JPS6173479A - シエ−デイング補正方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 挟亙九乱 本発明は原稿面を光走査することにより画情報を画素単
位で読み取るスキャナに係り、特にその読み取られた画
情報のシェーディング補正を行なわせる方式に関する。

従末肢朱 一般に、Ｗ、積面を光走査することにより画情報を画素
単位で読み取るスキャナにあっては、その光学系におけ
る光分布特性の不均一性またはＣＣＤなどからなるライ
ンイメージセンサにおける各素子の感度のバラツキなど
に起因してイメージセンサの出力レベルが変動するいわ
ゆるシェーディングが生じてしまうため、その出力レベ
ルを一定にする入くシェーディング補正を行なわせる必
要がある。

従来、この種のシェーディング補正としては。

ラインイメージセンサに対応じたメモリ容量をもった記
憶部と、そのイメージセンサのＡＤ変換出力と記憶部に
格納されているデータとを比較してそのうちの大きい方
の信号を出力させる比較部とを設けて、記憶部に比較部
からの比較結果にもとづいて副走査方向について各イメ
ージセンサ素子ごとの最大出力値を格納するようにし、
その記憶部の蓄積データをアドレスとして補正用ＲＯＭ
から補正信号を読み出して乗算器に与え、そこでイメー
ジセンサのＡＤ変換出力と所定の乗算処理をなすことに
よりシェーディング補正を行なわせるようにしている（
特開昭５９−２７６７５号公報参照）。

しかしこのようなシェーディング補正を行なわせるので
は、その精度を上げるためにはＡＤ変換器の分解能すな
わちビット数を増やす必要があるとともに、乗算器の入
力ビツト数によってその出力精度が決まるものとなって
しまっている。特に乗算器が必要であるために高速での
処理を行なわせることが困難なものとなってしまってい
る。

１眞 本発明は以上の点を考慮してなされたもので。

簡単な手段をとることにより高速でのシェーディング補
正を精度良く行なわせることができるようにしたシェー
ディング補正方式を提供するものである。

１風 本発明ではその目的を達成するため、シェーディング情
報が格納される第１のメモリと、その第１のメモリから
読み出されるデータと補正対象の読取データとの組合せ
に応じたアドレスによってアクセスされる第２のメモリ
とを設け、第２のメモリには第１のメモリからの読出デ
ータに関連づけられて補正対象の読取データが補正され
た場合に相当するデータを予め格納し、その第２のメモ
リから読み出されたデータを補正データとするようにし
たものである。

以下、添付図面を参照して本発明の一実施例について詳
述する。

第２図はシェーディングを説明するためのラインイメー
ジセンサにおけるＮ個のＣＣＤからなる主走査方向の出
力レベル特性を示すもので、シェーディングには主とし
て、■スキャナにおけるレンズ、光源の形状と照度分布
などの光学的バラツキによるもの、■光源の経時劣化、
温度特性による光源劣化によるもの、■ＣＣＤの感度の
バラツキの３つの要因がある。第２図との関係では、Ａ
またはＢ特性の曲線は前記■の要因によるものであり、
Ａ特性とＢ特性との差は前記■の要因によるものであり
、また曲線の拡大した凹凸は前記■の要因によるもので
ある。ここで、ｎ−３、ｎ−２、ｎ−１，ｎ、・・・は
ＣＣＤの配列順を示している。

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するための構成例を示すもので、主走査方向にＣ
ＣＤがライン状に配設されたラインイメージセンサ１か
ら時系列的に読み出される出力信号ａをレベル増幅する
増幅器２と、その必要レベルに増幅された信号すをデジ
タル信号Ｃに変換するＡＤ変換器３と、そのＡＤ変換出
力すなわち原稿の読取データＣに応してピークホールド
を行なってそのピークホールド信号ｆにしたがって増幅
器２のゲイン調整を行なわせる第１のビークホールド回
路４と、増幅器２の出力信号すのピークホールドを行な
ってそのピークホールド信号ｇをＡＤ変換器３における
基準電圧として設定させる第２のピークホールド回路５
と、予め基準白色面を光走査することによって得られた
シェーディング情報が書き込まれており、読取データＣ
にしたがって所定のシェーディング情報ｄが読み出され
るＲＡＭ６と、予めシェーディング補正データが格納さ
れており、読取データＣとシェーディング情報ｄとの組
合せに応して所定のシェーディング補正データｅが読み
出されるＲＯＭ７と、各部を所定のタイミングをもって
制御する制御部８とによって構成されている。

