JPH03101033A - 薄膜の製造方法 - Google Patents
薄膜の製造方法Info
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- JPH03101033A JPH03101033A JP23769589A JP23769589A JPH03101033A JP H03101033 A JPH03101033 A JP H03101033A JP 23769589 A JP23769589 A JP 23769589A JP 23769589 A JP23769589 A JP 23769589A JP H03101033 A JPH03101033 A JP H03101033A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、耐熱性および耐薬品性を必要とする電極、
あるいは耐イオン衝撃性および高二次電子放出率を要求
する陰極に適したLaB6 薄膜の製造方法に関するも
のである。
あるいは耐イオン衝撃性および高二次電子放出率を要求
する陰極に適したLaB6 薄膜の製造方法に関するも
のである。
従来よりLaB6 を薄11fi 111極として用い
た例としテ、 J、J、 Apll、phys 、
26 Up、 1722−p。
た例としテ、 J、J、 Apll、phys 、
26 Up、 1722−p。
1728(’ BT)K示されたものがあり、電子ビー
ム蒸着法によってとのLaB6 薄膜を形成した場合、
電気抵抗が5×10 0@cIR(嗅厚≧600nm)
、その時ノL、O重量比1d B 9.9 % (L、
B5.5に相当)で、放電特性も第2図に示したように
通常の陰極(N1)よりも低い電圧で大きな電流を増り
出せるかなり優れた特性が得られたことが報告されてい
る。また、 LaB6 け結晶構造により二次電子
放出率が異なり、電子ビーム蒸着法により形成された薄
膜は最も二次電子放出率の高い(100)結晶配向にな
ることも報告されている(仕事関数: 2. 4 3.
9 eV)、 LaB6 Fiこのように元来優れ
た電子物性を有しているうえ、耐薬品性および耐熱性(
融点:2700℃)K優れた性質を備えている事が知ら
れている。
ム蒸着法によってとのLaB6 薄膜を形成した場合、
電気抵抗が5×10 0@cIR(嗅厚≧600nm)
、その時ノL、O重量比1d B 9.9 % (L、
B5.5に相当)で、放電特性も第2図に示したように
通常の陰極(N1)よりも低い電圧で大きな電流を増り
出せるかなり優れた特性が得られたことが報告されてい
る。また、 LaB6 け結晶構造により二次電子
放出率が異なり、電子ビーム蒸着法により形成された薄
膜は最も二次電子放出率の高い(100)結晶配向にな
ることも報告されている(仕事関数: 2. 4 3.
9 eV)、 LaB6 Fiこのように元来優れ
た電子物性を有しているうえ、耐薬品性および耐熱性(
融点:2700℃)K優れた性質を備えている事が知ら
れている。
つぎに、 L、B6 薄膜の作用について説明する。
電極材料は一般に通電によって材料固有の抵抗に基づく
ジュール熱が発生するため、電極における熱損失を小さ
くする意味からまず低抵抗であること1次に発熱に対し
て長寿命を保証する目的から耐熱性に優れていること、
基板との剥離などによる断線を避ける意味から基板との
付着力が大きいこと9種々のプロセスに耐える目的から
耐薬品性に優れた材料であることが最適であるとされて
きた。また、放電中電極材料として(4,初期電子に基
づく放電によって形成されたイオンによって雪崩的に二
次電子が増殖されるように作用しなければならず、従っ
て一般の電極材料の条件にさらに耐イオン衝撃性および
二次重子放出率の高い材料と言った要求が付加される。
ジュール熱が発生するため、電極における熱損失を小さ
くする意味からまず低抵抗であること1次に発熱に対し
て長寿命を保証する目的から耐熱性に優れていること、
基板との剥離などによる断線を避ける意味から基板との
付着力が大きいこと9種々のプロセスに耐える目的から
耐薬品性に優れた材料であることが最適であるとされて
きた。また、放電中電極材料として(4,初期電子に基
づく放電によって形成されたイオンによって雪崩的に二
次電子が増殖されるように作用しなければならず、従っ
て一般の電極材料の条件にさらに耐イオン衝撃性および
二次重子放出率の高い材料と言った要求が付加される。
L、B6 け正にこれらの条件をすべて満足した理想的
な材料である。
な材料である。
このように元来蚊々の特長を有したLaB6 を電極
として使用するためには、基板上に電流密度に応じた厚
さの金属導体パターン上あるいは基板上に直接印刷法あ
