JPS62109146A - ランダムアクセスメモリの異常検出方式 - Google Patents

ランダムアクセスメモリの異常検出方式

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JPS62109146A
JPS62109146A JP60249995A JP24999585A JPS62109146A JP S62109146 A JPS62109146 A JP S62109146A JP 60249995 A JP60249995 A JP 60249995A JP 24999585 A JP24999585 A JP 24999585A JP S62109146 A JPS62109146 A JP S62109146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parity
ram
memory
random access
access memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP60249995A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Furukubo
雄二 古久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS62109146A publication Critical patent/JPS62109146A/ja
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は計算機におけるランダムアクセスメモリの異
常を正確に検出するランダムアクセスメモリの異常検出
方式に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来の計算機におけるランダムアクセスメモリ
の異常検出装置を示すブロック接続図であり、図におい
て、1は計算機本体、10は計算機本体1の中央演算処
理装置(以下、CPUと略記する。)、12はランダム
アクセスメモリ(以下、RAMと略記する。)、13は
メモリパリティ発生回路、14はパリテイビットメモリ
用RAM、15はメモリパリティチェック回路であり、
これらはCPUl0のパス16に接続されている。
次に動作について説明する。
まず、CPUl0はRAM12にストアされているプロ
グラムを実行していき、演算データを書込みまたは読み
出しする。メモリパリティ発生回路13dCPU10が
RAM12にデータを書込むときにのみ書込みデータの
パリティを計算してパリティビットメモリ用RAM14
に書込む。また、メモリパリティチェック回路15はC
P UIOがRAM12のデータを読み出すときのみ読
み出しデータのパリティ値を計算するとともに、パリテ
ィビットメモリ用RAM14からCPUl0がデータ書
込みしたときにメモリパリティ発生回路13が書込んだ
パリティ値を読み出し、上記計算したパリティ値と比較
する。比較した結果、値が一致すればCPUI Oに処
理の継続を指示し、逆に不一致になれば異常信号15a
iアクテイベートするとともにCPUl0に処理実行の
中断を指示する。
ところで、計算機本体1の電源供給回路は、第4図に示
す通りであり、通常、RAM12及びパリティピッ)、
RAM14の記憶内容は、計算機本体10電源40とは
独立したバッテリー電源41により消去しないように保
護されているため、計算機本体電源40が断となっても
保持される。計算機本体電源40が再投入されると、C
PUI OはRAM12に保持されていたプログラムを
再び実行し、メモリパリティ発生回路13、メモリパリ
ティチェック回路15が上記と同様の動作を行ない、R
,AM12の異常を診断する。また、42゜43は電源
突き合わせ用ダイオードを示している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のメモリ異常検出装置は以上のよりに構成されてい
るので、計算機本体電源40の断時に、RAM12のメ
モリ内容とともにパリティピットRAM14のメモリ内
容もバッテリー保護しなければならず、バッテリー電源
の消費電流が大きくなり、長時間にわたるメモリ内容保
持ができなくなるほか、各RAM12.14用の電源回
路が複雑になるなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、専用のバッテリ電源により常時保持しなくて
も、メモリの異常検出を誤動作な〈実施できるランダム
アクセスメモリの異常検出方式を得ることを目的とする
〔問題点を解決するだめの手段〕
この発明に係るランダムアクセスメモリのメモリ異常検
出方式は、電源投入直後に、RAM12のデータ内容を
読み出してパリティピットRAM14に正しいパリティ
値を設定するという処理を、RAM12の全空間につい
て行なうものである。
〔作用〕
この発明におけるランダムアクセスメモリの異常検出方
式では、電源投入直後にパリティビットR,AM14に
常に正しいパリティが設定されるので、このパリティビ
ットRAM14にストアしたデータを保存するだめのバ
ッテリ電fJIAを不必要にする。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図において1は計算機本体、10は計算機本体1の
CPU、12はRAM、13はメモリパリティ発生回路
、14はパリティビットメモリ用R,AM、15はメモ
リパリティチェック回路であり、これらはCPUバス1
6に接続されている、また、20は初期パリティ発生回
路であり、 RAM12よりの読み込み信号が入力され
、また、パリティビットメモリ用R,AM14に対し書
込み信号全出力する接続となっている。
