JPS6172475A - シエ−デイング補正方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 抜擢立夏 本発明は原稿面を光走査することにより画情報を画素単
位で読み取るスキャナに係り、特にその読み取られた画
情報のシェーディング補正を行なわせる方式に関する。

Ｌ！Ａ１４ｉ、＠Ｖ− 一般に、原稿面を光走査することにより画情報を画素１
１１位で読み取るスキャナにあっては、その光学系にお
ける光分布特性の不均一性またはＣＣＤなどからなるラ
インイメージセンサにおける各素子の感度のバラツキな
どに起因してイメージセンサの出力レベルが変動するい
わゆるシエーデイングが生じてしまうため、その出力レ
ベルを一定にするべくシェーディング補正を行なわせる
必要がある。

従来、この種のシェーディング補正としては、ラインイ
メージセンサに対応したメモリ容量をもった記憶部と、
そのイメージセンサのＡＤ変換出力と記憶部に格納され
ているデータとを比較してそのうちの大きい方の信号を
出力させる比較部とを設けて、記憶部に比較部からの比
較結果にもとづいて副走査方向について各イメージセン
サ素子ごとの最大出力値を格納するようにし、その記憶
部の蓄積データをアドレスとして補正用ＲＯＭから補正
信号を読み出して乗算器に与え、そこでイメージセンサ
のＡＤ変換出力と所定の乗算処理をなすことによりシェ
ーディング補正を行なわせるようにしている（特開昭５
９−２７６７５号公報参照）。

ぜ　　　　　　　しかしこのようなシェーディング補正
を行なわせるのでは、その精度を上げるためにはＡＤ変
換器の分解能すなわちビット数を増やす必要があるとと
もに１乗算器の入力ビツト数によってその出力精度が決
まるものとなってしまっている。特に乗算器が必要であ
るために高速での処理を行なわせることが困難なものと
なってしまっている６旦煎 本発明は以上の点を考慮してなされたもので。

簡単な手段をとることにより高速でのシェーディング補
正を精度良く行なわせることができるようにしたシェー
ディング補正方式を提供するものである。

劉」（ 本発明ではその目的を達成するため、シェーディング情
報が格納される第１のメモリと、その第１のメモリから
読み出されるデータと補正対象の読取データとの組合せ
に応じたアドレスによってアクセスされる第２のメモリ
とを設け、第２のメモリには第１のメモリからの読出デ
ータに関連づけられて補正対象の読取データが補正され
た場合に相当するデータを予め格納し、その第２のメモ
リから読み出されたデータを補正データとするようにし
たものである。

以下、添付図面を参照して本発明の一実施例について詳
述する。

第２図はシェーディングを説明するためのラインイメー
ジセンサにおけるＮ個のＣＯＤからなる主走査方向の出
力レベル特性を示すもので、シェーディングには主とし
て、■スキャナにおけるレンズ、光源の形状と照度分布
などの光学的バラツキによるもの、■光源の経時劣化、
温度特性による光源劣化によるもの、■ＣＣＵの感度の
バラツキの３つの要因がある。第２図との関係では、Ａ
またはＢ特性の曲線は前記■の要因によるものであり、
Ａ特性とＢ特性との差は前記■の要因によるものであり
、また曲線の拡大した凹凸は前記■の要因によるもので
ある。ここで、ｎ−３，ｎ−２、ｎ−１，ｎ、・・・は
ＣＣＤの配列順を示している。

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するための構成例を示すもので。

主走査方向にＣＣＤがライン状に配設されたラインイメ
ージセンサ１から時系列的に読み出される出力信号ａを
レベル増幅する増幅器２と、その必要レベルに増幅され
た信号すをデジタル信号Ｃに変換するＡＤ変換器３と、
そのＡＤ変換出力すなわち原稿の読取データＣに応じて
ピークホールドを行なってそのピークホールド信号ｆに
したかって増幅ＰｙＩ２のゲイン調整を行なわせるピー
クホールド回路４と、予め＃、準自白色面光走査するこ
とによって得られたシェーディング情報が書き込ま　　
　　゛れでおり、読取データＣにしたがって所定のシェ
ーディング情報ｄが読み出されるＲＡＭ５と、予めシェ
ーディング補正デ、−夕が格納されており、読取データ
Ｃとシェーディング情報ｄとの組合せに応じて所定のシ
ェーディング補正データｅが読み出されるＲＯＭ６と、
各部を所定のタイミングをもって制御する制御部７とに
よって構成されている。

