JPS62107418A - 薄膜磁気ヘツド - Google Patents

薄膜磁気ヘツド

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JPS62107418A
JPS62107418A JP24655785A JP24655785A JPS62107418A JP S62107418 A JPS62107418 A JP S62107418A JP 24655785 A JP24655785 A JP 24655785A JP 24655785 A JP24655785 A JP 24655785A JP S62107418 A JPS62107418 A JP S62107418A
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magnetic
thin film
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ferromagnetic
layer
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Takahisa Aoi
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は磁気記録媒体として、磁気テープ、磁気ディス
クを使用した磁気記録再生装置において、高記録密度化
、高信頼性化に対応した薄膜磁気ヘッドに関するもので
ある。
従来の技術 最近磁気記録再生装置において、記録線密度及びトラッ
ク密度の著しい向上に伴ない記録再生ヘッドに薄膜磁気
ヘッドが広く使用されつつある。
特に従来のコンパクトカセットテープレコーダの高音質
、高品質化を目的として、或いはコンピュータ用磁気テ
ープ装置、磁気ディスク装置での高信頼性を維持しつつ
大記憶容量化をめざして、従来のバルクヘッドに代わっ
て薄膜磁気ヘッドによるディジタル記録、再生が進んで
いる。薄膜磁気ヘッドは従来のバルクヘッドに比べて記
録時では記録磁界分布が急峻であること、再生時におい
ては再生出力波形のピークシフトが小さいこと、またマ
ルチトラック化が容易なことなど優れた利点を数多く有
している。一方薄膜磁気ヘッドの製造に関しては半導体
工C裂造技術を駆使して、薄膜微細加工法にも著しい進
展が見られ、狭トラック化、狭磁気ギャップ化、マルチ
トラック化など高密度磁気記録の社会的要請に応えられ
るようになってきている。
薄膜磁気ヘッドの構造に関しては数多くのものが提案さ
れている。最も代表的な従来の構造例として2層マルチ
ターンコイル構造の薄膜磁気ヘッドを第4図に示す。以
下、図面を参照しながら従来の薄膜磁気ヘッドについて
説明を行なう。
第4図は従来の薄膜磁気ヘッドの断面図である。
第4図において、1はMn−Zn単結晶フェライトなど
の高透磁性を有する強磁性基板、2は強磁性基板1上に
スパッタ法、プラズマCvD法などによって形成された
SiO□、Si3N4などの第1の絶縁層である。第1
の絶縁層2上には第1の薄膜コイル3を有し、第4図で
はチターンを構成している。
薄膜コイル3は銅、アルミニウム、金などから成り、ス
パッタ法、蒸着法、電気メツキ法などで成膜された後、
フォトリングラフィ技術によって所望の形状にパターニ
ングされる。4は第1の薄膜コイル3を絶縁するための
第2の絶縁層である。
第2の絶縁層4は第1の絶縁層2と同一の材料を用いて
所望の形状にパターニングするが又は耐熱性ホトレジス
トを用いることもでき、この場合パターニング後熱硬化
してコイル絶縁材とするものである。第2の絶縁層40
表面は適切な手法によって平坦化された後、第2層目の
第2の薄膜コイル6が形成される。第1層目の第1の薄
膜コイル3と上記第2の薄膜コイル6は結合導体6で連
結され、その結果薄膜コイル構成としては、パックギャ
ップ部を形成するスルーホール8部を中心として渦巻き
状に巻回される。第2の薄膜コイル6は第1の薄膜コイ
ル3と同一材質、同一プロセスにて形成される。7は第
2の薄膜コイル6を絶縁する第3の絶縁層で、第2の絶
縁層4と同一材質。
同一プロセスで形成きれ、かつ表面が平坦化されるO前
述したスルーホール8は各絶縁層のパターニング段階で
形成していく手法では寸法精度、工程数などに問題があ
る。そこで第1の絶縁層2のバターニング工程時と、第
