JPS6173478A - シエ−デイング補正方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 弦生分互 本発明は原稿面を光走査することにより画情報を画素単
位で読み取るスキャナに係り、特にその読み取られた画
情報のシェーディング補正を行なわせる方式に関する。

皿米肢生 一般に、原稿面を光走査することにより画情報を画素単
位で読み取るスキャナにあっては、その光学系における
光分布特性の不均一性またはＣＣＤなどからなるライン
イメージセンサにおける各素子の感度のバラツキなどに
起因してイメージセンサの出力レベルが変動するいわゆ
るシェーディングが生じてしまうため、その出力レベル
を一定にする入くシェーディング補正を行なわせる必要
がある。

従来、この種のシェーディング補正としては。

ライン“イメージセンサに対応したメモリ容量をもった
記憶部と、そのイメージセンサのＡＤ変換出力と記憶部
に格納されているデータとを比較してそのうちの大きい
方の信号を出力させる比較部とを設けて、記憶部に比較
部からの比較結果にもとづいて副走査方向について各イ
メージセンサ素子ごとの最大出力値を格納するようにし
、その記憶部の蓄積データをアドレスとして補正用ＲＯ
Ｍから補正信号を読み出して乗算器に与え、そこでイメ
ージセンサのＡＤ変換出力と所定の乗算処理をなすこと
によりシェーディング補正を行なわせるようにしている
（特開昭５９−２７６７５号公報参照）。

しかしこのようなシェーディング補正を行なわせるので
は、その精度を上げるためにはＡＤ変換器の分解能すな
わちビット数を増やす必要があるとともに、乗算器の入
力ビツト数によってその出力精度が決まるものとなって
しまっている。特に乗算器が必要であるために高速での
処理を行なわせることが困難なものとなってしまってい
る。

１修 本発明は以上の点を考慮してなされたもので。

簡単な手段をとることにより高速でのシェーディング補
正を精度良く行なわせることができるようにしたシェー
ディング補正方式を提供するものである。

購］夏 本発明ではその目的を達成するため、シェーディング情
報が格納される第１のメモリと、その第１のメモリから
読み出されるデータと補正対象の読取データとの組合せ
に応じたアドレスによってアクセスされる第２のメモリ
とを設け、第２のメモリには第１のメモリからの読出デ
ータに関連づけられて補正対象の読取データが補正され
た場合に相当するデータを予め格納し、その第２のメモ
リから読み出されたデータを補正データとするようにし
たものである。

以下、添付図面を参照して本発明の一実施例について詳
述する。

第２図はシェーディングを説明するためのラインイメー
ジセンサにおけるＮ個のＣＣＤからなる主走査方向の出
力レベル特性を示すもので、シェーディングには主とし
て、■スキャナにおけるレンズ、光源の形状と照度分布
などの光学的バラツキによるもの、■光源の経時劣化、
温度特性による光源劣化によるもの、■ＣＯＤの感度の
バラツキの３つの要因がある。第２図との関係では、Ａ
またはＢ特性の曲線は前記■の要因によるものであり、
Ａ特性とＢ特性との差は前記■の要因によるものであり
、また曲線の拡大した凹凸は前記■の要因によるもので
ある。ここで、ｎ−３，ｎ−２、ｎ−１，ｎ、・・・は
ＣＣＤの配列順を示している。

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するための構成例を示すもので、主走査方向にＣ
ＣＤがライン状に配設されたラインイメージセンサｌか
ら時系列的に読み出される出力（ａ号ａをレベル増幅す
る増幅器２と、その必要レベルに増幅された信号すをデ
ジタル信号Ｃに変換するＡＤ変換器３と、そのＡＤ変換
出力すなわち原稿の読取データＣに応じてピークホール
ドを行なってそのピークホールド信号ｆにしたがって増
幅器２のゲイン調整を行なわせる第１のピークホールド
回路４と、増幅器２の出力信号すのピークホールドを行
なってそのピークホールド信号ｇをＡＤ変換器３におけ
る基準電圧として設定させる第２のピークホールド回路
５と、予め基準白色面を光走査することによって得られ
たシェーディング情報が書き込まれており、読取データ
Ｃにしたがって所定のシェーディング情報ｄが読み出さ
れるＲＡＭ６と、予めシェーディング補正データが格納
されており、読取データＣとシェーディング情報ｄとの
組合せに応じて所定のシェーディング補正データｅが読
み出されるＲＯＭ７と、各部を所定のタイミングをもっ
て制御する制御部８とによって構成されている。