このように構成されたものにあって、いま原稿の読取り
に先がけて例えば圧仮における基準白色面を光走査する
と第２図中Ａに示すような特性をもったシェーディング
情報が得られるのでそれをＲＡＭ５に書き込む。そして
副走査が進んで原稿の読取りが開始されるが、そのとき
の読取データＣを先のシェーディング情報で補正すると
きにＲＡＭ５から信号ｄとして読み出して使用する。ま
たその際、ピークホールド回路４はシェーディング情報
をＲＡＭ５に書き込む動作に先だってそれ以前の基準白
色面を光走査したときのピークレベルを検出し、そのレ
ベルを保持する。そのときのピークレベルに応じた出力
信号ｆにより増幅器２のゲインが調整され、シェーディ
ング中特に前記■の光学系のバラツキ分によるものを予
め粗い精度で補正するべく、例えばピーク検出時には第
２図中Ｂ特性に示すようなレベルにあってもそれが増幅
されたのちにはＡ特性に示すようなレベルになるように
ゲイン調整される。それによりＡＤ変換器３の入力レベ
ルが適正化され、変換精度が向、４ 上することになる。なお、その光学系のバラツキ分によ
るものを含めて精密なシェーディング補正は本発明によ
る本来のシェーディング補正によって行なわれることに
なる。このようにしてＡＤ変換器３の入力レベルの適正
化が行なわれると、増幅器２のゲインはその状態を保持
するように固定され、以後シェーディング情報の書込み
および原稿の画情報の読取りがその状態で行なわれる。

次いで、原稿の読取時にその読取データＣとＲＡＭ５か
ら読み出されたシェーディング情報ｄとによってＲＯＭ
６がアクセスされ、そのアドレスに応じて読取データＣ
とシェーディング情報ｄとの組合せに応じたシェーディ
ング補正データｅが適宜読み出される。以上各部のシー
ケンスおよびタイミング制御、副走査の制御などは制御
部７から出される信号群ｔにしたがって適宜なされるこ
とになる。なおピークレベルの検出はＡＤ変換出力のみ
ならず、ラインイメージセンサ１の出力信号ａまたは増
幅器２の出力信号すにおけるピークレベルを検出するよ
うにしてもよい。

本発明によるシェーディング方式の要点をシーケンス的
に列挙すると、以下のようになる。

（１）イメージセンサ出力を増幅する増幅器のゲインを
初期値に設定したうえで基準白色面を光走査し、そのと
き得られるイメージセンサ出力信号に応じたピーク値を
検出する。

（２）少なくともその基準白色面の主走査を１回行なわ
せて、その得られたピーク値にしたがって増幅器のゲイ
ン調整を行なう。

（３）その後基準白色面を少なくとも１回以上主走査方
向に光走査してそのとき得られるシェーディング情報を
ＲＡＭに書き込む。

（４）原稿読取時の各主走査ごとにそれと同期してＲＡ
Ｍからシェーディング情報を読み出し、その読み出され
たシェーディング情報と原稿面の読取データとの組合せ
に応じてＲＯＭをアクセスしてシェーディング補正デー
タを得る。

第３図は増幅器２およびピークホールド回路４の具体的
な植成例を示すもので、ここではデジタル論理構成によ
りピークを検出保持する方式をとるとともに、前述のよ
うに増幅器２のゲイン調整は粗い精度でよいのでＡＤ変
換出力６ビツトのうちの上位４ビツトの読取データをピ
ークホールド回路４にす、えるようにしている。

このように構成されたものにあって、まずコンパレータ
４１は新規入力信号Ｃとそれまでラッチ４３に保持して
いたピーク値ｃｐとを比較し、その結果にしたがってセ
レクタ４２のＳ端子にセレクト信号を与える。セレクタ
４２はそれに応じて新規入力（１号Ｃとそれまでのピー
クホールド値Ｃｐとの何れかをセレクトしてラッチ４３
に送出する。このときのセレクト条件としては、ｃ）ｃ
ｐならば信号Ｃをセレクトし、Ｃ≦ｃｐならば信号ｃｐ
をセレクトすることになる。それによりラッチ４３は、
新規人力信号Ｃがそれまでのピーク値ｃｐより゛も大き
いときにはそれを更新保持していく。以上の動作を主走
査ごとに順次くり返して行なわせ、その主走査ごとに検
出されるピーク値がラッチ４３に逐次更新されながら保
持されていく。

次に主走査ごとに検出されたピーク値がラッチ４４に転
送され、そのラッチ出力が増幅器２にゲイン調整信号ｆ
として与えられる。なお、各ラッチ４３．４４における
クロックｔ１、ｔ３およびりリア信号ｔ２、ｔ４は制御
部７から与えられることになる。またゲイン調整信号ｆ
は増幅器２の入力抵抗切換スイッチ（アナログスイッチ
）ＳＷＩ〜ＳＷ４の各スイッチング信号となり、それら
各スイッチＳＷＩ〜ＳＷ４のオン、オフ状態の組合せに
より演算増幅器２１の入力抵抗の切換えを行なわせる。

