JPS62106589A - パタ−ンのエツジ位置検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は濃淡画像の位置検出方法に関し、特にパター
ンのエツジ位置検出方法に関する。

（従来の技術） 従来から、濃淡画像のパターンのエンシ位ｊ４を高精度
に検出するための種々の１１ｉ像パターンのエツジ位置
検出方法が提案されている。

このような画像パターンのエツジ位置検出方法としては
例えば文献（電子通信学会論文誌Ｄ、６５［２］　（１
９８２）　Ｐ、２７４〜２８１）に開示されている方法
がある。

この方法は、撮像装置により人力された濃淡画像中で濃
度が変化している位置をパターンのエツジ位置とし、こ
のパターンのエツジ位置を複数個所検出して、これらエ
ツジ位置の中【、＋１をパターンの中心位置と推定する
方法であり、１４体的には眼球運動の計４１１方法とし
て報告されている。以ド、この方法につき筒中に説明す
る。

順法連動のように高速で連動をする被検物体の圧動計測
に際しては、画像のサンプリングを高速で行う必要があ
る。従って、画素数の少ない低分解能撮像素子を用いて
画像のサンプリング周期を早めることが必要となる。さ
らに、この低分解能の眼球画像から瞳孔の動き（移動量
）を一画素の何分の−かの分解能で検出するためには、
瞳孔輪郭部の位置検出の分解能を出来るだけ高める必要
がある。

この文献では、瞳孔輪郭部のエツジ位置を知るため、輪
郭部の濃度（第６図（Ａ）参照）の空間的な微分を求め
、その微分波形（第６図（Ｂ）参照）の重心位置を計算
から求めて、その重心位置をエツジ位置としている。

従って、瞳孔等の被検物体の移ｖＪ量はある時刻ｔ１に
おける重心Ｇ１　と、被検物体が移動した後の時刻ｔ２
における重心Ｇ２　とから求めることが出来る。尚、重
心Ｇｌ及びＧ２は下記の（１）及び（２）式からそれぞ
れ求めることが出来る。

Ｇ＋＝（ｆ’″！　ｆ’　（ｘ）ｄｘ　）／（」、ｆ　
’　（ｘ）ｄｘ）・・・（１）Ｇ２−（こｉｆ’（ｘ−
Δｘ）ｄｘｌ ／（ｊ、、ｆ’（ｘ−Δｘ）ｄＸｌ −Ｇｌ　　＋ΔＸ　・・・・・・・・・・・・　（２）
但し、第６図（Ａ）、（Ｂ）及び式（１）、（２）にお
いて、ｆ（ｘ）は画像の濃度を示し、ｆ’（ｘ）はｆ（
りの一回微分を示す。

丘述した重心Ｇｌ及びＧ２から被検物体の移動量を正確
に求めるためには、時刻ｔｉ　、ｔ２の何れの状態での
画像においても、各画像のエツジ位置を正確に検出する
ことが重要である。

以下、エツジ位置を検出する方法につき説明する。

上述した（１）及び（２）式においては、画像の濃度は
連続関数で表わされているが、ディジタル画像において
は微分は差分となる。先ず、画像中の（Ｘ、　Ｙ）点の
濃度値をｇ（Ｘ、Ｙ）とし、この点での差分値ｄ（Ｘ、
Ｙ）を下記の（３）式から求める。

ｄ（Ｘ、Ｙ）＝Ｉ　ｇ（Ｘ＋１．Ｙ）　−ｇ（Ｘ−１、
Ｙ）　　Ｉ　−（３）画像のエツジの両側の領域では通
常は濃度変化は少なく（差分値が小さな値）なるが、必
ずしも濃度分布が平坦（差分値が零）となるとは限らな
い。そこで、重心を求めるための計算を行う範囲をエツ
ジ部分の近傍に限定するため以下の操作を行う。

この文献の方法では、差分値ｄ（Ｘ、Ｙ）が、あるしき
い値Ｔ）１をＬまわった時エツジ部分であると判定し、
このエツジ部分に該当する画素を中心として左右に連続
して差分値ｄ（Ｘ、Ｙ）　＞ＴＬ　　（但し、ＴＬ　＜
ＴＨ）となる画素の範囲を求め、この範囲を重心計算の
対象領域とし、下記の（４）式から重心を求めている。

