JPH07248935A - 情報処理装置の試験方法，及び試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、情報処理装置の試験方法，及び、
試験装置に関し、ハードウェア障害の検出力を向上させ
る。 【構成】 乱数，又は、乱数パターンに基づいて、命令
パターンを発生させる方法，及び、装置であって、命令
コードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁止フ
ラグと、実行経歴有無フラグとからなる試験実行ト
レースマップと，命令コードと、オペランドアドレス
と、障害発生の有無フラグとからなる障害履歴マップ
とを設け、該試験実行トレースマップを参照して、
試験できない命令パターンを生成しないようにする。
又、同一命令パターンを再度生成しないようにする。或
いは、障害履歴マップを参照して、障害の多発してい
る命令コードを持つ命令パターンを優先的に生成する。
更に、試験中断時に、上記試験実行トレースマップ
と、障害履歴マップを退避し、試験再開時には、該退
避してある試験実行トレースマップと、障害履歴マッ
プを復元して、試験を継続実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の論理検
証を行うための試験方法に関するものであり、特に、情
報処理装置の論理検証プログラム (試験プログラム)
で、試験命令の組合わせ試験を行う場合に、その試験対
象となる命令パターンを、乱数, 又は、乱数パターンに
より生成し、実行する場合の生成方法, 及び、装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】図１０は、情報処理装置の従来の試験方
法を説明する図である。従来、命令が正常に動作してい
るかどうかを試験する場合、全ての命令パターンをシー
ケンシャルに試験すると膨大な試験時間を要するため、
本図に示されているように、乱数生成部 10 で生成され
る乱数を使って、例えば、図示の命令テーブル 20fか
ら、該使用した乱数に対応する命令コードとオペランド
アドレスからなる命令パターンをランダムに生成する
か、該乱数生成部 10 から生成される乱数パターンを直
接用いて、命令パターンを生成して、試験する方法が最
適なツールとして用いられていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の試
験命令の生成方法には、次のような問題があった。例え
ば、 1) 予め、試験できない命令パターンがあるということ
がわかっている場合でも、そのまま、試験命令パターン
を生成してしまい、後で補正処理を行う必要があった。

【０００４】2) ランダム生成した命令列に、規則性を
もたせることによって、ある試験項目を重点的に試験し
たい場合でも、その具体的な手法が確立されていないと
いう問題があった。

【０００５】3) 乱数を使って命令生成を行っているた
め、同じ命令パターンを、何回も生成したり、逆に、全
然生成しない命令パターンがあったりしても、試験者に
は分からない、即ち、試験状況を把握できないという問
題があった。

【０００６】4) 命令の組合わせ試験を行う場合、全て
の組合わせを試験するには、時間的な制約があるため、
一旦、試験を中断し、中断時点の未実行の命令パターン
から、また継続実行したい場合が多分にある。然し、従
来は、メモリ素子の記憶容量が小さかった為、全てのト
レース状況を記憶することが困難であった為、中断直前
の状態から継続して、未だ、実行されていない命令パタ
ーンから試験を再開することができないという問題があ
った。

【０００７】本発明は上記従来の欠点に鑑み、情報処理
装置のハードウェア障害の検出力を向上させることがで
きる命令パターンの生成方法, 及び、装置を提供するこ
とを目的とするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】図１〜図４は、本発明の
原理説明図である。上記の問題点は下記の如くに構成さ
れた情報処理装置の試験方法，及び装置によって解決さ
れる。

【０００９】(1) 乱数，又は、乱数パターンに基づい
て、該乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パタ
ーンによる命令パターンを発生させ、該発生した命令コ
ードを実行して情報処理装置を試験する方法であって、
命令コードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁
止フラグと、実行経歴有無フラグとからなる試験実
行トレースマップを設け、試験できない命令パターン
に対して、上記実行の許可／禁止フラグを、例えば、
“オフ”として、上記試験実行トレースマップに登録
しておき、命令パターンを生成するときには、上記試験
実行トレースマップの上記実行の許可／禁止フラグ
を参照して、該実行の許可／禁止フラグが“オフ”の
命令パターンを生成しないように構成する。

【００１０】又、一度実行した命令パターンに対して、
上記実行経歴有無フラグを、例えば、“オン”とし
て、上記試験実行トレースマップに登録しておき、命
令パターンを生成するときには、上記実行経歴有無フラ
グが“オン”となっている命令パターンを再度生成し
ないように構成する。

