JPS6180586A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPS6180586A
JPS6180586A JP59199580A JP19958084A JPS6180586A JP S6180586 A JPS6180586 A JP S6180586A JP 59199580 A JP59199580 A JP 59199580A JP 19958084 A JP19958084 A JP 19958084A JP S6180586 A JPS6180586 A JP S6180586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
level
ecl
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59199580A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinji Nakazato
伸二 中里
Shuichi Miyaoka
修一 宮岡
Nobuyuki Goto
後藤 展行
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP59199580A priority Critical patent/JPS6180586A/ja
Publication of JPS6180586A publication Critical patent/JPS6180586A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体集積回路装置に関する。
〔背景技術〕
゛ サイエンスフォーラム社発行「超LSIデバイスハ
ンドブック」(発行日昭和58年11月28日)305
項〜313項にも示されるようにVLSIメモリーの開
発が進められている。
スタティックRAM(ランダムアクセスメモリー)等の
記憶装置の大容量化、高速化が進められ、例えばスタテ
ィックRAMViCMO8t−用いた64にビットの大
容量製品の時代を迎えた。
半導体記憶装置(以下半導体メモリーという)の記憶容
量の大容量化(特に64にビット以上)に伴って、半導
体チップ面積も増大し、RAMのアドレス回路の信号線
は大面積の半導体チップ上で長距離にわたり配置される
。これにともないアドレス回路の信号線の等何分布抵抗
も大きくなる。
また彼細化のためにフォトリングラフイー技術を改良す
ることによってアドレス回路の信号線の配線幅が2μm
以下となると、信号線の等何分布抵抗も一層大きくなる
。また大容量化に伴って各回路のファンアウトも大きく
なるので、次段MO8のゲート容量による負荷容量も大
きくなる。従つて、2μmのホトリソグラフィ技術を用
いアドレス回路の全てがCMO3によって構成された6
4にピットMO3RAMにおいては、アドレスのアクセ
スタイムは30nsecが限界と思われる。
そこで本出願人等は、本発明前にアクセスタイムをさら
に高速化する技術として、パイボーラド、ランジスタと
、CMO8とを混在させた記憶装置技術を開発した。
その概要を簡単に述べると以下のようなものである。
すなわち半導体メモリ内のアドレス回路、タイミング回
路などにおいて、長距離の信号線に寄生する容+iを充
電および放電する出力トランジスタ及びファンアウトの
大きな出力トランジスタはバイポーラトランジスタによ
り構成され、論理処理、例えば反転、非反転、NAND
、NOR等を行う論理回路はCMO5回路より構成され
ている。CMO8回路によって構成された論理回路は低
消費電力であり、この論理回路の出力信号は、低出力イ
ンピーダンスのバイポーラ出力トランジスタを介して長
距離の信号線に伝達される。低出力インピーダンスであ
るバイポーラ出力トランジスタを用いて出力信号を信号
線に伝えるようにしたことにより、信号線の浮遊容量に
対する信号伝播遅延時間の依存性を小さくすることがで
きるという作用によりて低消費電力で高速度の半導体メ
モリを得るというものである。
本発明者等は、前記したBi −CMO8技術をもとに
してさらにアクセスタイムを高速化すべく検討を行なっ
た。本発明は、このように微細かつ超高速の記憶装置を
開発する過程において本発明者によってなされたもので
ある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、低消費電力化を達成しつつ、超高速の
記憶装置を提供することにある。
本発明のその他の目的と新規な特徴は本明細書の記載お
よび添付図面から明らかになるであろう。
〔発明の概要〕
本発明の代表的なものの概要を簡単に説明すると以下の
通りである。すなわち、入出力部の回路方式としてEC
L (エミッタカップルドロジック)を採用し、入出力
部における信号処理速度の高速化を図るとともに、アド
レスデコーダーやワード線ドライバー、センスアンプ等
においてもバイポーラトランジスタとM OS F E
 T 、それぞれの特徴を生かした回路構成を採用し、
超高速化を実現する。
一方、チップセレクト(C8)信号で駆動されるスイッ
チングM OS )ランジスタを利用して、定電流回路
