JPS62100843A - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents

情報処理装置の試験方式

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JPS62100843A
JPS62100843A JP60240545A JP24054585A JPS62100843A JP S62100843 A JPS62100843 A JP S62100843A JP 60240545 A JP60240545 A JP 60240545A JP 24054585 A JP24054585 A JP 24054585A JP S62100843 A JPS62100843 A JP S62100843A
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JP
Japan
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test
processing device
random
information processing
random test
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Application number
JP60240545A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Nishioka
浩 西岡
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置の試験方式に関し、特にランダム
に生成した試験データおよび試験手順を用いる試験方式
に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の情報処理装置の試験方式は、乱数を用い
ランダムに生成した試験データ及び試験手順から成るラ
ンダム試験プログラムを、例えば被試験情報処理装置の
先行情報を有効にした状態で実行した結果と、先行制御
を無効にした状態で実行した結果とを比較し、良否を決
めるという一連の処理を被試験情報処理装置上で行なう
という方式が採用されていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の情報処理装置の試験方式は、試験に伴う
全ての処理を被試験情報処理装置上で行なっているので
、エラーが報告されても被試験情報処理装置自体の信頼
性が不確かな故その発生したエラー自体の信憑性にも問
題が残るために原因解析の効率が悪く、さらに比較処理
が正常に動作しなければエラーを検出することさえでき
ないという欠点があった。
本発明はこのような従来の欠点を解決し、エラー解析効
率とエラー検出率を高めることができる試験方式を提供
することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、被試験情報処理装
置と、該被試験情報処理装置を試験するための試験処理
装置とを有し、 該試験処理装置は、 ランダム試験プログラム生成手段と、 該生成手段で生成されたランダム試験プログラムを前記
被試験情報処理装置上で起動させるランダム試験プログ
ラム起動手段と、 該起動手段によって前記被試験情報処理装置上で起動さ
せられたランダム試験プログラムの実行結果を判定する
実行結果判定手段とを備える。
〔作用〕
ランダム試験プログラムは試験処理装置で生成されて被
試験情報処理装置上で起動され、その実行結果は試験処
理装置において判定される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の要部ブロック図であり、1
は試験処理装置、2は被試験情報処理装置である。試験
処理装置1には主記憶装置3と命令処理部5が含まれ、
主記憶装置3上には、ランダム試験プログラム生成手段
11.ランダム試験プログラム起動手段12.実行結果
判定手段13を有するランダム試験タスク10と、オペ
レーティング・システム30とが格納されている。また
、被試験情報処理装置2は、ランダム試験プログラム2
0がロードされる主記憶装置4と、命令処理部6とを有
し、試験処理装置1とは装置間インクフェイス7を介し
て接続されている。
第2図は、ランダム試験タスク10が生成したランダム
試験プログラム20の内容の一例を示す図であり、乱数
を用いて生成された合計100個の命令とランダム試験
プログラムの終了を通知する装置間通信命令とを含むラ
ンダム試験手順と、乱数を用いて生成されたレジスタ用
データとメモリ用データとを含むランダム試験データと
から構成されている。
第3図は、ランダム試験タスク10の処理の一例を示す
流れ図であり、100〜112は各ステップを示す。以
下、各図を参照して本実施例の動作を説明する。
先ス、オペレーティング・システム30は、ランダム試
験タスク10を図示しない外部記tα装置等から主記憶
装置3にロードし、このランダム試験タスク10を起動
する。
起動されたランダム試験タスク10は、第3図に示した
ように、先ず第2図に示したランダム試験手順を生成し
く100) 、次にこのランダム試験手順が使用するラ
ンダム試験データを乱数を使用して生成しく101) 
、このようにして生成したランダム試験プログラムを装
置間インタフェイス7を経由して被試験情報処理装置2
の主記憶装置4にロードする(102)。そして、装置
間インクフェイス7における例えば診断制御線を経由し
て被試験情報処理装置2の命令処理部6の先行制御を有
効状態に設定しく103) 、g直間インタフェイス7
を介して被試験情報処理装置2に装置間通信の送信によ
ってランダム試験プログラム20を起動しその終了によ
る被試験情報処理装置2からの装置間通信を待つ(10
4)。
試験処理装置1からの装置間通信を受信した被試験情報
処理装置2は、例えば第4図に示すような装置間通信割