【００１１】又、命令コードと、オペランドアドレス
と、障害発生の有無フラグとからなる障害履歴マップ
を設け、発生した命令パターンを実行して、ハードウ
ェア障害を検出した場合に、その試験命令パターンに対
して、上記障害発生の有無フラグを、例えば、“オ
ン”として、上記障害履歴マップに登録しておき、そ
の後の命令パターンを生成するとき、上記障害履歴マッ
プを参照して、障害の多発している命令コードを持つ
命令パターンを優先的に生成するように構成する。

【００１２】又、試験中断時点迄の、上記試験実行トレ
ースマップと，試験履歴マップとを、外部記憶装置
に一時退避しておき、試験を再開するとき、上記退避し
ている上記試験実行トレースマップと，試験履歴マッ
プとを復元し、該復元された上記試験実行トレースマ
ップと，試験履歴マップとを参照して、上記中断点
の未実行の命令パターンから試験を継続実行するように
構成する。

【００１３】(2) 乱数，又は、乱数パターンに基づい
て、該乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パタ
ーンによる命令パターンを発生させ、該発生した命令パ
ターンを実行して情報処理装置を試験する装置であっ
て、主記憶装置 2上に、命令コードと、オペランドアド
レスと、実行の許可／禁止フラグと、実行経歴有無フ
ラグとからなる試験実行トレースマップと，命令コ
ードと、オペランドアドレスと、障害発生の有無フラグ
とからなる障害履歴マップと, 試験命令生成処理部
20aと、試験命令実行処理部 20bと、試験結果の解析処
理部 20cと、試験命令領域 20dと、データの格納参照領
域 20eとからなる試験プログラム 20 とを設け、上記試
験プログラム 20 において、上記乱数, 又は、乱数パタ
ーンによる試験の為の命令パターンを生成して実行する
とき、上記試験実行トレースマップと, 障害履歴マッ
プを参照して、選択的に、命令パターンを生成して、
上記試験命令領域 20dに格納し、該試験命令領域 20dに
登録されている命令パターンを読み出して実行し、その
試験結果を、上記試験結果の解析処理部 20cで解析し、
その解析結果に基づいて、障害発生事象を上記障害履歴
マップの障害発生の有無フラグを登録するように構
成する。

【００１４】又、上記命令パターンの実行を中断すると
き、上記試験プログラム 20 によって、上記試験実行ト
レースマップと，上記障害履歴マップとを、外部記
憶装置 3に一時退避し、該命令パターンの実行を再開す
るとき、上記外部記憶装置 3に退避されている上記試験
実行トレースマップと，上記障害履歴マップとを主
記憶装置(2) に復元して、未実行の命令パターンの生成
と, 実行を行うように構成する。

【００１５】

【作用】図１は、基本原理を説明した図であり、試験プ
ログラム 20 の試験命令生成処理部 20aで、試験命令を
生成するとき、本発明の試験実行トレースマップと、
障害履歴マップとを参照する動作, 及び、退避, 復元
動作を中心に示してある。

【００１６】図２は、本発明による命令組合わせ試験の
方法について説明した図であり、中央処理装置(CPU) 1
が実行する乱数生成部 10 からの乱数によって、主記憶
装置(MM) 2内の命令テーブル 20fを参照して、該当の試
験命令コードを持つ命令パターンを命令選択部 11 で決
定するとき、上記本発明の試験実行トレースマップ
と、障害履歴マップとを参照し、決定した試験命令パ
ターンを、主記憶装置(MM) 2の試験命令領域 20dに登録
する動作を示している。又、該試験命令パターンの実行
を中断したとき、本発明の試験実行トレースマップ
と、障害履歴マップとを外部記憶装置 3中の、各退避
エリアに退避し、試験を再開するとき、該外部記憶装置
3から主記憶装置(MM) 2の上記試験実行トレースマップ
と、障害履歴マップの領域に復元する過程を模式的
にに示している。