3の絶縁層子が成膜されかつ平坦化された時点で、第2
.第3の絶縁層4.7を一括して所望の形状にパターニ
ングする工程で完成する方法が好ましい。スルーホール
8には磁気ポール10の形成に先立ってバック磁気ボー
ル9が形成され、強磁性基板1と連結している。10は
磁気ポールで高透磁率を有するパーマロイ、センダスト
或いはアモルファス合金から成る軟磁性薄膜である。製
法としてはスパッタ法。
電子ビーム蒸着法、電気メツキ法などが使われる。
ホトリソグラフィ技術によってパターニングされる。1
1は磁気ポール1oを保護する保護層で、SiO,Si
O2,Ag2O3などの絶縁膜を蒸着法やスパッタ法を
用いて積層される。その後接着材12を介してセラミッ
ク、ガラス材などから成るバルク状の保護基板13が接
着され、磁気記録媒体15との安定走行と磁気ギャップ
デプス作成を目的としてヘッド先端加工と鏡面研摩され
る。
以上のように構成された薄膜磁気ヘッドについて動作説
明する。薄膜磁気ヘッドとしての磁気ギャップ14は第
1の絶縁層2の膜厚で形成される。
記録動作時では、薄膜コイル3,6に記録電流が印加さ
れ、磁気ポール10−4気ギャップ14→磁気記録媒体
15→強磁性基板1→バックギャップ磁気ボール9→磁
気ポール1oの経路を流れる誘導磁束が発生し、磁気記
録媒体15に信号が記録される。再生動作時においては
、情報が記録された磁気記録媒体16からの信号磁束が
前記の磁気回路内を流れ、薄膜コイル3,6と鎖交する
ことにより薄膜コイル3,5の両端子間に再生出力を得
る。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記の様な構造では次の如き理由でいくつ
かの問題点を有していた。
(1)ヘッド構成上、薄膜コイル3,6及びコイル絶縁
膜(第4図においては第2.第3の絶縁層4.7)のそ
れぞれの膜厚が2μm程度必要とされる。この結果磁気
ボール1oに大きな段差部a、b又は凹部Cを生じる。
スパッタ法等によって成膜される磁気ボールでは、段差
部a。
b部の膜厚が他の平坦部に比べて薄くなり、磁束の流れ
る断面積が小さくなり、磁気飽和を発生しやすい。また
第4図の如く2層薄膜コイル構造の様にコイルの多層化
が進むにつれて段差部a、bの段差値が大きくなる。こ
れは段差部における磁気ボール10の透磁率に大きな劣
化を招く。以上の現象は薄膜磁気ヘッドにおける記録効
率、再生効率区下の主要原因となっている0 磁気飽和を防ぐためには磁気ボール10の磁性膜を厚く
成膜することであるが、厚くなるとその下地材料との熱
膨張係数の相異、長時間スパッタなどの原因で磁気ボー
ル又は基板の亀裂。
割れ、或いははく離などの弊害を招く。さらに厚膜時の
高精度なパターニングをむずかしくするものである。
一方磁気ボール段差部の透磁率劣化を防止する適切な手
段はなく、段差量を小さくする構造設計にゆだねられて
いる現状である。
(2)磁気ボール10の保護層11の表面が平坦化され
た状態においても、磁気記録媒体15と摺動するヘッド
先端部に露出する保護層11の膜厚が、最小でも磁気ポ
ール100段差量だけ出現する。この結果ヘッド先端部
に露出する異質薄膜材料として、第4図の場合SiO□
などから成る第1の絶縁層2と保護11と磁気ボール1
oとなり、磁気記録媒体15との接触摺動に伴なうヘッ
ド先端部の偏摩耗が生じ易くなる。
この偏摩耗量は磁気ボール10及び保護層11の膜厚が
増えるにつれて増大するものである。
(3)高密度ディジタル記録可能な磁気記録媒体は最近
高保磁力化に進んでいる。高保磁力化に対応して従来の
薄膜磁気ヘッド技術では薄膜コイル層の多層化、磁気ボ
ールの厚膜化で対処することになり上述した(1)、(
aの中で特に基板又は多層から成る薄膜層の亀裂1割れ
、はく難問題。
高精度パターニングの困難性、ヘッド先端の偏摩耗の問
題1段差部の透磁率劣化が顕著となってぐる。
本発明は上記問題点に鑑み、薄膜磁気ヘッドの記録効率
、再生効率の向上を図る中で、特に高密度ディジタル記
録再生可能な高保磁力を有する磁気記録媒体の適用を可
能とし、さらに偏摩耗特性を大幅に改善することのでき
る高信頼性薄膜磁気ヘッドを提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決するために本発明の薄膜磁気ヘッド
は、磁気ボールの段差部と段差によって発生する厚膜の