Ｇ、＝（ΣＸｔ　ｄ　（Ｘｌ、Ｙ＋）ｌ／　　苓ｄ　（
Ｘｌ、ｊｔ）　”’　（４）但し、Ｇ、は濃淡画像をマ
トリクス状に分割して計測した際のｊ行目のエツジ位置
を示す、この方法によればパターンのエツジ位置を一画
素の何分の−かの分解能で読取ることが出来る。

この操作を各行（Ｘ方向）に対して行い、ざらに、同様
な操作を垂直方向（Ｙ方向）に対して行って、瞳孔の工
、ジ位１６を検出している。

第７図はこのエツジ位置検出方法を説明するための線図
であり、横軸にｊ行目の画素位置をとり、縦軸に差分値
をとり、各画素に対する差分値をプロットして示しであ
る０図中、ＴＬがしきい値であり、このＴＬ　より大き
な値の差分値領域１１（図中、斜線で示す部分）と、そ
れら差分値に対応する画素位ａ　Ｘ　１とを用いて（４
）式から重心Ｇ」を求めることが出来る。

しかし、全く同一の濃淡画像のパターンを撮像装置で読
取ったとしても、ノイズやＡ／Ｄ変換回路の量子化誤差
等の影響で、読取った濃度が毎回同じ値になるという保
証はない。従って、この濃度に基づき（３）式で計算し
て得られる差分値も少しではあるが変動する場合がある
０例えば、第８図（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、全く
回−の濃淡画像のパターンを読取って得た差分値の分布
が画素位１ｄＸｐでの差分値のみで異なる場合が生じ、
例えば、この画素Ｘｐに対応する差分値ｄ　（Ｘｐ）が
一方は重心計算を行う範囲を規定するしきい値ＴＬ　よ
り小さい値（第８図（Ａ））となリ、他方はｄ　（Ｘｐ
）がＴ１　よりも大きい値（第８図（Ｂ））となるよう
な場合が生ずる。

ところで、従来のエツジ位置検出方法では、第８＋ｆｆ
１（Ａ）に示すような差分ｔｔｔ＋分布の場合は。

しきい値ＴＬ　より大きな値の差分値領域１３（図中、
左下がり斜線で示す部分）を重心計算の対象領域として
（４）式から重心を求めていた。又、第８図（Ｂ）に示
すような差分値分布の場合は領域１３と、領域１５（図
中、右下がり斜線で示す部分）とを重心計算の対象領域
として（４）式から重心を求めていた。

（発明が解決しようとする問題点） しかしなから、重心計算の対象領域の画素位置方向の特
に両端の部分は重心位置から離れているから、重心位置
を決定する際に影響力が大きい。

従って、対象領域の端部の画素、例えば前述した画素Ｘ
Ｐ、を重心計算の対象とするか否かで重心の位置が大き
く変動するから、パターンのエツジ位置を正確に求める
ことが出来ないという問題点があった。

この問題点は濃淡画像を読取る再現性の良否により生し
るばかりでなく、当然のことながら、しきい値ＴＬの設
定により重心計算の対象領域が変化することによっても
生ずる。従って、従来のエツジ位置検出方法では、しき
い値Ｔ［を少し変化させただけでもエツジ位置が大きく
変動するため、しきい値の設定が難しいという問題点が
あった。

さらに、エツジ位置を検出する対象パターンを変更する
毎にこのパターンから得られる差分値も変化する。従っ
て１重心計算の対称領域全限定するしきい値Ｔ「を工、
ジ位置の検出を行う対象パターンが変る毎に変更しなけ
ればならないという問題点があった。

この発明の［１的は北側した問題点を解決し、しきい値
Ｔ１　を変化させても濃淡画像パターンのエツジ位置を
安定に求めることが出来、かつ、しきい値Ｔ」の設定を
自動的に行うことが出来るパターンのエツジ位置検出方
法を提供することにある。

