JPS6180004A - 物体の寸法測定方法 - Google Patents
物体の寸法測定方法Info
- Publication number
- JPS6180004A JPS6180004A JP20194584A JP20194584A JPS6180004A JP S6180004 A JPS6180004 A JP S6180004A JP 20194584 A JP20194584 A JP 20194584A JP 20194584 A JP20194584 A JP 20194584A JP S6180004 A JPS6180004 A JP S6180004A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- dimensions
- article
- measured
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
１孔α１妊
（産業上の利用分野）
本発明は、物体の寸法、たとえば磁気へンドのキ゛ヤノ
ブ深さを測定する方法に関する。
ブ深さを測定する方法に関する。
（従来の技術）
〜’ＴＲ機器等に用いられる磁気ヘッドは、第４図に示
すヘッドチップ１をヘソＦペースに取り付は、磁性体か
らなる一対の千ンプ片２，２を有する。チップ片２，２
の一端側は、僅かの隙間すなわちギヤノブ３を介して対
向している。このギャップ３およびその周辺にはガラス
材料４が充填され′Ｃいる。一方のチップ片２には凹部
２ａが形成されており、各チップ片２には、二の四部２
ａを通るようにして、コイル（図示しない）が巻回され
ている。
すヘッドチップ１をヘソＦペースに取り付は、磁性体か
らなる一対の千ンプ片２，２を有する。チップ片２，２
の一端側は、僅かの隙間すなわちギヤノブ３を介して対
向している。このギャップ３およびその周辺にはガラス
材料４が充填され′Ｃいる。一方のチップ片２には凹部
２ａが形成されており、各チップ片２には、二の四部２
ａを通るようにして、コイル（図示しない）が巻回され
ている。
上記へンドチノプ１のギャップ３の深さＤは所定深さに
設定しなければならないため、この深さＤを測定する必
要がある。なお、この測定はフィル巻回前に行なうのが
普通である。
設定しなければならないため、この深さＤを測定する必
要がある。なお、この測定はフィル巻回前に行なうのが
普通である。
従来では、ヘッドチップ１のギャップ３を光学系により
拡大し、この拡大像をモニターテレビに映し出し、この
モニターテレビに表示された目捉を肉眼で数えることに
より測定していた。
拡大し、この拡大像をモニターテレビに映し出し、この
モニターテレビに表示された目捉を肉眼で数えることに
より測定していた。
また、池の方法として、モニターテレビでギヤノブ３を
見て、モニターテレビに映された基準線にギャップ３の
一端を合わせてからこのギャップ３ｌを載せたステージ
を水平移動させ、この又テーツ°の移動量からギヤング
３の深さＤを測定していた。
見て、モニターテレビに映された基準線にギャップ３の
一端を合わせてからこのギャップ３ｌを載せたステージ
を水平移動させ、この又テーツ°の移動量からギヤング
３の深さＤを測定していた。
（発明が解決しようとしている問題点）しかし、上記方
法では測定に手間かかかるとともに精密な測定が困難で
あった。
法では測定に手間かかかるとともに精密な測定が困難で
あった。
ｉ」α１支
（問題点を解決するための手段）
本発明は上記問題点を解消するためになされたもので、
その要旨は、測定されるべき物体を拡大光学系により拡
大し、この拡大像を撮像機により走査して電気信号に変
換し、この電気信号の変化を検出してデート信号を発生
し、このデート信号に基づいて上記走査のための同期信
号を計数し、この計数値に基づいて物体の寸法を測定す
ることを特徴とする物体の寸法測定方法にある。
その要旨は、測定されるべき物体を拡大光学系により拡
大し、この拡大像を撮像機により走査して電気信号に変
換し、この電気信号の変化を検出してデート信号を発生
し、このデート信号に基づいて上記走査のための同期信
号を計数し、この計数値に基づいて物体の寸法を測定す
ることを特徴とする物体の寸法測定方法にある。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を第１図〜第３図を参照して説
明する。
明する。