を構成するトランジスタを待機時にオフさせ、低消費電
力化を図る。このような工夫をすることによって、上記
した本発明の目的を達成することができる。
〔実施例〕
第1図、第2図に、本発明が適用されだスタティツクR
AMの全体構成が示される。第1図は、ワード線W□ 
、W、・・・を選択するための回路の構成を示し、第2
図は、データ線選択回路、データ読出し回路、データ書
込み回路等の構成を示すものである。以下これらの図を
用いて、メモリーセルMxに記憶されたデータの読出し
の際の回路動作、メモリーセルMxへのデータ書込みの
際の回路動作を順をおって説明しながら、信号処理速度
向上のだめの、回路構成の特徴を説明していく。
なお本明細書および図面には、各種の制御信号が記載さ
れるが、それらについて簡単に説明しておく。
C3(C3)信号は、チップセレクト信号とよばれ、メ
モリーチップを並列接続して、記憶容fL。
を拡張した記憶装置等において、1つのメモリーチップ
を動作状態にするか非動作状態(待機状態)にするか全
制御する信号であり、C8が「L」レベルでそのチップ
が動作状態となる。
WE (WE )は、ライトイネーブル信号とよばれ、
記憶装置をデータ読出しモードとするかデー夕書込みモ
ードにするかを制御する信号である。
WEがrLJで書込みモード、l’−HJで続出しモー
ドとなる。
VBB  は、E CLにおける基準電圧を表わす。
又、図面の記載かられかるように1本発明は高速かつ、
その論理振幅が小さいECL回路を採用しているために
、電源電圧(Vcc)の変動をおさえる必要があり、そ
のために電圧変動が小さい接地岨位を電源電圧とし、負
電源(−5,2V)i用いて回路?動作させている。図
中負′亀源は、小さな丸記号で表わされている。これら
の前提のもとに説明していく。
第1図、第2図に示されるように、このスタティックR
A Mは、その入力部にECL形式の入力バノファli
具備し、ECLコンパチブルとなっている。アドレス信
号入力端子へ〇〜へ13 には、例えば大型コンピュー
タ内に設けられたメモIJ +ドライバーから発生する
ECLレベルの信号(ハイレベルニー0.9V、ロウレ
ベル:1.7V)が入力される。
入力バッファ1からは、マルチエミッタ構造のエミッタ
フォロワーQ、、Q、等を介して相補出力信号ao l
 ao l al l affi・・・が得られる。次
にこの出力信号は、ブレデコード回路に入力され、ワイ
ヤードオア論理がとられる。この場合ワイヤードロジッ
クのため複数の論理ゲー)1設ける必要がなく、各ゲー
トにおける信号伝達速度の低下を招くことがない。
次にCMOSインバータを用いた、レベル変換回路2に
おいてECL信号レベルからCMO3信号レベルへの信
号レベル変換が行なわれる。
すなわち、レベル変換回路2からは、ハイレベルがOv
、ロウレベルが−5,2■のCMOSレベルの信号が得
られる。
レベル変換回路における一段目のCM OSインバータ
には、ダイオードQss+Qat等が挿入されているが
、これは次の理由による。ECLレベルの信号は、その
論理振幅が小さくこの信号でCMO8を駆動すると、例
えばローレベルがCMOSのゲートに印加されたときに
、CMO3t−構成するNチャンネルMO3FETが完
全にオフせず2MO8,NMO3が同時オン状態となっ
て大きな貫通電流が流れてしまう。
このために、ダイオード金負電源と8MO8FETのソ
ースとの間に挿入し、そのソースの電位をもちあげるこ
とによって、微少振幅で入力信号が撮れた場合にもN 
M OSを完全にオフさせ、貫通屯at防止することが
できるようにしている。
次にメモリーセルil’J Xに記憶されているデータ
の読出し動作を具体的に説明していく。1ず第1図を用
いて、ワード線W1を選択する動作を説明する。アドレ
ス信号入力端子Ao + A+ + Atに印加される
信号にもとづき8つのアドレス選択信号が作成され、ア
ドレス信号入力端子A3〜A。
に印加される信号にもとづき同じく8つのアドレス選択
信号が作成されるが、これら8つのアドレス選択信号の
うち、どれか1つのみがローレベルとなり、その他はハ
イレベルとなる。ワード線Wx全選択するときは、ao
 + al l alの論理和信号であるアドレス選択
信号aQ +8m +a2をローレベル■;アドレス選
択信号aj +a4 +a5をローレベルの)とする。
又、アドレス信号入力端子A、、A、に印加されるアド
レス信号によって作成されるアドレス選択信号XL、、
xL、。
XR,、XR,のうちXL、をハイレベル0とし、他を
ローレベルとする。すると、PMO3Man 。
M*@ がオフし、NMOS M?(+ 1Mys 7
5ニオ7となる。この結果P MOS Mat 1Ma
n がオフ、NMOS Mas 2M。7がオンする。
一方、XL、がローレベル、XL、がハイレベルである
から、これらのラインに接続されるPMO8M8゜、が
オフ。
NMO8Mstがオン、I’MO8M64がオン。
NMO5Mee がオフする。この結果ワード線ドライ
バーであるCMOSインバータ3aのゲートKfd、ロ
ーレベルが、CMOSインバータ3bのゲートにンよ、
ハイレベルが印加され、その出力信号でもってワード線
Wlがハイレベルに駆動され、選択される。通常、ワー