【００１７】又、図３，図４は、本発明の主眼となる試
験実行トレースマップと、障害履歴マップの構成例
を示したものである。図３に示した試験実行トレースマ
ップは、一枡が、例えば、１語／32ビットの４語で構
成されており、命令コード(C) と、実行の許可／禁止フ
ラグ(V) と, 実行履歴の有無フラグ(E) と, 第１オ
ペランドアドレス(OP1)(A), 第２オペランドアドレス(O
P2)(B)と, 転送バイト数(Z) から構成されており、該試
験実行トレースマップの縦軸は、例えば、命令コード
を示し、横軸は、オペランドアドレス(OP1,OP2) 等を示
している。ここで、上記実行の許可／禁止フラグ(V)
が“１”は、例えば、実行可能な命令コードを示し、
“０”は実行不可能な命令コードを示している。又、実
行履歴の有無フラグ(E) が“１”は、例えば、実行済
みの命令コード(C) を示し、“０”は未実行の命令コー
ド(C) を示している。

【００１８】又、図４に示した障害履歴マップも、上
記試験実行トレースマップと同様な構成をしており、
フラグビットとして、障害発生の有無フラグ(S) を備
えていることが特徴である。この障害発生の有無フラグ
(S) は、試験命令を実行した結果が、障害であると認
識されたとき、該命令コードの上記障害発生の有無フラ
グ(S) を、例えば、“１”に設定することで、各命令
コード毎の障害発生頻度の多少を認識することができ
る。即ち、ある命令コードについて、各種のオペランド
アドレスで、上記障害発生の有無フラグ(S) が“１”
であると、該当の命令コードは、障害が多発している命
令コードと認識することができる。

【００１９】以下、図１〜図４を用いて、本発明による
試験方法，及び、装置の作用動作を説明する。即ち、本
発明によれば、請求項１に記載の発明については、試験
できない命令パターンがあらかじめ分かっている場合
に、各命令パターンの試験状況を、実行の許可／禁止フ
ラグとして登録する上記試験実行トレースマップ
｛図３参照｝を作成し、該命令パターンを試験命令とし
て生成しないようにあらかじめ登録しておく。そして、
試験命令を生成する時は、この試験実行トレースマップ
を基に、試験できない命令パターンを生成しないよう
にしたものである。

【００２０】又、請求項２に記載の発明については、同
じ試験命令パターンを複数回実行することによる試験の
重複を無くすために、上記試験実行トレースマップ
に、実行した命令パターンの履歴を、実行経歴の有無フ
ラグとして登録する。そして、試験命令を生成する時
は、この試験実行トレースマップを基に、同一命令パ
ターンを生成しないようにしたものである。

【００２１】又、請求項３に記載の発明については、上
記のようにして生成した試験命令を、実行した結果、ハ
ードウェア障害を検出した場合に、障害が発生した命令
の命令コードと障害内容（オペランドアドレス等）を、
障害発生の有無フラグとして記録する障害履歴マップ
｛図４参照｝を作成し、上記のようにして生成した命
令パターンを実行して、障害が発生したとき、その命令
パターンに対して、上記障害発生の有無フラグを登録
する。その後の命令生成では、該障害履歴マップと試
験命令トレースマップを基に、障害パターンを解析
し、障害が多発している命令コードを持つ命令パターン
を優先的に生成するようにしたものである。

【００２２】又、請求項４に記載の発明については、何
らかの理由で試験を中断させた後、中断直後の試験状態
のまま試験を再開したい場合に、中断直前までの試験実
行トレースマップと障害履歴マップを外部記憶装置
（ＦＤ，ＤＡＳＤ，ＭＴ等）3 に記憶させ、中断後も継
続して試験を行えるようにしたものである。

【００２３】従って、本発明の情報処理装置の試験方法
では、従来の乱数だけに基づいて試験命令を生成して試
験する方法を、試験実行トレースマップと障害履歴マ
ップに基づいて、セミランダムに試験命令を生成する
方法に改めることで、試験できない命令パターンを生成
することが無くなり、又、同じ命令パターンを何回も生
成したり、逆に、全然生成しない命令パターンがあった
りすることが無くなり、更に、障害の多発している命令
コードの命令パターンを重点的に生成することができ
る。又、上記試験実行トレースマップと障害履歴マッ
プを、試験の中断点で一時退避し、試験再開時に、該
試験実行トレースマップと障害履歴マップを復元す
ることで、試験中断後の未実行の命令パターンからの継
続実行を可能にし、情報処理装置のハードウェア障害の
検出力を向上させることができる効果がある。