（問題点を解決するためのｆ段） この目的の達成を図るため、この発明によれば、撮像装
置により入力された濃淡画像のパターンのエツジ位置を
検出するに当り、 注目した複数の画素に対し求めた濃度差分値から最大差
分値を求め、 この最大差分値からしきい値を求め、 ｒｉｉｊ述した注目複数画素のそれぞれの差分値からこ
のしきい値を差し引いて差値を求め。

これら差値のうちの正の差値かも重心位置を求め。

この重心位置を前記パターンのエツジ位置とする。

この発明の実施に当り、しきい値は最大差分値をｄにＡ
Ｘ　とした場合ｄにＡＸ／Ｎ（但し、Ｎ〉Ｊ）により求
めるのが好適である。

（作用） このような方法によれば、先ず、１′ｒ、ＩＪ複数画素
の差分イぽ１から最大差分イぽ１を求めている。濃淡画
像においては画像中で濃度か大きく変化する（差分値が
大きな値となる）部分がパターンのエツジ付近となる。

従って、最大差分値を求めることによりパターンのエツ
ジ位置付近を特定することが出来る。

さらに、この最大差分値からエツジ位置を求めるための
重心計算を行う対象領域を決定するしきい値を自動的に
求めている。

従って、重心計算を行う対象領域を正確にかつ自動的に
決定することが出来る。

又、重心を求める計算に用いる差分値を、この差分値の
値からしきい（ｆｉを差し引いて求めた差ｒｔｆｆ（ｄ
　（Ｘ＋）　　　Ｔｔ　　）としている。

従って１第８図（Ａ）に対応して示す第１図（Ａ）のよ
うな差分値分布の場合は１重心計算の対象領域は図中２
１で示す部分となる。又、前述した第８図（Ｂ）に対応
して示す第１図（Ｂ）のような差分値分布の場合は、改
心計算の対象領域は図中２１と２３とで示す部分となる
。

これがため、対象領域の端部に位置する画素、例えば前
述した画素Ｘｐを、重心計算の対象とする場合でも又は
対象としない場合でも５画素ＸＰの差分値は本来の差分
値より小さな値の差値（ｄ（Ｘｐ）−Ｔし）に置換され
ているから、この差分値が重心計算の結果に及ぼす影響
を低減することが出来る。

（実施例） 以下１図面を参照してこの発明の実施例につき説明する
。尚、これらの図はこの発明が理解出来る程度に概略的
に示しであるにすぎず、実施例に述べるアルゴリズムや
このアルゴリズムを実現するための手段は図示例に限定
されるものではない。又、これら図において回−・の構
成成分については同一の符号を付して示しである。

第−実施例 第２図はこの発明の画像パターンのエツジ位置検出方法
に用いて好適な検出装置の一例を、ハードウェアで構成
した場合につき示す構成図である。

第２図において、３１は画像パターンの光情報を画像信
号（濃Ｉｆｆ　）に変換するための例えば−ＣＯＤ等で
構成された撮像装首である。３３はＡ／Ｄ変逆変電器し
、アナログの画像信号をディジタル信号例えば−・画素
を８ビット程度に量子化する。３５は画像メモリを示し
、Ａ／Ｄ変換器３３で変換した画像信号を記憶する。３
７は制御回路を示し１画像メモリ３５から注目した複数
の画素に該わする例えばｊ行目−ライン分の画像信号を
読み出して、微分回路３９に出力する。微分回路３８は
前述した（３）ａｄ（Ｘ、Ｙ）＝ｌ　ｇ（Ｘｔｔ、Ｙ）
　−ｇ（Ｘ−１，Ｙ）　ｌ　ニ従ッテｊ行目の走査方向
（Ｘ方向）の画素×１の差分値ｄ（Ｘｔ、ＹＪ）を順次
に算出して、　この値なエツジ位置検出回路４１に出力
する。このエツジ位置検出回路４１は、−行分づつこの
場合ｊ行目の画像信号から差分値の最大値を求め、その
最大差分値に基づいて重心計算の対象領域を決定するた
めのしきい値を求め、このしきい値と、複数の画素の差
分値との差値を求め、この差値が正の値となる画素につ
いてｆ記の（５）式からｊ行目の重心位置Ｈｊを算出す
る。

