JPS6170781A - Semiconductor laser and manufacture thereof - Google Patents

Semiconductor laser and manufacture thereof

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JPS6170781A
JPS6170781A JP19220584A JP19220584A JPS6170781A JP S6170781 A JPS6170781 A JP S6170781A JP 19220584 A JP19220584 A JP 19220584A JP 19220584 A JP19220584 A JP 19220584A JP S6170781 A JPS6170781 A JP S6170781A
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JP
Japan
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chip
light emitting
semiconductor laser
electrode
notches
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JP19220584A
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Masayoshi Karuishi
軽石 雅圭
Masami Hidaka
日高 正美
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To position a laser chip easily to a chip mount precisely, and to improve the yield of a semiconductor laser by using a mark displaying a beam projecting section as a reference when the laser chip is positioned to the chip mount. CONSTITUTION:Notches 8b, 9b formed by patterns are each shaped to electrodes 8a, 9a. The notches 8b, 9b represent beam projecting sections for a chip 1a, and measure the size of squares of 1-5mum so as not to have an effect on the luminescent function of the chip 1a, and the positions of the notches coincide with a light-emitting section 3 on a plan view for the chip 1a. Consequently, the chip 1a can be positioned to the chip mount 10 while using the notches 8b or 9b and positioning marks 11 as references, thus accurately enabling positioning easily. The electrodes 8a, 9a are shaped in a wafer 12 on which a plurality of chips 1a are arranged and formed to a matrix shape.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体レーザおよびその製造方法に係り、特
に、そのチップ構成の改良に関す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor laser and a method for manufacturing the same, and particularly relates to an improvement in the chip structure thereof.

半導体レーザは、光を媒体にし多量の情報を扱う光通信
や情報処理の光信号源として多用されるようになって来
た。
Semiconductor lasers have come to be frequently used as optical signal sources in optical communications and information processing that use light as a medium and handle large amounts of information.

光情報処理の一つとして、例えばDADなどにおいて、
光源となる半導体レーザとレンズとの良い結合が得られ
るよう、該半導体レーザにおいて光出射部の位置が正確
に所定の位置にあることが重要である。
As a type of optical information processing, for example, in DAD, etc.
In order to obtain good coupling between the semiconductor laser serving as a light source and the lens, it is important that the light emitting part of the semiconductor laser is accurately positioned at a predetermined position.

このため、レーザチップの取付けに際する該位置の位置
合わせは、正確に且つ容易に行い得ることが望ましい。
Therefore, it is desirable to be able to accurately and easily align the position when attaching the laser chip.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図(A)は従来の半導体レーザのチップの代表例を
示す斜視図である。該チップ1は、n%(またはp形)
基板2上に、ストライプ状の活性層からなりその端部が
光出射部となる発光部3、p形(またはn形)クラフト
層4、p形(またはn形)コンタクト層5があり、その
上下にオーミック電極6.7が設けられ、更にその上下
に電極8.9が形成されてなっている。
FIG. 2(A) is a perspective view showing a typical example of a conventional semiconductor laser chip. The chip 1 is n% (or p type)
On the substrate 2, there are a light emitting section 3 made of a striped active layer whose end becomes a light emitting section, a p-type (or n-type) craft layer 4, and a p-type (or n-type) contact layer 5. Ohmic electrodes 6.7 are provided above and below, and electrodes 8.9 are further formed above and below the ohmic electrodes 6.7.

そして、チップ1の大きさは、縦横約300 p −厚
さ約100μ−程度、発光部3の幅は約3μ難程度、電
極8.9の幅は約250μ−程度である。
The size of the chip 1 is about 300 μm in length and width, about 100 μm in thickness, the width of the light emitting part 3 is about 3 μm, and the width of the electrode 8.9 is about 250 μm.