このように構成されたものにあって、いま原稿の読取り
に先がけて例えば圧仮における基準白色面を光走査する
と第２図中Ａに示すような特性をもったシェーディング
情報が得られるのでそれをＲＡＭ６に書き込む。そして
副走査が進んで原稿の読取りが開始されるが、そのとき
の読取データＣを先のシェーディング情報で補正すると
きにＲＡＭ６から信号ｄとして読み出して使用する。ま
たその際、ピークホールド回路４はシェーディング情報
をＲＡＭ５に書き込む動作に先だってそれ以前の基準白
色面を光走査したときのピークレベルを噴出し、そのレ
ベルを保持する。そのときのピークレベルに応じた出力
信号ｆにより増幅器２のゲインが調整され、シェーディ
ング中特に前記くＤの光学系のバラツキ分によるものを
予め粗い精度で補正するべく、例えばピーク検出時には
第２図中８特性に示すようなレベルにあってもそれが増
幅さ九たのちにはＡ特性に示すようなレベルになるよう
にゲイン調整される。それによりＡＤ変換Ｆ！５３の入
力レベルが適正化され、変換精度が向上することになる
。なお、その光学系のバラツキ分によるものを含めて精
密なシェーディング補正は本発明による本来のシェーデ
ィング補正によって行なわれることになる。このように
してＡＤ変換器３の入力レベルの適正化が行なわれると
、増幅器２のゲインはその状態を保持するように固定さ
れ、以後シェーディング情報の書込みおよび原稿の画情
報の読取りがその状態で行なわれる。またその増幅器２
のゲイン調整がなされた状態で基準白色面を光走査した
ときのピークレベルがピークホールド回路５により検出
され、そのピークホールド信号ｇによりＡＤ変換器３の
基準電圧が設定される。次いで、原稿の読取時にその読
取データＣとＲＡＭ６から読み出されたシェーディング
情報ｄとによってＲＯＭ７がアクセスされ、そのアドレ
スに応じて読取データＣとシェーディング情報ｄとの組
合せに応じたシェーディング補正データｅが適宜読み出
される。以上各部のシーケンスおよびタイミング制御、
副走査の制御などは制御部８から出される信号群ｔにし
たがって適宜なされることになる。

本発明によるシェーディング方式の要点をシーケンス的
に列挙すると、以下のようになる。

（１）イメージセンサ出力を増幅する増幅器のゲインを
一初期値に設定したうえで基準白色面を主走査方向に光
走査し、そのとき得られるＡＤ変換器の出力信号のピー
ク値を検出し、その得られたピーク値にしたがって増幅
器のゲイン調整を行なう。

（２）その後少なくとも基準白色面の主走査方向の光走
査を１回行なわせて、そのとき得られる増幅器の出力信
号のピーク値を検出し、その得られたピーク値にしたが
ってＡＤ変換器の基Ｐｉ電圧を設定する。

（３）その後基準白色面を少なくとも１回以上主走査方
向に光走査してそのとき得られるシェーディング情報を
ＲＡＭに沓き込む。

（４）原稿読取時の各主走査ごとにそれと同期してＲＡ
Ｍからシェーディング情報を読み出し、その読み出され
たシェーディング情報と原稿面の読取データとの組合せ
に応じてＲＯＭをアクセスしてシェーディング補正デー
タを得る。

第３図は増幅器２およびピークホールド回路４の具体的
な構成例を示すもので、ここではデジタル論理ｈη成に
よりピーク値を検出保持する方式をとるとともに、前述
のように増幅器２のゲイン調整は粗い精度でよいのでＡ
Ｄ変換出力６ビノトのうちの上位４ビツトの読取データ
をピークホールド回路４に与えてその回路構成の簡素化
を図るようにしている。

