JPS6168538A - 磁性塗膜の配向度測定方法 - Google Patents
磁性塗膜の配向度測定方法Info
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- JPS6168538A JPS6168538A JP18953884A JP18953884A JPS6168538A JP S6168538 A JPS6168538 A JP S6168538A JP 18953884 A JP18953884 A JP 18953884A JP 18953884 A JP18953884 A JP 18953884A JP S6168538 A JPS6168538 A JP S6168538A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/032—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
- G01R33/0322—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Faraday or Voigt effect
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、磁性塗膜の配向度測定方法に関し、特に製造
工程の途中でチェックするのに好適な配向度測定方法に
関するものである。
工程の途中でチェックするのに好適な配向度測定方法に
関するものである。
従来より、コーティング・ディスクの製造プロセスには
、針状鉄粉を塗布した後に永久磁石によって整列させる
配向工程と、上記工程で発生する。
、針状鉄粉を塗布した後に永久磁石によって整列させる
配向工程と、上記工程で発生する。
°°磁場荒れ”と称する配向不良をチェックする工程と
がある。上記のチェック工程を、磁性塗膜の目視、磁性
粉の走査型電子顕微鏡による観察９Ｍ−Ｈループ特性の
測定などによって不良品を取り除いているが、円板製造
工程の最終、つまり完成品によりチェックを行っている
ために、手戻り工数が大きくなる欠点があった。また、
チェック法では、磁気特性などで品質を捕え、配向度の
測定は行っていないために、測定者等によって判断レベ
ルが異ってしまう欠点もあった。なお、光学的手法を塗
布膜に利用（膜厚測定）しているものとしては、Ｉ Ｂ
Ｍ Ｔ、 Ｄ、 Ｂ、 ｖｏｌ ２６ｅＡ２． Ｊｕ
ｊＶＩＱ８３．ＰＰ８５８記載のものなどがある。
がある。上記のチェック工程を、磁性塗膜の目視、磁性
粉の走査型電子顕微鏡による観察９Ｍ−Ｈループ特性の
測定などによって不良品を取り除いているが、円板製造
工程の最終、つまり完成品によりチェックを行っている
ために、手戻り工数が大きくなる欠点があった。また、
チェック法では、磁気特性などで品質を捕え、配向度の
測定は行っていないために、測定者等によって判断レベ
ルが異ってしまう欠点もあった。なお、光学的手法を塗
布膜に利用（膜厚測定）しているものとしては、Ｉ Ｂ
Ｍ Ｔ、 Ｄ、 Ｂ、 ｖｏｌ ２６ｅＡ２． Ｊｕ
ｊＶＩＱ８３．ＰＰ８５８記載のものなどがある。
本発明の目的は、このような従来の欠点を除去し、簡牟
かつ安価な方法により、磁性塗膜の磁性粒子配列をマク
ロ的に測定することのできる配向度測定方法を提供する
ことにある。
かつ安価な方法により、磁性塗膜の磁性粒子配列をマク
ロ的に測定することのできる配向度測定方法を提供する
ことにある。
上記目的を達成するため、本発明の磁性塗膜の配向度測
定方法は、基体面に形吠磁気異方性の磁性粉が分散さね
ている磁性塗膜を構成している磁性薄体に対し、上記磁
性粉の配列程度を測定する測定方法において、上記基体
に上記磁性塗膜を構成した後、磁性粉の色に対する補色
光を磁性塗膜に照射し、その反射量を測定して磁性粉の