保護層を除去するように、段差部の発生原因となってい
たヘッド先端磁気ギャップ部とバック磁気ギャップ部の
凹部に高透磁率強磁性薄膜材を充填し、その表面が薄膜
コイルの最上位絶縁層の上面と同一平面となる様に最適
な製造プロセスに従って調整加工し、上記充填された強
磁性薄膜材と上記薄膜コイル最上位絶縁層上に高透磁率
を有するバルク状の強磁性基板を配置するものである。
この結果、先端磁気ギヤノブとバック磁気ギャップ部に
充填された強磁性薄膜材はバルク状の強磁性基板で磁気
的に連結されることになる。
作用 本発明は上記した構成により最上位面にある薄膜コイル
絶縁層の形成後パターンエツチングされた段階で生じる
大きな段差部又は凹部は先端磁気ギャップ部とバック磁
気ギャップ部で、これらの段差部又は凹部に高透磁率強
磁性薄膜材を充填することで、先端磁気ギャップ長と磁
気回路上凪気抵抗がほぼゼロの状態でバック磁気ギャッ
プを形成することができる。上記強磁性薄膜材は最上位
面の薄膜コイル絶縁層と同一平面となる様に平坦加工さ
れ、それぞれ先端磁気ポールピースとバック磁気ポール
ピースを形成し、この時点で強磁性薄膜材の段差は取り
除かれている。分離された先端磁気ポールピースとバッ
ク磁気ポールピースは、その上に配置されたバルク状の
高透磁率強磁性基板で連結される。さらにこの強磁性基
板のもう一つの役割は従来構造で言われる保護基板とし
ての動作である。以上の本発明によるヘッド構造による
と、従来の磁気ポールの如く、磁束伝搬経路上に段差部
が生じない、磁気ボール絶縁層が不要である、磁気ポー
ルの高精度パターニングを必要としないなどにより記録
効率、再生効率の向上と高信頼性及び優れた生産性を期
待することができる。
実施例 以下本発明の一実施例について第1図〜第3図を参照し
ながら説明する。第3図は本発明の薄膜磁気ヘッドの断
面を概念的に示したものである。
第3図において、4oと60はそれぞれバルク材から成
る基板及び保護基板である。60は、この両者間に設け
られた複数の材料によって積層構成されている薄膜層で
ある。この薄膜層60には高透磁率薄膜磁性材、薄膜コ
イル、絶縁層などが混成され、上記基板40.保護基板
6oと共働して磁気ヘッドを構成している。70は外部
電気回路との接続部材である。ヘッド先端は目的に応じ
た形状で研削され、鏡面仕上げされる。第3図において
点線部8oは磁気媒体摺動面である。
第1図は本発明の一実施例における2層チターンコイル
構造の薄膜磁気ヘッドの断面図を示している。
第1図において、20は高透磁率を有するMn−Zn単
結晶フェライト、Ni−Znフェライト等から成る強磁
性基板であり、その表面は鏡面研摩されている。強磁性
基板2o上に、SiO2,ム1205’Si3N4  
などから成る第1の絶縁層21が磁気ギャップ長に相当
する膜厚で形成される。薄膜形成手段としてはスパッタ
法、プラズマCVD法などが一般的である。この後エツ
チング技術によってバック磁気ギャップとなる小窓22
が開けられる。
23は第1層目となる第1の薄膜コイルで第1図ではチ
ターン巻きであり、Cu、Adなどの導電性金属体がス
パッタ法、電気メツキ法等によって付着させた後、エツ
チング手法によりコイル形状にバターニングされる。薄
膜コイル23上には薄膜コイルの絶縁を目的とした第2
の絶縁層24が付けられている。この第2の絶縁層24
はSiO□。
ム、l?20 、 、315Naなどの他に耐熱性ホト
レジストを用いて層間絶縁材に使用することもできる。
第2の絶縁層24の表面は平坦化されている。25は第
2層目に形成される第2の薄膜コイルで、第1の薄膜コ
イル23とは第2の絶縁層24に形成されたスルーホー
ル39で連結している。第2の薄膜コイル26上には第
2の絶縁層24と同一の製法で第3の絶縁層26が形成
される。この第3の絶縁層26も第2の絶縁層24と同
じ様に適切な手段で平坦化が施された後先端磁気ギャッ
プ27とバック磁気ギャップとなるスルーホール22の
貫通孔を形成するため、第2.第3の絶縁層24゜26
を一括して所望の形状でエツチングする。この時点で発
生する最大のエツチング段差は第1図に示す如くhであ
る。この後センダスト、アモルファス合金、パーマロイ
などの高透磁率を有する強磁性薄膜材をスパッタ法、電
気メツキ法などを使って段差り以上の膜厚で付着する。
この強磁性薄膜材は適切な手段(第2図を使って後述す