Ｈ４＝　　　ｒ　　Σ　：ｈ　　　（ｄ（Ｘｔ、’ｌ）
　　　−Ｔｔ）］／　［Σ　（ｄ　　（Ｘｔ　、Ｙｊ）
　　−ＴＬ）］　　・＝　　（５）この重心位置Ｈ４を
エツジ位置とすることにより、エツジ位置を一画素の何
分の−かの分解能で検出することが出来るや 以下、第３図を参照して、エツジ位置検出回路４１の動
作について詳細に説明する。

先ず注目複数画素として例えばｊ行目−行分の画像信号
から差分値の最大値を求める処理を行うため、制御回路
５１は第一・レジスタ５３にクリア信号を出力してレジ
スタ５３を初期化する。又、制御回路５１はアント回路
７６の一力の入力端子に信号ｒｌＪを出力する。

次に、微分回路３８（第２図参照）において、前述した
（３）式に従って算出されたｊ行目−行分の差分値ｄ　
（Ｘｉ、Ｙｊ）をｇ算器６３と、第二比較器７７とに順
次入力する。尚、ここで減算器６３に出力される差分値
はこの最大差分値を求める処理中では情報として活用し
ない。第二比較器７７は入力された差分値ｄ　（Ｘｌ、
Ｙ＞）と、第一・レジスタ５３に格納されている差分値
とを比較して、人力された差分イホ１ｄ　（ｘｌ、　Ｙ
ｊ　）の方が第一レジスタ５３に格納されている差分値
よりも大きい場合はアンド回路７６の一方の入力端子に
信号ｒｌＪを出力する。従って、アンド回路７６は第一
レジスタ５３にセット信号を出力するから、微分回路３
８と接続されている第一レジスタ５３には現時点で最も
大きな値の差分値ｄ　（Ｘｉ、Ｙｊ）が格納される。こ
れがため、微分回路３９からｊ行目−行分の差分値を全
て出力し終えると、第一レジスタ５３にはｊ行目の複数
の差分値の中の最大差分値ｄ　ＭＡＸが格納されること
になる。

次に、この最大差分値ｄＭＡＸを用いて重心計算を行う
対象領域を決定するためのしきい値Ｔしを例えば以下の
ような方法で求める。先ず、第二除算器７８に予め定数
Ｎ（ただし、Ｎ〉１）を設定しておき、この定数Ｎと、
第一レジスタ５３に格納された最大差分値ｄ、＾Ｘとを
用い、　Ｔｔ　＝　ｄＭｓｘ　／Ｎの式に従ってしきい
（ａ　Ｔ　Ｌ　を求める。

続いてエツジ位置の検出を行うための重心計算を行う方
法について説明する。

先ず、制御回路５１はアンド回路７６の一方の入力端子
に信号「０」を出力する。この信号により第一レジスタ
５３に格納しである最大差分イボ１ｄにＡＸ　をホール
トし、第二除算蔦７８から減算器６３にしきい値Ｔ【　
を出力することが出来る。

さらに、制御回路５１を介してカウンタ５５にエツジ位
置検出を行う開始画素位置ｘｓを、第二レジスタ５７に
エツジ位置検出を終Ｔする終了画素位置Ｘｅをそれぞれ
設定する。

又、制御回路５１から第三レジスタ５９及び第四レジス
タ６１にクリア信号を供給して１両レジスタ５９及び６
１の初期化を行う。

微分回路３８（第２図参照）において、前述した（３）
式に従って算出された差分値ｄ　（Ｘｉ、’ｌ）を減算
器６３に入力する。ここで差分値は第二比較器７７にも
出力されるがこの重心計算処理中では情報として活用し
ない。減算器６３により、差分値ｄ、　（Ｘｉ、Ｙｊ）
から第二除算器７８より出力されるしきい値ＴＬ　をＭ
Ｌ引イテ差値（ｄ　（Ｘｔ、Ｙ４）　　Ｔｔ）を求める
。さらに、この差値の符号６５を制御回路５１に出力す
る。この符号６５が正の場合は、この時の画素位置及び
その画素の差値は重心計算を行う対象となるから、第一
加算器６７を用いてこの時の差値と第三レジスタ５９に
格納されている差値との和を求め、その値Σ（ｄ　（Ｘ
ｉ、Ｙ；）　−ＴＬＩを制御回路５１の指示（クロック
信号）により第三レジスタ５９に格納する。