込み処理を行なう。先ず、主記憶装置4の固定番地にロ
ードされたランダム試験プログラム20のうちレジスタ
用データをソフトウェアに可視なレジスタにロードしく
200) 、命令処理部6がランダム試験手順の第1命
令から実行できるように命令カウンタを設定する(20
1)。次に、命令処理部6がランダム試験手順の第1命
令から順番に先行制御が有効な状態で命令を実行しく2
02)、第100命令を実行するとソフトウェア可視の
レジスタの内容をランダム試験プログラム20のレジス
タ用データエリアにストアした後(203) 、装置間
通信命令を実行して装置間インクフェイス7を介して試
験処理装置lに装置間通信を送信し、ランダム試験プロ
グラム20の終了を通知する(204)。
なお、上記の例はランダム試験手順の第1命令から第1
00命令までを実行させたが、その命令開始番地は必ず
しも第1命令でなく任意の番地から実行し得るものであ
り、また実行命令数も任意の数とすることができる。
被試験情報処理装置2からの装置間通信を受信したラン
ダム試験タスク10は、第3図のステップ105におい
て、主記憶装置4に格納されているランダム試験データ
をランダム試験プログラム20の実行結果として装置間
インクフェイス7を経由して主記憶装置3上のワークエ
リアに退避し、次にランダム試験プログラムを再度被試
験情報処理装置2の主記憶装置4にロードしく106)
 、装置間インクフェイス7の例えば診断制御線を経由
して被試験情報処理装置2の命令処理部6の先行制御を
無効状態に設定する(i07)。そして、ステップ10
4と同様な処理を行なってランダム試験プログラム20
を起動し、被試験情報処理装置2からの装置間通信を待
つ(108)。ここで、被試験情報処理装置2は第4図
に示したような処理を行なうが、今回は先行制御が無効
状態に設定されているので、ステップ104で起動され
たときと異なり先行制御が無効な状態で動作する。次に
被試験情報処理装置2からの装置間通信を受信したラン
ダム試験タスク10は、ステップ109において、ステ
ップ105と同様にランダム試験プログラム20の実行
結果を主記憶装置3のワークエリアに退避させる。
さて、ランダム試験プログラム20の実行結果を退避し
終えたランダム試験タスク10は、次にステップ105
にて退避した実行結果とステップ109にて退避した実
行結果とを比較しく110) 、一致していればステッ
プ112に進む。
一方、ステップ110で不一致を検出すると、ステップ
111において、エラーを検出した旨、ステップ100
.101で生成されたランダム試験プログラム20及び
ステップ105.109で退避した実行結果をエラーメ
ツセージとしてオペレーティング・システム30を介し
て例えば外部記憶装置に出力した後にステップ112に
移行する。このステップ112ではオペレーティング・
システム30からの終了要求を検査し、終了要求が無け
ればステップ100に戻り、ランダム試験を続行し、終
了要求が有れば試験を終了する。
以上の説明では試験内容として先行制御を有効と無効に
切換えて両実行結果を比較するものとしたが、他の種類
の試験を行なわせることも勿論可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、ランダム試験プログラ
ムの生成、起動、実行結果の比較等を被試験情報処理装
置以外の試験処理装置で実行させており、試験処理装置
はこれから試験を行なう被試験情報処理装置より信頼性
が高いものであるから、エラー解析効率を高め、さらに
エラー検出率を高めることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部ブロック図、第2図は
ランダム試験タスク10が生成したランダム試験プログ
ラム20の内容の一例を示す図、第3図はランダム試験
タスク10の処理の一例を示す流れ図および、 第4図は被試験情報処理装置が行なう処理の一例を示す
流れ図である。 図において、lは試験処理装置、2は被試験情報処理装
置、3.4は主記憶装置、5,6は命令処理部、7は装
置間インクフェイス、1oはランダム試験タスク、11
はランダム試験プログラム生成手段、12はランダム試
験プログラム起動手段、13は実行結果判定手段、20
はランダム試験プログラム、30はオペレーティング・
システムである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被試験情報処理装置と、該被試験情報処理装置を試験す
    るための試験処理装置とを有し、 該試験処理装置は、 ランダム試験プログラム生成手段と、 該生成手段で生成されたランダム試験プログラムを前記
    被試験情報処理装置上で起動させるランダム試験プログ
    ラム起動手段と、 該起動手段によって前記被試験情報処理装置上で起動さ
    せられたランダム試験プログラムの実行結果を判定する
    実行結果判定手段とを具備したことを特徴とする情報処
    理装置の試験方式。
JP60240545A 1985-10-29 1985-10-29 情報処理装置の試験方式 Pending JPS62100843A (ja)

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JPS62100843A true JPS62100843A (ja) 1987-05-11

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ID=17061120

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JP60240545A Pending JPS62100843A (ja) 1985-10-29 1985-10-29 情報処理装置の試験方式

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