次に動作について説明する。まず、初期パリティ発生回
路20は計算機本体1に電源が投入された直後に、R,
AM 12の内容を読出し、この読出したデータにもと
づき、正しいパリティビートデータを演算し、これをパ
リティビットメモリ用RAM14に書込む。この動作を
R,AM12の全空間について実施する。
すなわち、初期パリティ発生回路20はRAM12のメ
モリ内容全破壊することなく、パリティビットメモリ用
RAM14に正しいパリティビット’l書込む処理を行
なう。
RAM12のメモリ内容はバッテリーにより保護されて
いるため、RAM12にストアされているCPUI O
の実行プログラムは、電源断あるいは初期パリティ発生
回路20の動作に対しても破壊されることなく、RAM
12内に保持されている。
CPUI Oは初期パリティ発生回路20が正しいパリ
ティデータをパリティビットR,AM14に書込む処理
が完了した後、RAM12上の実行プログラムを実行し
ていく。
メモリパリティ発生回路13はCPUl0がRAM12
にデータを書込んだときにのみ、書込みデータのパリテ
ィをパリティビットメモリ用RAM14に書込み、メモ
リパリティチェック回路15はCPUl0がRAM12
のデータを読み出すときのみ、読み出しデータのパリテ
ィ値と、CPU10がデータ書込みしたときにメモリパ
リティ発生回路13が書込んだ上記パリティ値とを比較
する。比較した結果、値が一致すればCPUl0に処理
の継続を指示し、逆に不一致になれば異常信号15a(
il−アクティベートするとともにCP UIOに処理
実行の中断を指示する。
このように、電源投入直後に、バッテリー保護されてい
る凡AM12の内容からパリティビットメモリ用RAM
14の内容を設定するようにしたので、パリティビット
メモリ用RAM14の内容をバッテリー保護しなくても
、CPUl0のプログラム実行時誤まって異常信号15
aがアクティベートされることがなく、R,AM12の
異常検出を確実に行なえる。
なお、上記実施例では、メモリのチェック回路としてメ
モリパリティチェック回路を設けたもの金子したが、E
CC回路でもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、RAMやパリティピ
ットRAM等への電源投入直後に、そのRAMからパリ
ティビットRAMに正しいパリティデータを設定するよ
うにしたので、そのパリティビットRAMのバッテリ保
護を行う必要がなくなり、従ってメモリ保護用バッテリ
の消耗を抑制でき、長寿命化が図れるものが得られる効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるランダムアクセスメ
モリの異常検出方式を示すブロック接続図、第2図はこ
の発明の一実施例によるメモリの電源回路図、第3図は
従来のランダムアクセスメモリの異常検出方式を示すブ
ロック接続図、第4図は従来のメモリの電源回路図であ
る。 1・・・計算機本体、10・・・CPU、12・・・R
,AM。 13・・・メモリパリティ発生回路、14・・・パリテ
ィビットメモリ用RAM、15・・・メモリパリティチ
ェック回路、15a・・・出力端子、20・・・初期ハ
リティ発生回路。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 第1図 第 2ryJ 第 3 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 中央演算処理装置がランダムアクセスメモリに対してデ
    ータを書込みしたときに、メモリパリテイ発生回路によ
    つて、その書込みデータのパリテイをパリテイビットメ
    モリ用ランダムアクセスメモリに書込み、上記中央演算
    処理装置が上記ランダムアクセスメモリのデータを読出
    したときに、メモリパリテイチェック回路によつて、そ
    の読出したデータのパリテイを計算するとともに、上記
    パリテイビットメモリ用ランダムアクセスメモリにスト
    アされているパリテイを読出し、このパリテイと上記計
    算したパリテイとを比較し、この結果不一致を検出した
    とき異常信号を出力するランダムアクセスメモリの異常
    検出方式において、上記ランダムアクセスメモリおよび
    上記パリテイビットメモリ用ランダムアクセスメモリへ
    の電源投入時に、そのランダムアクセスメモリのデータ
    を読出して、上記パリテイビットメモリ用ランダムアク
    セスメモリに正しいパリテイを設定するという処理を、
    上記ランダムアクセスメモリの全空間について実施する
    ようにしたことを特徴とするランダムアクセスメモリの
    異常検出方式
JP60249995A 1985-11-08 1985-11-08 ランダムアクセスメモリの異常検出方式 Pending JPS62109146A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5812200A (ja) * 1981-07-13 1983-01-24 Fanuc Ltd メモリ検査方法
JPS60108944A (ja) * 1983-11-17 1985-06-14 Toshiba Corp 記憶装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5812200A (ja) * 1981-07-13 1983-01-24 Fanuc Ltd メモリ検査方法
JPS60108944A (ja) * 1983-11-17 1985-06-14 Toshiba Corp 記憶装置

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