JPS62103622A - 金属酸化物薄膜の製造法 - Google Patents

金属酸化物薄膜の製造法

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JPS62103622A
JPS62103622A JP60244894A JP24489485A JPS62103622A JP S62103622 A JPS62103622 A JP S62103622A JP 60244894 A JP60244894 A JP 60244894A JP 24489485 A JP24489485 A JP 24489485A JP S62103622 A JPS62103622 A JP S62103622A
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carbon
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thin film
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JP60244894A
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Yoshiyuki Sato
義幸 佐藤
Koichi Ono
小野 耕一
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Sakura Color Products Corp
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Agency of Industrial Science and Technology
Sakura Color Products Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、酸化状態において発色する“電解酸化発色性
″を有する金属酸化物薄膜の製造法に関する。
従来技術とその問題点 正または負の電荷をもつイオンの注入により薄膜状物体
が変色もしくは着消色する現象は、エレクトロクロミズ
ムと呼ばれ、この現象は、例えばニレクロトクロミンク
ディスプレー等の表示素子に利用されている。電解酸化
発色性を示す材料としては、酸化イリジウム、酸化ロジ
ウム、酸化ニッケル、酸化コバルト等の金属酸化物が知
られている。この中でも、酸化イリジウムは、応答速度
が早い、化学的安定性に優れている等の利点を備えてい
るので、最も活発にその研究が行なわれている。酸化イ
リジウム薄膜の製造方法としては、陽極酸化法と反応性
スパッタリング法が知られているが、両者には共に解決
すべき問題点がある。
陽極酸化法においては、素子の表示面積が大きい場合に
は、表示面全面にわたって均一に酸化イリジウム膜を成
長させることは、困難でおる。更に、固体電解質等の電
子的に絶縁性を示す基板材料上に積層することが出来な
いという重大な欠点も存在する。
一方、反応性スパッタリング法には、最適成膜速度が3
〜5人/分と非常に遅い為、表示素子として必要な厚さ
の薄膜、例えば900人程度の薄膜の酸化イリジウム薄
膜を得るためには、1時間以上を要する欠点が必る。
更に、金属薄膜をプラズマ酸化することにより、金属酸
化物薄膜を得る方法も知られており、例えば、薄膜60
〜90人のPbO薄膜、70〜90人のNiO薄膜を得
た1例が報告されている。しかしながら、公知のプラズ
マ酸化法により1000Å以上の厚い金属酸化物薄膜を
得るためには、試料を高温に加熱した状態でプラズマ酸
化を行なうか、磁界などによりプラズマの拡散を防止し
てその密度を高める必要があり、到底実用には供し難い
問題点を解決するための手段 本発明者は、上記の如き技術の現状に鑑みて種々研究を
重ねた結果、基板上に予め形成した金属−炭素複合膜を
プラズマ酸化することにより、従来技術の問題点が実質
上解決されることを見出し、本発明を完成するにいたっ
た。即ち、本発明は、金属と炭素とからなる複合膜をプ
ラズマ酸化することを特徴とする金属酸化物薄膜の製造
法に係る。
本発明においては、先ず、基板上に金属−炭素複合膜を
形成させる。基板としては、導電性を有する材料、例え
ば金属のみならず、ガラス、プラスチック、固体電解質
等の非導電性材料も使用可能である。複合膜を形成すべ
き金属としては、イリジウム、ニッケル、ロジウム、コ
バルトの1種又は2種以上が使用される。このうちでも
、特にイリジウムが好ましく、次いでニッケルが好まし
い材料として挙げられる。
金属−炭素複合膜の形成は、公知の薄膜製造において一
般に採用されている真空下での蒸着法、例えば電子ビー
ム蒸着法、抵抗加熱蒸着法、スパッタリング法等により
行なうことができる。より具体的には、(i)イリジウ
ムと炭素とを別々の蒸発源から電子ビームにより蒸発さ
せて、同一基板上に複合膜を形成させる電子ビーム二元
蒸着法、(ii)ニッケルをWボートを用いる抵抗加熱
蒸着法により蒸発させるとともに、炭素を電子ビームに
より蒸発させて、同一基板上に複合膜を形成させる抵抗
加熱法と電子ビーム法とによる二元蒸着法、(iii 
>黒鉛るつぼにイリジウムを収容し、電子ビーム蒸着を
行なうことにより、基板上にイリジウム−炭素複合膜を
得る方法、(iv)炭素上にイリジウム及び/又はニッ
ケルを配置したものをターゲットとして、アルゴンガス
中10”2Torr程度の真空下にスパッタリングを行
なうことに、より、基板上にイリジウム及び/又はニッ
ケルー炭素複合膜を形成させる方法等が挙げられる。但
し、金属−炭素複合膜はこれ等の例示された方法だけで
はなく、他の方法によっても形成され得ることは、いう
までもない。金属−炭素複合膜の厚さは、最終的に得ら
れる金属酸化物薄膜の厚さ等により定めれば良いが、通
常500〜5000人程度である。
蒸発源を制御することにより、任意の組成比をもつ金属
−炭素複合膜が得られるが、プラズマ酸化を行なったと
き、金属の炭素に対する組成比が0.05〜0.30の
範囲において酸化膜の形成が良好である。即ち、金属の
炭素に対する組成比が0.05未満の場合、しばしば、
金属−炭素複合膜が基板から剥離する。また、金属の炭
素に対する組成比が0.30を超えた場合、金属−炭素
複合膜からの炭素の脱離が不充分となり、厚い酸化膜を
得ることは出来ない。
尚、非導電性のガラス、プラスチック等を基板とする場
合には、エレクトロクロミック表示素子としての応答性
を高める為に、基板上に予め透明導電膜又は導電性金属
膜を設け、その上に金属−炭素複合膜を形成することが
好ましい。
本発明においては、次いで、上記の如くして基板上に形
成された金属−炭素複合膜をプラズマ酸化することによ