このように構成されたものにあって、いま原稿の読取り
に先がけて例えば圧仮における基準白色面を光走査する
と第２図中Ａに示すような特性をもったシェーディング
情報が得られるのでそれをＲＡＭ　６に書き込む、そし
て副走査が進んで原稿の読取りが開始されるが、そのと
きの読取データＣを先のシェーディング情報で補正する
ときにＲＡＭ６から信号ｄとして読み出して使用する。

またその際、ピークホールド回路４はシェーディング情
報をＲＡＭ５に書き込む動作に先だってそれ以前の基準
白色面を光走査したときのピークレベルを検出し、その
レベルを保持する。そのときのピークレベルに応じた出
力信号ｆにより増幅器２のゲインが調整され、シェーデ
ィング中特に前記■の光学系のバラツキ分によるものを
予め粗い精度で補正するべく、例えばピーク検出時には
第２図中Ｂ特性に示すようなレベルにあってもそれが増
幅されたのちにはＡ特性に示すようなレベルになるよう
にゲインＸｌ！される。それによりＡＤ変換器３の入力
レベルが適正化され、変換精度が向上することになる。

なお、その光学系のバラツキ分によるものを含めて精密
なシェーディング補正は本発明による本来のシェーディ
ング補正によって行なわれることになる。このようにし
てＡＤ変換器３の入力レベルの適正化が行なわれると、
増幅器２のゲインはその状態を保持するように固定され
、以後シェーディング情報の書込みおよび原稿の画情報
の読取りがその状態で行なわれる。またその増幅器２の
ゲイン調整がなされた状態で基準白色面を光走査したと
きのピークレベルがピークホールド回路５により検出さ
れ、そのピークホールド信号ｇによりＡＤ変換器３の基
準電圧が設定されろ０次いで、原稿の読取時にその読取
データＣとＲＡＭ６から読み出されたシェーディング情
報ｄとによってＲＯＭ７がアクセスされ、そのアドレス
に応じて読取データＣとシェーディング情報ｄとの組合
せに応じたシェーディング補正データｅが適宜読み出さ
れる。以上各部のシーケンスおよびタイミング制御、副
走査の制御などは制御部８から出される（目号群ｔにし
たがって適宜なされることになる。

本発明によるシェーディング方式の要点をシーケンス的
に列挙すると、以下のようになる。

（１）イメージセンサ出力を増幅する増幅器のゲインを
初期値に設定したうえで基準白色面を主走査方向に光走
査し、羊のとき得られるＡＤ変換器の出力信号のピーク
値を検出し、その得られたピーク値にしたがって増幅器
のゲイン調整を行なう。

（２）その後少なくとも基準白色面の主走査方向の光走
査を１回行なわせて、そのとき得られる増幅器の出力信
号のピーク値を検出し、その得られたピーク値にしたが
ってＡＤ変換器の基準電圧を設定する。

（３）その後基準白色面を少なくとも１回以上主走査方
向に光走査してそのとき得られるシェーディング情報を
ＲＡＭに書き込む。

（４）原稿読取時の各主走査ごとにそれと同期してＲＡ
Ｍからシェーディング情報を読み出し、その読み出され
たシェーディング情報と原稿面の読取データとの組合せ
に応じてＲＯＭをアクセスしてシェーディング補正デー
タを得る。

第３図は増幅器２およびピークホールド回路４の具体的
な構成例を示すもので、ここではデジタル論理構成によ
りピーク値を検出保持する方式をとるとともに、前述の
ように増幅器２のゲイン調整は粗い精度でよいのでＡＤ
変換出力６ビツトのうちの上位４ビツトの読取データを
ピークホールド回路４に与えてその回路構成の簡素化を
図るようにしている。