このように構成されたものにあって、まずコンパレータ
４１は新規入力信号Ｃとそれまでラッチ４３に保持して
いたピーク値Ｃｐとを比較し、その結果にしたがってセ
レクタ４２のＳ端子にセレクト信号を与える。セレクタ
４２はそれに応して新規入力信号Ｃとそれまでのピーク
ホールド値ＣＰとの何れかをセレクトしてラッチ４３に
送出するにのときのセレクト条件としては、ｃ＞ｃｐな
らば（３号Ｃをセレクトし、Ｃ≦ｃｐならば信号Ｃｐを
セレクトすることになる。それによりラッチ４３は、新
規入力信号Ｃがそれまでのピーク値ｃｐよりも太きいと
きにはそれを更新保持していく６以上の動作を主走査ご
とに順次くり返して行なわせ、その主走査ごとに検出さ
れるピーク値がランチ４３に逐次更新されなから保持さ
れていく。

次に主走査ごとに検出されたピーク値がラッチ４４に転
送され、そのラッチ出力が増幅器２にゲイン調整信号ｆ
として与えられる。なお、各ラッチ４３．４４における
クロックｔ１．ｔ３およびクリア信号ｔ２、ｔ４は制御
部７から与えられることになる。またゲイン調整信号ｆ
は増幅器２のフィードバンク抵抗の切換スイッチ（アナ
ログスイッチ）ＳＷＩ〜ＳＷ４の各スイッチング信号と
なり、それら各スイッチＳＷ１〜ＳＷ４のオン、オフ状
態の組合せにより演算増幅器２１のフィードバック抵抗
の切換えを行なわせる。その際５ゲイン調整債号ｆは４
ビツトなので１６通りにフィードバック抵抗値を変化さ
せることができ、したがって演算増幅器２１のゲインＧ
ａが。

Ｇ　ａ　＝　１　＋　Ｒｆ　／　Ｒ２ （ＲＥはフィードバック抵抗Ｒ３〜Ｒ７の終成抵抗値）
なので１６段階に調整されることになる。

いま増幅器２のゲインＧａを４ビット＝１６通りのゲイ
ン調整信号ｆとの関係で、 Ｇａ与ｈｌ／ｆ（ｈｌは定数） とすることにより、基準白色面を光走査したときの増幅
器２の出力信号すのピーク値ｂｐ５をほぼ一定にするこ
とができるようになる。すなわちゲイン初期値での各信
号ａ、ｂ、ｃをそれぞれａ　。

ｂｏ、ｃ、、そのピーク値をａ、ｙ　、ｂｏ、　、　　
ｃ、ｒ　とし、さらにそのときの信号ｆをｆｏとすると
。

ｆ、＝ｃ、、　＝　ｂｏＰ＝　Ｇ　ａ　ｏｏａ、Ｐ（Ｇ
ａｏはゲイン初期値）となる。

次にその信号ｆ　により新たに設定されるゲインＧａｌ
は、 Ｇａｌ：ｈｌ／ｆ。

となり、このゲイン状態で信号ａ０？に対する各信号ｂ
ｒ　、　ｃｒは。

ＣＦ　＝　ｂｙ　＝　Ｇ　ａ　ｌ　・ａｏＰΦｈｔ／ｆ
ａ’ａｏｙ ＝　ｈ　　ｌ　／　Ｇ　ａ　　。

となる。すなわち、８６Ｆｌの大きさに係わらず、ゲイ
ンＩＩＩ！１後にはａ。Ｐに対するｂｏｐおよびＣＯＰ
はほぼ一定値ｈ　１　／　Ｇ　ａ　ｏになる。したがっ
て。

ＧａΦｈｌ／ｆら１＋Ｆｆ／Ｒ２ を満足するように抵抗Ｒ２〜Ｒ７を設定すればよし１１
１ また第４図はＡＤ変換器３およびピークホールド回路５
部分の一構成例を示すもので、ここではΔＤ変換器３に
より増幅器２の出力信号すを６ビツトのデジタル信号Ｃ
に変換するようにしている。