ド線ドライバーとしては、2人力NORゲートやNAN
Dゲートヲ組み合せた複合ゲートが用いられるが、この
実施例では、CM OSインバータ1段だけでワード線
を駆動する構成とし、信号伝達スピードの高速化を図っ
ている。
犬に相補データ線対り、、D、を選択するだめの回路動
作、およびデータ読出し動作を説明する。
この場合、第2図において、アドレス信号入力端子Ay
 、Asに印加されるアドレス信号にもとづき作成され
るアドレス選択信号である論理和信号By +n@ +
 ay +Ra + aW +a暑、a丁+ag  の
うちay +a@のみがローレベルになるようにする。
又、アドレス信号入力端子A@ HAIOに印加される
アドレス信号にもとづき作成されるアドレス選択信号(
論理和信号) a@ 十al。、a、+al。。
a9 +al(1、a@ 十a1o  のうちalI+
a16のみがローレベルになるようにする。
またアドレス信号入力端子A11tA11  に印加さ
ねるアドレス信号にもとづき作成されるアドレa目+a
B  のうちall十alt  のみがローレベルにな
るようにする。
またアドレス選択信号a13+aij  がそれぞれロ
ーレベル、ハイレベルとなるように設定する。
すると、各回路において、第2図中に示されるようなレ
ベルの信岩が発生し、ラインlIOがI・イレペルとな
る。一方うイン右。に接続するNMO3M@、 、 M
11! 、 M 、4 、 MHのうち、M9゜のみが
オンし、ラインA’16のハイレベルがカラムスイッチ
を構成するN M OS Moot 1Mt。、のゲー
トに伝達されこれがオンする。すなわちデータ?JJD
t 。
D、が選択される。
メモリーセルMxにおいて、いまN M OS IV、
a aがオン、M4.がオフしているとするとデータ線
D I +DIの電位は、それぞれローレベル /Sイ
レペルへと変化する。この相補データ線対の電位差は、
100mV程度になるように設計さ−れている。このよ
うな微少な電位差を差動対をなすバイポーラnpn  
トランジスタQ*a、Q*。等からなるセンスアンプS
AIでセンスする。バイポーラトランジスタで構成され
た差動増幅器は、相互コンダクタンス(gm)が高く、
切替り特性がするどいため、微少なデータ線間の電位差
を高速にセンスすることができる。いまデータ線りがノ
・イレベル。
DがローレベルであるからトランジスタQoaがオン状
態となり、(トランジスタQeoがオフ状態となる)ラ
インLs 、Ls k介して電流Ie吸込む。
データアウトブストバソファーDOBは、第3図に示さ
れるような回路構成となっており、上記電流Iが流れる
と抵抗R□における電圧降下が増大しラインActsに
ローレベル、ライン11!にノーイレペルが表われる。
この結果、バイポーラ差動増幅回路よりなる出力回路か
らローレベルの信号′が得られデータ出力端子A 1s
 を介して出力される。
すなわちメモリーセル〜■工のデータが、読出される。
データを書込む場合は、前記した回路動作によりメモリ
ーセルラ選択し、データ入力端子A14゜データインプ
ットバッファDIB’!z介してデータ全入力し、この
情報を相補データ線対り、D、  トランスファーM 
OS k介してメモリーセルに記憶させる。データイン
プットバッファDIRは、第4図のような回路構成とな
っている。
以上、スタティックl(AMの全体構成および高速化の
ための回路上の工夫を説明した。
次に、本発明のもう1つの特徴である低消費電力化の工
夫につき説明する。本発明のスタティックRAMは、E
CL回路形式、バイポーラ差動増幅器等をアドレスデコ
ーダ、センスアンプ、人出カバッファ等に用い、信号処
理スピードの向上を図るとともに、内部のメモリーセル
等を低消費電力のCMO5’e用いて構成し、消費電力
の低減を図っている。しかし本発明者等の検討によって
、メモリーチップが選択されない、いわゆる待機時にお
いても、定常電流が全体として数10mAも流れ(動作
時の電流は約100mAである)、消費電力が極めて大
きくなってしまうことが明らかとなった。この対策とし
て本発明者等は、待49時にチップセレクト信号C8に
よって、定電流源をオフさせ、大幅な消費電力低減を図
る技術を考え出した。以下図面を参照して具体的に説明
する。
第5図はチップ外部から印加されるチップセレクト信号
C8から、ECLレベルのチップセレクト信号cs、c
s、を得るための、あるいは、ライトイネーブル信号と
の論理和信号WE+C3を得るための回路溝成例である
。第6図は、ECL回路における基準電位発生回路の例
である。第7図〜第10図は入出力バッファにおける定
電流回路全溝酸するトランジスタのバイアス電圧(2V
BK)発生回路の回路構成例を示すものである。
同図かられかるようにチップセレクト信号C8(あるい
はC8)により駆動されるスイッチングMOS F E
 T M、、。〜M18.が設けられており:チップ非
選択時にこれらのMO3FETt駆動して、バイアス電
圧が発生しないようにしている。
チップ選択時にチップセレクト信号C8はrLJになる
から、第7図においては、チップ選択時には、PMO8
Mtaoが導通し、npn )ランジスタQ+4gのペ
ースにバイアスが印加されるが、チップを非選択とする
