JPS6198555A - マルチノズルの製法 - Google Patents

マルチノズルの製法

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JPS6198555A
JPS6198555A JP22107984A JP22107984A JPS6198555A JP S6198555 A JPS6198555 A JP S6198555A JP 22107984 A JP22107984 A JP 22107984A JP 22107984 A JP22107984 A JP 22107984A JP S6198555 A JPS6198555 A JP S6198555A
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JP
Japan
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nozzle
substrate
manufacturing
resist film
grooves
Prior art date
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Pending
Application number
JP22107984A
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English (en)
Inventor
Takashi Ogaki
傑 大垣
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6198555A publication Critical patent/JPS6198555A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
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    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/1621Manufacturing processes
    • B41J2/1626Manufacturing processes etching
    • B41J2/1628Manufacturing processes etching dry etching
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    • B41J2/1631Manufacturing processes photolithography

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
  • Nozzles (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 14分立 本発明は、Siウェハーを用いたマルチノズルの製法に
関し、より詳細にはインクジェットプリンタ、デジタル
カラーコピア、デジタルプリンター、半導体デバイス等
に適用しうるマルチノズルの製法に関するものである。
1末1監 従来、Siウェハーを用いたマルチノズルの製法として
は、第13図に示したように、Si基板1上にSin、
膜2を形成させ、このSiO□膜2に円形穴パターン3
を刻み、裏からこの円形穴パターン3に向けて異方性エ
ツチングを利用して溝4を形成させるようにした方法が
知られている。
この従来のマルチノズルの製法では、 SiO□膜2の
円形穴パターン3に対して異方性エツチングをするため
の表裏の位置合わせを必要とし、また異方性エツチング
を使用するため、ノズルの穴がピラミッド状になるので
、ノズルの穴ピッチをある程度以上とらなくてはならず
、さらにノズルの長さがSi基板1の厚さく30μ程度
)によって決まり、また異方性エツチングのため、溝4
の角度が一定であり、ノズルがストレートのものしかで
きず。
途中で曲がっているものができないという欠点があった
一1旬一 本発明は、従来のマルチノズルの製法に比べて高密度で
、微細なマルチノズルが製造できるマルチノズルの製法
を提供することにある。
−豊腹一 本発明は上記の目的を達成するために、Siウェハーを
用いたマルチノズルの製法において、Si基板上の複数
の線状の溝を形成した面シこ、平滑面または前記線状の
溝に対応した複数の溝を形成したSi基板または別の材
質の板を接着することを特徴とする。以下、本発明の一
実施例に基づいて具体的に説明する。
まず、第1図に示すようにSi基板s上にレジスト膜6
を塗布する0次に第2図に示すように露光時 現像を行ない、Si基板5上にレジストパターン7を形
成する。このレジストパターン7は第3図に示すように
オリュンテーションフラット8が設けられたSiウェハ
ー5の上にノズル穴9とノズル室lOが交互に設けられ
るように構成する。そして、第4図に示すようにレジス
トlll5をマスクとして。
HNO,−11F溶液あるいはCF4などのプラズマエ
ツチングを使うことによってSi基板5上に線状の溝1
1を形成する。このエツチングの時辷平行平板のプラズ
マエツチングを使用すれば、第5図に示すようにSi基
板5には角型の溝12が形成される。
このようにして得られたSi基板5のレジスト膜6を除
去した後、第31Mに示すようにノズル穴8の部分のほ
ぼ中央の位IEA及びノズル室9の部分の所定の位置B
にダイヤモンドスクライバ−で切り欠きを入れると、第
6図に示すようにノズル端面が平滑な81基板5上にノ
ズル穴9及びノズル室IOが形成された構造物12を得
ることができる。この構造物12を第7図に示すように
上下に重ねて接合してマルチノズルを構成したり、第8
図に示すように構造物12に平滑な51基板あるいはそ
の他のプラスチック等の部材13を接着させることによ
りノズルを得ることができる。
このように本実施例の製法はSiウェハーの平面度を利
用することができるので加工が容易であり。
また5iJi板の表面にノズルを形成させるため、ノズ
ルを通過する流体を制御させる回路をSi基板に取り付
けることができるので、同一基板内に制御系を形成する
ことが可能であり、さらに結晶の劈開を用いるため、原
子レベルの平滑面が得られ。
流体の制御が容易である。また本実施例の製法によって
作られたマルチノズルはノズル穴9を所望の径(to−