図中１０は又テーツであり、ステージ１０の中央には孔
１１か形成され、二の孔１１を開本するようにして、グ
ラス板等の透明板１２が設置されている。この透明板１
２の上には、ヘッドチップ１を備えた磁気へラド５（測
定される物体）が載せられるようになっている。透明板
１２の下側からは、平行光からなる照明光Ａが真上に向
かって照射されるようになっている。
１１か形成され、二の孔１１を開本するようにして、グ
ラス板等の透明板１２が設置されている。この透明板１
２の上には、ヘッドチップ１を備えた磁気へラド５（測
定される物体）が載せられるようになっている。透明板
１２の下側からは、平行光からなる照明光Ａが真上に向
かって照射されるようになっている。
ステージ１０の真上には、拡大光学系１５を介して撮像
管（撮像機）１６が配置されている。４Ｉ像管１６は制
御回路１７により走査制御される。制御回路１７は同期
信号発生回路１８から垂直同期信号Ｖおよび水平同期信
号Ｈを受ける。
管（撮像機）１６が配置されている。４Ｉ像管１６は制
御回路１７により走査制御される。制御回路１７は同期
信号発生回路１８から垂直同期信号Ｖおよび水平同期信
号Ｈを受ける。
撮像管１６の映像信号は、制御回路１７および合成回路
３１を介して画面表示機としてのモニターテレビ１９に
送られる。また、映像信号は２値化回路２０に送られて
論理レベル“Ｏ″、“１″の信号に２値化される。この
２値化信号は検出回路２１に送られ、その変化を検出さ
れる。この検出信号はデート信号発生回路２２に送られ
る。デート信号発生回路２２のデート信号は、カウンタ
２３に送られる。また、カウンタ２３には上記同期信号
発生回路１８の同期信号＼ｉ、Ｈか送られる。カウンタ
２３の計数情報は演算回路２４に送られる。
３１を介して画面表示機としてのモニターテレビ１９に
送られる。また、映像信号は２値化回路２０に送られて
論理レベル“Ｏ″、“１″の信号に２値化される。この
２値化信号は検出回路２１に送られ、その変化を検出さ
れる。この検出信号はデート信号発生回路２２に送られ
る。デート信号発生回路２２のデート信号は、カウンタ
２３に送られる。また、カウンタ２３には上記同期信号
発生回路１８の同期信号＼ｉ、Ｈか送られる。カウンタ
２３の計数情報は演算回路２４に送られる。
そして、演算回路２４の演ヰ結果は表示部２５に送られ
る。
る。
また、同期信号発生回路１８の水平同期信号Ｈはモノス
テーブルマルチ２６．２７に送られ、同様に垂直同期信
号Ｖはモノステーブルマルチ２８２９に送ら八る。上記
モノステーブルマルチ２７２９の出力は、アンド回路３
０を介して上記検出回路２１に送られる。また、アンド
回路３０の信号は合成回路３１へも送られる。
テーブルマルチ２６．２７に送られ、同様に垂直同期信
号Ｖはモノステーブルマルチ２８２９に送ら八る。上記
モノステーブルマルチ２７２９の出力は、アンド回路３
０を介して上記検出回路２１に送られる。また、アンド
回路３０の信号は合成回路３１へも送られる。
上記構成において、照明光Ａを下側から照射することに
より、上から見ると磁気へラド５は黒く見え、その周囲
が白く見える。この上うにはっきりしたフントラストを
なす像が、拡大光学系１５により拡大される。
より、上から見ると磁気へラド５は黒く見え、その周囲
が白く見える。この上うにはっきりしたフントラストを
なす像が、拡大光学系１５により拡大される。
拡大された像は、撮像管１６により水平走査されて撮像
され、モニターテレビ１９に映し出される。また、＋ｆ
＆像管１６の映像信号は２値化回路２旧こより２値化さ
れる。すなわち、上記映像において、例えば磁気へラド
５のへラドチップ１に対応する黒色の部位（照明光を遮
蔽する部位）が“０”信号となり、その周囲の白色の部
位（照明光を遮蔽しない部位）が“１”信号となる。
され、モニターテレビ１９に映し出される。また、＋ｆ
＆像管１６の映像信号は２値化回路２旧こより２値化さ
れる。すなわち、上記映像において、例えば磁気へラド
５のへラドチップ１に対応する黒色の部位（照明光を遮
蔽する部位）が“０”信号となり、その周囲の白色の部
位（照明光を遮蔽しない部位）が“１”信号となる。
上記２値化信号は水平走査に従って変化する。
検出回路２１″Ｃは、各水平走査線毎に２値化信号の変
化が検出される。本例では、第３図に点線で示す枠Ｂ内
の映像についてのみ検出される。この枠Ｂによる検出範
囲の設定について詳述する。モノステーブルマルチ２６
