JPS62106589A - パタ−ンのエツジ位置検出方法 - Google Patents

パタ−ンのエツジ位置検出方法

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JPS62106589A
JPS62106589A JP60246909A JP24690985A JPS62106589A JP S62106589 A JPS62106589 A JP S62106589A JP 60246909 A JP60246909 A JP 60246909A JP 24690985 A JP24690985 A JP 24690985A JP S62106589 A JPS62106589 A JP S62106589A
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value
pattern
edge position
calculation
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Application number
JP60246909A
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English (en)
Inventor
Shigeru Kuroe
黒江 茂
Kengo Nakajima
中嶋 憲吾
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は濃淡画像の位置検出方法に関し、特にパター
ンのエツジ位置検出方法に関する。
(従来の技術) 従来から、濃淡画像のパターンのエンシ位j4を高精度
に検出するための種々の11i像パターンのエツジ位置
検出方法が提案されている。
このような画像パターンのエツジ位置検出方法としては
例えば文献(電子通信学会論文誌D、65[2] (1
982) P、274〜281)に開示されている方法
がある。
この方法は、撮像装置により人力された濃淡画像中で濃
度が変化している位置をパターンのエツジ位置とし、こ
のパターンのエツジ位置を複数個所検出して、これらエ
ツジ位置の中【、+1をパターンの中心位置と推定する
方法であり、14体的には眼球運動の計411方法とし
て報告されている。以ド、この方法につき筒中に説明す
る。
順法連動のように高速で連動をする被検物体の圧動計測
に際しては、画像のサンプリングを高速で行う必要があ
る。従って、画素数の少ない低分解能撮像素子を用いて
画像のサンプリング周期を早めることが必要となる。さ
らに、この低分解能の眼球画像から瞳孔の動き(移動量
)を一画素の何分の−かの分解能で検出するためには、
瞳孔輪郭部の位置検出の分解能を出来るだけ高める必要
がある。
この文献では、瞳孔輪郭部のエツジ位置を知るため、輪
郭部の濃度(第6図(A)参照)の空間的な微分を求め
、その微分波形(第6図(B)参照)の重心位置を計算
から求めて、その重心位置をエツジ位置としている。
従って、瞳孔等の被検物体の移vJ量はある時刻t1に
おける重心G1 と、被検物体が移動した後の時刻t2
における重心G2 とから求めることが出来る。尚、重
心Gl及びG2は下記の(1)及び(2)式からそれぞ
れ求めることが出来る。
G+=(f’″! f’ (x)dx )/(」、f 
’ (x)dx)・・・(1)G2−(こif’(x−
Δx)dxl /(j、、f’(x−Δx)dXl −Gl  +ΔX ・・・・・・・・・・・・ (2)
但し、第6図(A)、(B)及び式(1)、(2)にお
いて、f(x)は画像の濃度を示し、f’(x)はf(
りの一回微分を示す。
丘述した重心Gl及びG2から被検物体の移動量を正確
に求めるためには、時刻ti 、t2の何れの状態での
画像においても、各画像のエツジ位置を正確に検出する
ことが重要である。
以下、エツジ位置を検出する方法につき説明する。
上述した(1)及び(2)式においては、画像の濃度は
連続関数で表わされているが、ディジタル画像において
は微分は差分となる。先ず、画像中の(X、 Y)点の
濃度値をg(X、Y)とし、この点での差分値d(X、
Y)を下記の(3)式から求める。
d(X、Y)=I g(X+1.Y) −g(X−1、
Y)  I −(3)画像のエツジの両側の領域では通
常は濃度変化は少なく(差分値が小さな値)なるが、必
ずしも濃度分布が平坦(差分値が零)となるとは限らな
い。そこで、重心を求めるための計算を行う範囲をエツ
