JPS6175561A - 固体光検出デバイス - Google Patents

固体光検出デバイス

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JPS6175561A
JPS6175561A JP59196873A JP19687384A JPS6175561A JP S6175561 A JPS6175561 A JP S6175561A JP 59196873 A JP59196873 A JP 59196873A JP 19687384 A JP19687384 A JP 19687384A JP S6175561 A JPS6175561 A JP S6175561A
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JP
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solid
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Pending
Application number
JP59196873A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Muto
秀樹 武藤
Mitsuru Ikeda
満 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6175561A publication Critical patent/JPS6175561A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14679Junction field effect transistor [JFET] imagers; static induction transistor [SIT] imagers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1亙圀1 本発明は光検出デバイス、とく番と固体光検出デバイス
に関する。
11孜l たとえば静電誘導トランジスタ構造の撮像セルが1次元
またl−12次元に配列された撮像セルアレイを有する
固体撮像デバイスは通常、入射光量の増大とともに出力
が増加する、いわゆるポジ(陽画)特性を示す。しかも
このポジ特性は一般に、入射光量の増大とともに出力の
増加率が増大する、いわば、なだれ特性を示す。
しかし、通常の撮像デバイスとしての使用では、従来の
銀塩写真の特性と同様の、したがって視覚と同様の感度
特性を有することが望ましい。
十なわち低照度で高感度を示し、高照度で低感度を示す
感度特性を有するのが有利である。
旦−一的 本発明はこのような要求に鑑み、相対的に低照度で高感
度を示し、高照庶で低感度を示す感度特性をIj−λる
ことのできる固体光検出デバイスを提供することを目的
とする。
先乳宴訓j −導′1〈型の半導体基板の一方の主面に形成された他
導電型のゲート領域に蓄積された電荷量に応1つてソー
ス・ドレーン領域間の信号の読出しを行なわせる静電誘
導トランジスタとを有する固体光検出デバイスは、半導
体基板の一方の主面に形成され、この主面に入射する光
によって光キャリアを発生し、静電誘導トランジスタの
ゲート領域及び半導体基板の導電型の配置と同一の導電
型の配置を有する少なくとも2層の非晶質半導体を有す
る光キャリア発生手段と、光キャリア発生手段の表面に
設けられた透明電極と、光キャリア発生手段と静電誘導
トランジスタとの間に設けられ、電位障壁層を介して光
キャリア発生手段と静電誘導トランジスタのゲート領域
とを回路的に接続する電極層とを有し、これによって、
光キャリア発生手段で発生17た光キャリアが静電誘導
トランジスタを通して光キャリアに応じた信号として読
み出されるものである。
諌1舛L1」 次に添伺図面を参照して本発明による固体光検出デバイ
スの実施例を詳細に説明する。
第1図を参明すると、本発明による固体光検出デバイス
の実施例において固体撮像デバイスの1つの撮像セル1
0が断面にて示され、この撮像セルlOが複数個、1次
元ないしは2次元に配列されて撮像セルアレイが構成さ
れる。
撮像セル10は本実施例では、n型シリコン基板12の
一方の主面にn−領域20が形成されている。n−領域
20の表面付近には、図示のように、2つのp領域14
および16と、n十領域22が形成され、これらのよっ
ていわ中る静電誘導トランジスタ(SIT) Q(第2
図)が構成されている。−フ)のp領域14は、SIT
のコントロールゲートとして機能している。また、他方
のp領域16はSITのシールディングゲートとして機
能し、他の撮像セルとの素子分離を図っている。
これらの領域14.16および22が形成された主面の
1−には、リンケイ酸ガラス(PSG)またはポリイミ
ドを含む絶縁層18が形成されている。層18の表面に
おいて、コントロールゲート領域14に対応する部分に
は、図示のように電極層28が形成されている。層18
には、その一部に1図示のように導体28が貫通する開
口が形成され、この導体28は両電極28ヲコントロー
ルゲート14に相互に接続している。少なくとも電極層
2Bは、光に対して不透明な導電材料で形成され、好ま
しくは、電極層26および導体28はアルミニウムにて
形成され、入射光40がコントロールゲート領域14ま
で到達しないように構成されている。
これらの構体の−1−に、絶縁材料またはp型非晶質シ
リコンなどのブロッキング層30が形成され、これは、
後述のように電位障壁100(第3図)を形成するもの
である。ブロッキング層30の上にさらに、n型の水素
化非晶質シリコン(a−9iH) @32が形成され、
その上にp型非晶賀シリコン層34が形成されている。
p型層34の1−を透明電極層3Gが覆っている。ブロ
ッキング層30は必ずしも電極層28の上に形成される
必要はなく、例えば電極層28とゲート領域14の界面