このように構成されたものにあって、まずコンパレータ
４１は新規入力信号Ｃとそれまでラッチ４３に保持して
いたピーク値ｃｐとを比較し、その結果にしたがってセ
レクタ４２のＳ端子にセレクト信号を与える。セレクタ
４２はそれに応じて新規入力信号Ｃとそれまでのピーク
ホールド値ＣＰとの何れかをセレクトしてラッチ４３に
送出する。このときのセレクト条件としては、ｃ　）　
ｃ　ｐならば信号Ｃをセレクトし、Ｃ≦ｃｐならば信号
ｃｐをセレクトすることになる。それによりラッチ４３
は、新規入力信号Ｃがそれまでのピーク値ｃｐよりも大
きいときにはそれを更新保持していく。以上の動作を主
走査ごとに順次くり返して行なわせ、その主走査ごとに
検出されるピーク値がラッチ４３に逐次更新されながら
保持されていく。

次に主走査ごとに検出されたピーク値がラッチ４４に転
送され、そのランチ出力が増幅器２にゲイン調整信号ｆ
として与えられる。なお、各ラッチ４３．４４における
クロックｔ［、ｔ３およびクリア信号ｔ２．ｔ４は制御
部７からケえられることになる。またゲイン調整信号ｆ
は増幅器２のフィードバック抵抗の切換スイッチ（アナ
ログスイッチ）ＳＷＩ〜ＳＷ４の各スイッチング信号と
なり、それら各スイッチＳＷ１〜ＳＷ４のオン、オフ状
態の組合せにより演算増幅器２１のフィードハック抵抗
の切換えを行なわせる。その際、ゲイン調整信号ｆは４
ビツトなので１６通りにフィードバンク抵抗値を変化さ
せることができ、したがって演算増幅器２１のゲインＧ
ａが。

Ｇａ＝１＋Ｒｆ’／Ｒ２ （Ｒｆはフィードハック抵抗Ｒ３〜Ｒ７の終成抵抗値）
なので１６段階に調整されることになる。

いま増幅器２のゲインＧａを４ビット＝１６通りのゲイ
ン調整信号ｆとの関係で、 Ｇａ５ｈ　Ｌ／ｆ　　（ｈ　１は定数）とすることによ
り、基準白色面を光走査したときの増幅器２の出力信号
すのピーク値ｂＦ５をほぼ一定にすることができるよう
になる。すなわちゲイン初期値での各信号ａ、ｂ、ｃを
それぞれａ、。

ｂ＠　”６、そのピーク値をａｉｒ　、　　ｂ＠ｒ　、
　　Ｃ〒　とし、さらにそのときの信号ｆをｆｏとする
と、ｆ０＝ＣＯＦ　＝　ｂｏｒ＝　Ｇ　ａ　ｏ　・ａｏ
Ｐ（Ｇａｏはゲイン初期値）となる。

次にその信号ｆ　により新たに設定されるゲインＧａｌ
は、 Ｇａｌ：ｈｌ／ｆａ となり、このゲイン状態で信号ａ６ｅに対する各信号ｂ
ｒ　、　ＣＰは。

ｃ、　；ｂｒ＝　Ｇ　ａ　１−ａｏＰ 寺ｈ　１　／　ｆ、　・ａａｒ ＝ｈｌ／Ｑａ。

となる。すなわち、ｄ　の大きさに係わらず、ゲ叩 イン調″Ｊｌ後にはａ。ｒに対するす。ｒおよびＣａｒ
はほぼ一定値ｈ　ｌ　／　Ｇ　ａ　ｏになる。しノーが
って。

Ｇ　ａ　４　ｈ　１　／　Ｅ今１＋Ｆｆ／Ｒ２を満足す
るように抵抗Ｒ２〜Ｒ７を設定すればよい。

また第４図はＡＤ変換器３およびビークボールド回路５
部分の一構成例を示すもので、ここではＡＤ変換器３に
より増幅器２の出力信号すを６ビントのデジタル信号Ｃ
に変換するようにしている。

またピークホールド回路５はコンパレータ５１および演
算増幅器５２からなっている。

いまＡＤ変換器３における上、下限のリファレンス電圧
をＶｒ＋、Ｖｒ−とすると、 ｃ　＝　６４　Ｘ　ｂ　／　（（Ｖｒ＋）　　　（Ｖｒ
−））レベルとなる。ここで、 ０　＜　ｃ　＜　１のとき　　ｃ＝ｏｏｏｏｏ。