その際、ゲイン調整信号ｆは４ビツトなので１６通りに
入力抵抗値を変化させることができ、したがって演算増
幅器２１のゲインが１６段階に調整されることになる。

ここでは１６段階のゲインとして、Ｋ／１６、Ｋ／１５
、Ｋ／１４、・・・Ｋ／３．に／２、Ｋ／ｌとして設定
される。このときゲインはに／ｆ　（ｆは１６レベルフ
の関係となる。

また第４図はΔＤ変換器３の一構成例を示すもので、こ
こでは増幅器２の出力信号すを６ビツトのデジタル信号
Ｃに変換するようにしている。い、ｉ まりファレンス電圧をＶ　ｒ　＋、１１　ｒ−としてア
ナログ、デジタルの性質を無視して機能的に表現すると
、 ｃ　＝　　（ｂ　−（Ｖｒ　−）　　）　　／　　（（
Ｖｒ＋）　　　　（Ｖｒ　−））×６４　　　（レベル
） となる。ただし、Ｃ≦Ｖｒ−のときｃ＝１．ｃ≧Ｖ「＋
のときｃ＝６４　　（またはオーバフロー信号発生）で
ある。

また第４図で、アナ口「グスイッチＳＷ５は制御部７か
らの制御４３号Ｌ５にしたがってスイッチングされて、
シェーディング情報のＲＡＭ５への書込み期間中は制御
信号ｔ５によりリファレンス電圧Ｖｒ−がｖ２となり、
その他の期間中はリファレンス電圧Ｖｒ＋がＧＮＤに接
続されるようになっている。それは後述するように、シ
ェーディング情報書込時の猜度を上げる目的で行なうも
のである。

さらに第５図にＲＡＭ５およびＲＯＭ６部分の具体的な
一構成例を示している。

この構成にあって、まずシェーディング情報のＲＡＭ５
への書込時には基準白色面を光走査したときのラインイ
メージセンサ１の画素ごとの出力信号に応じたデータＣ
がＲＡＭ本体５１のＤｉｎ端子に人力される。その際、
画素単位による各データ入力ごとに制御部７から与えら
れるアドレス制御信号ｔ６によりＲＡＭ本体５１のアド
レッシングが行なわれる。同時にそれと同期して書込信
号ｔ７がＲＡＭ本体５１のＷＥ端子に与えられ。

それにより主走査方向における各画素単位によるシェー
ディング情報がＲＡＭ本体５１に書き込まれることにな
る。次いで、原稿の読取時における主走査方向の画素単
位による各読取データＣがＲＯＭ６に与えられるととも
に、その画素クロックに同期してアドレス制御信号ｔ６
によりＲＡＭ本体５１がアクセスされて先に芽き込まれ
たシェーディング情報ｄが読み出されてラッチ５２に一
時保持される。そのラッチ５２は、それにクロックｔ８
が与えら九、ＲＡＭ本体５１およびＲＯＭ　６にアクセ
スタイムの太きいものでも使用することができるように
必要に応じて設けられている。またこのラッチ５２を設
ける場合には、読取データＣとシェーディング情報ｄと
の同期をとるためにＲＡＭ本体５１におけるアクセスの
タイミングを制御するようにしている。

次に、原稿の読取データＣとＲＡＭ５がら読み出された
シェーディング情報ｄとで予めそれら各データの種々の
組合せに応じたシェーディング補正値が格納されたＲ　
ＯＭ　６がアドレッシングされ、それに応じてＲＯＭ６
から所定のシェーディング補正信号ｅが読み出される。

ここでは各データＣ１ｄともに６ビツト摺成がらなり、
ＲＯＭ６のアドレスＡＯ〜Ａｌｌのながで、読取データ
ＣをアドレスＡＯ〜Ａ５に対応させ、シェーディング情
報ｄをアドレス八６〜Ａ１．ｌに対応させるようにして
いる。なおこの実施例では、２０００個のｃｃＤを主走
査方向に配設させたラインイメージセンサ１を使用し、
ＲＡＭ５に２ＫＸ６ビツトの容量をもったものを、また
ＲＯＭ６に４ＫＸ５ビツトの容量をもったものをそれぞ
れ実用している。