るいは蒸着法によりパターンニング形成する方法が一般
的にとられていた。このようにして形成された電極パタ
ーンに通電することにより単なる′N極として、また電
極が放IIj空間にある場合には先に述べたイオンの接
近に伴い二次1子を効率よく放出する陰極として作用す
る。
として使用するためには、基板上に電流密度に応じた厚
さの金属導体パターン上あるいは基板上に直接印刷法あ
るいは蒸着法によりパターンニング形成する方法が一般
的にとられていた。このようにして形成された電極パタ
ーンに通電することにより単なる′N極として、また電
極が放IIj空間にある場合には先に述べたイオンの接
近に伴い二次1子を効率よく放出する陰極として作用す
る。
第2図は、電子ビーム蒸着により、基板を300℃に加
熱してN1 パターン上K 600 n m以上の嘆厚
でLaB6 薄膜を形成してなる電極と、 LaB6
を蒸着しないN1 のみの陰極を用い、 Ni 陽極
との間で放電させた場合の放電[流の特性を示す特性図
で、放電ガス(No+ Ar)圧力Pと陰極・陽極間距
@dの積がI Torrm cm Kなるような条件で
放電させた結果を示したものであり、このようにL&B
6 を蒸着した電極のほうがはるかに優れた特性を示
すことが報告されている(J、 J、 Appl。
熱してN1 パターン上K 600 n m以上の嘆厚
でLaB6 薄膜を形成してなる電極と、 LaB6
を蒸着しないN1 のみの陰極を用い、 Ni 陽極
との間で放電させた場合の放電[流の特性を示す特性図
で、放電ガス(No+ Ar)圧力Pと陰極・陽極間距
@dの積がI Torrm cm Kなるような条件で
放電させた結果を示したものであり、このようにL&B
6 を蒸着した電極のほうがはるかに優れた特性を示
すことが報告されている(J、 J、 Appl。
、ph7s、260(IF、1722−1726(’
87))、なお、上記の蒸着法で薄膜を形成した場合は
。
87))、なお、上記の蒸着法で薄膜を形成した場合は
。
結晶配向(1001がかなりの割合で形成されるので仕
事関数も一層小さくなり放電用電極として好ましいこと
も報告づれている。
事関数も一層小さくなり放電用電極として好ましいこと
も報告づれている。
従来のように印刷法でLaB6 を形成する場合は。
基板との付着力を維持するために微量のガラスフリット
をLaB6 粉末に添加してガラスフリットの溶融温
度で焼き付ける処理が必要になる。この方法の場合、印
刷面が平坦になりに<<、二次(子の脱出深さ(数10
A)まで表面研磨する必要があり、この他、焼成条件に
よりLaB6 膜の抵抗が増加するなど、かなり取扱が
難しいという問題点があった。また、 Ilj子ビーム
蒸着法で形成する場合、ビームは収束性があるという性
質上、量産性。
をLaB6 粉末に添加してガラスフリットの溶融温
度で焼き付ける処理が必要になる。この方法の場合、印
刷面が平坦になりに<<、二次(子の脱出深さ(数10
A)まで表面研磨する必要があり、この他、焼成条件に
よりLaB6 膜の抵抗が増加するなど、かなり取扱が
難しいという問題点があった。また、 Ilj子ビーム
蒸着法で形成する場合、ビームは収束性があるという性
質上、量産性。
均質大面積薄膜化といった点で問題点があった。
さらに、この方法で形成する場合には化学量論的組成比
を制御する場合二元系蒸着(L、、B各々の材料を用意
して同時に蒸発させる)しなければならず、材料自身の
化学的安定性(L& は水蒸気。
を制御する場合二元系蒸着(L、、B各々の材料を用意
して同時に蒸発させる)しなければならず、材料自身の
化学的安定性(L& は水蒸気。
酸素との反応性が高い)及び蒸着面全体の膜の均質性が
悪いなどといった成膜上の問題点もあった。
悪いなどといった成膜上の問題点もあった。
また、この問題を無視して単一蒸着源で電子ビーム蒸着
すると、化学量論的組成比が十分に制御されない結果も
報告されている。(先の文献で。
すると、化学量論的組成比が十分に制御されない結果も
報告されている。(先の文献で。
LaB5.5)
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、を産性向上、及び大面積薄膜の形成を可能に
すると共に、化学量論的組成比も制御可能にする薄膜形
成方法を得る事を目的とする。
たもので、を産性向上、及び大面積薄膜の形成を可能に
すると共に、化学量論的組成比も制御可能にする薄膜形
成方法を得る事を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るり、B6 薄膜の製造方法は、 Ar
ガス雰囲気中で放電人力1ないし4W/cr/lでLa