チップ1は、半導体レーザを形成するた〆、第2図(B
)図示のようにヒートシンクないしマウント台であるチ
ップ取付台10に位置合わせして取付けられる。
The chip 1 is shown in FIG. 2 (B) to form a semiconductor laser.
) As shown in the figure, it is aligned and mounted on a chip mount 10 which is a heat sink or mount.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記チップ1のチップ取付台10に対する位置合わせは
、チップ1の発光部3とチップ取付台10の位置合わせ
印11とを基準にして行われるべきであるが、一般に発
光部3は視認困難なので、チップ1側においては、チッ
プ取付台10に接合されない側の電極8または9の幅、
若しくはチップ1の外形を基準にして行われる。
The alignment of the chip 1 with respect to the chip mount 10 should be performed based on the light emitting part 3 of the chip 1 and the alignment mark 11 of the chip mount 10, but since the light emitting part 3 is generally difficult to see, On the chip 1 side, the width of the electrode 8 or 9 on the side not joined to the chip mount 10,
Alternatively, it is performed based on the outer shape of the chip 1.

しかしながら、電極8.9の幅ないしチップ1の外形の
例えば中心位置が発光部3の位置に必ずしも合致してい
ないことがあって、位置合わせ印11に対する発光部3
の合致が不正確になり、上記チップ1を使用した半導体
レーザは歩留が低い問題を有している。
However, the width of the electrode 8.9 or the outer shape of the chip 1, for example, the center position may not always match the position of the light emitting part 3, and the light emitting part 3
The matching becomes inaccurate, and the semiconductor laser using the above-mentioned chip 1 has a problem of low yield.

〔問題点を解決するための手段〕 上記問題点は、レーザチップに光出射部を示す印を具え
る本発明の半導体レーザによって解決され、更に本発明
によれば、前記印は、前記チ・ノブの主面に形成される
電極のパターンにより形成され、この場合、該電極を形
成する際に、該電極に設けた前記印をストライプ状発光
部に位置合わせする本発明の製造方法によって解決され
る。
[Means for Solving the Problems] The above problems are solved by the semiconductor laser of the present invention, in which the laser chip is provided with a mark indicating the light emitting part, and further according to the present invention, the mark is The problem is solved by the manufacturing method of the present invention, which is formed by a pattern of electrodes formed on the main surface of the knob, and in this case, when forming the electrode, the mark provided on the electrode is aligned with the striped light emitting part. Ru.

〔作用〕[Effect]

チップ取付台に対するレーザチップの位置合わせを行う
際に、光出射部を示した前記印を基準にすることにより
正確な位置合わせが容易になり、先に述べた電極幅ない
しチップ外形を基準にすることによる従来の不都合を解
消することが可能になる。
When aligning the laser chip with respect to the chip mounting base, accurate alignment is facilitated by using the mark indicating the light emitting part as a reference, and using the electrode width or chip outer shape as mentioned earlier as a reference. It becomes possible to eliminate the conventional inconvenience caused by this.

また、前記印を前記電極のパターンにより形成した場合
には、上述した製造方法により、核部の位置はストライ
プ状発光部の位置に合致して、核部がチップの光出射部
を正確に示すようになる。
In addition, when the mark is formed by the pattern of the electrode, the position of the core matches the position of the striped light emitting part by the manufacturing method described above, and the core accurately indicates the light emitting part of the chip. It becomes like this.

この印の位置合わせは、基板に対して発光部を有する側
の電極形成において可能である。
This alignment of the marks is possible when forming the electrode on the side of the substrate that has the light emitting part.

それは、発光部の位置が視認困難な場合であっても、該
倒からクランド層に至る路数μmの深さをエツチングす
ることにより視認可能になり、然も、前記位置合わせの
ための該エツチングは、複数のチップをマトリックス状
に配列して形成するウェーハの一部のみを行う、二とで
足りるからである。
Even if the position of the light emitting part is difficult to see, it can be made visible by etching the path from the bottom to the ground layer to a depth of several μm. This is because only a portion of the wafer formed by arranging a plurality of chips in a matrix can be processed.

なお、基板側に形成する電極に同様な印を設ける際には
、咳印を上記位置決めした先の印に位置合わせすること
により前記発光部に位置合わせされ、この印も光出射部
を正確に示すようになる。
In addition, when providing a similar mark on the electrode formed on the substrate side, the cough mark is aligned with the above-positioned mark to be aligned with the light emitting part, and this mark also accurately aligns the light emitting part. It comes to show.