次にシェーディング情１ｄの精度について、第６図とと
もに以下説明する。

第６図は主走査方向の各画素１〜Ｎに対する濃度レベル
の特性を示している。

いま増幅器２のゲインが初期値に設定すなわち各スイッ
チ５Ｗｌ−５Ｗ４が全てオフの状態になっているときに
はその増幅器２のゲインかに／１６て、その状態で基準
白色面を光走査したときの読取データをＢとする。その
読取データＢのピーク値をＢｐ、その最小値をＢｍとし
、例えばＢｐ＝２７、Ｂｍ＝　１８が得られたとする。

すなわち、この場合には読取データＢが１８〜１７の１
０レベルの範囲にあることになる。第７図に、１０進数
で表したレベルを６ビツ１−および４ビツトの各バイナ
リによるデジタル値で表現したときの対照表を示してい
る。第７図からＢｐ＝２７を６ビツトのデジタル値で表
すとＥｐ＝０１１０１０となり、またそのときのゲイン
調整４３号ｆはそのピーク値Ｂ　Ｉ）の上位４ビツトで
ｆ＝０１ｔｏ（レベル７）となり、したがってそのとき
の増幅器２のゲインはに／７に調整される。

、１１ 次いでシェーディング情報書込のための光走査を基準白
色面に対して行なったとき、増幅器２の入力信号ａのレ
ベルはゲイン調整のための光走査時と同じく第６図中の
Ｂ特性のようになる。厳密には、基準白色面の光反射率
のムラや電気系のノイズなどのために多少の差異が生ず
ることになる。

しかして、そのときの基準白色面の読取データ已に対し
てそれを増幅する増幅器２のゲインかに／７に設定され
ているため、そのときの増幅器２の出力信号すはＢＸＫ
／７となる。したがってＢｐ＝２７に対する増幅器出力
ＢＰ′は。

Ｂｐ’　＝ＢｐｘＫ／７＝２７に／７ となり、またＢｍ＝１５に対する増幅出力Ｂｍ’は、 Ｂ　ｍ　’　＝　Ｂ　ｍ　Ｘ　Ｋ　／　７　＝　１８　
Ｋ　／　７となる。Ｋの実際の値としてはに＝１６程度
に設定すればよい。それは第３図の構成にあって、入力
抵抗ＲＯ〜Ｒ４および帰還抵抗Ｒｆの各位を適宜選定す
ることにより達成される。またに＝１６゜程度に設定す
るのは、そのゲイン調整により例えば第６図中のＢ特性
がＡ特性のように補正（あるいは正規化と考えてもよい
）される場合に、Ｂｐ′が最高のレベル６４または６４
以下でそれに近いレベルになるように窟１図するもので
ある。例えば前述のＢｐ’、Ｂｍ’の各位では、 Ｂｐ’　＝２７に／７＝ｉ＝６１．７ Ｂｍ’　＝１８に／７中４１．１ となる。

したがって、増幅器２のゲインが初期値での第６図中の
Ｂ特性で示す入力信号Ｂのピークホールド値ＢＰによっ
てそのゲイン調整をなすことにより、以後図中Ｂ特性で
示す入力信号に対する増幅出力はＡ特性のように補正さ
れることになる。

なお第６図の場合に限らず１例えばＢＰ＝４０の場合に
は、Ｂｐ＝１００１１１、ｆ＝１００１（レベル１０）
となり、したがってこの場合にはＢｐ’　＝ＢｐＸＫ／
ｆ＝６４となるととｔｕ：、増幅器２のゲインかに／ｆ
＝１６／１０に調整される。

このようにピークホールド値Ｂｐに応じて増幅器２のゲ
インが調整され、その増幅出力ＢＰ′は６４またはそれ
以下で６４に近いレベルに補正される。

しかして、第６図に示すように、Ｂ特性をもった入力信
号がＡ特性のように補正されることにより、レベルの分
解能が向上することになる。すなわち、Ｂ特性の場合に
はＢｐ−８ｍ＋１＝１０レベル、Ａ特性の場合にはＢ　
ｐ’　−Ｂｍ’　＋　１　＝２２レベルとなり、分解能
が１０レベルから２２レベルに向上する。ただし、この
場合における分解能はＡＤ変換器３において６ビツトす
なわち６４レベルにデジタル化したレベルで考えている
。

次に、シェーディング情報書込時における分解能の向上
について以下説明する。

前述したようにＡＤ変換器３におけるリファレンス電圧
Ｖｒ＋、Ｖｒ−は、（Ｖｒ＋）＝Ｖ１、（Ｖ　ｒ　−）
　＝Ｖ　２で設定される。ｖｌは第６図に示す関係でＶ
　２　＜　Ｂ　ｍ　’　を満足する適当な値であり、こ
こでは光源の劣化、光学系またはＣＣＤのバラツキなど
によるシェーディングが規定の範囲内のときに第６図中
のＡ特性におけるＢｍ’　のとり得る最小値より小さい
値に選ばれており、ｖ２＝Ｖ１／２の関係になっている
。すなわち、第６図におけるｙ軸の関係からいえば、Ｖ
１＝６４レベル、Ｖ２＝３２レベルとなる。