B6を蒸着するとともに、その時のAr 圧力% 2X
10−2ないし5x1o−”xorr Kl、、たもの
である。
ガス雰囲気中で放電人力1ないし4W/cr/lでLa
B6を蒸着するとともに、その時のAr 圧力% 2X
10−2ないし5x1o−”xorr Kl、、たもの
である。
この発明におけるLaB6 薄膜の製造方法は、放電人
力1ないし4W/cIIの範囲でAr ガス雰囲気中で
蒸着することにより他の形成方法に比べ均質で−様な厚
さの膜が形成される上、蒸着時のArの雰囲気を2×1
0 ないし6×10 TOrrの範囲にすることに
より、容易に組成を制御でき。
力1ないし4W/cIIの範囲でAr ガス雰囲気中で
蒸着することにより他の形成方法に比べ均質で−様な厚
さの膜が形成される上、蒸着時のArの雰囲気を2×1
0 ないし6×10 TOrrの範囲にすることに
より、容易に組成を制御でき。
電極として、あるいけDC放電陰極として適した性能を
有する薄膜を形成できる。
有する薄膜を形成できる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は、 LaB6 ターゲット(純度99.5
%)を用いてRFマグネトロンスパッタリング装置によ
り蒸着する際の放電ガス(Ar) 圧力を10−1〜1
0−4の範囲に設定して形成した薄膜における電気抵抗
率(Ω・cm)および組成比B / La に示す特
性図である。
%)を用いてRFマグネトロンスパッタリング装置によ
り蒸着する際の放電ガス(Ar) 圧力を10−1〜1
0−4の範囲に設定して形成した薄膜における電気抵抗
率(Ω・cm)および組成比B / La に示す特
性図である。
薄膜の組成比B / La が6に近いほど耐熱性。
耐イオン衝撃性に優れた特性を示し、電気抵抗が低いほ
ど電極における電力損失が低下し且つ電気的耐久性が向
上するなどの利点があり、これらの物性変化を調べる目
的で第1図を見ることができる。第1図によれば、ター
ゲットに対する放電エネルギー密度1〜4W/iで蒸着
されたLaB、5 薄、漠の物性として、蒸着雰囲気で
あるAr の圧力が10−5〜1O−2Torr近辺の
範囲において電気抵抗率は極小値を示し、このとき薄膜
の組成はB/La=6 Kなり、極めて電極物質とし
て優れた特性の薄膜を得られることがわかる。
ど電極における電力損失が低下し且つ電気的耐久性が向
上するなどの利点があり、これらの物性変化を調べる目
的で第1図を見ることができる。第1図によれば、ター
ゲットに対する放電エネルギー密度1〜4W/iで蒸着
されたLaB、5 薄、漠の物性として、蒸着雰囲気で
あるAr の圧力が10−5〜1O−2Torr近辺の
範囲において電気抵抗率は極小値を示し、このとき薄膜
の組成はB/La=6 Kなり、極めて電極物質とし
て優れた特性の薄膜を得られることがわかる。
同様の実証をスパッタリング蒸着のAr 圧力として、
2×10−2〜6×10 Torr の範囲で変えなが
ら実験を行った結果、実用の範囲内で同様の傾向を確認
することが出来た。
2×10−2〜6×10 Torr の範囲で変えなが
ら実験を行った結果、実用の範囲内で同様の傾向を確認
することが出来た。
尚、蒸着雰囲気と薄膜の電気抵抗および組成比について
述べたが上記実施例の範囲で蒸着された薄膜は幕板への
付着力も青火になるうえ、薄膜の内部応力は減少する傾
向にあり、さらにX −r*7回折から結晶構造として
LaB6 配向面は仕事関数の小さい[100’lの存
在比が奇人になるなど多くの優れた物性を示すことは言
うまでもない。
述べたが上記実施例の範囲で蒸着された薄膜は幕板への
付着力も青火になるうえ、薄膜の内部応力は減少する傾
向にあり、さらにX −r*7回折から結晶構造として
LaB6 配向面は仕事関数の小さい[100’lの存
在比が奇人になるなど多くの優れた物性を示すことは言
うまでもない。
以上、W気抵抗を下げる為の蒸着条件について記述した
が、第1図に従いAr圧力を変えることにより任意の抵
抗値が得られることから、耐熱性の優れた薄膜抵抗体上
して応用する事も可能である。
が、第1図に従いAr圧力を変えることにより任意の抵
抗値が得られることから、耐熱性の優れた薄膜抵抗体上
して応用する事も可能である。
以上のように、この発明に依ればスパッタリング蒸晴に
おいて、Ar 圧力、T−2X10−2〜6X10−4
’rOrr の範囲とすることにより電気物性および力
学物性に優れた薄膜を得ることができる。
おいて、Ar 圧力、T−2X10−2〜6X10−4
’rOrr の範囲とすることにより電気物性および力
学物性に優れた薄膜を得ることができる。
yg1図はこの発明の一実施例によるRFスパンタリン