一方、乗算器６９において、減算器６３の出力値と、カ
ウンタ５５から出力された画素位置Ｘ１との乗算を行い
、Ｘｉ　（ｄ　（Ｘｉ、Ｙｊ）　−Ｔｔｌなる値を得る
。

続いて、第二加算器７１を用いて、この乗算器６９の乗
算値と、第四レジスタ６１に格納されている値との和を
求め、ソノ値浴Ｘｔ　（ｄ　（Ｘｔ、Ｙｊ）　−Ｔｔｌ
ヲ第四レジスタ６１に格納する。

尚、減算器６３から制御回路５１に出力された符号６５
が零及び負の場合は重心計算の対象ではないから上述し
た計算は行わない。

次にカウンタ５５を一つ進めることにより、走査方向に
一つ進んだ画素の差分値を微分回路３９から減算器６３
に入力すると共に、一つ進んだ画素位置を乗算器６９に
出力する。さらに、減算器６３の減算結果の符号６５に
従って前述したような操作を行う。

上述した一連の操作を、カウンタ５５から出力される画
素位置Ｘ１が終了画素位置Ｘｅとなるまでサイクリフク
に行う。第一比較器７３はカウンタ５５から出力される
画素位置Ｘｉと、第二レジスタに格納されている終了画
素位置Ｘｅとを随時比較していて、Ｘｉ　＝　Ｘ　ｅと
なった時に一致信号ｓ１を制御回路５１に出力する。

第三レジスタ５８に格納されている。Σ（ｄ　（Ｘｉ、
Ｙｊ）　−Ｔ口の計算結果と、第四レジスタ６１に格納
されているΣＸｉ　（ｄ　（Ｘｉ、Ｙｉ）　−ＴＬＩの
計算結果とは第−除算器７５に出力される。第−除算器
７５において（５）式に従い計算を行い重心位置Ｈ，を
求めて、この重心位置Ｈ」をパターンのエツジ位置とす
る。

第二実施例 第４図はこの発明の画像パターンのエツジ位置検出方法
をマイクロプロセンサ（以ド、マイコンと称することも
ある）で実現する手段を示す構成図である。又、第５図
はマイコンの機能を説明するための動作流れ図である。

第４図に示した撮像装置３１、Ａ／Ｄ変換器３３及び画
像メモリ３５は第一実施例で説明した各構成成分と同一
であるから、その説明は省略する。

８１はマイコンを示し、その内部にはＲＯＭ（ＲＥＡＤ
　Ｃ！ＮＬＹ　！！ＥＭＯＲＹ）８３　、！ｌ−、ＲＡ
　Ｍ　（ＲＡＮＤＯＭ　ＡＣＣＥＳＳＭＥＭＯＲＹ）８
５　トラ有している。この８０Ｍ８３には前述した（３
）式の計算と、最大差分値ｄＭＡＸを求めしきい値Ｔ［
を求める処理と、（５）式の計算とを実行するためのプ
ログラムが格納されている。又、ＲＡＭ８５は（３）式
の演算結果、しきい値ＴＬの値及び（５）式の演算結果
等を格納するメモリである。

次に、第５図に従ってマイコン８１によるエツジ位を検
出手順を説明する。

尚、画像−打鈴例えばｊ行目の画像信号（′ａ度）は、
画像メモリの配列Ｍに格納されているとし、この配列Ｍ
の大きさをＫとする。

又、（５）式に示す分子Σ（ｄ　（Ｘ：　、’／＋）−
Ｔ暑の計算結果を格納するレジスタをＲ１と定−５Ｌ、
（５）式ニ示ス分ｖ１Σ　Ｘｌ（ｄ　（Ｘ；、Ｙ、＊）
−ＴＬ）の計算結果を格納するレジスタをＲ２と定義す
る。又、差分値格納用レジスタをＲ３と定義する。尚、
Ｒ，、Ｒ２及びＲ３レジスタはＲＡＭ８５を用いれば良
い。