■≦ｃ　＜　２のとき　　ｃ＝ｏｏｏ００１２≦ｃ　＜
　３のとき　　ｃ＝ｏｏｏ０１０６３≦ｃく６４のとき
ｃ　＝　１１１１１１６４≦Ｃのとき　　　ｃ＝１１１
１１１およびオーバフロー信号発生 となる。

またアナログスイッチＳＷ５は制御部８からの制御（ａ
号ｔ５にしたがってスイッチングされて。

Ｖｒ＋がｖｌまたはｇｌまたはｇ２に切り換えられるよ
うになっている。いま増幅器２のゲインを初期値に設定
して店ｆ曽白色面を光走査するときには（Ｖ　ｒ　＋）
　＝Ｖ　Ｉに、また原稿の読取時には（Ｖｒ＋）＝ｇｌ
またはｇ２となるようにそれぞ１しりＪり換えら１しる
。

またピークホールド回路５において、ｔ６は保１１１シ
たビータ（直のりセフ１〜信号であり、また［７はピー
ク値検出の（１′効、無効を制御する（２３号である。

ＶＲはビーク１１１°Ｉｌ；１の分割電圧をｃ２として
出力するもので、厳密にはｇｌがビータ１直であるが、
ここでは便宜上ｇ２をもピーク値として取り扱うことが
できるようにしている。ここでＶＲによるピーク値、＝
　１の電圧分割をなす理由としては。

基準白色面またはＥＣＣ前面光走査したときのピーク値
は演算増幅器５２の出力ｇｌとなるが、その際ピーク値
ｇ１は基準白色面または原稿面での光反射率のムラをも
含む値であり、基準白色面または原稿面の地肌濃度の代
表値としてはピーク値ｇ１よりもむしろ濃度ｔ１うをも
考えた濃度の平均値またはピーク値ｇ１から濃度ムラ分
を差し引いた値の方がその後の信号処理の目的に合致す
るためである。そのためここではＶＲによりピーク値ビ
１の分割電圧ｇ２をピーク値として取り扱うことができ
るようにしている。その場合、特し；基準白色面または
Ｊｈｉ稿而の面類による地肌濃度ムラの程度に応じてＶ
Ｒによりｇｌに対するｇ２の比を調有了する二とができ
るようにしている。しかして、制御信号ｔ５〜ｔ７によ
り、増幅器２のゲインを初期値に設定した状態での基ｆ
＜Ｑ白色面の光走査時には（Ｖｒ＋）＝ＶＬに、またそ
のゲイン調整後における基準白色面の光走査時には（ｖ
ｒ＋）＝ｇｔで基準白色面のピーク値に、また原稿の読
取り時には（Ｖｒ＋）＝ｇｌで読取信号のピーク値すな
わち原稿地肌のピーク値に、あるいは（Ｖｒ＋）＝ｇ２
にそれぞれＡＤ変換器３における基準電圧にそれぞれ設
定される。

さらに第５図にＲＡＭ６およびＲＯＭ　７部分の具体的
な一構成例を示している。

この構成にあって、まずシェーディング情報のＲＡＭ６
への書込時には基準白色面を光走査したときのライン・
イメージセンサ１の画素ごとの出力ｒａ号に応じたデー
タＣがＲＡＭ６のＤ　ｉ　ｎ端子に人力される。その際
、画素単位による各データ入力ごと（−制御部７から与
えられるアドレス制御信号１８によりＲＡ　Ｍ　Ｇの７
ドレソシングが行なわｈるとともに、書込信号【９がＲ
ＡＭＧのＷＥ端子に′テえられる。それにより主走査方
向における各画：ｌ′！単位によるシェーディング情報
がＲＡＭ６にどき込まれることになる。次いで、原稿の
読取時における主走査方向の画Ｓ単位による各読取デー
タしがＲＯ：ｖＩ　７のアドレス八〇−Ａ５に与えられ
るとともに５その画素クロックに同期してＲＡＭ本体Ｓ
がアクセスさ！して先に得き込まれたシェーディング情
報ｄが読み出されてＲＯＭ７のアドレス八〇〜Ａ　Ｉ　
Ｏに与えられ、原稿の読取データＣとＲＡ　Ｍ　６から
読み出されたシェーディング情報日とで予めそれら各デ
ータの種々の組合せに応じたシェーディング補正値が格
納されたＲＯＭ　７がアトレンジングされ、それに応じ
てＲＯＭ７から所定のシェーディング補正４８号ｅが読
み出されるっ なお、ここではデータＣを６ビツト構成、データｄを５
ビツト構成としている。すなわちＲＡ　Ｍ６は５ビツト
のものであり、データＣの６ピントのうちの下位５ビツ
トのみが書き込まれるようにしている。これは基準白色
面を光走査して得られたシェーディング情報Ｃの電圧値
Ｖｓは第７図（Ｃ）に示すようにピーク電圧Ｖ　ｓ　ｐ
に対して主走査方向の１ラインのなかでＶ　ｓ　＞　Ｖ
　ｓ　ｐ　／　２となるように予めスキャナの光源、光
学系およびラインイメージセンサ１の特性が決定されて
おり。