【００２４】

【実施例】以下本発明の実施例を図面によって詳述す
る。前述の図１〜図４が、本発明の原理説明図であり、
図５〜図９が、本発明の一実施例を流れ図で示した図で
ある。

【００２５】本発明においては、乱数，又は、乱数パタ
ーンに基づいて、該乱数が指示する命令パターン，又
は、該乱数パターンによる命令パターンを発生させ、該
発生した命令パターンを実行して情報処理装置を試験す
る方法, 及び装置であって、主記憶装置 2上に、命令コ
ードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁止フラ
グと、実行経歴有無フラグとからなる試験実行トレ
ースマップと，命令コードと、オペランドアドレス
と、障害発生の有無フラグとからなる障害履歴マップ
と, 試験命令生成処理部 20aと、試験命令実行処理部
20bと、試験結果の解析処理部 20cと、試験命令領域 2
0dと、データの格納参照領域 20eとからなる試験プログ
ラム 20 とを設け、上記試験プログラム 20 において、
試験の為の命令パターンを生成して実行するとき、上記
試験実行トレースマップと, 障害履歴マップを参照
して、選択的に、命令パターンを生成して、上記試験命
令領域 20dに格納し、該試験命令領域 20dに登録されて
いる命令パターンを読み出して実行し、その試験結果
を、上記試験結果の解析処理部 20cで解析し、その解析
結果に基づいて、障害発生事象を上記障害履歴マップ
の障害発生の有無フラグに登録する手段、又、上記命
令パターンの実行 (試験命令の実行) を中断するとき、
上記試験プログラム 20 によって、上記試験実行トレー
スマップと，上記障害履歴マップとを、外部記憶装
置 3に一時退避し、該命令パターンの実行 (試験命令の
実行) を再開するとき、上記外部記憶装置 3に退避され
ている上記試験実行トレースマップと，上記障害履歴
マップとを主記憶装置 2に復元して、未実行の命令パ
ターンの生成と, 該未実行の命令パターンからの継続実
行を行う手段が、本発明を実施するのに必要な手段であ
る。尚、全図を通して同じ符号は同じ対象物を示してい
る。

【００２６】以下、図１〜図４を参照しながら、図５〜
図９の流れ図によって、本発明の情報処理装置の試験方
法，及び、試験装置を説明する。 （Ａ）第１の実施例：｛請求項１に対応する実施例｝ 本発明の第１の実施例として、試験対象外の命令パター
ンを命令生成以前に試験実行トレースマップに登録
し、この試験実行トレースマップを基に、試験できな
い命令パターンを生成しないようにする方法について、
図５によって具体的に説明する。

【００２７】本発明の第１の実施例は、図１に示す基本
構成のもとで、図１の試験プログラム 20 内の試験命令
生成処理部 20aが、図１, 図２，及び、図３の試験実行
トレースマップに試験対象外の命令パターンを登録
し、図３の試験実行トレースマップの実行の許可／禁
止フラグに禁止を設定するものである。図１の試験命
令生成処理部 20aは、命令生成時に、上記図２(a) の実
行許可／禁止フラグを参照し、許可されている場合の
み図１の試験命令領域 20dに該命令パターンを登録す
る。

【００２８】図５は、上記本発明の第１の実施例につい
て説明するためのフローチャートである。先ず、試験不
可能な命令パターンと、その命令パターン｛命令コー
ド, オペランド(OP1,OP2) 等からなる｝に対応して、実
行の許可／禁止フラグを、禁止状態として、試験実行
トレースマップに設定する。｛図５の処理ステップ 1
00参照｝ 図２の乱数生成部 10 で生成した乱数を基に、例えば、
命令テーブル 20fを参照して、試験命令の命令パターン
をランダムに決定し、該決定した命令パターンが実行可
能かどうかを、上記試験実行トレースマップ上で見
る。｛図５の処理ステップ 101,102参照｝ 実行可能の場合には、上記試験実行トレースマップ
に、命令コード, 命令実行可能 (実行の許可／禁止フラ
グを許可状態にする）, 実行経歴有り (実行経歴の有
無フラグを実行経歴有りの状態にする），オペランド
アドレス(OP1,OP2),転送バイト数を登録し、図１の試験
命令領域 20dに、該命令パターンを登録する。｛図５の
処理ステップ 103,104参照｝ 上記の処理を、命令の生成終了条件、例えば、所定の数
の命令パターンが生成できたことを検出したとき、該命
令パターンの生成処理を終了する。｛図５の処理ステッ
プ 105参照｝ （Ｂ）第２の実施例：｛請求項２に対応する実施例｝ 本発明の第２の実施例として、実行した命令パターンを
試験実行トレースマップに登録し、この試験実行トレ
ースマップを基に、同じ命令パターンを生成しないよ
うにする方法について説明する。