先ず、最大差分値を求めその最大差分値からしきい値Ｔ
１　を求める操作を行う。

レジスタＲ３の内容Ｃを初期化する処理を行う。次に画
像のｊ行目の走査方向の画素位置を示すパラメータを工
とし、先ずＩ＝２を設定してｊ行［」の走査方向の二画
素目を注目画素とする（ステ、ブ９１）。次に前述した
（３）式に従ってこの注［１画素の差分値りを求める（
ステップ９３）０次に、この差分（ＣＤと、レジスタＣ
に格納されている現在までの最大差分値ｄ　ＭＩＩＸ　
とを比較する（ステ、ブ３５）。ここで、ｄにＡＸ＜Ｄ
の場合は差分値りを最大差分値ｄにＡＸ　として更新し
、Ｒ３レジスタに格納する（ステップ９７）。次に走査
方向の次の画素の処理を行うためＩに１を加える（ステ
ップ９９）。

次に、ステップ１０１において、ｊ行「１の画像信号の
処理がでたて、終Ｔ　したか否かをｒ１定する。処理が
終了していない場合（ＩＮＫ）はステップ３３に戻り順
次処理を行う。

又、■≧にの場合はｊ行目の複数の差分値の中のから求
めた最大差分値ｄにＡＸと２例えばＲＯＭ８３に予め書
込まれている定数Ｎ（但し、Ｎｉ１）とを用いて、Ｔｔ
、＝　ｄｓｘｘ／Ｎの式に従ってしきい萌Ｔし　を算出
する（ステ・、ブ１０３）。

続いて、Ｒ１及びＲ２レジスタの内容Ａ及びＢを初期化
する処理を行う（ステップ１０５）。次に前述したパラ
メータＩを、先ずＩ＝２と設定してｊ行目の走査方向の
二画素目を注目画素とする（ステップ１０７）。次に前
述した（３）式に従ってこの注目画素の差分値りを求め
る（ステップ１０９　）　、次に、この差分値りと、上
述した方法（ステップ９１〜１０３）で求めたしきい値
Ｔ（とを比較する（ステップ１１１　）。

ここで、Ｄ＞Ｔ、の場合はこの画：に位ｍ及び差分値は
改心計算に％”　Ｉｊ、する値であるから、差分値りか
らしきい値Ｔｌ　　を差し引いて差値Ｄ′を求め、さら
にこの差ｉＡ　Ｄ“を用いて（５）式の分子しこｒ、ｔ
１５するＡ＝Ａ＋　Ｉ　ＸＤ　’の計算支び分母に対応
するＢ＝Ｂ＋Ｄ　’の計算をそれぞれ行う（ステ、ブ９
９）。次に走査方向の次の画素の処理を行う（ステップ
１１３）。

尚、Ｄ≦Ｔ１の場合は、上述した重心を求めるための計
算は行わず、走査方向の次の画素の処理を行う（ステッ
プ１１５）。

次に、ステップ１１７において、ｊ行目の画像信号の処
理が全て終ｒしたか否かを判定する。処理が終ｒしてい
ない場合（ＩＮＫ）はステップ！０９に戻りＩＭｊ次処
理を行う。

又。工≧にの場合は（５）式に従って改心位１首Ｈを算
出する（ステップ１１９）。

［−建したように、この発明の画像パターンの位置検出
方法はマイコン２川いて実現することも出来る。

尚、上述した各実施例では読取り手段で読取って得た１
淡画像の一打鈴の画像信号の処理について説明したが、
画像を構成する残りの行の画像信号の処理をに述したＬ
順により順次行うことにより、画像全体のパターンのエ
ツジ位ｊこの検出を行うことが出来る。

（発明の効果） 」二連した説明からも明らかなように、この発明の画像
パターンのエツジ位置検出方法によれば、定められたし
きい値より大きい値を示す濃度の差分値を用いて重心位
置を求め、この重心位置をエツジ位置とするに当り、重
心を求める計算に用いる差分値を、この差分値からこの
しきい値を差し引いて求めた正の差値と１在換している
。

従って、重心を求める計算の対象領域の画素位置方向の
端部に位置する画素、例えば前述した画、’ｇＸｐを改
心計算の対象とする場合でも又対象としない場合でも、
画素Ｘｐの差分値は１本来の差分値より小さなイボ１の
差１￥ｆ（ｄ　（Ｘｐ）　−Ｔｔ）に置換されるから、
改心計算の結果に及ぼす彩饗が低減される。