ためにチップセレクト信号CSがrHJとなるとPMO
S F E T M、、。がオフし、npn  )ラン
ジスタQj 43のペースにバイアスが印加されなくな
る。このためバイアス電圧(2VBg)が得られず、例
えば第1図の入力バッファにおける定電流源を構成する
npn)ランジスタQ4等がオフし、無駄な定常電流が
流れるのを防止する。
第8図に示される実施例では、チップが非選択となって
CSがrHJとなるとNMO3M1ssがオンしnpn
  トランジスタQ144のベース電位を強制的に最低
電位にしてトランジスタQ1a4にオフさせ、バイアス
電圧の発生を阻止する。
第9図(7)例TH1P rvfOS Mtat トN
MOSMl、3をチップセレクト信号C8によって相補
的に導通せしめ、待機時におけるバイアス電圧の発生を
阻止する。
第10図は、バイアス電圧(2VBE)発生回路の変形
例であって、C8によって駆動きれるMOSFETを用
いて、待機時におけるバイアス電圧の発生を防止するこ
とは前記実施例と同様である。
第11図、第12図、第13図には、それぞれV(5,
,1−5vaffi、vcs” Doというバイアス電
圧(第1図〜第4図参照)の発生回路を示し、前掲の実
施例と同様にチップセレクト信号C8によって枢動され
るスイッチングMO8FETk設はデツプ非選択時にお
けるバイアス電圧の発生を阻止する構成となっている。
スイッチングMO8FETのかわりにバイポーラトラン
ジスタ全スイッチング素子として用いてもよいが、M 
OS F E T 7(用いる方が設計上好都合である
すなわちMOSFETは、オン時の抵抗ROMがかなり
大きいために、電流制限用抵抗が不要であり、又、ゲー
ト、ソース間の電圧もバイポーラトランジスタにおける
ベース・エミッタ間電圧のような極端な定電圧特性を示
さず、ゲート電圧からバイアス電圧が決まってしまうこ
とも防止できるからであめ。
通常はバイポーラ回路において、MOSFETからなる
スイッチ手段を単独で形成することは、lJ造プロセス
IM雑化させる等の問題があめが、本発明では、メモリ
ーセル部のMO’S F E TとスイッチングM O
S F l; Tとを同時形成でき、なんらプロセスを
複雑にすることがない。
本発明者等の検討によれば、このような回路構成とする
ことにより、待機時の消費電力を動作時の1/10程度
にすることが可能であることが明らかとなっている。
〔効果〕
本発明によれば、消費電力全低減しつつECLメモリー
相当のアクセスタイム(例エバ25 ns )をもつ超
晶速大容量メモリーを提供することが可能と)する。
〔利用分野〕
本発明は、記憶装置全搬に適用でき、さらにその他の半
導体装置にも適用可能である。特に、大型コンビーータ
におけるギヤッシェメモリー等の超高速性が要求される
記憶装置に用いて特に有効である。
図面のtfi拳な説明 第1図は、本発明の適用されたスタティックRAMの要
部の回路図であシ、 第2図は、同じく、本発明の適用されたスタテイックR
A Mの要部の回路図であり、第3図は、データアウト
プットバッファ(DOB”)の具体的回路構成を示し、 第4図は、データインプノトバノファ(DIB)の具体
的回路4′1を成を示し、 第5図は、C8,C8,WE+C3といった制御信号の
発生回路を示し、 第6図は、ECLにおける基準電圧(V、B)発生回路
全示し、 第7図〜第10図は、バイアス電圧(2VBE)発生回
路における具体的回路構成を示し、21311図は、バ
イアス電圧(Vcst)発生回路の具体的回路構成を示
し、 第12図は、バイアス電圧(1,5VBE )発生回路
の具体的回路構成を示し、 第13図は、バイアス電圧(Vcs−Do)発生回路の
具体的構成に示す回路図である。
1・・・入カハッファ、2・・・E CL −CM O
Sレベル変換回路、MX・・・メモリーセル、SAI・
・・センスアンプ、DIB・・・データ人力バッファ、
DOB・・・データ出力パンファ◎ 派   6 ξ  い ) ”処 第  7  図 第  8  図 第  10 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、(1)複数のメモリ・セルと、 (2)上記複数のメモリ・セルから特定のメモリーセル
    を選択するためのアドレス回路と、 (3)情報の読出し、書込みを扱う信号回路と、を具備
    し、 (4)上記アドレス回路および情報の読出し・書込みを
    扱う信号回路の主要部はバイポーラトランジスタからな
    るとともに、少なくとも1つの定電流回路を有し、 (5)上記情報の読出し・書込みを扱う信号回路は、外
    部から与えられる制御信号によって制御され、 (6)上記定電流回路は、上記制御信号によって制御さ
    れることを特徴とする半導体集積回路装置。 2、上記アドレス回路および情報の読出し・書込みを扱
    う信号回路の一部は、エミッタカップルドロジック(E
    CL)からなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体集積回路装置。