したがってシェーディング情報Ｃは第６図に示すように
１〜６ルベルを６ビツトのバイナリコードで表すことが
できるが、実際にはＶｓ≦Ｖｓｐ／２すなわちレベルＯ
〜３２の間のデータは発生しないのでレベル３３〜６４
の計３２レベルのみでシェーディング情報Ｃを表現する
ことができるためである。したがって、最上位ビットｂ
５は常に１であるので、ｂｏ−ｂ４の５ビツトでその３
２レベルを表現することができるようになる。第６図中
１点線で囲んだ部分がデータｄとなる。

第７図および第８図は増幅イ（２のゲイン調整から原稿
の読取時におけるシェーディング補正までの動作右ＡＤ
変換器３の入力データｂ、その出力データ（・および基
準電圧Ｖｒ＋に関連付けて説明するための各特性図を示
している。

第７ＶＡ（ａ）は増幅器２のゲインを初期値に設定した
状態での基僧白色面を光走査したときの増幅器２の出力
信号すを示しており、そのピーク値はＶｏｐ、また（Ｖ
　ｒ　＋）　＝Ｖ　ｌである。同図（ｂ）は増幅器２の
ゲイン調整がなされた状態での基皓白色面を光走査した
ときの増幅器２の出力信号すを示しており、そのピーク
値Ｖｓｐは（ａ）の場合と異なり、　（Ｖ　ｒ　＋）　
＝　Ｖ　１に近いレベルとなっている。それはＶ　ｓ　
ｐ　ＩＪ＜Ｖ　１よりも小で、かつｖｌに近い値になる
ようにゲイン調整がなされているためである。このよう
にＶｒ＋、ｂの各レベルが大きいことは、ＡＤ変換器３
の精度の向上につながることになる。同図（ｃ）は前記
ピーク値ＶＳＰに対してＡＤ変換器３の基準電圧を（Ｖ
　ｒ　＋）　＝Ｖ　ｓ　ｐとして設定したうえでの基準
白色面を光走査したときの増幅器２の出力信号すを示す
もので、これがシェーディング情報Ｃとなる。このとき
のピーク値もほぼＶｓｐとなる。また主走査方向の１ラ
インにおいてｂ　＞　Ｖ　ｓ　ｐ　／　２となるように
予めスキャナの光源、光学系およびラインイメージセン
サ１の特性が決定されている。

同図（ｄ）は原稿の読取時における増幅器２の出力信号
すを示すもので、その曲線は原稿の地肌濃度に対応し、
その原稿上の画情報はその濃度にしたがってその地肌濃
度曲線の下側にプロットされることになる。原稿の読取
時には第４図中のスイッチＳＷＳの切換え状態により（
Ｖｒ＋）＝ｇｌ。