る)を用いて薄膜コイルの最上位絶縁層(第1図の場合
、第3の絶縁層26)の表面と同一平面となる様に加工
する。この加工により強磁性薄膜材は先端磁気ポールピ
ース28とバンク磁気ポールピース29が形成される。
この後先端磁気ポールピース28とバック磁気ポールピ
ース29の保護を目的として極めて薄い保護層を形成し
ておくと良い。
強磁性基板2oと同一材料から成る強磁性保護基板31
が接着剤3oによって接着される。接着剤3oは可能な
限り薄い層で形成されることが好ましく先端磁気ギャッ
プ27長より充分薄くする必要がある。この製法として
エポキシ系接着剤又強磁性保護基板31に予め付着され
た比較的高融点をもつガラス膜、 5in2膜などを溶
融接着する方法があるが、設計に応じて使い別けること
である。
38は母気記′録媒体である。
第2図は第2.第3の絶縁層24.26が一括エッチン
グによって段差又はスルーホールが形成された以後の主
要な製造プロセスについて一例を示したものであり、第
1図と同一部材には同一番号を付している。
第2図体)は高透磁率強磁性薄膜材32が厚さh′(1
1’>h)で付着されている状態を示すものである。こ
の強磁性薄膜材32の表面は下地の形状を反映して段差
が生じている。強磁性薄膜材32の上に、表面が平坦に
なるようホトレジスト材33をコーティングする。この
後イオンビーム34照射によりエツチングを行なう。イ
オンビームの入射角度θ、はホトレジスト材33と強磁
性薄膜材32のエツチング速度が等しくなる様に調節さ
れる。エツチング深度は第2図(ム)の点線のラインま
で実施される。
同図中)は先端磁気ポールピース28とバック磁気ポー
ルピース29が形成された時点で、不要な強磁性薄膜材
35を除去する工程を示している。
不要な強磁性薄膜材35の露出部以外はホトレジスト3
6で被覆し、イオンビーム37で強磁性薄膜材36を除
去する。この時イオンビーム入射角θ2が調整される。
同図(C)は強磁性保護基板31が樹脂又は強磁性基板
31に予め付着されたガラス膜、 5in2膜等を溶融
接着された時点を示す。
以上のように構成された薄膜磁気ヘッドについて、以下
その動作について説明する。
本発明の最大の特徴は高透磁性磁性材で構成される磁束
伝送経路内に急激な段差が取り除かれていることである
。特に磁性薄膜の段差を取り除き、透磁率の劣化や磁気
飽和を押さえることである。
第1図に示す本実施例に従って詳しく説明する。
第2の薄膜コイル26上の第3の絶縁層26が第2図で
説明したプロセスによってエツチングされる。この結果
、先端磁気ギャップ27となる第1の絶縁層21上とバ
ック磁気ギャップとなる小窓22上に第3の絶縁層26
による段差又は凹部が生じる。この段差部又は小窓に高
透磁率材を充填することで先端磁気ポールピース28と
バック磁気ポールピース29が形成される。先端磁気ポ
ールピース28はヘッド設計上重要な先端磁気ギャップ
27とギャップデプスを形成する。一方バツク磁気ポー
ルピース29は強磁性基板20と短絡し、上記両者間に
発生する磁気抵抗をゼロに近づけ、磁気回路効率を上げ
ている。強磁性保護基板31は先端磁気ポールピース2
8とバック磁気ポールピース29とを連結し閉磁路を形
成する。
すなわち記録時についてみると、薄膜コイル23゜26
に記録電流が流れると強磁性保護基板31→先端磁気ポ
ールピース28→強磁性基板2o→バック磁気ポールピ
ース29→強磁性基板31の経路を流れる誘導磁束が発
生する。この結果先端磁気ギャップ2了から信号磁界が
漏洩し、磁気記録媒体38に信号が記録される。次に再
生時を考える。信号が書き込まれた磁気記録媒体38か
らの信号磁束は、先端磁気ポールピース28→強磁性保
護基板31→バック磁気ポールピース29→強磁性基板
2oの経路で流れ、薄膜コイル23゜25と鎖交し、薄
膜コイル23.25の両端子間に鎖交する総礎束の時間
変化に応じた出力が誘゛導される。
以上のように本実施例によれば、段差部又は凹部に高透
磁性薄膜材を積層後、エツチングにより先端S気ポール
ピース28.バック磁気ポールピース29を形成し、さ
らに高透磁率を有するバルク状の保護基板を重ね合わせ
る構成により、(1)磁束伝搬経路上に薄膜磁性体の段
差部が除去され、薄膜磁性体の透磁率を劣化させること
なく磁束伝搬効率の高い磁気回路を実現することができ
る。
(2)ヘッド先端部での磁気飽和を起こすことなくギャ