このｖｌ、ｖ２に対するＡＤ変換ｒｆＩ３の出力レベル
を図示すると第６図中に示すｖｌ軸のようになる。すな
わち、ｙ軸での３２〜６４間における３２レベル分を１
〜６４のレベルで表現したことになる。ここで。

ｙ　１　＝２　ｙ−６４（３２＜ｙ≦６４）ｙｌ＝１（
ｙ≦３２） ｙｌ＝６４またはオーバフロー（Ｙ＞６４）となる。

このように（Ｖｒ−）＝Ｖ２＝Ｖ１／２の関係にするこ
とにより、ｙ軸上での３２レベル分がｙｌ軸上では６４
レベルになり、このことは分解能が２倍に向上したこと
を示している。別の観点からみれば、同じ６ビツトでも
バイナリ表現すれば、ａ　　　　　　　ｙ軸上で１よ１
０００００〜１１１１１１の３２レベル、ｙｌ軸上では
ｏｏｏｏｏｏ〜１１１１１１の６４レベルでＡ特性が表
されることになり、ｙ軸上では６ビツトの中で５ビツト
分しか分解能に寄与しないのに対して、ｙｌ軸上では６
ビツト分を全て用いるでいることになる。

いま例えば、第６図でＢｐ’　　（ｙ＝６１．７）をｙ
１座標であられせば。

Ｂｐ’　　（ｙＬ）＝２Ｘ６１．７−６４＝５９．４と
なり、また Ｂｍ’　　（ｙ　１）＝２Ｘ４　Ｌ、１−６４＝１８．
２となり、したがって Ｂｐ’　　（ｙｌ、）−Ｂｍ’　　（ｙｌ）＋１：４２
となる。

すなわち、第６図に示すＢ特性ではＢ　ｐ　−Ｂ　ｍ＋
１＝１０レベルであったものが、Ａ特性に補正されるこ
とによりＢｐ’　−Ｂｍ’　＋１年２ルベルに分解能が
上がり、さらにｖｌ軸によるＡＤ変換により４２レベル
にまで分解能が上がっている。

第６図に示すｙ２軸は、ｖｌ軸でのレベル１〜６４に相
当する分解能を得るべく、すなわちリファレンス電圧Ｖ
ｒ−をＧＮＤにおとしたままでＡＤ変換を行なせる際に
ｖｌ軸と同等の分解能を得るためにＡＤ変換器３の分解
能を１２８レベルすなわち７ビツトを要することを示し
ている。

さらに、仮にＢ特性をＡ特性に補正するような増幅器２
のゲイン調整を行なわず、Ｂ特性のままでシェーディン
グ情報の訃込みを行なわせる際にｖｌ軸と同等の分解能
を得るためには、Ｙ２軸の場合よりも多い例えば８ビツ
ト（２５６レベル）以上のレベルが必要となる。またそ
の際、ビット数を増した場合にＩＬＳＢ当りのＳＮ比が
劣化するという問題も生ずる。しかして本発明では、前
述のようにＡＤ変換器３のビット数を多くすることなく
高い分解能でシェーディング情報の取込みを行なわせる
ことができるようにしている。

このように、シェーディング情報書込時にＡＤ変換器３
におけるリファレンス電圧Ｖｒ−を制御することによっ
てその分解能を向上させることができるようになる。そ
の場合、　　（Ｖ　ｒ　−）　＝Ｖ　２＝Ｖ１／２の関
係はシェーディング情報書込時のみであり、原稿の読取
時にはＶｒ−はＧＮＤに接続されることになる。

次に、原稿の読取時にその読取データＣとシェーディン
グ情報ｄとによりＲＯＭ６がアクセスされて所定のシェ
ーディング補正データｅが得られる過程について以下説
明する。

第５図において、原稿の読取データＣは６ビツトからな
っており、そのデータをＤｃとする。またシェーディン
グ情報ｄは６ビツトで第６図のｙｌ軸に対応しており、
そのデータをｏｙｔとする。

またそのデータＤｙ１に相当するｙ２軸上でのレベルを
Ｄ７２とする。さらにＤｃ＝（ｄｃ５、ｄｃ４、−＝、
　ｄ　ｃ　Ｏ）　　（ｄ　ｃ　５＝ＭＳＢ）　−Ｄｙ　
１”　（ｄｙ５．ｄｙ４、・・・、ｄｙｏ）（ｄｙ５＝
ＭＳＢ）の各ピッ１−と、ＲＯＭ６におけるアドレスＡ
Ｏ〜Ａｌｌとの対応を下記のようにする。