は水平同期信号Ｈによりトリが−され、所定ｖＩＩｆｆ
ｉだけ出力する０次に、こ 。
化が検出される。本例では、第３図に点線で示す枠Ｂ内
の映像についてのみ検出される。この枠Ｂによる検出範
囲の設定について詳述する。モノステーブルマルチ２６
は水平同期信号Ｈによりトリが−され、所定ｖＩＩｆｆ
ｉだけ出力する０次に、こ 。
の出力終了によってトリが−されたモノステーブルマル
チ２７が所定時間出力する。モノステーブルマルチ２Ｇ
の出力時間は、モニターテレビ１９における左側縁から
の枠Ｂの距離Ｈａを決定し、モノステーブルマルチ２７
の出力時間は枠Ｂの横幅Ｈｂを決定する。同様に、モノ
ステーブルマルチ２８は垂直同期信号＼パによりトリ〃
−され、所定時間だけ出力する。次に、この出力終了に
よってトリガーされたモノステーブルマルチ２９が所定
時間出力する。モノステーブルマルチ２８の出力時間は
、モニターテレビ１９における上側縁からの枠Ｂの距＃
Ｉ Ｖ ａを決定し、モノステーブルマルチ２９の出力
時間は枠Ｂの縦幅ｖｂを決定する。
チ２７が所定時間出力する。モノステーブルマルチ２Ｇ
の出力時間は、モニターテレビ１９における左側縁から
の枠Ｂの距離Ｈａを決定し、モノステーブルマルチ２７
の出力時間は枠Ｂの横幅Ｈｂを決定する。同様に、モノ
ステーブルマルチ２８は垂直同期信号＼パによりトリ〃
−され、所定時間だけ出力する。次に、この出力終了に
よってトリガーされたモノステーブルマルチ２９が所定
時間出力する。モノステーブルマルチ２８の出力時間は
、モニターテレビ１９における上側縁からの枠Ｂの距＃
Ｉ Ｖ ａを決定し、モノステーブルマルチ２９の出力
時間は枠Ｂの縦幅ｖｂを決定する。
モノステーブルマルチ２７＋２９の出力はそれぞれアン
ド回路３０に送られ、これらモノステーブルマルチ２７
．２９の両方が出力している時にのみ、この７ンＩ′回
路３０からデート信号が検出回路２１に送られる。これ
により、検出回路２１は枠Ｂ内の映像に関してのみ、２
値化信号を検出する。
ド回路３０に送られ、これらモノステーブルマルチ２７
．２９の両方が出力している時にのみ、この７ンＩ′回
路３０からデート信号が検出回路２１に送られる。これ
により、検出回路２１は枠Ｂ内の映像に関してのみ、２
値化信号を検出する。
一方、上記アンド回路３０からの信号は、合成回路３１
で映像信号と合成され、二九によりモニターテレビ１９
には、磁気へノｌ′５のへラドチップ１の像が映し出さ
れるとともに、内部が灰色をなす枠Ｂの像が映し出され
る。
で映像信号と合成され、二九によりモニターテレビ１９
には、磁気へノｌ′５のへラドチップ１の像が映し出さ
れるとともに、内部が灰色をなす枠Ｂの像が映し出され
る。
枠Ｂの上下方向、左右方向の位置および横幅Ｈ＆縦幅ｖ
ｂは、モニターテレビ１９を見ながら、枠Ｂ内にギャッ
プ３の像が収主るように、調節することができる。すな
わち、つまみ扱１乍でモノ又テーブルマルチ２６〜２９
のＣＲ定数（出力時間）を変えることにより、上記調節
を行なう。
ｂは、モニターテレビ１９を見ながら、枠Ｂ内にギャッ
プ３の像が収主るように、調節することができる。すな
わち、つまみ扱１乍でモノ又テーブルマルチ２６〜２９
のＣＲ定数（出力時間）を変えることにより、上記調節
を行なう。
各水平走査線の枠Ｂ内での２値化信号は、第２図（ａ）
〜輸）に示すように変化する。詳述すると、ヘッドチッ
プ１の上方での水平走査においては、第２図（、）に示
すように枠Ｂ内の検出範囲に互って総て“１”レベルと
なり、ヘッドチップ１の上端すなわちギャップ３の上端
では第２図（ｌｌＩ）に示すようにヘッドチップ１をか
すめた部位が“０ルベルに変化する。さらにこれより下
方の水平走査では、上記“Ｏ″信号部位がさらに広がり
やがて第２図（ｃ）に示すように全範囲に互って１１０
！ルベルになる。これは、枠Ｂ内で走査される部位が総
てへラドチップ１であることを意味する。さらに水平走
査線がギャップ３の下端すなわちチップ片２の凹部２ａ
の上端に達すると、第２図（ｄ）に示すように凹ｇ２ａ
をかすめた部位がが“１″レベルに変化する。さらに水
平走査線が下方に移動すると、第２図（ｅ）に示すよう
に凹部２ａに対応して１”レベルが広がる。検出回路２
１は第２図（ｌ］）と第２図（ｄ）の変化を検出して検
出信号を発生する。
〜輸）に示すように変化する。詳述すると、ヘッドチッ
プ１の上方での水平走査においては、第２図（、）に示
すように枠Ｂ内の検出範囲に互って総て“１”レベルと