【００２９】本発明の第２の実施例は、図１に示す基本
構成のもとで、図１の試験プログラム 20 内の試験命令
生成処理部 20aが、図１，図２，及び図３の試験実行ト
レースマップの実行の許可／禁止フラグ, 及び実行
経歴の有り／無しフラグを検査し、実行許可で、且つ
実行経歴が無い命令パターンのみ、図１の試験命令領域
20dに該命令パターンを登録する。

【００３０】図６は、本発明の第２の実施例について説
明するためのフローチャートである。先ず、図２の乱数
生成部 10 で生成した乱数を基に、例えば、前述の命令
テーブル 20fを参照して、試験命令の命令パターンをラ
ンダムに決定し、該決定した命令パターンと同じ命令パ
ターンが、既に、実行されているかどうかを、上記試験
実行トレースマップの実行の許可／禁止フラグ, 及
び実行経歴の有り／無しフラグを検査して検出し、同
じ命令パターンである場合には、特に、何もしないが、
同じ命令パターンでない場合には、上記試験実行トレー
スマップに、命令コード, 命令実行可能 (実行の許可
／禁止フラグを許可状態にする）, 実行経歴有り (実
行経歴の有無フラグを実行経歴有りの状態にする），
オペランドアドレス(OP1,OP2),転送バイト数を登録し、
図１の試験命令領域 20dに、該命令パターンを登録す
る。｛図６の処理ステップ 200〜204 参照｝図６の処理
ステップ 204は、図５の処理ステップ 105で説明した、
命令終了条件と同じ条件で、命令の生成の終了条件を判
定し、終了条件を満たすまで、上記の命令パターンの生
成を続行する。

【００３１】（Ｃ）第３の実施例：｛請求項３に対応す
る実施例｝ 本発明の第３の実施例として、ハードウェア障害を検出
した命令パターンを障害履歴マップに登録し、該障害
履歴マップと、上記試験実行トレースマップを基
に、障害パターンを解析し、障害が多発している命令コ
ードを持つ命令パターンを優先的に生成する方法につい
て説明する。

【００３２】本発明の第３の実施例は、図１に示す基本
構成のもとで、図１の試験プログラム 20 内の試験命令
実行処理部 20aが、図１の試験命令領域 20dに登録され
た命令を実行し、その結果を、図１の試験結果の解析処
理部 20cで解析し、障害を検出した場合には、図１の障
害履歴マップ内の図４に示されている障害発生の有無
フラグに障害有りを設定する。図１の試験命令生成処
理部 20aは、次の命令を生成する時、図１の障害履歴マ
ップを解析し、一番多く障害が多発している命令コー
ド, 又は、要素 (オペランドアドレス等) を優先的に試
験するような命令パターンを作成する。図７は、本発明
の第３の実施例について説明するためのフローチャート
である。

【００３３】先ず、試験命令をｎ個生成し、該生成した
各試験命令を実行する。このとき、正常終了した場合に
は、繰り返し、試験を実行する条件（例えば、操作者か
らの指示による条件，或いは、所定の数の試験命令を実
行していない条件）かどうかを見て、繰り返し試験を続
行する条件のときには、再度試験命令をｎ個生成して、
同じ命令実行処理を繰り返す。｛図７の処理ステップ 3
00,301,302,304,305,306参照｝ 上記の試験命令の実行で、異常終了をしたとき、本発明
の上記障害履歴マップに、命令コード, 障害発生の有
無フラグを「障害発生有り」の状態に設定,オペラン
ドアドレス(OP1,OP2),転送バイト数を登録する。｛図７
の処理ステップ300,301,302,303参照｝ 上記の処理を繰り返して、異常終了した頻度が多い命令
コードの順に、該命令コードの発生割合を上げて、即
ち、図４の障害履歴マップにおいて、障害発生の有無
フラグが障害発生状態を示している命令コードについ
て、異なるオペランドアドレス(OP1,OP2) の命令パター
ンのｎ個の試験命令を生成｛具体的には、乱数生成部 1
0 で生成される乱数を、例えば、所定のビットを固定し
て発生させるようにすれば、オペランドアドレス(OP1,O
P2) のみの変わる乱数を得ることができ、上記異常終了
した頻度が多い命令コードの順に、該命令コードの発生
割合を上げることができる｝して、以下、同じ処理を繰
り返す。｛図７の処理ステップ 304,305,306,307参照｝ （Ｄ）第４の実施例：｛請求項４に対応する実施例｝ 本発明の第４の実施例として、上記試験中断時点での試
験実行トレースマップと障害履歴マップを、図１の
外部記憶装置 3に記憶させ、中断後も継続して試験を行
う方法について説明する。