ｄｃｏ＝Ａ。

ｄｅｌ＝＝ＡＩ ｄ　ｃ　５　”　Ａ　５ ｄｙｏ＝Ａ７ ｄｙｌ＝Ａ７ ｄｙ５＝Ａ１１ この対応を以下アドレス（Ｄｙｌ、Ｄｃ）と表現する。

またＲＯＭ６に格納されているシェーディング補正デー
タをＤｅとする。

以上において、アドレス（Ｄｙｌ、ＤＣ）のＲＯＭ６に
おけるデータＤｅは。

Ｄｅ＝（ＤｃＸ１２８／Ｄｙ２）　　（ランク）なる計
算式によって計算した結果がＲＯＭ６に格納されている
。ここでデータＤａは６ビノト構成とした。またアドレ
スとして与えられるデータＤＣは６ビツトであるが、上
記計算に使用するＤｃとしては６ビツトである必要はな
い。さらにその計算式におけるＤｙ２および１２８の数
も何ビットで表現されるべきかの制約はない。すなわち
。

その計算式における各要素およびその計算結果は高い精
度、例えば８ビツト＋８ビツト＝１６ビツトの表現とい
うように、必要な精度またはビット、− 数で計算し、その結果のなかから上位６ビツトをデータ
ＤｅとしてＲＯＭ６に格納するようにしている。その際
７ビツト目以下の下位ビットにあっては、ある一定数以
上では切り上げ、未満は切り捨てるようにしている。

例えば、第６図でＢｐ′をｙ２軸で表現すると、ｙ２＝
２７ により。

ＢＰ’　　（ｙ　２）＝２Ｘ６１．７＝１２３．４とな
る。

いまＢｐ′になる主走査方向の位置をＮｐとし。

原稿の読取時にそのＮｐの位置での読取データが例えば
Ｄｃ＝３８レベルであったとき、ＲＯＭ６のアドレスと
そのときの読出データＤｅを考えてみる。

まずＲＯＭ６のアドレス（Ｄｙｌ、ＤＣ）としては、 Ｄｙ１＝５！１．４　　（レベル）÷１１１０１０Ｄｃ
＝３８（レベル）’＝１００１０１となり、したがって
アドレス１１１０１０１００１０１　＝　（ＥＣ５）Ｈ
となるにこで（ＥＣ５）Ｈは１６進表現である。

すなわち、ＮｐでＤｃ＝３８のときはＲＯＭ６における
アドレス（Ｅ　Ｃ５）Ｈがアクセスされる。

そのアドレス（ＥＣ５））４に対応するＲＯＭ６の内容
Ｄｅは、 Ｄｅ＝ＤｃＸ１２８／Ｄｙ２ であり、かつＤｃ＝３８．Ｄｙ２＝１２３．４であるた
め、 Ｄｅ＝３８Ｘｔ２８／１２３．４：３９　　（レベル）
＝１００１１０　　（バイナリ６ビツト）となる。

逆にいえば、ＲＯＭ６のアドレス（ＥＣ５）Ｈに予めデ
ータ１００１１０を書き込んでおけばよい。

このように本発明によるシェーディング補正方式によれ
ば、第６図の関係にあってＢ特性がＡ特性になるように
増幅器２のゲインを設定することにより、またｙｔ軸の
導入によりシェーディング情報の分解能を有効に向上さ
せることができるようになり、さらにＲＯＭ６に格納す
るデータとしてそれを予め計算により求めた精度の高い
ものとすることができるために、ＡＤ変換３の分解能（
ビット数）が少なくても高精度によるシェーディング補
正を行なわせることができるようになる。

