に係る電子写真感光体の製造装置を示
す図、第2図及び第3図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体を示す断面図、第4図は光の波長と感度との
関係を示すグラフ図、第5乃至第10図は層を形成する
場合の層厚とC10、Nを含むガスの流量との関係を示
すブラフ図である。 1.2.3.4:ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
:配管、8;混合器、9:反応容器、10:回転軸、1
3:電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、101;支持体、10
2ニブロツキング層、103;光導電層、107:表面
層。 出願人代理ノ、 弁理士 鈴江武彦 手続補正書 昭和 6−・5,1115日 ′i11許庁長官庁長官道部殿 1、事件の表示 特願昭60−256064号 2発明の名称 電子写真感光体 3 補市なする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 6 浦市のλ・1−′f。 明細書 /−:61 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通シ訂正する。 (2)明細書中、第7頁第20行目、第20頁第15行
目に、それぞれ「第■族」とあるのを「第V族」に訂正
する。 (3)明細書中、第8頁第14行目に、「種」とあるの
を「主」に訂正する。 (4) 明細書中、第22頁第2行目、第25頁第1
8行目に、それぞれ「支持体」とあるのを「表面」に訂
正する。 (5) 明細書中、第23頁第3行目に「緩衝縞」と
あるのを「干渉縞」に訂正する。 (6) 明細書中、第24頁第2行目、第24頁第6
行目に、それぞれ「層圧」とあるのを「層厚」に訂正す
る。 (7)明細書中、第26頁第20行目に、 rTorJ
とあるのをl’−TorrJに訂正する。 (8) 明細書中、第7頁第20行目に、「グラフ」
とめるのを「グラフ」に訂正する。 2、特許請求の範囲 (1) 導電性支持体と、この導電性支持体上に形成
でれたブロッキング層と、このブロッキング層の上に形
成された光導電層と、を有する電子写真感光体において
、前記ブロッキング層は、炭素、窒素及び酸素から選択
された少なくとも一種の原子並びに周期律表第1族及び
第V族から選択された少なくとも一種の原子を含有する
マイクロクリスタリンシリコンで形成され、前記光導電
層は、マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のアモ
ルファスシリコン層と、炭素、窒素及び酸素から選択さ
れた少なくとも一種の原子を含有し、前記炭素、窒素及
び酸素から選択された少なくとも一種の原子が層厚方向
に不均一な濃度分布を形成している第2のアモルファス
シリコン層との積層体から成ることを特徴とする電子写
真感光体。 (2)前記光導電層は、導電性支持体側から、マイクロ
クリスタリンシリコン層と、第1のアモルファスシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の電子写真感光体。 (3) 前記光導電層は、導電性支持体側から、第1
のアモルファスシリコン層と、マイクロクリスタリンシ
リコン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で
積層されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の電子写真感光体。 された少なくとも一種の原子の濃度は、導電性支持体側
の濃度が低く形成されていることを特徴とする特許請求
の範囲第2項又は第3項に記載の電子写真感光体。 (5) 前記光導電層の前記各層は、周期律表の第1
族又は第V族に属する原子から選択式れた少なくとも一
種の原子を含有することを特徴とする特許請求の範囲第
1項乃至第4項のいずれか一項に記載の電子写真感光体
。
す図、第2図及び第3図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体を示す断面図、第4図は光の波長と感度との
関係を示すグラフ図、第5乃至第10図は層を形成する
場合の層厚とC10、Nを含むガスの流量との関係を示
すブラフ図である。 1.2.3.4:ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
:配管、8;混合器、9:反応容器、10:回転軸、1
3:電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、101;支持体、10
2ニブロツキング層、103;光導電層、107:表面
層。 出願人代理ノ、 弁理士 鈴江武彦 手続補正書 昭和 6−・5,1115日 ′i11許庁長官庁長官道部殿 1、事件の表示 特願昭60−256064号 2発明の名称 電子写真感光体 3 補市なする者 事件との関係 特許出願人 (307) 株式会社 東芝 6 浦市のλ・1−′f。 明細書 /−:61 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通シ訂正する。 (2)明細書中、第7頁第20行目、第20頁第15行
目に、それぞれ「第■族」とあるのを「第V族」に訂正
する。 (3)明細書中、第8頁第14行目に、「種」とあるの
を「主」に訂正する。 (4) 明細書中、第22頁第2行目、第25頁第1
8行目に、それぞれ「支持体」とあるのを「表面」に訂
正する。 (5) 明細書中、第23頁第3行目に「緩衝縞」と