【００３４】本発明の第４の実施例は、図１に示す基本
構成のもとで試験を実行中に、該試験を中断する場合
に、図１の試験実行トレースマップと障害履歴マップ
を、図１の外部記憶装置 3にセーブし、試験を再開す
る時に、図１の試験実行トレースマップと, 障害履歴
マップを、図１の外部記憶装置 3から、主記憶装置(M
M) 2上に復元し、継続実行させる。

【００３５】図８, 図９は、本発明の第４の実施例につ
いて説明するためのフローチャートである。先ず、例と
して、試験の途中で中断する手段に、入出力割込みを利
用する方法で説明する。図示されていない操作卓からの
キー割込みにより、入出力割込み処理ルーチンが起動さ
れ、該キー割込みの種類 (例えば、試験中断キーの押下
を検出) を参照して、試験中断指示がなされたかどうか
が調べられる。｛図９の処理ステップ 400参照｝ 該入出力割込みによって、試験の中断が指示されている
ことが検出されると、外部記憶装置 3に、上記試験実行
トレースマップと障害履歴マップをセーブ(退避)
する。｛図９の処理ステップ 401参照｝ 次に、図８によって、主ルーチンの動作を説明する。該
主ルーチンは、例えば、試験開始キーによって起動され
る。該図８の主ルーチンにおいて、上記入出力割込み処
理ルーチンを登録する。この登録された入出力割込み処
理ルーチンによって、前述の試験中断の指示の有無が検
出される。｛図８の処理ステップ 500参照｝ 上記主ルーチンによって、上記入出力割込み処理ルーチ
ンで中断されていた試験の再開指示を、例えば、上記操
作卓からの所定の試験再開キー入力を検出する等して調
べる。｛図８の処理ステップ 501参照｝ 上記処理ステップ 501で、試験再開でないこと、即ち、
上記試験再開キーが押下されていないことが検出された
場合には、試験の開始と認識して、本発明の試験実行ト
レースマップと，障害履歴マップをクリア（初期
化）した後、前述の図４，５，６で説明した方法で試験
命令を生成し、生成した試験命令を、主記憶装置 2の試
験命令領域 20dに所定の数 (例えば、ｎ個）を登録した
後、該格納されている試験命令を実行して、試験結果
を、前述の試験結果の解析処理部 20bで解析すること
を、全パターンについて繰り返す。｛図８の処理ステッ
プ 502〜506 参照｝ 上記の処理において、処理ステップ 501で、上記試験再
開キーが押下されていることを検出すると、外部記憶装
置 3にセーブされている、前述の試験実行トレースマッ
プと，障害履歴マップを、主記憶装置 2の所定の領
域に復元して、未実行の試験命令パターンの生成を行
い、生成した試験命令を実行し、試験結果を確認するこ
とを、残りの全ての命令パターンについて繰り返す。
｛図８の処理ステップ 501,507,503,504,505,506参照｝ 上記の説明は、情報処理装置の試験方法を例にして説明
したが、図１に示した中央処理装置(CPU) 1 と、主記憶
装置(MM) 2と、外部記憶装置 3とを備えた情報処理装置
に、前述の試験プログラム 200と, 試験実行トレースマ
ップと, 障害履歴マップを備えた装置を構築して、
上記説明した方法で、試験命令を生成し、実行するよう
にしても良いことは言う迄もないことである。