（Ｖ　ｒ　＋）　＝　ｇ　２の２つのモードがあるが、
（■ｒ＋）＝ｇ］のモードは基準白色面または原稿地肌
のピーク値をＶｒ＋とするものであり、また（Ｖｒ＋）
＝ｇ２のモードは基準白色面または原稿地肌の濃度ムラ
を補正したピーク値をＶｒ＋とするものである。いま第
７図（ｄ）の場合は（Ｖｒ＋）＝ｇ２のモードに対応し
ており、したがってＶｒ＋は原稿地肌のピーク値Ｖｒｐ
よりも小さい値になっている。原稿の地肌濃度は基べ（
白色面より高い濃度（反送率が低い）にあるためにＶｒ
ｐ（Ｖｓｐの関係になっている。ここで、（Ｖｒ＋）＝
ｇ２＝ｋｏ−ｇｌ＝ｋｏＴＶｒｐここでｋＯは定数であ
り、第４図中のＶＲにより適宜調整される値である。

いま第７図（ｃ）における画素Ｎ１の位置における原稿
地肌の濃度に対応するデータｂを、ｂ＝ｋｌ−Ｖｒｐ（
ｋｌは定数） とし、その原稿上における画素Ｎ１位置が地肌ではなく
て文字上であり、そのときの濃度に対応するデータｂを
。

ｂ＝に、２・ｃ４１＝に２　　（ｋｌ−Ｖｒｐ）（、ｋ
　２は定数、０≦に２≦１）としたとき、第７図（ｄ）
の関係にあって縦軸をデータｂでなくデータＣすなわち
ＡＤ変換器３の出力信号で示したものが第８図の特性と
なる。

第８図てｃ＝１．Ｏは正規化したものであり、ｃ＝１．
０＝６４（レベル） ＝１１１１１１　　（バイナリ） ≧Ｖｒ＋　（アナログレベル換算）゛ である。

また第８図で、　Ｃｄ　は第７図（ｄ）のＭ稿地肌の濃
度に、　Ｃ５は第７図（ｃ）のシェーディング情報Ｃに
それぞれ対応している。さらにｃ４１は第７図（ａ）の
ｋｌ・Ｖｒｐに、ｃｓｌは第７図（ｃ）のｋｌ・Ｖｓｐ
に、ｃｌは第７図（ｄ）のに２Ｘ（ｋ２・Ｖｒｐ）にそ
れぞれ対応している。ここでＣ，Ｌ　　が飽和している
のは、ｂ≧Ｖｒ＋でデータＣが飽和するＡＤ変換器３の
特性による。

ここで、ｃｌに対してそのシェーディング補正データを
ｃｌ’　とすると、 ｃ　１’　＝ｃ　１／ｃｓ　１ となる。ライン上における画素Ｎ１に限らすｎ＝１〜Ｎ
でのシェーディング補正データをＣ，′　とすると、 Ｃ’：Ｃ％　／Ｃ怪 となる。特に第８図に示すような場合には。

ｃ−’　＝　ｃ、、　／　Ｃ３ｔ（０≦ｃ、ｓ　／　Ｃ
ｓ？ｌ＜　１　）ｃ％′＝ｌ（Ｃ１／Ｃ１％≧１） となる。すなわち、原稿地肌の濃度ムラ分はＣ％′＝ｌ
となるように、その濃度ムラ分を差し引いた残り分はＣ
％′＝０７Ｌ／Ｃ８，Ｌにそれぞれシェーディング補正
された二とになる。

一般的に、原稿地肌の濃度ムラ分を省略し。

Ｃ′＝Ｃ／Ｃ５ で原稿の読取データＣのシェーディング補正データＣ′
　を表すことになる。Ｃ３はもちろん基準白色面を光走
査したとき得られるシェーディング情報である。

第９図は原稿の反射率Ｒに対して増幅器２の出力信号ｂ
（アナログ信号）、ＡＤ変換器３の出力信号Ｃ（デジタ
ル＜８号）、その信号Ｃに対するシェーディング補正デ
ータＣ′およびＲＯＭ７から読み出されるシェーディン
グ補正された原稿の読取データ信号ｅの関係を示す図で
、各軸Ｒ−ｂ・ｃ、ｃ’　、はそれぞれ反射率Ｒ１信号
す、信号Ｃ１信号ｃ’　　（ｃ’　＝ｃ／ｃ、）、信号
ｅの各正規化されたレベルを示している。

同図において、（Ｄはｂ＝０．９Ｒの直線である。

これは実際にはＲ＝１．Ｏ（反射率１００％の反射面）
の基準白色面を用いずにＲ＝０．９の反射面を使用して
いるためである。Ｒ軸上のＲＰは地肌濃度のピーク値が
Ｒｐである原稿を示しており。