あるのを「干渉縞」に訂正する。 (6) 明細書中、第24頁第2行目、第24頁第6
行目に、それぞれ「層圧」とあるのを「層厚」に訂正す
る。 (7)明細書中、第26頁第20行目に、 rTorJ
とあるのをl’−TorrJに訂正する。 (8) 明細書中、第7頁第20行目に、「グラフ」
とめるのを「グラフ」に訂正する。 2、特許請求の範囲 (1) 導電性支持体と、この導電性支持体上に形成
でれたブロッキング層と、このブロッキング層の上に形
成された光導電層と、を有する電子写真感光体において
、前記ブロッキング層は、炭素、窒素及び酸素から選択
された少なくとも一種の原子並びに周期律表第1族及び
第V族から選択された少なくとも一種の原子を含有する
マイクロクリスタリンシリコンで形成され、前記光導電
層は、マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のアモ
ルファスシリコン層と、炭素、窒素及び酸素から選択さ
れた少なくとも一種の原子を含有し、前記炭素、窒素及
び酸素から選択された少なくとも一種の原子が層厚方向
に不均一な濃度分布を形成している第2のアモルファス
シリコン層との積層体から成ることを特徴とする電子写
真感光体。 (2)前記光導電層は、導電性支持体側から、マイクロ
クリスタリンシリコン層と、第1のアモルファスシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の電子写真感光体。 (3) 前記光導電層は、導電性支持体側から、第1
のアモルファスシリコン層と、マイクロクリスタリンシ
リコン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で
積層されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の電子写真感光体。 された少なくとも一種の原子の濃度は、導電性支持体側
の濃度が低く形成されていることを特徴とする特許請求
の範囲第2項又は第3項に記載の電子写真感光体。 (5) 前記光導電層の前記各層は、周期律表の第1
族又は第V族に属する原子から選択式れた少なくとも一
種の原子を含有することを特徴とする特許請求の範囲第
1項乃至第4項のいずれか一項に記載の電子写真感光体
。
Claims (5)
- (1)導電性支持体と、この導電性支持体上に形成され
たブロッキング層と、このブロッキング層の上に形成さ
れた光導電層と、を有する電子写真感光体において、前
記ブロッキング層は、炭素、窒素及び酸素から選択され
た少なくとも一種の原子並びに周期律表第III族及び第
IV族から選択された少なくとも一種の原子を含有するマ
イクロクリスタリンシリコンで形成され、前記光導電層
は、マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のアモル
ファスシリコン層と、炭素、窒素及び酸素から選択され
た少なくとも一種の原子を含有し、前記炭素、窒素及び
酸素から選択された少なくとも一種の原子が層厚方向に
不均一な濃度分布を形成している第2のアモルファスシ
リコン層との積層体から成ることを特徴とする電子写真
感光体。 - (2)前記光導電層は、導電性支持体側から、マイクロ
クリスタリンシリコン層と、第1のアモルファスシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の電子写真感光体。 - (3)前記光導電層は、導電性支持体側から、第1のア
モルファスシリコン層と、マイクロクリスタリンシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の電子写真感光体。 - (4)前記光導電層の第2のアモルファスシリコン層に
添加されている炭素、窒素及び酸素から選択された少な
くとも一種の原子の濃度は、導電性支持体側の濃度が低
く形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第2
項又は第3項に記載の電子写真感光体。 - (5)前記光導電層の前記各層は、周期律表の第III族
又は第V族に属する原子から選択された少なくとも一種
の原子を含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第4項のいずれか一項に記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25606485A JPS62115458A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25606485A JPS62115458A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62115458A true JPS62115458A (ja) | 1987-05-27 |
Family
ID=17287396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25606485A Pending JPS62115458A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62115458A (ja) |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP25606485A patent/JPS62115458A/ja active Pending
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