【００３６】このように、本発明による情報処理装置の
試験方法, 及び、装置は、乱数，又は、乱数パターンに
基づいて、該乱数が指示する命令パターン，又は、該乱
数パターンによる命令パターンを発生させる方法，及
び、装置であって、命令コードと、オペランドアドレス
と、実行の許可／禁止フラグと、実行経歴有無フラグ
とからなる試験実行トレースマップと，命令コード
と、オペランドアドレスと、障害発生の有無フラグと
からなる障害履歴マップとを設け、該試験実行トレー
スマップを参照して、上記試験できない命令パターン
を生成しないようにする。又、同一命令パターンを再度
生成しないようにする。或いは、障害履歴マップを参照
して、障害の多発している命令コードの命令パターンを
優先的に生成する。更に、試験中断時に、上記試験実行
トレースマップと、障害履歴マップを退避し、試験
再開時には、該退避してある試験実行トレースマップ
と、障害履歴マップを復元して、未実行の命令パター
ンから試験を継続実行するようにしたところに特徴があ
る。

【００３７】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
情報処理装置の試験方法, 及び試験装置によれば次のよ
うな効果がある。 （１）試験対象外の命令パターンを命令生成以前に削除
することで、命令生成処理の無駄を省くことが可能とな
る。 （２）同じ試験を何度も行う事による試験の重複を無く
し、また、試験漏れを無くす事が可能となる。 （３）障害の要因を解析し、障害の発生頻度の多い試験
命令のパターンに類似する試験を優先的に生成しながら
試験を行うので、障害の早期検出が可能となる。 （４）試験命令のパターンが膨大なため、全パターンの
試験を完了させるために多大な試験時間が必要なケース
でも、試験を数回に分けて行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図（その１）