かくして、本発明の構成により、半導体レーザの歩留り
を従来より向上させることが可能になる。
Thus, with the configuration of the present invention, it is possible to improve the yield of semiconductor lasers compared to the conventional method.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の一実施例を図により説明する。企図を通じ
同一符号は同一対象物を示す。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same reference numerals refer to the same objects throughout the design.

第1図(A−1) 、(A−2)は本発明による半導体
レーザのチップの一実施例を示す斜視図と平面図、第1
図(B)は該チップのチップ取付台への取付けを示す平
面図、第1図(C−1) 、(C−2)は該半導体レー
ザの製造における電極形成の際の位置合わせを示す斜視
図である。
FIGS. 1(A-1) and 1(A-2) are a perspective view and a plan view showing one embodiment of a semiconductor laser chip according to the present invention;
Figure (B) is a plan view showing the attachment of the chip to the chip mounting base, and Figures 1 (C-1) and (C-2) are perspective views showing alignment during electrode formation in the manufacture of the semiconductor laser. It is a diagram.

第1図(A−1)は第2図(A)に対応する図で、図示
のチップ1aは、チップ1の電極8.9が電極8a、9
aに変わったものである。電極8a、 9aには、それ
ぞれパターンによって形成された切欠き8b、 9bが
設けられている。
FIG. 1 (A-1) is a diagram corresponding to FIG. 2 (A), and the illustrated chip 1a has electrodes 8.
It is changed to a. The electrodes 8a, 9a are provided with cutouts 8b, 9b formed by patterns, respectively.

この切欠き8b、 9bは、チップ1aの光出射部を示
す印であって、チップ1aの発光機能に影響がないよう
1〜5μm角の大きさをなし、第1図(A−2)に示す
チップ1aの平面図上では発光部3と位置が合致してい
る。
These notches 8b and 9b are marks indicating the light emitting part of the chip 1a, and have a size of 1 to 5 μm square so as not to affect the light emitting function of the chip 1a, and are shown in FIG. 1 (A-2). In the plan view of the chip 1a shown, the position coincides with the light emitting section 3.

従って、第2図CB)と同様に示した第1図(B)図示
におけるチップ1aのチップ取付台10に対する位置合
わせにおいては、切欠き8bまたは9bと位置合わせ印
11とを基準にして行うことが出来るので、該位置合わ
せは、従来より正確に且つ容易に行うことが可能である
Therefore, the alignment of the chip 1a with respect to the chip mount 10 in FIG. 1(B) shown similarly to FIG. Therefore, the positioning can be performed more accurately and easily than in the past.

切欠き8b、9bの位置を、第1図(A−2)図示のよ
うに、発光部3の位置に合致させるのは、次のような製
造方法によって可能である。
The positions of the notches 8b and 9b can be matched with the position of the light emitting part 3 as shown in FIG. 1 (A-2) by the following manufacturing method.

即ち、電極8a、9aの形成は、第1図(C−1) 、
(C−2)図示のように、複数のチップ1aをマトリッ
クス状に配列して形成するウェーハ12においてなされ
るので、電極8aを形成する際の電極8aのパターン8
cの位置合わせは、切欠き8bのパターン8dの図上手
前の一個と図示されない奥の一個とをそれぞれ対応する
発光部3の位置に合わせ(第1図(C−1)参照)、そ
の後の電極9aを形成する際の電極9aのパターン9c
の位置合わせは、同様にして切欠き9bのパターン9d
を切欠き8bの位置に合わせる(第1図(C−2)参照
)ことを行えばよい。
That is, the formation of the electrodes 8a and 9a is as shown in FIG. 1 (C-1).
(C-2) As shown in the figure, the pattern of the electrode 8a when forming the electrode 8a is
To align the pattern 8d of the notch 8b, the one in the upper front of the notch 8b and the one in the back (not shown) are aligned with the corresponding positions of the light emitting parts 3 (see FIG. 1 (C-1)), and then Pattern 9c of electrode 9a when forming electrode 9a
The pattern 9d of the notch 9b is aligned in the same way.
What is necessary is to align the position of the notch 8b with the position of the notch 8b (see FIG. 1 (C-2)).