またΔＲはその地肌濃度ムラ分を示し、第７図（ｄ）に
おけるΔＶに相当する。

ΔＶ＝Ｖｒｐ　　（Ｖｒ＋）＝　（１−ｋｏ）ＶｒｐＲ
ｐは原稿のｆ！１１類により異なり１図中矢印へのよう
に変動する。Ｒｃｌはピーク値Ｒｐなる原稿上のある位
置における反射率を示している。また■はｃ＝ｂの直線
であり、原稿地肌の濃度ムラを含まず、基準白色面また
は原稿地肌のピーク値をＡＤ変換の基ｊｌｉ電圧とする
モード、すなわち第４図で（Ｖｒ＋）＝ｇｌのときのｂ
とＣとの関係を示している。また■の特性は■の場合と
異なり、原稿地肌の濃度ムラ分を考慮して第４図で（Ｖ
　ｒ　＋）＝ｇ２としたときのモード、すなわち第７図
（ｄ）や第８図のモードでのｂとＣとの関係を示してい
る。ここで、 Ｃ＝ｂ／ｋｏ−ｂ、　　（０≦ｂ≦ｋＯ−ｂｒ）ｃ＝ｌ
　　（ｂ＞ｋｏ・ｂｒ　　） ただし、ｋ　Ｏ＝　ｇ　２　／　ｇ　Ｌであり、またす
、はＲｐに対応し１図中の矢印Ａ′はＡに対応する。

また■の特性は、 ｅ＝５　　（ｃ’　）”　／２　（０≦ｃ’＜０．２）
ｅ＝　（９ｃ’　−１）／８　（０，２≦Ｃ′≦１）で
ある。ここでｃ’＝ｃ／ｃ５　は信号Ｃの補正データで
ある。ｃ′は市況式によって表わされるが。

このＣ′に対応する信号は実際には現在せず、信号とし
てはｅがＲＯＭ７の出力信号となる。すなわち、ｃ′の
関数ｅは、 ｃ’＝ｃ／ｃｓ により、ｃ／ｃ５　　の関数 ｅ＝Ｆ　（ｃ／ｃｓ） であり、原稿の読取データＣ、シェーディング情報ｃ５
　　に対して。

ｅ＝Ｆ　（ｃ／ｃｓ） ”　（ｃ／ｃ、）　２Ｘ５／２　（０≦ｃ　／　Ｃ５＜
０．２）＝ｓ　／　ｃｓ　Ｘ　９／　８　１／　８　（
０−２≦ｃ　／　ｃ５≦１）により計算した結果ｅを予
めＲＯＭ７に格納しておき、実際の原稿の読取時にＣ，
ＣをＲＯＭ７のアドレスとしてアクセスすることにより
シェーディング補正データｅが得られることになる。

ここで、■の特性を原点を通る直線とすることによって
、 ｅ＝ｃ’＝ｃ／ｃｓ なるシェーディング補正データｅを得ることも勿論可能
であり、シェーディング補正としてはこれで充分なもの
となる。しかしくりの特性のようにＣ′く０．２で２乗
曲線となるようにしたのは、次の理由による。すなわち
、Ｃ’　＜０．２はほぼＲく０．２に対応し、反射率Ｒ
が小さいほどすなわち濃度が高いほど視覚による濃度階
調の識別力が低下し、また実際に原稿上に現れる濃度も
それが極端に高くなることがないなどの理由から、６ビ
ツト＝６４階調で表現するシェーディング補正データｅ
の階調数のうちで高い濃度範囲に割り当てる階調数を節
約し、実用上重要な濃度範囲に割り当てる階調数を多く
するためである。

第９図によれば１例えば■の特性に対しては、Ｒｐ−Δ
Ｒ≦Ｒ≦Ｒｐ なる反射率Ｒはｅ軸上ではａ＝１．０になる。またＲ＝
Ｒｄなる反射率は、■の特性ではｅ＝ｅｅＬｌ−■の特
性ではｅ＝ｅＬ２になる。