又、上述したしきい値Ｔ【は注［］複数画素の差分値の
最大差分値から求めている。ａｇ、画像においては画像
中で濃度が大きく変化する（差分値が大きな値となる）
部分がパターンのエツジ付近となる。従って、最大差分
値を求めることによりパターンのエツジ位置付近を特定
することが出来、さらに、この最大差分値から自動的に
しきい値Ｔ［が求まる。よって、従来のように対象パタ
ーンを変更する毎にしきい値ＴＬ　を変更する必要がな
い。

これがため、しきい値Ｔしを変化させても濃淡画像パタ
ーンのエツジ位置を安定に求めることが出来、かつ、し
きい値Ｔしの設定を自動的に行うことが出来るパターン
のエツジ位置検出方法を提供することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ａ）及びＣＢ）はこめ発明の画像パターンのエ
ツジ位置検出方法の説明に供する線図、 第２図は第一実施例の説明に供する線区で、この発明に
用いて好適なエツジ位置検出回路の一例を示すｍ成因、 第３図は７ｆＳ２図に示した装置に内蔵されたエツジ位
置検出回路を示すブロフク図、 第４図はこの発明の第二実施例を説明する線区で、この
発明をマイコンで実現する場合の実現手段を示す構成図
、 第５図はこの発明の第二実施例の説明に供する動作流れ
図、 第６図（Ａ）及びＣＢ）と、第７図とは従来及びこの発
明の説明に供する線図、 第８図（Ａ）及び（Ｂ）は従来のエツジ位心検出方法の
説明図である。 ２１．２３・・・差値（差分値がらしきい値奢差し引い
たイｆＦｉ） ３１・・・読取り手段（撮像装置） ３３・・・Ａ／Ｄ変換器、３５・・・画像メモリ３７・
・・制御部、３９・・・微分回路４１・・・エツジ位置
検出回路 ５１・・・制御回路、　　　　　５３・・・第一レジス
タ５５・・・カウンタ、　　　　　５７・・・第二レジ
スタ５９・・・第三レジスタ、６１・・・第四レジスタ
６３・・・減算器、　　　　　　６５・・・減算結果の
符号６７・・・第一加算器、　　　６９・・・乗算器７
１・・・第二加算器、　　　７３・・・第一比較器７５
・・・第−除算器、　　　７Ｂ・・・アント回路７７・
・・第二比較器　　　　７８・・・第二除ｎ器８１・・
・マイクロプロセッサ ８３・・・ＲＯＭ、　　　　　　８５・・・ＲＡＭ。 特許出願人　　　　沖電気工業株式会社２１、．７Ｊ　
差値 、４　　　ｉ　　イ’ｉ　　ｚ ｉｐＪ　素　イヱ【　３【 この発明の説明に硯Ｔろ線図 第１図 この発明の第−実旋］り１１の精Ａ図 第２図 この２明の茗二実旋ｌｌすの精へ図 第４図 二の発日月の第二焚旋４・フ゛］の寥之υ月ｍ従東皮び
′この発明の説明＋＝ＭＴろａ図第６図 画素位置 才疋来疋び゛この発明の盲愛明１ニイ共する１聚図面　
し粂　イヱＬ　置 従東のエツジ゛イ到Ｅ検出方ジ久め説明図、手続ネＰ番
ｌ正書 昭和６１年１１月１４日

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）撮像装置により入力された濃淡画像のパターンの
   エッジ位置を検出するに当り、 注目した複数の画素に対し求めた濃度差分値から最大差
   分値を求め、 該最大差分値からしきい値を求め、 前記注目複数画素のそれぞれの差分値から該しきい値を
   差し引いて差値を求め、 これら差値のうちの正の差値から重心位置を求め、 該重心位置を前記パターンのエッジ位置とすることを特
   徴とするパターンのエッジ位置検出方法。
2. （２）しきい値は、最大差分値をｄ＿Ｍ＿Ａ＿Ｘとした
   場合ｄ＿Ｍ＿Ａ＿Ｘ／Ｎ（但し、Ｎ＞１）により求める
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のパターン
   のエッジ位置検出方法。