なり、ヘッドチップ１の上端すなわちギャップ３の上端
では第２図（ｌｌＩ）に示すようにヘッドチップ１をか
すめた部位が“０ルベルに変化する。さらにこれより下
方の水平走査では、上記“Ｏ″信号部位がさらに広がり
やがて第２図（ｃ）に示すように全範囲に互って１１０
！ルベルになる。これは、枠Ｂ内で走査される部位が総
てへラドチップ１であることを意味する。さらに水平走
査線がギャップ３の下端すなわちチップ片２の凹部２ａ
の上端に達すると、第２図（ｄ）に示すように凹ｇ２ａ
をかすめた部位がが“１″レベルに変化する。さらに水
平走査線が下方に移動すると、第２図（ｅ）に示すよう
に凹部２ａに対応して１”レベルが広がる。検出回路２
１は第２図（ｌ］）と第２図（ｄ）の変化を検出して検
出信号を発生する。
なお、枠Ｂ内の限られた部位での検出を行なうので、枠
Ｂの外において、ヘッドチップ１の傷が室内照明等を乱
反射して輝いたり、ヘッドチップ１の周囲でごみ等の黒
い陰が映ってしまう場合でも、これらを検出することな
く、正確に上記２値化信号の変化を検出することができ
る。
Ｂの外において、ヘッドチップ１の傷が室内照明等を乱
反射して輝いたり、ヘッドチップ１の周囲でごみ等の黒
い陰が映ってしまう場合でも、これらを検出することな
く、正確に上記２値化信号の変化を検出することができ
る。
デート信号発生回路２２では上記検出信号を受けて、デ
ート信号をカウンタ２３に送ろ。この結果、カウンタ２
３では、第２図（ｂ）に変化した時から第２図（，１）
に変化した時まで、水平同期信号Ｈの計数を行なう。換
言すればギャップ３を横切る水平走査線の計数を行なう
。カウンタ２３は、同期信号発生回路１８からの垂直同
期信号Ｖにより、リセットされる。このようにして、モ
ニターテレビ１９における１フレーム毎の計数値が演算
回路２４に送られる。演算回路２４では、上記計数値に
走査線１本当たりの寸法（拡大光学系１５の拡大率等に
よって決定される）を掛は合わせてギヤノブ３の深さＤ
を算出ｒる。さらに、この１フレーム毎の算出値から、
例えば１０フレームの平均１ｉｆＪを得る。この平均値
は１フレームの算出値を組み込む毎に更新される。この
平均値は表示部２５で表示される。
ート信号をカウンタ２３に送ろ。この結果、カウンタ２
３では、第２図（ｂ）に変化した時から第２図（，１）
に変化した時まで、水平同期信号Ｈの計数を行なう。換
言すればギャップ３を横切る水平走査線の計数を行なう
。カウンタ２３は、同期信号発生回路１８からの垂直同
期信号Ｖにより、リセットされる。このようにして、モ
ニターテレビ１９における１フレーム毎の計数値が演算
回路２４に送られる。演算回路２４では、上記計数値に
走査線１本当たりの寸法（拡大光学系１５の拡大率等に
よって決定される）を掛は合わせてギヤノブ３の深さＤ
を算出ｒる。さらに、この１フレーム毎の算出値から、
例えば１０フレームの平均１ｉｆＪを得る。この平均値
は１フレームの算出値を組み込む毎に更新される。この
平均値は表示部２５で表示される。
本発明は上記実施例に制約されず種々の態様か可能であ
る。例えば、拡大光学系にハーフミラ−を組み込み、側
方からの照明光をハーフミラ−により反射させて拡大光
学系の光軸と一致させ、さらにこの光を測定される物体
に当て、この物体からの反射光を拡大光学系に送るよう
にしてもよい。
る。例えば、拡大光学系にハーフミラ−を組み込み、側
方からの照明光をハーフミラ−により反射させて拡大光
学系の光軸と一致させ、さらにこの光を測定される物体
に当て、この物体からの反射光を拡大光学系に送るよう
にしてもよい。
この方法は物体が光を良好に反射する面を有している場
合に用いることかできる。この方法て゛は、前述した実
施例と反対のフントラストで拡大像か得られる。
合に用いることかできる。この方法て゛は、前述した実
施例と反対のフントラストで拡大像か得られる。
及贋！募ｆ【
以上説明したように、本発明では、物体の拡大像を１黄
切る撮像走査線の数を計数し、この計数値に基づいて物
体の寸法を測定する。したがって、正確にかつ迅速に物
体の寸法を測定することができる。
切る撮像走査線の数を計数し、この計数値に基づいて物
体の寸法を測定する。したがって、正確にかつ迅速に物
体の寸法を測定することができる。
第１図は本発明を実施するための回路図、第２図（ａ）
〜（ｅ）は２値化信号の変化を示す図、第３図はモニタ
ーテレビの拡大図、第４図は磁×へ、ドのへンドナノプ