ジ部分の近傍に限定するため以下の操作を行う。
この文献の方法では、差分値d(X、Y)が、あるしき
い値T)1をLまわった時エツジ部分であると判定し、
このエツジ部分に該当する画素を中心として左右に連続
して差分値d(X、Y) >TL  (但し、TL <
TH)となる画素の範囲を求め、この範囲を重心計算の
対象領域とし、下記の(4)式から重心を求めている。
G、=(ΣXt d (Xl、Y+)l/  苓d (
Xl、jt) ”’ (4)但し、G、は濃淡画像をマ
トリクス状に分割して計測した際のj行目のエツジ位置
を示す、この方法によればパターンのエツジ位置を一画
素の何分の−かの分解能で読取ることが出来る。
この操作を各行(X方向)に対して行い、ざらに、同様
な操作を垂直方向(Y方向)に対して行って、瞳孔の工
、ジ位16を検出している。
第7図はこのエツジ位置検出方法を説明するための線図
であり、横軸にj行目の画素位置をとり、縦軸に差分値
をとり、各画素に対する差分値をプロットして示しであ
る0図中、TLがしきい値であり、このTL より大き
な値の差分値領域11(図中、斜線で示す部分)と、そ
れら差分値に対応する画素位a X 1とを用いて(4
)式から重心G」を求めることが出来る。
しかし、全く同一の濃淡画像のパターンを撮像装置で読
取ったとしても、ノイズやA/D変換回路の量子化誤差
等の影響で、読取った濃度が毎回同じ値になるという保
証はない。従って、この濃度に基づき(3)式で計算し
て得られる差分値も少しではあるが変動する場合がある
0例えば、第8図(A)及び(B)に示すように、全く
回−の濃淡画像のパターンを読取って得た差分値の分布
が画素位1dXpでの差分値のみで異なる場合が生じ、
例えば、この画素Xpに対応する差分値d (Xp)が
一方は重心計算を行う範囲を規定するしきい値TL よ
り小さい値(第8図(A))となリ、他方はd (Xp
)がT1 よりも大きい値(第8図(B))となるよう
な場合が生ずる。
ところで、従来のエツジ位置検出方法では、第8+ff
1(A)に示すような差分ttt+分布の場合は。
しきい値TL より大きな値の差分値領域13(図中、
左下がり斜線で示す部分)を重心計算の対象領域として
(4)式から重心を求めていた。又、第8図(B)に示
すような差分値分布の場合は領域13と、領域15(図
中、右下がり斜線で示す部分)とを重心計算の対象領域
として(4)式から重心を求めていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしなから、重心計算の対象領域の画素位置方向の特
に両端の部分は重心位置から離れているから、重心位置
を決定する際に影響力が大きい。
従って、対象領域の端部の画素、例えば前述した画素X
P、を重心計算の対象とするか否かで重心の位置が大き
く変動するから、パターンのエツジ位置を正確に求める
ことが出来ないという問題点があった。
この問題点は濃淡画像を読取る再現性の良否により生し
るばかりでなく、当然のことながら、しきい値TLの設
定により重心計算の対象領域が変化することによっても
生ずる。従って、従来のエツジ位置検出方法では、しき
い値T[を少し変化させただけでもエツジ位置が大きく
変動するため、しきい値の設定が難しいという問題点が
あった。
さらに、エツジ位置を検出する対象パターンを変更する
毎にこのパターンから得られる差分値も変化する。従っ
て1重心計算の対称領域全限定するしきい値T「を工、
ジ位置の検出を行う対象パターンが変る毎に変更しなけ
ればならないという問題点があった。
この発明の[1的は北側した問題点を解決し、しきい値
T1 を変化させても濃淡画像パターンのエツジ位置を
安定に求めることが出来、かつ、しきい値T」の設定を
自動的に行うことが出来るパターンのエツジ位置検出方
法を提供することにある。
(問題点を解決するためのf段) この目的の達成を図るため、この発明によれば、撮像装
置により入力された濃淡画像のパターンのエツジ位置を
検出するに当り、 注目した複数の画素に対し求めた濃度差分値から最大差
分値を求め、 この最大差分値からしきい値を求め、 riij述した注目複数画素のそれぞれの差分値からこ
のしきい値を差し引いて差値を求め。
これら差値のうちの正の差値かも重心位置を求め。
この重心位置を前記パターンのエツジ位置とする。
この発明の実施に当り、しきい値は最大差分値をdにA
X とした場合dにAX/N(但し、N〉J)により求
めるのが好適である。