また、電極8aパターンの位置合わせに際して、発光部
3の位置が視認困難な場合には、ウェーハ12の電極8
a形成側からクラフト層4に至る路数μ爾の深さをエツ
チングすることにより視認可能にになるので、ウェーハ
12の該位置合わせに必要な領域に対して上記エツチン
グを行えばよい。
In addition, when aligning the electrode 8a pattern, if the position of the light emitting part 3 is difficult to see, the electrode 8a pattern on the wafer 12
The etching can be made visible by etching the path from the a-forming side to the craft layer 4 to a depth of several μm, so the above-mentioned etching can be performed on the area of the wafer 12 necessary for the alignment.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明による構成によれば、レー
ザチップをチップ取付台に取り付ける際の該チップの位
置合わせを、従来より正確に且つ容易に行うことが可能
な半導体レーザとその製造方法が提供出来て、該半導体
レーザの歩留りを従来より向上させることが可能になる
効果がある。
As explained above, according to the configuration of the present invention, there is provided a semiconductor laser and a method for manufacturing the same, which can more accurately and easily align the laser chip when attaching the laser chip to the chip mounting base than before. This has the effect of making it possible to improve the yield of the semiconductor laser compared to the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面において、 第1図(A−1) 、(A−2)は本発明による半導体
レーザのチップの一実施例を示す斜視図と平面図、 第1図(B)は該チップのチップ取付台への取付けを示
す平面図、 第1図(C−1) 、(C−2)は該半導体レーザの製
造における電極形成の際の位置合わせを示す斜視図、 第2図(A)は従来の半導体レーザのチップの代表例を
示す斜視図、 第1図(B)は該チップのチップ取付台への取付けを示
す平°面図である。 また、図中において、 1.1aはチップ    2は基板、 3は発光部、      4はクラッド層、5はコンタ
クト層、   6.7はオーミック電極、8.8a、9
.9aは電極、8b、 9bは切欠き、8c、9cは電
極パターン、8d、9dは切欠きパターン、10はチッ
プ取付台、  11は位置合わせ印、12はウェーハ、 をそれぞれ示す。
In the drawings, FIGS. 1(A-1) and 1(A-2) are a perspective view and a plan view showing one embodiment of a semiconductor laser chip according to the present invention, and FIG. 1(B) is a chip mounting base of the chip. 1 (C-1) and (C-2) are perspective views showing alignment during electrode formation in the manufacture of the semiconductor laser, and FIG. 2 (A) is a conventional FIG. 1B is a perspective view showing a typical example of a semiconductor laser chip. FIG. 1B is a plan view showing how the chip is attached to a chip mount. In the figure, 1.1a is a chip, 2 is a substrate, 3 is a light emitting part, 4 is a cladding layer, 5 is a contact layer, 6.7 is an ohmic electrode, 8.8a, 9
.. 9a is an electrode, 8b and 9b are notches, 8c and 9c are electrode patterns, 8d and 9d are notch patterns, 10 is a chip mounting base, 11 is an alignment mark, and 12 is a wafer.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)レーザチップに光出射部を示す印を具えることを
特徴とする半導体レーザ。
(1) A semiconductor laser characterized in that a laser chip is provided with a mark indicating a light emitting part.
(2)前記印は前記チップの主面に形成される電極のパ
ターンにより形成されることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の半導体レーザ。
(2) The semiconductor laser according to claim 1, wherein the mark is formed by a pattern of electrodes formed on the main surface of the chip.
(3)レーザチップの主面に形成される電極を形成する
際に、光出射部を示すべく該電極に設けた印をストライ
プ状発光部に位置合わせすることを特徴とする半導体レ
ーザの製造方法。
(3) A method for manufacturing a semiconductor laser, characterized in that when forming an electrode on the main surface of a laser chip, a mark provided on the electrode to indicate a light emitting part is aligned with a striped light emitting part. .
JP19220584A 1984-09-13 1984-09-13 Semiconductor laser and manufacturing method thereof Expired - Lifetime JPH0669108B2 (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136685A (en) * 1986-11-28 1988-06-08 Sony Corp Semiconductor laser device
JP2013110267A (en) * 2011-11-21 2013-06-06 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser diode and manufacturing method of the same

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