またピークホールド回路５はコンパレータ５１および演
算増幅器５２からなっている。

いまΔＤ変換器３における上、下限のリファレンス電圧
をＶ　ｒ　＋、Ｖ「−とすると。

ｃ＝６４Ｘｂ／　（（Ｖｒ＋）　　　（Ｖｒ　　））レ
ベルとなる。ここで、 ０　＜　ｃ　＜　１のとき　　Ｃ＝００００００■≦ｃ
　＜　２のとき　　Ｃ＝０００００１２≦ｃ　＜　３の
とき　　ｃ＝００００１０６３≦ｃく６４のときｃ＝１
１１１１１６４≦Ｃのとき　　　ｅ＝１１１１１１およ
びオーバフロー信号発生 となる。

またアナログスイッチＳＷ５は制御部８からの制御信号
ｔ５にしたがってスイッチングされて、Ｖｒ＋がｖｌま
たはｇｌまたはｇ２に切り換えられるようになっている
。いま増幅器２のゲインを初期値に設定して基準白色面
を光走査するときには（Ｖｒ＋）＝Ｖｌに、また原稿の
読取時には（Ｖｒ＋）＝ｇｌまたはｇ２となるようにそ
れぞれ切り換えられる。

またピークホールド回路５において、ｔ６は保持したピ
ーク値のリセット信号であり、またｔ７はピーク値検出
の有効、無効を制御する信号である。ＶＲはピーク値ｇ
１の分割電圧をｇ２として出力するもので、厳密にはｇ
ｌがピーク値であるが、ここでは便宜上ｇ２をもピーク
値として取り扱うことができるようにしている。ここで
ＶＲによるピーク値ｇ１の電圧分割をなす理由としては
、基準白色面または原稿面を光走査したときのピーク値
は演算増幅器５２の出力ｇ１となるが、その際ピーク値
ｇ１は基準白色面または原稿面での光反射率のムラをも
含む値であり、基準白色面または原稿面の地肌濃度の代
表値としてはピーク値ｇ１よりもむしろ濃度ムラをも考
えた濃度の平均値またはピーク値ｇ１から濃度ムラ分を
差し引いた値の方がその後の信号処理の目的に合致する
ためである。そのためここではＶＲによりピーク値ｇ１
の分割電圧ｇ２をピーク値として取り扱うことができる
ようにしている。その場合、特に基準白色面または原稿
面の種類による地肌濃度ムラの程度に応じてＶＲにより
ｇｌに対するｇ２の比を調整することができるようにし
ている。しかして、制御信号ｔ５〜ｔ７により、増幅器
２のゲインを初期値に設定した状態での基準白色面の光
走査時には（Ｖｒ＋）＝Ｖｌに、またそのゲイン調整後
における基準白色面の光走査時には（Ｖｒ＋）＝ｇｔで
基準白色面のピーク値に、また原稿の読取り時には（Ｖ
ｒ＋）＝ｇｌで読取信号のピーク値すなわち原稿地肌の
ピーク値に、あるいは（Ｖｒ＋）＝ｇ２にそれぞれＡＤ
変換器３における基準電圧にそれぞれ設定される。

さらに第５図にＲＡＭ６およびＲＯＭ７部分の具体的な
一構成例を示している。

この構成にあって、まずシェーディング情報のＲＡＭ６
への書込時には基準白色面を光走査したときのラインイ
メージセンナｌの画素ごとの出力信号に応じたデータＣ
がＲＡＭ６のＤｉｎ端子に入力される。その際１画素単
位による各データ入力ごとに制御部７から与えられるア
ドレス制御信号ｔ８によりＲＡＭ６のアドレッシングが
行なわれるとともに、書込信号ｔ９がＲＡＭ６のＷ下端
子に与えられる。それにより主走査方向における各画素
単位によるシェーディング情報がＲＡＭ６に書き込まれ
ることになる。次いで、原稿の読取時における主走査方
向の画素単位による各読取データＣがＲＯＭ７のアドレ
スＡＯ〜Ａ５に与えられるとともに、その画素クロック
に同期してＲＡＭ本体６がアクセスされて先に書き込ま
れたシェーディング情報ｄが読み出されてＲＯＭ７のア
ドレス八６〜ＡＩＯに与えられ、原稿の読取データＣと
ＲＡＭ６から読み出されたシェーディング情報ｄとで予
めそれら各データの種々の組合せに応じたシェーディン
グ補正値が格納されたＲＯＭ７がアドレッシングされ、
それに応じてＲＯＭ７から所定のシェーディング補正信
号ｅが読み出される。