グ蒸着時のAr 圧力と蒸着された薄膜の電気抵抗率お
よび組成CB/L、)の関係を示した特性図、第2図は
従来の1子ビーム蒸着法で形成した薄膜電極(組成推定
@ : L、Bs、s )の放電電流特性を示す特性図
である。
グ蒸着時のAr 圧力と蒸着された薄膜の電気抵抗率お
よび組成CB/L、)の関係を示した特性図、第2図は
従来の1子ビーム蒸着法で形成した薄膜電極(組成推定
@ : L、Bs、s )の放電電流特性を示す特性図
である。
Claims (1)
- 基板上にL_aB_6薄膜を形成する方法において、蒸
着時の放電ガス雰囲気をA_rガスとし、L_aB_6
ターゲットに対する放電入力を1ないし4W/cm^2
の範囲とするとともに、上記A_rガスの圧力を2×1
0^−^2ないし6×10^−^4T_o_r_rの範
囲として基板にL_aB_6をスパッタリングすること
を特徴とする薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23769589A JPH03101033A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23769589A JPH03101033A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03101033A true JPH03101033A (ja) | 1991-04-25 |
Family
ID=17019143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23769589A Pending JPH03101033A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03101033A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5428263A (en) * | 1992-01-07 | 1995-06-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Discharge cathode device with stress relieving layer and method for manufacturing the same |
JP2009256747A (ja) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Canon Anelva Corp | マグネトロンスパッタリング装置及び薄膜の製造法 |
JP2009270158A (ja) * | 2008-05-08 | 2009-11-19 | Canon Anelva Corp | マグネトロンスパッタリング装置及び薄膜の製造法 |
US7750881B2 (en) | 2006-10-19 | 2010-07-06 | Novatek Microelectronics Corp. | Voltage conversion device having non-linear gain |
US20110308936A1 (en) * | 2010-06-22 | 2011-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing lanthanum boride film |
JP2013152948A (ja) * | 2013-04-03 | 2013-08-08 | Tohoku Univ | マグネトロン用陰極体の製造方法 |
US8663430B2 (en) | 2008-05-22 | 2014-03-04 | Canon Anelva Corporation | Magnetron sputtering apparatus and method for manufacturing thin film |
-
1989
- 1989-09-13 JP JP23769589A patent/JPH03101033A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5428263A (en) * | 1992-01-07 | 1995-06-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Discharge cathode device with stress relieving layer and method for manufacturing the same |
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