り、所望の金属酸化物薄膜を得る。
プラズマ酸化条件は、金属酸化物薄膜が形成される限り
特に限定されるものではないが、プラズマ発生源として
13.56MH2の高周波電源を用いる場合には、通常
酸素ガス圧10〜10−2Torr程度、イオン銃を用
いる場合には、通常酸素ガス圧10 ’ 〜10−”T
orrが好まシイ。
上記の様にして得られる金属酸化物薄膜は、当初の金属
−炭素複合膜中の炭素成分の大部分が、プラズマと反応
してCO又はCO2として揮発した結果得られたものと
推測され、結晶の金属酸化物に比べると極めて低密度で
あり、光学的屈折率も小さい。例えば、イリジウムの酸
化物薄膜の場合には、光学的屈折率は、1.5程度であ
った。
本発明方法により得られる金属酸化物薄膜は、顕著な電
解酸化発色性を示すので、エレクトロクロミック表示素
子、薄膜電池等として極めて有用である。
及皿五四ス 本発明によれば、以下の如き効果が奏される。
(1)広い面積にわたって均一な金属酸化物薄膜を形成
させることができる。
(2)絶縁性基材上に金属酸化物薄膜を形成させること
も可能でおる。
(3)膜厚の大きい金属酸化物薄膜を短時間で形成する
ことができる。
(4)金属薄膜を直接プラズマ酸化する公知方法とは異
なり、試料を特に高温としたり、或いは磁界などにより
プラズマの拡散を防止する等の煩雑な操作は不要である
実施例 以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをより一
層明らかにする。
実施例1 イリジウムを黒鉛るつぼに入れ、加速電圧6KV、エミ
ッション電流180〜200mA、圧力1〜2 x 1
0−5Torrの条件下に電子ビーム蒸着を行なうこと
により、膜厚2000〜3000人の金属光沢を有する
イリジウム−炭素複合膜を基板上に形成させた。イリジ
ウムの炭素に対する割合は、0.05〜0.30の範囲
内にあった。基板としては、ガラス板上に予め透明導電
膜を形成したものを使用した。次いで、マグネトロン冷
陰極放電型イオン発生装置を使用して、上記イリジウム
−炭素複合膜を酸素ガス圧4 X 10 ’Torr、
イオン源の出力20Wの条件下にプラズマ酸化すること
により、厚さ1000〜1500人の酸化イリジウム薄
膜を1qた。
マグネトロン冷陰極放電型イオン発生装置は、10〜1
0’Torrの酸素ガス圧で使用可能であり、この圧力
範囲内で酸化膜の形成を行なえるが、特に4 X 1Q
  Torrの付近で得られる酸化膜の膜厚が最大とな
った。
得られた酸化イリジウム薄膜を硫酸水溶液に浸し、飽和
せコウ電極を基準電極として1v〜−0,2Vの範囲で
電位を走査させたところ、薄膜の着消色力鷹められた。
実施例2 ニッケルをWボートを用いる抵抗加熱法により、また炭
素を電子ビーム加熱法により、そりぞれ蒸発ざぜ、膜厚
1500〜2500人のNt−c複合膜を得た。基板は
、実施例1と同様のものを使  用した。
次いで、実施例1と同様の装置を使用して、配素)j 
/Jf 4 X 10−4Torr、イオン源の出力3
owの条件下に上記複合膜をプラズマ酸化することによ
り、厚さ100〜500人の酸化ニッケル薄膜をjqだ
又、基板温度を100〜200′Cとして、複合膜をプ
ラズマ酸化する場合には、酸化ニッケル薄膜の厚さを増
大させることかでき、例えば、基板温度170’Cの場
合には、500〜1000人の酸化ニッケル薄膜が1q
られた。
本実施例で得られた酸化ニッケル薄膜も、顕著なエレク
トロクロミズムを示した。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)金属と炭素とからなる複合膜をプラズマ酸化する
    ことを特徴とする金属酸化物薄膜の製造法。
JP60244894A 1985-10-30 1985-10-30 金属酸化物薄膜の製造法 Granted JPS62103622A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60244894A JPS62103622A (ja) 1985-10-30 1985-10-30 金属酸化物薄膜の製造法

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JP60244894A JPS62103622A (ja) 1985-10-30 1985-10-30 金属酸化物薄膜の製造法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62103622A true JPS62103622A (ja) 1987-05-14
JPH0146855B2 JPH0146855B2 (ja) 1989-10-11

Family

ID=17125558

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60244894A Granted JPS62103622A (ja) 1985-10-30 1985-10-30 金属酸化物薄膜の製造法

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JP (1) JPS62103622A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0892766A (ja) * 1994-09-27 1996-04-09 Agency Of Ind Science & Technol プラズマ酸化による酸化ニッケル膜の製造方法
US5853819A (en) * 1994-08-30 1998-12-29 Eastman Kodak Company Imaging element comprising an electrically conductive layer formed by a glow discharge process

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5853819A (en) * 1994-08-30 1998-12-29 Eastman Kodak Company Imaging element comprising an electrically conductive layer formed by a glow discharge process
JPH0892766A (ja) * 1994-09-27 1996-04-09 Agency Of Ind Science & Technol プラズマ酸化による酸化ニッケル膜の製造方法

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