JP59199580A 1984-09-26 1984-09-26 半導体集積回路装置 Pending JPS6180586A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59199580A JPS6180586A (ja) 1984-09-26 1984-09-26 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59199580A JPS6180586A (ja) 1984-09-26 1984-09-26 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6180586A true JPS6180586A (ja) 1986-04-24

Family

ID=16410204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59199580A Pending JPS6180586A (ja) 1984-09-26 1984-09-26 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6180586A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6470994A (en) * 1987-09-11 1989-03-16 Hitachi Ltd Semiconductor memory device
JPS6484493A (en) * 1987-09-25 1989-03-29 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory
US5278465A (en) * 1990-11-06 1994-01-11 Nec Corporation Semiconductor integrated circuit device having ECL gate group circuits and gate voltage control circuits

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6470994A (en) * 1987-09-11 1989-03-16 Hitachi Ltd Semiconductor memory device
JP2644766B2 (ja) * 1987-09-11 1997-08-25 株式会社日立製作所 半導体メモリ装置
JPS6484493A (en) * 1987-09-25 1989-03-29 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory
US5278465A (en) * 1990-11-06 1994-01-11 Nec Corporation Semiconductor integrated circuit device having ECL gate group circuits and gate voltage control circuits

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5218246A (en) MOS analog XOR amplifier
JPH0479080B2 (ja)
JPS63200391A (ja) スタテイツク型半導体メモリ
US7511534B1 (en) Circuits, devices, systems, and methods of operation for a linear output driver
US4769564A (en) Sense amplifier
US4845676A (en) Non-clocked static memory cell
JPH07147090A (ja) 半導体メモリ装置
JPH05101674A (ja) 半導体メモリ
US6717873B2 (en) Balanced sense amplifier control for open digit line architecture memory devices
JPS6180586A (ja) 半導体集積回路装置
JPS638555B2 (ja)
US9646658B1 (en) Sense amplifier and memory apparatus using the same
JPH0414437B2 (ja)
JP2631925B2 (ja) Mos型ram
WO1988009034A2 (en) Sense amplifier
KR920007442B1 (ko) 반도체메모리
JPS6299976A (ja) 半導体記憶装置
KR0170403B1 (ko) 고속 복수포트 BiCMOS 메모리 셀
JPS58125282A (ja) Rom装置用センスアンプ
JPH0536285A (ja) 半導体記憶回路
JP2531674B2 (ja) Mos・バイポ−ラ複合マルチプレクサ回路を備えた半導体メモリ装置
JP2615113B2 (ja) キャッシュメモリ
JPH03216892A (ja) 半導体メモリおよび半導体集積回路
JPS62134890A (ja) 半導体記憶装置
JPS63197090A (ja) 半導体記憶装置