に形成されてもよい。
p型非晶質シリコン層34は、基板12の上方から入射
する光40がその下方のn型9937層32との間で形
成されるpn接合旬領域で到達できるほど十分に薄く形
成ぎれる。非晶質シリコン層32と34で形成されるp
n接合は、後述のように入射光40に対する光キャリア
発生領域、すなわちフォトダイオード旧(第2図)とし
て機能する。このようなセルlOが1次元または2次元
状に基板12の主面に配列され、撮像セルアレイが形成
されている。
このような構造の撮像セル10の等価回路は、第2図に
示すようになる。同図かられかるように、非晶質シリコ
ン層で形成される光キャリア発生、蓄積領域は、フォト
ダイオードDIとコンデンサCIで構成されている。そ
のカソードは、ブロッキング層30を示すコンデンサC
3を介してSIT Qのコントロールゲート14に接続
されている。SIT Qのコントロールq−114によ
る光キャリア蓄積機能は、同図では、フォー・ダイオー
ドD1と同極性のダイオードD2およびコンデンサC2
で示されている。
!SIT Qのソース22が接地され、その基板12が
本デバイスの信許出力リート50に接続されている。
出力リード50には、図示のように抵抗Rを通してビデ
オ電圧Vが供給され、出力信号V。UTが出力される。
透明電極36には、ビデオ電圧より高い電圧V□が供斥
合される。
本実施例の光検出デバイスの動作を第3図および第4図
のエネルギーバンド図を参照して説明する。これらの図
は、横方向の左から右へ第1図における基板12の深さ
方向をとり、縦方向にポテンシャルをとっである。第2
図に示すバイアス状態で、撮像セル10に光が照射され
ないときは、そのポテンシャルレベルは第3図のように
なる。つまりn型基板12のレベルを基準として2層3
4がレベルVTにある。コントロールゲー)14のレベ
ルはりcG*で示されている。n層32は、光40が照
射されない状態では、2層34に対して十分な接合電位
差を形成する図示のレベルにある。ブロッキング層30
は、図示のような電位障壁100を形成している。
このように接合電位差が大きい状態では、5ITQのコ
ントロールゲート14の電位カ低イので、SIT Qは
遮断状態にある。したがって、出力端子50には、はぼ
ビデオ電源の電圧に近い電圧が出力される。
第4図に示すように、フォトダイオード望域旧に光40
が照射されると、フォトダイオード旧のpn接合領域に
励起された光キャリアは、正孔が透明電極36の側に走
行し、また電子はn領域32に向って走行し、そこに蓄
積される。勿論、入射光40の。
光量が多いほど、すなわち明度が高いはどn領域32に
蓄積される電子の鰯が増加する。
n領域32に蓄積された電子は、見掛けI−、、その領
域のポテンシャルを相対的にに肩させる。これにともな
って、p領域14のポテンシャルも相対的にト舅し、基
板12に対する接合電位差が増大する。このn領域32
のポテンシャルは、入射光40の光量が多いはどh 9
Fする。これかられかるように、このSIT Qは、ゲ
ート蓄積型のSITを構成している。
したがって、フォトダイオード旧を流れる電流■ の電
源電圧V。に対する変化が、暗状態では第I 5図の実線110で示すようであれば、明状態では同図
の点!JiIl12で示すようになる。なお、第4図か
られかるように、電位障壁+00は、この蓄積された光
キャリアが基板12に向って走行ないしは拡散するのを
防圧している。
このようにSIT Qのコントロールゲート14の電位
がt=、 Wすると、それに応じてSIT Qのチャネ
ルが導通し、ビデオ電源から抵抗Rを通して電流が流れ
こむ。したがって、その出力端子50に現れる電圧は低
下する。
そこで、入射光40の光Wに対するコントロールゲート
14の電圧は、第6図に示すように、光量の増大ととも
に減少する関係120をとる。一方、コントロールゲー
)14の電圧に対するSIT Qの出力の関係は、第7
図に示すように、ある形の増加関数130をとり、ある
電圧以I−では飽和状態132を示す。
したがって、固体撮像デバイスとしての信号出力は、第
8図に示すように、入射光量の増加にともなって減少す
る、いわばネガ特性+40を示す。
しかも、その減少の程度は、光量の増大とともに緩やか
になる。そこで、第2図に点線60にて示すように、信
号V。UTが入力されるとそのレベルを反転して出力量
る反転回路を配置すれば、反転回路60から111力さ
れる信号は、第8図に点!Ji1142で示すような特
性、すなわち入射光40の照度の増大とともに感度が低
下する写真特性に近い特性を示す。
本発明による固体光検出デバイスを1次兄ないしは2次
兄撮像セルに適用した実施例について説明したが、本発
明は、単一セルの光検出デバイスにも有利に適用される
ことは言うまでもない。
効  里 このように本発明による固体光検出デバイスは、入射光
量の増大とともに出力が減少し、しかもその減少の程度
は、光年の増大とともに緩やかになる。したがって、こ
の出力を反転すれば、相対的に低照度で高感度を示し、
高照度で低感度を示す感度特性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による固体光検出デバイスの実施例の構
改を概略的に示す断面図、 第2図は、第1図に示す固体光検出デバイスの概略等価
回路を示す回路図、 第3図および第4図は、第1図に示す実施例の動作を説
明するためのエネルギーバンド図。 第5図ない1.第8図は、第1図に示す実施例のv1作
を説明するための特性を示すグラフである。 上遭」11D」巳1へ護」 10、、、撮像セル 14、、、コントロールゲート IFl、、、シールディングゲート 18、、、絶縁層 22、、、ソース 2B、、、電極層 30、、、ブロッキング暦 32.34. 、非晶質シリコン層 36、、、透明電極 特許出斬大 富士写真フィルム株式会社寸     の rQ       − 第4図 特開昭6l−75561(5) 第5図 第6図 光量