30μ)にすることができ、ノズル穴9の長さも30μ
以上にすることができる。
第9図〜第12図は1本発明の他の実施例のマルチノズ
ルの製法を異方性エツチングを用いる場合について説明
するための図を示したもので、第9図に示すようにSi
基[5の上にドライ酸化、スチーム酸化またはパイロジ
ェニック酸化によってSin、膜14を形成させ、これ
にレジスト膜15を塗布し、第3図に示すようなパター
ン7を形成する。
そして、このレジスト膜15をマスクとしてHF溶液等
でSin、膜14をエツチングするasiSi基板HF
溶液では殆どエツチングされないので、第10図に示す
ようにSin、膜14だけをエツチングすることができ
る。その後レジスト膜15を除去して洗浄することによ
り第11図に示すようにSin、膜14に線状のパター
ン16を得ることができる。このSin、膜14の線状
パターン16をマスクとしてヒドラ゛ジン等のエツチン
グ液に漬けて第12図のような形状の溝17を持つ構造
物18を得ることができる。
このように構成した構造物を、第7図に示すように上下
に合わせて接合したり、第8図に示すように構造物18
に平滑なSi板あるいはその他のプラスチック部材12
等を接着させることによりマルチノズルを得ることがで
き前述の実施例と同様の効果を得ることができる。さら
に、I!構造物積み重ねることにより二重、三重または
それ以上の多重マルチノズルを形成させることが可能で
ある。
−羞果一 以上の説明から明らかなように1本発明は、Siウェハ
ーの平面度を利用することができるので、加工が容易で
あり、Si基板の表面にノズルを形成させるため、ノズ
ル・を通過する流体を制御させる回路をSi基板に装着
することができるので、同一基板内に制御系を形成する
ことが可能であり、さらに結晶の劈開を用いるため、原
子レベルの平滑面が得られ、流体の制御を容易に行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第8図は本発明の°実施例のマルチノズルの製
法を説明するための図であり、第9Ig〜第12図は本
発明の他の実施例のマルチノズルの製法を説明するため
の図であり、第13図は従来のマルチノズルの製法を説
明するための図である。 5・・・Si基板、6・・・レジスト膜、7・・・レジ
ストパターン、8・・・オリュンテーシ厘ンフラット、
9・・・ノズル穴、10・・・ノズル室、11.12・
・・溝、13・・・Si基板あるいはその他のプラスチ
ック等の部材、14・・・Sin、膜、15・・・レジ
スト膜、 16・・・線状のパターン溝、17・・・溝
。 第 I 図 武 第3図 第4図   第5図 第6図 第7図      第8図 第11ズ     第12図 第13図 手続補正書(自制 御、事件の表示 昭和59年特許願第221079号 2、発明の名称 マルチノズルの製法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所  東京都大田区中馬込1丁目3番6号氏 名(
名称) (674)  株式会社 リコー代表者   
 浜 1)広 4、代理人 住 所  千葉県市用市国分4丁目13番10号な説明
の欄及び図面 (1)明細書第1頁第13行〜第14行「マスクパター
ン」を「パターン」に補正する。 (2)同第2頁第19行「(30μ程度)」を「(最大
でも250μ程度)」に補正する。 (3)同第3頁第1行〜第3行「であり、・・・・・・
あった、」を「のものしかできないという欠点があった
。」に補正する。 (4)同第3頁第16行〜第17行、第4頁第3   
 行及び第9行、第5頁第17行及び第19行、第6頁
第3行、第7頁第13行及び第17行「レジスト膜」を
「フォトレジスト膜」に補正する。 (5)同第3頁第18行及び第19行、同第7頁第13
行〜第14行「レジストパターン」を[パターン」に補
正する。 (6)同第3頁第末行及び同第7頁第14行「オリエン
テーションフラット」を「オリエンテーションフラット
」に補正する。 (7)同第5頁第10行「(10〜30μ)」をr(1
0−50μ)−に補正する。 (8)同第5頁第11行「30μ以上にすることができ
る。」を「自由に選択することができる。」に補正する
。 (9)同第6頁第1行〜第2行「第10図に示すように
」を削除する。 (10)第6図及び第12図を別紙の通りに補正する。 以上 第6図 第12図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Siウェハーを用いたマルチノズルの製法におい
    て、Si基板上の複数の線状の溝を形成した面に、平滑
    面または前記線状の溝に対応した複数の溝を形成したS
    i基板または別の材質の板を接着することを特徴とする
    マルチノズルの製法。
  2. (2)前記Si基板の結晶の劈開を利用してマルチノズ
    ル構造を得ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のマルチノズルの製法。
  3. (3)前記線状の溝を形成する際に、前記Si基板上に
    形成するマスクパターンと、前記マスクパターンをエッ
    チングするエッチング法及びエッチング時間を変えるこ
    とにより、前記線状の溝の径及び形状を制御することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のマルチノズルの
    製法。
JP22107984A 1984-10-20 1984-10-20 マルチノズルの製法 Pending JPS6198555A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100393519C (zh) * 2005-07-27 2008-06-11 国际联合科技股份有限公司 喷墨印字头装置的通孔与喷口板的制造方法
JP2008149321A (ja) * 2001-09-03 2008-07-03 Microflow Engineering Sa 液滴スプレーデバイス

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JP2008149321A (ja) * 2001-09-03 2008-07-03 Microflow Engineering Sa 液滴スプレーデバイス
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