ップデプスを任意に設定できる。
(3)従来構造の如く、磁気ポール上に非磁性体から成
る保護基板を別途使用する必要はなく、保護基板自身を
磁気回路の一部として動作するよう兼用せしめることが
でき製造工程を短縮できる0 (4)従来構造にみられる磁気ポールと保護基板との間
に段差量以上の薄膜保護層を介在させる必要がないこと
から、磁気記録媒体と摺動するヘッド先端に露出する薄
膜層の厚さが減少し、偏摩耗特性を大幅に向上させるこ
とができる。また数10μmを必要としていたこの薄膜
保護層(例えば5in2)と強磁性基板又は薄膜磁性体
との熱膨張係数の大きな相異から、薄膜保護層の成膜中
又は成膜後に生じる基板の亀裂、ひび割れ、薄膜層のは
く離など薄膜保護層の介在に伴なうトラブルから完全に
解放される。
(5)従来構造に比べ薄膜磁性体のへラドチップに占め
る面積が大幅に低下していることから、薄膜特有の内部
応力を抵減でき、高透性を保持することができる。
なお実施例ではシングルトラック構造にて説明してきた
が、マルチトラックヘッドにおいても同様のことが言え
る。
発明の効果 本発明は、エツチング手法により表面が平坦な先端磁気
ポールピースとバック磁気ポールピースを形成し、その
上部にバルク状の強磁性保護基板を重ねることにより、
薄膜磁性体の段差部を取り除くことができ、記録効率或
いは再生効率の向上に寄与できる。さらに厚膜の保護層
も除去することができ、偏摩耗特性の向上、生産歩留り
の改善。
製造工程の短縮化など、数々の優れた効果を得ることの
できる薄膜磁気ヘッドを実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における薄膜磁気ヘッドの断
面図、第2図は本発明の製造プロセスの一例を示す工程
図、第3図は本発明を説明するだめの概念図、第4図は
従来の薄膜磁気ヘッドの断面図である。 2o・・・・・・強磁性基板、21・・・・・・第1の
絶縁層、22・・・・・・小窓、23・・・・・・第1
の薄膜コイル、24・・・・・・第2の絶縁層、25・
・・・・・第2の薄膜コイル、26・・・・・・第3の
絶縁層、27・・・・・・先端磁気ギャップ、28・・
・・・・先端磁気ポールピース、29・・・・・・バッ
ク磁気ポールピース、31・・・・・・強磁性保護基板
、32.35・・・・・・強砒性薄膜材、33,313
・・・・・・ホトレジスト、34,37・・・・・・イ
オンビーム、38・・・・・・磁気記録媒体、39・・
・・・・スルーホール、4゜・・・・・・基板、60・
・・・・・薄膜層、60・・・・・・保護基板、7o・
・・・・・接続部材。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名、y
#、 37−− イオンC′−人 40−#−狡 π−−一掃地部材

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)バルク状高透磁率強磁性基板上に第1の絶縁層を
    形成し、上記絶縁層上に薄膜コイルと上記薄膜コイルの
    絶縁層を順次積層し、かつ上記薄膜コイル絶縁層の最上
    位面と同一平面になるよう高さを調整加工された平坦な
    先端磁気ポールピースとパック磁気ポールピースと、上
    記平面上に配置されたバルク状高透磁率強磁性保護基板
    と上記強磁性基板との主要部材で構成された磁気回路を
    有し、上記薄膜コイルは上記第1の絶縁層又は上記コイ
    ル絶縁層で形成される先端磁気ギャップに磁界を発生し
    、かつ磁気記録媒体上の信号を読み取るよう巻回された
    構造の薄膜磁気ヘッド。
  2. (2)高透磁率強磁性保護基板の接合面側には予めSi
    O_2膜、低融点ガラス膜の順で積層付着され熱融着法
    により強磁性基板と接合することを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の薄膜磁気ヘッド。
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JPH0391108A (ja) * 1989-08-31 1991-04-16 Victor Co Of Japan Ltd 薄膜磁気ヘッド
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