(作用) このような方法によれば、先ず、1′r、IJ複数画素
の差分イぽ1から最大差分イぽ1を求めている。濃淡画
像においては画像中で濃度か大きく変化する(差分値が
大きな値となる)部分がパターンのエツジ付近となる。
従って、最大差分値を求めることによりパターンのエツ
ジ位置付近を特定することが出来る。
さらに、この最大差分値からエツジ位置を求めるための
重心計算を行う対象領域を決定するしきい値を自動的に
求めている。
従って、重心計算を行う対象領域を正確にかつ自動的に
決定することが出来る。
又、重心を求める計算に用いる差分値を、この差分値の
値からしきい(fiを差し引いて求めた差rtff(d
 (X+)   Tt  )としている。
従って1第8図(A)に対応して示す第1図(A)のよ
うな差分値分布の場合は1重心計算の対象領域は図中2
1で示す部分となる。又、前述した第8図(B)に対応
して示す第1図(B)のような差分値分布の場合は、改
心計算の対象領域は図中21と23とで示す部分となる
これがため、対象領域の端部に位置する画素、例えば前
述した画素Xpを、重心計算の対象とする場合でも又は
対象としない場合でも5画素XPの差分値は本来の差分
値より小さな値の差値(d(Xp)−Tし)に置換され
ているから、この差分値が重心計算の結果に及ぼす影響
を低減することが出来る。
(実施例) 以下1図面を参照してこの発明の実施例につき説明する
。尚、これらの図はこの発明が理解出来る程度に概略的
に示しであるにすぎず、実施例に述べるアルゴリズムや
このアルゴリズムを実現するための手段は図示例に限定
されるものではない。又、これら図において回−・の構
成成分については同一の符号を付して示しである。
第−実施例 第2図はこの発明の画像パターンのエツジ位置検出方法
に用いて好適な検出装置の一例を、ハードウェアで構成
した場合につき示す構成図である。
第2図において、31は画像パターンの光情報を画像信
号(濃Iff )に変換するための例えば−COD等で
構成された撮像装首である。33はA/D変逆変電器し
、アナログの画像信号をディジタル信号例えば−・画素
を8ビット程度に量子化する。35は画像メモリを示し
、A/D変換器33で変換した画像信号を記憶する。3
7は制御回路を示し1画像メモリ35から注目した複数
の画素に該わする例えばj行目−ライン分の画像信号を
読み出して、微分回路39に出力する。微分回路38は
前述した(3)ad(X、Y)=l g(Xtt、Y)
 −g(X−1,Y) l ニ従ッテj行目の走査方向
(X方向)の画素×1の差分値d(Xt、YJ)を順次
に算出して、 この値なエツジ位置検出回路41に出力
する。このエツジ位置検出回路41は、−行分づつこの
場合j行目の画像信号から差分値の最大値を求め、その
最大差分値に基づいて重心計算の対象領域を決定するた
めのしきい値を求め、このしきい値と、複数の画素の差
分値との差値を求め、この差値が正の値となる画素につ
いてf記の(5)式からj行目の重心位置Hjを算出す
る。
H4=   r  Σ :h   (d(Xt、’l)
   −Tt)]/ [Σ (d  (Xt 、Yj)
  −TL)]  ・=  (5)この重心位置H4を
エツジ位置とすることにより、エツジ位置を一画素の何
分の−かの分解能で検出することが出来るや 以下、第3図を参照して、エツジ位置検出回路41の動
作について詳細に説明する。
先ず注目複数画素として例えばj行目−行分の画像信号
から差分値の最大値を求める処理を行うため、制御回路
51は第一・レジスタ53にクリア信号を出力してレジ
スタ53を初期化する。又、制御回路51はアント回路
76の一力の入力端子に信号rlJを出力する。
次に、微分回路38(第2図参照)において、前述した
(3)式に従って算出されたj行目−行分の差分値d 
(Xi、Yj)をg算器63と、第二比較器77とに順
次入力する。尚、ここで減算器63に出力される差分値
はこの最大差分値を求める処理中では情報として活用し
ない。第二比較器77は入力された差分値d (Xl、
Y>)と、第一・レジスタ53に格納されている差分値
とを比較して、人力された差分イホ1d (xl、 Y
j )の方が第一レジスタ53に格納されている差分値
よりも大きい場合はアンド回路76の一方の入力端子に
信号rlJを出力する。従って、アンド回路76は第一
レジスタ53にセット信号を出力するから、微分回路3
8と接続されている第一レジスタ53には現時点で最も
大きな値の差分値d (Xi、Yj)が格納される。こ