【図２】本発明の原理説明図（その２）

【図３】本発明の原理説明図（その３）

【図４】本発明の原理説明図（その４）

【図５】本発明の一実施例を流れ図で示した図（その
１）

【図６】本発明の一実施例を流れ図で示した図（その
２）

【図７】本発明の一実施例を流れ図で示した図（その
３）

【図８】本発明の一実施例を流れ図で示した図（その
４）

【図９】本発明の一実施例を流れ図で示した図（その
５）

【図１０】情報処理装置の従来の試験方法を説明する図

【符号の説明】

1 中央処理装置(CPU) 2 主記憶装置
(MM) 10 乱数生成部 20 試験プログラム 20a 試験命令生成処理部 20b 試験命令実
行処理部 20c 試験結果の解析処理部 20d 試験命令領
域 20f 命令テーブル 3 外部記憶装置 実行の許可／禁止フラグ 障害履歴有無フラグ 試験実行トレースマップ 障害発生の有無フラグ 障害履歴マップ 100 〜105,200 〜204,300 〜307,400,401,500 〜506
処理ステップ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よる命令パターンを発生させ、該発生した命令パターン
   を実行して情報処理装置を試験する方法であって、 命令コードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁
   止フラグ（）と、実行経歴有無フラグ（）とからな
   る試験実行トレースマップ（）を設け、 試験できない命令パターンに対して、上記実行の許可／
   禁止フラグ（）を“実行禁止の状態”として、上記試
   験実行トレースマップ（）に登録しておき、 命令パターンを生成するときには、上記試験実行トレー
   スマップ（）の上記実行の許可／禁止フラグ（）を
   参照して、該実行の許可／禁止フラグ（）が“実行禁
   止の状態”である命令コードを生成しないことを特徴と
   する情報処理装置の試験方法。
2. 【請求項２】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よる命令パターンを発生させ、該発生した命令パターン
   を実行して情報処理装置を試験する方法であって、 命令コードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁
   止フラグ（）と、実行経歴有無フラグ（）とからな
   る試験実行トレースマップ（）とを設け、一度実行し
   た命令パターンに対して、上記実行経歴有無フラグ
   （）を“実行経歴有りの状態”として、上記試験実行
   トレースマップ（）に登録しておき、 命令パターンを生成するときには、上記実行経歴有無フ
   ラグ（）が“実行経歴有りの状態”となっている命令
   パターンを再度生成しないことを特徴とする情報処理装
   置の試験方法。
3. 【請求項３】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よる命令パターンを発生させ、該発生した命令パターン
   を実行して情報処理装置を試験する方法であって、 命令コードと、オペランドアドレスと、障害発生の有無
   フラグ（）とからなる試験履歴マップ（）を設け、 発生した命令パターンを実行して、ハードウェア障害を
   検出した場合に、その試験命令パターンに対して、上記
   障害発生の有無フラグ（）を“障害発生有りの状態”
   として、上記障害履歴マップ（）に登録し、 その後の命令パターンを生成するとき、上記障害履歴マ
   ップ（）を参照して、上記障害発生の有無フラグ
   （）が“障害発生有りの状態”である命令コードの多
   い命令パターンを優先的に生成することを特徴とする情
   報処理装置の試験方法。
4. 【請求項４】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よる命令パターンを発生させ、該発生した命令パターン
   を実行して情報処理装置を試験する方法であって、 命令コードと、オペランドアドレスと、実行の許可／禁
   止フラグ（）と、実行経歴有無フラグ（）とからな
   る試験実行トレースマップ（）と、命令コードと、オ
   ペランドアドレスと、障害発生の有無フラグ（）とか
   らなる試験履歴マップ（）とを設け、 試験中断時点迄の、上記試験実行トレースマップ（）
   と，試験履歴マップ（）とを、外部記憶装置(3) に一
   時退避しておき、 試験を再開するとき、上記退避している上記試験実行ト
   レースマップ（）と，試験履歴マップ（）とを復元
   し、該復元された上記試験実行トレースマップ（）
   と，障害履歴マップ（）とを参照して、上記中断点の
   未実行の命令パターンから試験を継続実行することを特
   徴とする情報処理装置の試験方法。
5. 【請求項５】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よるいて命令パターンを発生させ、該発生した命令パタ
   ーンを実行して情報処理装置を試験する装置であって、 主記憶装置(2) 上に、命令コードと、オペランドアドレ
   スと、実行の許可／禁止フラグ（）と、実行経歴有無
   フラグ（）とからなる試験実行トレースマップ（）
   と，命令コードと、オペランドアドレスと、障害発生の
   有無フラグ（）とからなる障害履歴マップ（）と,
   試験命令生成処理部(20a) と、試験命令実行処理部(20
   b) と、試験結果の解析処理部(20c) と、試験命令領域
   (20d) と、データの格納参照領域(20e) とからなる試験
   プログラム(20)とを設け、 上記試験プログラム(20)において、上記乱数, 又は、乱
   数パターンに基づいて、試験の為の命令パターンを生成
   して実行するとき、上記試験実行トレースマップ（）
   と, 障害履歴マップを参照して、選択的に、命令コード
   を生成して、上記試験命令領域(20d) に格納し、該試験
   命令領域(20d) に登録されている命令パターンを読み出
   して実行し、その試験結果を、上記試験結果の解析処理
   部(20c)で解析し、その解析結果に基づいて、障害発生
   事象を上記障害履歴マップ ()の障害発生の有無フラ
   グ（）に登録することを特徴とする情報処理装置の試
   験装置。
6. 【請求項６】乱数，又は、乱数パターンに基づいて、該
   乱数が指示する命令パターン，又は、該乱数パターンに
   よる命令パターンを発生させ、該発生した命令パターン
   を実行して情報処理装置を試験する装置であって、 主記憶装置(2) 上に、命令パターンと、オペランドアド
   レスと、実行の許可／禁止フラグ（）と、実行経歴有
   無フラグ（）とからなる試験実行トレースマップ
   （）と，命令パターンと、オペランドアドレスと、障
   害発生の有無フラグ（）とからなる障害履歴マップ
   （）と, 試験命令生成処理部(20a) と、試験命令実行
   処理部(20b) と、試験結果の解析処理部(20c) と、試験
   命令領域(20d)と、データの格納参照領域(20e) とから
   なる試験プログラム(20)とを設け、 上記命令パターンの実行を中断するとき、上記試験プロ
   グラム(20)によって、上記試験実行トレースマップ
   （）と，上記障害履歴マップ（）とを、外部記憶装
   置(3) に一時退避し、該命令パターンの実行を再開する
   とき、上記外部記憶装置(3) に退避されている上記試験
   実行トレースマップ（）と，上記障害履歴マップ
   （）とを主記憶装置(2) に復元して、未実行の命令パ
   ターンの生成と,実行を行うことを特徴とする情報処理
   装置の試験装置。