なお、ここではデータＣを６ビツト構成、データｄを５
ビツト構成としている。すなわちＲＡＭ６は５ビツトの
ものであり、データＣの６ビツトのうちの下位５ビツト
のみが書き込まれるようにしている。これは基準白色面
を光走査して得られたシェーディング情報Ｃの電圧値Ｖ
ｓは第７図（Ｃ）に示すようにピーク電圧Ｖｓｐに対し
て主走査方向の１ラインのなかでＶ　ｓ　＞　Ｖ　ｓ　
ｐ　／　２となるように予めスキャナの光源、光学系お
よびラ　。

インイメージセンサ１の特性が決定されており、したが
ってシェーディング情報Ｃは第６図に示すように１〜６
ルベルを６ビツトのバイナリコードで表すことができる
が、実際にはＶｓ≦Ｖｓｐ／２すなわちレベル０〜３２
の間のデータは発生しないのでレベル３３〜６４の計３
２レベルのみてシェーディング情報Ｃを表現することが
できるためである。したがって、最上位ビットｂ５は常
にｌであるので、ｂＯ〜ｂ４の５ビツトでその３２レベ
ルを表現することができるようになる。第６図中１点線
で囲んだ部分がデータｄとなる。

第７図および第８図は増幅器２のゲイン調整から原稿の
読取時におけるシェーディング補正までの動作をＡＤ変
換器３の入力データｂ、その出力データＣおよび基準電
圧Ｖｒ＋に関連付けて説明するための各特性図を示して
いる。

第７図（ａ）は増幅器２のゲインを初期値に設定した状
態での基準白色面を光走査したときの増幅器２の出力信
号すを示しており、そのピーク値はＶｏｐ、また（Ｖｒ
＋）＝Ｖ１である。同図（ｂ）は増幅器２のゲイン調整
がなされた状態での基準白色面を光走査したときの増幅
器２の出力信号すを示しており、そのピーク値Ｖｓｐは
（ａ）の場合と異なり、（Ｖｒ＋）＝Ｖ１に近いレベル
となっている。それはＶｓｐがＶｌよりも小で、かつ■
１に近い値になるようにゲイン調整がなされているため
である。このようにＶ　ｒ　＋、ｂの各レベルが大きい
ことは、ＡＤ変換器３の精度の向上につながることにな
る。同図（ｃ）は前記ピーク値Ｖｓｐに対してＡＤ変換
器３の基準電圧を（Ｖｒ＋）＝Ｖｓｐとして設定したう
えでの基準白色面を光走査したときの増幅器２の出力信
号すを示すもので、これがシェーディング情報Ｃとなる
。このときのピーク値もほぼＶｓｐとなる。また主走査
方向の１ラインにおいてｂ　＞　Ｖ　ｓ　ｐ　／　２と
なるように予めスキャナの光源、光学系およびラインイ
メージセンサ１の特性が決定されている。

同図（ｄ）は原稿の読取時における増幅器２の出力信号
すを示すもので、その曲線は原稿の地肌濃度に対応し、
その原稿上の画情報はその濃度にしたがってその地肌濃
度曲線の下側にプロットされることになる。原稿の読取
時には第４図中のスイッチＳＷ５の切換え状態により（
Ｖｒ＋）＝ｇＬ、（Ｖｒ＋）＝ｇ２の２つのモードがあ
るが、（Ｖｒ＋）＝ｇｌのモードは基準白色面または原
稿地肌のピーク値をＶｒ＋とするものであり、また（Ｖ
ｒ＋）＝ｇ２のモードは基準白色面または原稿地肌の濃
度ムラを補正したピーク値をＶｒ＋とするものである。