れがため、微分回路39からj行目−行分の差分値を全
て出力し終えると、第一レジスタ53にはj行目の複数
の差分値の中の最大差分値d MAXが格納されること
になる。
次に、この最大差分値dMAXを用いて重心計算を行う
対象領域を決定するためのしきい値Tしを例えば以下の
ような方法で求める。先ず、第二除算器78に予め定数
N(ただし、N〉1)を設定しておき、この定数Nと、
第一レジスタ53に格納された最大差分値d、^Xとを
用い、 Tt = dMsx /Nの式に従ってしきい
(a T L を求める。
続いてエツジ位置の検出を行うための重心計算を行う方
法について説明する。
先ず、制御回路51はアンド回路76の一方の入力端子
に信号「0」を出力する。この信号により第一レジスタ
53に格納しである最大差分イボ1dにAX をホール
トし、第二除算蔦78から減算器63にしきい値T【 
を出力することが出来る。
さらに、制御回路51を介してカウンタ55にエツジ位
置検出を行う開始画素位置xsを、第二レジスタ57に
エツジ位置検出を終Tする終了画素位置Xeをそれぞれ
設定する。
又、制御回路51から第三レジスタ59及び第四レジス
タ61にクリア信号を供給して1両レジスタ59及び6
1の初期化を行う。
微分回路38(第2図参照)において、前述した(3)
式に従って算出された差分値d (Xi、’l)を減算
器63に入力する。ここで差分値は第二比較器77にも
出力されるがこの重心計算処理中では情報として活用し
ない。減算器63により、差分値d、 (Xi、Yj)
から第二除算器78より出力されるしきい値TL をM
L引イテ差値(d (Xt、Y4)  Tt)を求める
。さらに、この差値の符号65を制御回路51に出力す
る。この符号65が正の場合は、この時の画素位置及び
その画素の差値は重心計算を行う対象となるから、第一
加算器67を用いてこの時の差値と第三レジスタ59に
格納されている差値との和を求め、その値Σ(d (X
i、Y;) −TLIを制御回路51の指示(クロック
信号)により第三レジスタ59に格納する。
一方、乗算器69において、減算器63の出力値と、カ
ウンタ55から出力された画素位置X1との乗算を行い
、Xi (d (Xi、Yj) −Ttlなる値を得る
続いて、第二加算器71を用いて、この乗算器69の乗
算値と、第四レジスタ61に格納されている値との和を
求め、ソノ値浴Xt (d (Xt、Yj) −Ttl
ヲ第四レジスタ61に格納する。
尚、減算器63から制御回路51に出力された符号65
が零及び負の場合は重心計算の対象ではないから上述し
た計算は行わない。
次にカウンタ55を一つ進めることにより、走査方向に
一つ進んだ画素の差分値を微分回路39から減算器63
に入力すると共に、一つ進んだ画素位置を乗算器69に
出力する。さらに、減算器63の減算結果の符号65に
従って前述したような操作を行う。
上述した一連の操作を、カウンタ55から出力される画
素位置X1が終了画素位置Xeとなるまでサイクリフク
に行う。第一比較器73はカウンタ55から出力される
画素位置Xiと、第二レジスタに格納されている終了画
素位置Xeとを随時比較していて、Xi = X eと
なった時に一致信号s1を制御回路51に出力する。
第三レジスタ58に格納されている。Σ(d (Xi、
Yj) −T口の計算結果と、第四レジスタ61に格納
されているΣXi (d (Xi、Yi) −TLIの
計算結果とは第−除算器75に出力される。第−除算器
75において(5)式に従い計算を行い重心位置H,を
求めて、この重心位置H」をパターンのエツジ位置とす
る。
第二実施例 第4図はこの発明の画像パターンのエツジ位置検出方法
をマイクロプロセンサ(以ド、マイコンと称することも
ある)で実現する手段を示す構成図である。又、第5図
はマイコンの機能を説明するための動作流れ図である。
第4図に示した撮像装置31、A/D変換器33及び画
像メモリ35は第一実施例で説明した各構成成分と同一
であるから、その説明は省略する。
81はマイコンを示し、その内部にはROM(READ
 C!NLY !!EMORY)83 、!l−、RA
 M (RANDOM ACCESSMEMORY)8
5 トラ有している。この80M83には前述した(3
)式の計算と、最大差分値dMAXを求めしきい値T[
を求める処理と、(5)式の計算とを実行するためのプ
ログラムが格納されている。又、RAM85は(3)式
の演算結果、しきい値TLの値及び(5)式の演算結果
等を格納するメモリである。