を示す斜視図である。 １・・・ヘッドチップ、３・・・キャンプ、５・・・磁
気ヘッド（測定される物体）、１５・・拡大光学系、１
６・・・撮像管（撮像１！ＩＩ）、１８・・同期信号発
生回路、１つ・・・モニターテレビ（画面表示器）、２
０・・・２値化回路、２１・・検出回路、２２・・・デ
ート信号発生回路２３・・・計数回路、２４・・・演算
回路、２５・・表示部、Ａ・照明光、Ｄ・・・キャンプ
深さ、Ｈ・・・水平同期信号、〜゛・・・垂直同期信号
〜（ｅ）は２値化信号の変化を示す図、第３図はモニタ
ーテレビの拡大図、第４図は磁×へ、ドのへンドナノプ
を示す斜視図である。 １・・・ヘッドチップ、３・・・キャンプ、５・・・磁
気ヘッド（測定される物体）、１５・・拡大光学系、１
６・・・撮像管（撮像１！ＩＩ）、１８・・同期信号発
生回路、１つ・・・モニターテレビ（画面表示器）、２
０・・・２値化回路、２１・・検出回路、２２・・・デ
ート信号発生回路２３・・・計数回路、２４・・・演算
回路、２５・・表示部、Ａ・照明光、Ｄ・・・キャンプ
深さ、Ｈ・・・水平同期信号、〜゛・・・垂直同期信号
Claims (1)
- 測定されるべき物体を拡大光学系により拡大しこの拡大
像を撮像機により走査して電気信号に変換し、この電気
信号の変化を検出してデート信号を発生し、このデート
信号に基づいて上記走査のための同期信号を計数し、こ
の計数値に基づいて物体の寸法を測定することを特徴と
する物体の寸法測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20194584A JPS6180004A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 物体の寸法測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20194584A JPS6180004A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 物体の寸法測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6180004A true JPS6180004A (ja) | 1986-04-23 |
Family
ID=16449376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20194584A Pending JPS6180004A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 物体の寸法測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6180004A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017107606A (ja) * | 2017-03-15 | 2017-06-15 | 船井電機株式会社 | 空間入力装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5729438A (en) * | 1980-07-31 | 1982-02-17 | Toyoda Gosei Co Ltd | Method and apparatus for measuring outer diameter of extrudate |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP20194584A patent/JPS6180004A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5729438A (en) * | 1980-07-31 | 1982-02-17 | Toyoda Gosei Co Ltd | Method and apparatus for measuring outer diameter of extrudate |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017107606A (ja) * | 2017-03-15 | 2017-06-15 | 船井電機株式会社 | 空間入力装置 |
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