また本発明にあっては、前述したシェーディング補正方
式の実施に際して任意の濃度特性をもったシェーディン
グ補正データＤａを得ることができるようになる。

以下、それにつき説明する。

第８図（、、）、（１））、（ｃ）は種々の濃度変換特
性（ガンマ特性）の例をそれぞれ示すもので。

原稿の読取られた人力濃度レベルに対する出方濃度レベ
ルの対応を示している。

いま原稿の読取データＤＣの関数をＦ　（Ｄａ）とし、
ＲＯＭ６におけるアドレス（Ｄｙ　１．Ｄｃ）の内容と
して。

Ｄ　ｅ　＝　Ｆ　（Ｄ　ｃ　）　Ｘ　ｌ　２８　／　Ｄ
　ｙ　２とすることを考えてみる。

ここでＦ　（ＤＣ）＝Ｄｃであれば、そのときのＤｅの
内容は前述したシェーディング補正時におけるＲＯＭ６
のデータ内容と同じであり、その場合における濃度特性
は第８図（ａ）に示すように直線状になる。その際、Ｆ
　（ＤＣ）＝ｋ　１・Ｄｃとすれば（ｋｌは定数）、同
図（ａ）の特性でに■は直線の傾きを与えることになる
。また、例えばＦ　（Ｄｃ）＝ｋ　２　・ＤＣ２とすれ
ば（ｋ２は定数）、第８図（ｃ）に示す２乗形の濃度特
性を得ることかできるようになる。すなわち、Ｆ　（Ｄ
Ｃ）なる関数に対して上式でＤｅを計算してその結果を
ＲＯＭ６に格納するようにすれば任意の濃度特性をもっ
たシェーディング補正データＤｅが得られることになる
。

いま、原稿のカラー画像の読取りを行なわせる場合につ
いて以下説明をする。

第９図はラインイメージセンサ−′における各ＣＣＤセ
ンサ部の配列を示しており、各センサ部は主走査方向に
Ｒ，Ｇ、Ｂの順に並んでいる。ここて、Ｒは赤色に、Ｇ
は緑色に、Ｂは青色にそれぞれ感度をもつセンサ部で、
このような各センサ、Ａ 部は例えばＣＣＤの受光面に各色フィルタをそれぞれ配
することにより得られる。これら１１　Ｇ、Ｂの各セン
サ部の色フィルタを含む分光感度特性は第１０図に示す
ようになる。

しかして原稿のカラー画像の読取りをなすスキャナ側に
各色の分光感度が異なる性質があり、またその読み取ら
れたデータにもとずいてカラー画像の記録を行なわせる
プリンタ側にあってもインクや１−ナーなどに各色に特
有の分光特性を有している。したがって、記録時に色再
現性を良くする観点からしてＲ，Ｇ、Ｂに分解された各
色のデータに対してそれぞれ異なるガンマ補正をそれぞ
れ行なわせる必要がある。それは例えば第８図（ａ）に
おける直線の傾きをＲ，Ｇ、Ｂごとに異ならせることで
ある。

第１１図はＲ，Ｇ、Ｂ各色のデータごとに処理するため
の具体的な溝底例を示すもので、Ｒデータ分用のＲＯＭ
６１．Ｇデータ分用のＲＯＭ６２、Ｂデータ分用のＲＯ
Ｍ６３および３進カウンタ８からなっている。また３進
カウンタ８は、制御部からのグロックｔ５をカウントし
、各ＲＯＭ６１〜６３にそれぞれチップセレクト信号３
ｒｒ１．　３ｍ＋１．３ｍ＋２　　（ｍ＝ｏ、１．２．
−）　　を発生し、また制御部からのクリア信号ｔｌｏ
によりリセットされるようになっている。ここで、ＲＯ
Ｍ６１〜６３およびＤｃ、Ｄｙｌは第５図におけるもの
に対応している。

このように構成されたものにあって、いまラインイメー
ジセンサ１′の主走査方向における各センサ部の配列が
第９図に示すような場合、３進カウンタ８から出される
チップセレクト信号３ｍに応じて原稿の読取データＤＣ
およびシェーディング情報Ｄｙｌの中からＲデータ分の
みがＲＯＭ６１にそれぞれ読み込まれ、同じくチップセ
レクト信号３ｍ＋１に応じて原稿の読取データＤＣおよ
びシェーディング情報Ｄｙｌの中からＧデータ分のみが
ＲＯＭ　６２にそれぞれ読み込まれ、チップセレクト信
号３ｍ＋２に応じて原稿の読取データＤｃおよびシェー
ディング情報ｏｙｔの中からＢデータ分のみがＲＯＭ６
３にそれぞれ読み込まれることになる。

しかして各ＲＯＭ６１〜６３には、それぞれ特有のガン
マ浦正特性ｔｔ　イｆする下記式にしたがう泪算結果に
よるデータを多め格納するようにしておけば、シェーデ
ィング補正のみならず所定にガンマ補正された処理デー
タＤａ　（Ｒ）、Ｄｅ　（Ｇ）、Ｄｅ　（Ｂ）がそれぞ
れ得られることになる。

Ｄ　ｅ　＝　Ｆ　（Ｄ　ｃ　）　Ｘ　ｋ　／　Ｄ　ｙ　
１　　（ｋは定数）なお、原稿のカラー画像を色分解し
て読み取る際、前述のようにＲ，Ｇ、Ｂの順にセンサを
配列させることなく、その他に例えば主走査ラインごと
に赤色フィル′り、緑色フィルタ、青色フィルタをそれ
ぞれ介した３回のスキャンをなして色分解するような手
段をとることも可能で、そのような場合には第１１図の
３進カウンタ８の代わりに各色フィルタでのスキャンご
とに各ＲＯＭ６１〜６３を順次選択することができるよ
うな例えばデコーダなどを設けるようにすればよい。