次に、第5図に従ってマイコン81によるエツジ位を検
出手順を説明する。
尚、画像−打鈴例えばj行目の画像信号(′a度)は、
画像メモリの配列Mに格納されているとし、この配列M
の大きさをKとする。
又、(5)式に示す分子Σ(d (X: 、’/+)−
T暑の計算結果を格納するレジスタをR1と定−5L、
(5)式ニ示ス分v1Σ Xl(d (X;、Y、*)
−TL)の計算結果を格納するレジスタをR2と定義す
る。又、差分値格納用レジスタをR3と定義する。尚、
R,、R2及びR3レジスタはRAM85を用いれば良
い。
先ず、最大差分値を求めその最大差分値からしきい値T
1 を求める操作を行う。
レジスタR3の内容Cを初期化する処理を行う。次に画
像のj行目の走査方向の画素位置を示すパラメータを工
とし、先ずI=2を設定してj行[」の走査方向の二画
素目を注目画素とする(ステ、ブ91)。次に前述した
(3)式に従ってこの注[1画素の差分値りを求める(
ステップ93)0次に、この差分(CDと、レジスタC
に格納されている現在までの最大差分値d MIIX 
とを比較する(ステ、ブ35)。ここで、dにAX<D
の場合は差分値りを最大差分値dにAX として更新し
、R3レジスタに格納する(ステップ97)。次に走査
方向の次の画素の処理を行うためIに1を加える(ステ
ップ99)。
次に、ステップ101において、j行「1の画像信号の
処理がでたて、終T したか否かをr1定する。処理が
終了していない場合(INK)はステップ33に戻り順
次処理を行う。
又、■≧にの場合はj行目の複数の差分値の中のから求
めた最大差分値dにAXと2例えばROM83に予め書
込まれている定数N(但し、Ni1)とを用いて、Tt
、= dsxx/Nの式に従ってしきい萌Tし を算出
する(ステ・、ブ103)。
続いて、R1及びR2レジスタの内容A及びBを初期化
する処理を行う(ステップ105)。次に前述したパラ
メータIを、先ずI=2と設定してj行目の走査方向の
二画素目を注目画素とする(ステップ107)。次に前
述した(3)式に従ってこの注目画素の差分値りを求め
る(ステップ109 ) 、次に、この差分値りと、上
述した方法(ステップ91〜103)で求めたしきい値
T(とを比較する(ステップ111 )。
ここで、D>T、の場合はこの画:に位m及び差分値は
改心計算に%” Ij、する値であるから、差分値りか
らしきい値Tl  を差し引いて差値D′を求め、さら
にこの差iA D“を用いて(5)式の分子しこr、t
15するA=A+ I XD ’の計算支び分母に対応
するB=B+D ’の計算をそれぞれ行う(ステ、ブ9
9)。次に走査方向の次の画素の処理を行う(ステップ
113)。
尚、D≦T1の場合は、上述した重心を求めるための計
算は行わず、走査方向の次の画素の処理を行う(ステッ
プ115)。
次に、ステップ117において、j行目の画像信号の処
理が全て終rしたか否かを判定する。処理が終rしてい
ない場合(INK)はステップ!09に戻りIMj次処
理を行う。
又。工≧にの場合は(5)式に従って改心位1首Hを算
出する(ステップ119)。
[−建したように、この発明の画像パターンの位置検出
方法はマイコン2川いて実現することも出来る。
尚、上述した各実施例では読取り手段で読取って得た1
淡画像の一打鈴の画像信号の処理について説明したが、
画像を構成する残りの行の画像信号の処理をに述したL
順により順次行うことにより、画像全体のパターンのエ
ツジ位jこの検出を行うことが出来る。
(発明の効果) 」二連した説明からも明らかなように、この発明の画像
パターンのエツジ位置検出方法によれば、定められたし
きい値より大きい値を示す濃度の差分値を用いて重心位
置を求め、この重心位置をエツジ位置とするに当り、重
心を求める計算に用いる差分値を、この差分値からこの
しきい値を差し引いて求めた正の差値と1在換している
従って、重心を求める計算の対象領域の画素位置方向の
端部に位置する画素、例えば前述した画、’gXpを改
心計算の対象とする場合でも又対象としない場合でも、
画素Xpの差分値は1本来の差分値より小さなイボ1の
差1¥f(d (Xp) −Tt)に置換されるから、
改心計算の結果に及ぼす彩饗が低減される。
又、上述したしきい値T【は注[]複数画素の差分値の
最大差分値から求めている。ag、画像においては画像
中で濃度が大きく変化する(差分値が大きな値となる)
部分がパターンのエツジ付近となる。従って、最大差分
値を求めることによりパターンのエツジ位置付近を特定