第１０図は第９図からＲ−ｅの関係を抜き出したもので
、図中矢印Ａは第９図の矢印Ａに対応している。また■
′の特性は第９図の■に、■′は第９図の■にそれぞれ
対応している。

第１１図は第９図の特性に関し、Ｒ軸にあってはＲ＝大
（白い側）を左側に、Ｒ＝小（黒い側）を右側に表した
ものであり、またｅ軸は６４階調数を単位として階調０
を白側に１階調６４を黒画１；それぞれ対応させている
。すなわち、Ｒ＝０．９なる白に対する６ビツトのデー
タｅは。

ｅ＝ＯＯ００００（バイナリ） となる。なお、第１１図でもＲＰ、■“、■′はそれぞ
れ第９図のＲｐ、（９、■に、またＡは第９図のＡに対
応している。

肱釆 以上、本発明によるシェーディング補正方式にあっては
、簡単な手段により高速でのシェーディング補正を精度
良く行なわせることができるとともに、何ら別処理によ
ることなくガンマ補正をも同時に行なわせることができ
るという優れた利点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するための構成例を示すブロック図、第２図はラ
インイメージセンサによる原稿の読取データにおけるシ
ェーディング状態を示す特性図、第３図は同実施例にお
ける増幅器および第１のピークホールド回路の具体的な
構成例を示す回路図、第４図は同実施例におけるＡＤ変
換器および第２のピークホールド回路の具体的な構成例
を示す回路図、第５図は同実施例におけるＲ　Ａ　Ｍお
よびＲＯＭ部分の回路構成図、第６図は同実施例におけ
るシェーディング情報の６ビツトのバイナリコード表を
示す表図、第７図（ａ）は増幅器ゲイン＝初期値とした
ときの基準白色面走査時の増幅器出力特性図、同図（ｂ
）はゲイン調整後におけろ増幅器出力特性図、同＠””
　（’　ｃ　）はシェーディング情報の特性図、同図（
ｄ）は原稿走査時の増幅器出力特性図、第８図は原稿走
査時のＡＤ変換器の出力特性図、第９図は原稿の反射率
に対する各信号の特性図、第１０図は原稿の反射率に対
する正規化されたシェーディング補正信号の特性図。 第１１図は原稿の反射率に対する６４レベル化されたシ
ェーディング補正信号の特性図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、スキャナによる原稿の読取りに先かけて基準面を光
   走査したときのイメージセンサ出力信号に応じたピーク
   レベルによりイメージセンサ出力信号を増幅する増幅器
   のゲイン調整を行なわせる手段と、その増幅器のゲイン
   調整がなされた状態で基準面を光走査したときのイメー
   ジセンサ出力信号に応じたピークレベルによりＡＤ変換
   器の基準電圧を設定する手段と、そのＡＤ変換器の基準
   電圧が設定された状態で基準面を光走査したときのＡＤ
   変換器の出力信号をシェーディング情報として第１のメ
   モリに書き込ませる手段と、原稿面を光走査したときの
   ＡＤ変換器の出力信号と第１のメモリから読み出された
   シェーディング情報とにより予めシェーディング補正デ
   ータが格納された第２のメモリをアクセスして所定のシ
   ェーディング補正データを得る手段とをとるようにした
   シェーディング補正方式。 ２、スキャナによる原稿の読取りに先がけて基準面を光
   走査したときのイメージセンサ出力の増幅信号をＡＤ変
   換するＡＤ変換器の出力信号のピークレベルによりイメ
   ージセンサ出力信号を増幅する増幅器のゲイン調整を行
   なわせる手段と、その増幅器のゲイン調整がなされた状
   態で基準面を光走査したときの増幅信号のピークレベル
   によりＡＤ変換器の基準電圧を設定する手段と、そのＡ
   Ｄ変換器の基準電圧が設定された状態で基準面を光走査
   したときのＡＤ変換器の出力信号をシェーディング情報
   として第１のメモリに書き込ませる手段と、原稿面を光
   走査したときのＡＤ変換器の出力信号と第１のメモリか
   ら読み出されたシェーディング情報とにより予めシェー
   ディング補正データが格納された第２のメモリをアクセ
   スして所定のシェーディング補正データを得る手段とを
   とるようにしたシェーディング補正方式。