いま第７図（ｄ）の場合は（Ｖｒ＋）＝ｇ２のモードに
対応しており、したがってＶｒ＋は原稿地肌のピーク値
Ｖｒｐよりも小さい値になっている。原稿の地肌濃度は
基準白色面より高い濃度（反送率が低い）にあるために
Ｖｒｐ＜Ｖｓｐの関係になっているにこで、（Ｖｒ＋）
＝ｇ２＝ｋｏ−ｇ１＝ｋｏ　ｌＶｒ　ｐここでｋＯは定
数であり、第４図中のＶＲにより適宜調整される値であ
る。

いま第７図（ｃ）における画素Ｎ１の位置における原稿
地肌の濃度に対応するデータｂを。

ｂ＝ｋ　１　・Ｖｒ　ｐ　（ｋ　１は定数）とし、その
原稿上における画素Ｎ１位置が地肌ではなくて文字上で
あり、そのときの濃度に対応するデータｂを、 ｂ＝に２・ｃＬｌ：に２　　（ｋｌ・Ｖｒｐ）（Ｒ２は
定数、０≦に２≦１）としたとき、第７図（ｄ）の関係
にあって縦軸をデータｂでなくデータＣすなわちＡＤ変
換器３の出力信号で示したものが第８図の特性となる。

第８図でｃ＝１．Ｏは正規化したものであり、ｃ＝＝１
．０＝６４　　（レベル） ＝１１１１１１（バイナリ） ≧Ｖｒ＋　（アナログレベル換算） である。

また第８図で、Ｃｄ　は第７図（ｄ）の原稿地肌の濃度
に、　Ｃ５は第７図（ｃ）のシェーディング情報Ｃにそ
れぞれ対応している。さらにＣ４１は第７図（、）のｋ
　ｌ　・Ｖ　ｒ　ｐに、Ｃ５１は第７図（ｃ）のｋｌ・
Ｖｓｐに、ｃｌは第７図（ｄ）のに２Ｘ（Ｒ２・Ｖｒｐ
）にそれぞれ対応している。ここてＣｄ　が飽和してい
るのは、ｂ≧Ｖ　ｒ＋でデータｃｌｆｉ飽和するＡＤ変
換器３の特性による。

ここで、ｃｌに対してそのシェーディング補正データを
ｃ１′　とすると、 ｃ　１’　＝ＣＩ／Ｃ３ｌ となる。ライン−ヒにおける画素Ｎ１に限らすｎ＝１〜
Ｎでのシェーディング補正データを０１′　とすると、 ”ＦＬ　’　＝　Ｃ７Ｌ　／Ｃ５７Ｌ となる。特に第８図に示すような場合には、ｃ′＝ｃ、
、Ｌ／ｃｆ、Ｌ（０≦ｃ、、／ｃ５ｇ＜１）へ Ｃ％’＝１（ｃう／ｃ５ユ≧１） となる。すなわち、原稿地肌の濃度ムラ分はＣ′＝１と
なるように、その一度ムラ分を差し引いた残り分は０％
　’　＝　ｃｖＬ　ＺｃＥｎにそれぞれシェーディング
補正されたこと（こなる。

一般的に、原稿地肌の濃度ムラ分を省略し。

ｃ’＝ｃ／ｃｓ で原稿の読取データＣのシェーディング補正データＣ′
を表すことになるａｃ５　　はもちろん基準白色面を光
走査したとき得られるシェーディング清報である。

第９図は原稿の反射率Ｒに対して増幅器２の出力信号ｂ
（アナログ信号）、ＡＤ変換器３の出力信号Ｃ（デジタ
ル信号）、その信号Ｃに対するシェーディング補正デー
タＣ′およびＲＯＭ７から読み出されるシェーディング
補正された原稿の読取データ信号ｅの関係を示す図で、
各軸Ｒ，ｂ、ｃ、ｃ’　、はそれぞれ反射率Ｒ１信号ｂ
、信号Ｃ１信号ｃ’　　（ｃ’　”ｃ／ｃ５　　）、信
号ｅの各正規化されたレベルを示している。