することが出来、さらに、この最大差分値から自動的に
しきい値T[が求まる。よって、従来のように対象パタ
ーンを変更する毎にしきい値TL を変更する必要がな
い。
これがため、しきい値Tしを変化させても濃淡画像パタ
ーンのエツジ位置を安定に求めることが出来、かつ、し
きい値Tしの設定を自動的に行うことが出来るパターン
のエツジ位置検出方法を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)及びCB)はこめ発明の画像パターンのエ
ツジ位置検出方法の説明に供する線図、 第2図は第一実施例の説明に供する線区で、この発明に
用いて好適なエツジ位置検出回路の一例を示すm成因、 第3図は7fS2図に示した装置に内蔵されたエツジ位
置検出回路を示すブロフク図、 第4図はこの発明の第二実施例を説明する線区で、この
発明をマイコンで実現する場合の実現手段を示す構成図
、 第5図はこの発明の第二実施例の説明に供する動作流れ
図、 第6図(A)及びCB)と、第7図とは従来及びこの発
明の説明に供する線図、 第8図(A)及び(B)は従来のエツジ位心検出方法の
説明図である。 21.23・・・差値(差分値がらしきい値奢差し引い
たイfFi) 31・・・読取り手段(撮像装置) 33・・・A/D変換器、35・・・画像メモリ37・
・・制御部、39・・・微分回路41・・・エツジ位置
検出回路 51・・・制御回路、     53・・・第一レジス
タ55・・・カウンタ、     57・・・第二レジ
スタ59・・・第三レジスタ、61・・・第四レジスタ
63・・・減算器、      65・・・減算結果の
符号67・・・第一加算器、   69・・・乗算器7
1・・・第二加算器、   73・・・第一比較器75
・・・第−除算器、   7B・・・アント回路77・
・・第二比較器    78・・・第二除n器81・・
・マイクロプロセッサ 83・・・ROM、      85・・・RAM。 特許出願人    沖電気工業株式会社21、.7J 
差値 、4   i  イ’i  z ipJ 素 イヱ【 3【 この発明の説明に硯Tろ線図 第1図 この発明の第−実旋]り11の精A図 第2図 この2明の茗二実旋llすの精へ図 第4図 二の発日月の第二焚旋4・フ゛]の寥之υ月m従東皮び
′この発明の説明+=MTろa図第6図 画素位置 才疋来疋び゛この発明の盲愛明1ニイ共する1聚図面 
し粂 イヱL 置 従東のエツジ゛イ到E検出方ジ久め説明図、手続ネP番
l正書 昭和61年11月14日

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)撮像装置により入力された濃淡画像のパターンの
    エッジ位置を検出するに当り、 注目した複数の画素に対し求めた濃度差分値から最大差
    分値を求め、 該最大差分値からしきい値を求め、 前記注目複数画素のそれぞれの差分値から該しきい値を
    差し引いて差値を求め、 これら差値のうちの正の差値から重心位置を求め、 該重心位置を前記パターンのエッジ位置とすることを特
    徴とするパターンのエッジ位置検出方法。
  2. (2)しきい値は、最大差分値をd_M_A_Xとした
    場合d_M_A_X/N(但し、N>1)により求める
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のパターン
    のエッジ位置検出方法。
JP60246909A 1985-11-02 1985-11-02 パタ−ンのエツジ位置検出方法 Pending JPS62106589A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995029462A1 (en) * 1994-04-22 1995-11-02 Sony Corporation Method and device for encoding image signal and image signal decoding device
FR2720536A1 (fr) * 1990-09-27 1995-12-01 Loral Aerospace Corp Procédé pour éliminer le fond parasite d'une image sur la base d'une corrélation.

Cited By (3)

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