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  一導電型の半導体基板の一方の主面に形成された他導
    電型のゲート領域に蓄積された電荷量に応じてソース・
    ドレーン領域間の信号の読出しを行なわせる静電誘導ト
    ランジスタを有する固体光検出デバイスにおいて、 前記一方の主面に形成され、該主面に入射する光によっ
    て光キャリアを発生する、前記静電誘導トランジスタの
    ゲート領域及び半導体基板の導電型の配置と同一の導電
    型の配置を有する少なくとも2層の非晶質半導体を有す
    る光キャリア発生手段と、 該光キャリア発生手段の表面に設けられた透明電極と、 前記光キャリア発生手段と静電誘導トランジスタとの間
    に設けられ、電位障壁層を介して該光キャリア発生手段
    と静電誘導トランジスタの該ゲート領域とを回路的に接
    続する電極層とを有することを特徴とする固体光検出デ
    バイス。
JP59196873A 1984-09-21 1984-09-21 固体光検出デバイス Pending JPS6175561A (ja)

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JP (1) JPS6175561A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019106519A (ja) * 2017-12-11 2019-06-27 国立大学法人静岡大学 半導体装置及び固体撮像装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019106519A (ja) * 2017-12-11 2019-06-27 国立大学法人静岡大学 半導体装置及び固体撮像装置

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