同図において、（Ｄはｂ＝０．９Ｒの直線である。

これは実際にはＲ＝１．０　（反射率１００％の反射面
）の基準白色面を用いずにＲ＝０．９の反射面を使用し
ているためである。Ｒ軸上のＲｐは地肌濃度のピーク値
がＲｐである原Ｉ′ｉ９ｉを示しており。

またΔＲはその地肌ａ度ムラ分を示し、第７回（ｄ）に
おけるΔＶに相当する。

ΔＶ＝Ｖｒ　ｐ−（Ｖｒ＋）”　（１，ｋｏ）Ｖｒ　ｐ
Ｒｐは原稿の種類により異なり１図中矢印Ａのように変
動する。Ｒｄはピーク値Ｒｐなる原稿上のある位置にお
ける反！＃−１率を示している。また（ｇ＋はｃ＝ｂの
直線であり、原稿地肌の濃度ムラを３まず、基塾白色面
または原稿地肌のピーク値をへ〇変換の基準電圧とする
モード、すなわち第４図で（Ｖｒ＋）＝ｇｌのときのｂ
とＣとの関係を示している。また１■の特性は（牙の場
合と異なり、原稿地肌の濃度ムラ分を考慮して第４図で
（Ｖ　ｒ　＋）＝ｇ２としたときのモード、すなわち第
７図（ｄ）や第８図のモードでのｂとＣとの関係を示し
ている。ここで。

ｃ＝ｂ／　ｋ　Ｏ・ｂｒ　　（０≦ｂ≦ｋｏ・ｂＦ）ｃ
　＝１　　（ｂ＞ｋＯ・ｂｐ　） ただし、ｋｏ＝ｇ２／ｇｌであり、またす、　　はＲｐ
に対応し、図中の矢印Ａ′はＡに対応する。

また■の特性は。

ｅ＝５　（ｃ’　）　”　／　２　（０≦ｃ’＜０．２
）ｅ＝　（９ｃ’−１）／８　（０，２≦Ｃ′≦１）で
ある。ここでｃ’＝ｃ／ｃ、　　は信号Ｃの補正データ
である。Ｃ′は前記式によって表わされるが。

このＣ′に対応する信号は実際には現在せず、信号とし
てはｅがＲＯＭ７の出力信号となる。すなわち、ｃ′の
関数ｅは、 ｃ’＝ｃ／ｃ。

により、　ｃ　／　ｃ５　　の関数 ｅ＝Ｆ　（ｃ／ｃ、　　） であり、原稿の読取データＣ、シェーディング情報ｃ５
　　に対して。

ｅ＝Ｆ　（ｃ／ｃ５　　） ＝　（ｃ／ｃ　　）　２　ｘ５／２　（０≦ｃ／ｃ５く
０２）＝　ｃ　／　ｃｊＸ９／８−１／８　（０，２≦
ｃ／Ｃｓ≦１）により暗算した。結果ｅを予めＲＯＭ７
に格納しておき、実際の原稿の読取時にＣ，Ｃ５をＲＯ
Ｍ７のアドレスとしてアクセスすることによりシェーデ
ィング補正データｅが得られることになる。

ここで、のの特性を原点を通る直、腺とすることによっ
て。

ｅ＝ｃ’＝ｃ／ｃ、ｓ なるンエーディング補正データＣを得ることも勿論可能
であり、シェーティング補正としてはこれて充分なもの
となる。しかしく優の特性のようにＣ′く０．２で２乗
曲線となるようにしたのは、次の理由による。すなわち
、ｃ’＜０．２はほぼＲく０．２に対応し１反射率Ｒが
小さいほどすなわち濃度が高いほど視覚による濃度諧調
の識別力が低下し、また実際に原稿上しこ現れる濃度も
それが極端に高くなることがないなどの理由から、６ビ
ノト＝６４階調で表現するンエーディング補正テータｅ
の階調数のうちで高い濃度範囲に割り当てる階調数を節
約し、実用上重要なａｆ！ｉ範囲に割り当てる階調数を
多くするためである。