またカラー画像の場合に限らず一般的に複数のＲＯＭ６
１−６ｍを設け、各ＲＯＭの出力Ｄｅｌ、ＤＣ２、・・
・、Ｄｅｍと原稿の読取データＤｃ、ＲＡＭ５の出力デ
ータＤＹからなる各アドレスとの関係が、 Ｄｅ　　ｌ＝ｋ　　ｌ　　・　Ｆ　ｌ　　（ＤＣ）／Ｇ
ｌ　　（Ｄｙ）Ｄｅ　２＝ｋ　２　　・　Ｆ２　　（Ｄ
ａ）／Ｇ２　　（Ｄｙ）Ｄｅｍ＝ｋｍ　−Ｆｍ　　（Ｄ
Ｃ）／Ｇｍ　　（Ｄｙ）となるようにし、それら各出力
Ｄｅｌ〜Ｄｅｍのなかから何れかを選択するようにすれ
ばよい。ここでｋｌ〜ｋｍは定数、　　Ｆ　１　　（Ｄ
ａ）　〜Ｆｍ　（ＤＯ）はＤＣの関数、Ｇｌ　　（Ｄｙ
）　〜Ｇｍ　（Ｄｙ）はｏｙの関数をそれぞれ示してい
る。なお、前述のカラー画像の場合にはｍ＝３で、ｋｌ
＝に２＝に３＝に、Ｆｌ　　（ＤＣ）＝Ｆ２　（ＤＣ）
＝Ｆ３（ＤＣ）＝Ｆ　（Ｄｃ）、Ｇｌ　　（Ｄｙ）＝Ｇ
２　（Ｄｙ）＝０３　’（Ｄｙ）＝Ｄｙ　ｌの場合を示
している。

羞未 以上、本発明によるシェーディング補正方式にあっては
、簡単な手段により高速でのシエーデイ、ｔｌ ング補正を精度良く行なわせることができるとともに、
何ら別処理によることなくガンマ補正をも同時に行なわ
せることができるという優れた利点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するだめの構成例を示すブロック図、第２図はラ
インイメージセンサによる原稿の読取データにおけるシ
ェーディング状態を示す特性図、第３図は同実施例にお
ける増幅器およびピークホールド回路の具体的な構成例
を示す回路図。 第４図は同実施例におけるＡＤ変換器の具体的な構成例
を示す回路図、第５図は同実施例におけるＲＡＭおよび
ＲＯＭの具体的な構成例を示す回路図、第６図は同実施
例におけるＡＤ変換出力の出力レベル状態を示す特性図
、第７図は１０進法で表したレベルを６ビツトおよび４
ビツトの各バイナリコードを表したときの対照表を示す
表図、第８図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は種々の濃度変換
特性（ガンマ特性）の例をそれぞれ示す特性図、第９図
はラインイメージセンサにおける各センサ部の配列を示
す図、第１０図はＲ−Ｇ、Ｂの各センサ部の色フィルタ
を含む分光感度特性を示す図、第１１図はＲ，Ｇ、Ｂ各
色のデータごとにシェーディング補正およびガンマ補正
を行なわせるための具体的な構成例を示すブロック図で
ある。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、シェーディング情報が格納される第１のメモリと、
   その第１のメモリから読み出されるデータと色分離され
   た補正対象の各読取データとの組合せに応じたアドレス
   によってそれぞれアクセスされる第２の複数のメモリと
   を有し、第２の各メモリには第１のメモリからの読出デ
   ータに関連づけられて色分離された補正対象の読取デー
   タが補正された場合に相当するデータを予め格納し、そ
   の第２の各メモリから読み出されたデータを補正データ
   とするようにしたシェーディング補正方式。 ２、第１のメモリがＲＡＭであり、第２の各メモリがＲ
   ＯＭであることを特徴とする前記第１項の記載によるシ
   ェーディング補正方式。 ３、第１のメモリから読み出されるデータＤｓの関数Ｆ
   （Ｄｓ）と、色分離された補正対象の各読取データＤｒ
   の関数Ｆ（Ｄｒ）とに対して、第２の各メモリから読み
   出されるデータＤｏが、Ｄｏ＝Ｋ・Ｆ（Ｄｒ）／Ｆ（Ｄ
   ｒ） （Ｋは定数）であることを特徴とする前記第１項または
   第２項の記載によるシェーディング補正方式。