第９図によれば、例えば■の特性に対しては、Ｒｐ−Δ
Ｒ≦Ｒ≦ＲＰ なる反射率Ｒはｅ軸上ではｅ＝１．０になる。またＲ＝
Ｒｄなる反射率は、（口の特性ではｅ＝ｅ、（１゜■の
特性ではｅ　＝　ｅ、（２になる。

第１０図は第９図からＲ−ｅの関係栓抜き出したもので
、図中矢印Ａは第９図の矢印Ａに対応している。またＬ
２）′　の特性は第９図の■に、・コ）′１土第９図の
［有］）にそれぞれ対応している。

第１１図は第９図の特性に関し、Ｒ１１ｉ１＋にあって
はＲ＝大（白い側）を左側に、Ｒ＝小（黒い側）を右側
に表したものであり、またＣ軸は６／１階調数を単位と
して階調０を白側に、階調６４を黒画にそれぞれ対応さ
せている。すなわち、Ｒ，＝０．９なる白に対する６ビ
ントのデータｅは。

ｅ＝００００００　　（バイナリ） となる。なお、第１１図でもＲｐ、■“、・■“はそれ
ぞれ第９図のＲ，ｐ　、　ｉｐ　、　４＋に、またＡは
第９図のＡに対応している。

肱果 以上１本発明によるシェーディング補正方式にあっては
、簡単な手段により高速でのシェーディング補正を精度
良く行なわせることができるとともに、何ら別処理によ
ることなくガンマ補正をも同時に行なわせることができ
るという優れた利点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるシェーディング補正方式を具体的
に実施するための構成例を示すブロック図、第２図はラ
インイメージセンサによる原稿の読取データにおけるシ
ェーディング状態を示す特性図、第３図は同実施例にお
ける増幅器および第１のピークホールド回路の具体的な
構成例を示す回路図、第４図は同実施例におけるＡＤ変
換器および第２のピークホールド回路の具体的な植成例
を示す回路図、第５図は同実施例におけるＲＡＭおよび
ＲＯＭ部分の回路構成図、第６図は同実施例におけるシ
ェーディング情報の６ビツトのバイナリコード表を示す
表図、第７図（ａ）は増幅器ゲイン＝初期値としたとき
の基準白色面走査時の増幅器出力特性図、同図（ｂ）は
ゲイン調整後における増幅器出力特性図、同図（ｃ）は
シェーディング情報の特性図、同図（ｄ）は原稿走査時
の増幅器出力特性図、第８図は原稿走査時のＡＤ変換器
の出力特性図、第９図は原稿の反ル■率にλ、］する各
信号の特性図、第１０図は原稿の反射率に対する正規化
されたシェーディング補正信号の特性図。 第１１図は原稿の反射率に対する６　＝ルベル化された
シェーディング補正信号の特性図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、シェーディング情報Ｄｓが格納される第１のメモリ
   と、その第１のメモリから読み出されるシェーディング
   情報Ｄｓと補正対象となる読取データＤｒとの組合せに
   応じたアドレスによってアクセスされる第２のメモリと
   を有し、第２のメモリ内のデータＤｏとして、Ｄｓ／Ｄ
   ｒの値が第１の範囲にあるときには第１の関数Ｄｏ＝Ｆ
   １（Ｄｒ／Ｄｓ）にしたがう値が、またＤｓ／Ｄｒの値
   が第２の範囲にあるときには第２の関数Ｄｏ＝Ｆ２（Ｄ
   ｒ／Ｄｓ）にしたがう値が予め格納され、その第２のメ
   モリから読み出されたデータＤｏを補正データとするよ
   うにしたシェーディング補正方式。 ２、第１のメモリがＲＡＭであり、第２のメモリがＲＯ
   Ｍであることを特徴とする前記第１項の記載によるシェ
   ーディング補正方式。