配向度を得ることに特徴があろう 〔発明の実施例〕 以下、本発明の実施例を図面によりＲｑＦｉＪＩする。
定方法は、基体面に形吠磁気異方性の磁性粉が分散さね
ている磁性塗膜を構成している磁性薄体に対し、上記磁
性粉の配列程度を測定する測定方法において、上記基体
に上記磁性塗膜を構成した後、磁性粉の色に対する補色
光を磁性塗膜に照射し、その反射量を測定して磁性粉の
配向度を得ることに特徴があろう 〔発明の実施例〕 以下、本発明の実施例を図面によりＲｑＦｉＪＩする。
・第１図は本発明の一実施例を示す配向度測定系の斜視
図である。
図である。
第１図において、１は磁気ディスク、２は磁性塗膜、３
はアルミニウム合金基板、４は単色光の光源、５はフォ
トセンサである。
はアルミニウム合金基板、４は単色光の光源、５はフォ
トセンサである。
磁気ディスク１は、針状のガンマ−酸化鉄の粒子をポリ
ウレタン樹脂および溶剤中に分散させた磁性塗料をアル
ミニウム合金基板δ上にスビンコートシ（磁性塗膜２）
、溶剤が蒸発する間に、永久磁石で磁性塗料中の針状カ
ンマ−酸化鉄を微小に振動させて、同一方向に配列させ
たものである。
ウレタン樹脂および溶剤中に分散させた磁性塗料をアル
ミニウム合金基板δ上にスビンコートシ（磁性塗膜２）
、溶剤が蒸発する間に、永久磁石で磁性塗料中の針状カ
ンマ−酸化鉄を微小に振動させて、同一方向に配列させ
たものである。
また、磁性塗膜２は、焼付工程前ならアルミニウム合金
基板５から容易に洗い流すことができる。
基板５から容易に洗い流すことができる。
光源養には、ブルー系の単色光（ガンマ−酸化鉄の色に
対する補色）を発光させる。フォトセンサ５は、光源生
からの単色光のうちで磁性塗膜２を反射した光量を検出
する。
対する補色）を発光させる。フォトセンサ５は、光源生
からの単色光のうちで磁性塗膜２を反射した光量を検出
する。
測定は、光源４とフォトセンサ５を固定して、磁気ディ
スクｌを回転させながら、半径方向にスライドさせて、
磁性塗膜２の面を単色光で走査し、その反射光をフォト
センサ５で検出して行う。
スクｌを回転させながら、半径方向にスライドさせて、
磁性塗膜２の面を単色光で走査し、その反射光をフォト
センサ５で検出して行う。
第２図は、磁針の配列と反射光の関係を説明するための
図であり、第３図は第２図における関係を吸収率で示し
た特性図である。
図であり、第３図は第２図における関係を吸収率で示し
た特性図である。
第２図において、１１は単色光、１２は反射光、１３ａ
、ｂは磁針である。
、ｂは磁針である。
磁性塗膜２に入射した光源生からの単色光１１は、第２
図の磁針１３ｂのように、磁性塗膜２内で立っている場
合には、磁針１３ｂに吸収されるのは極く僅かとなり、
殆んどがアルミニウム合金基板３によって反射されて反
射光１２となる。
図の磁針１３ｂのように、磁性塗膜２内で立っている場
合には、磁針１３ｂに吸収されるのは極く僅かとなり、
殆んどがアルミニウム合金基板３によって反射されて反
射光１２となる。
一方、第２図の磁針１３ａのように、磁性塗膜２内で横
に倒れている場合には、上記とは反対に反射光１２が極
〈僅かとなり、殆んどが磁針１３＆に吸収される。その
光の吸収率は、第３図に示すように、垂直配向で約Ｏ（
％）、面内配向で約１００（％）となる。ただし、第３
図に示した特性は、磁性塗膜２の厚さが０．８μｍ、磁
針１３の含率が５５重景％、磁針１３のサイズが０００
５μｍ（ｄ）Ｘｏ、５μｔＩ！（１）の場合である。
に倒れている場合には、上記とは反対に反射光１２が極
〈僅かとなり、殆んどが磁針１３＆に吸収される。その
光の吸収率は、第３図に示すように、垂直配向で約Ｏ（
％）、面内配向で約１００（％）となる。ただし、第３
図に示した特性は、磁性塗膜２の厚さが０．８μｍ、磁
針１３の含率が５５重景％、磁針１３のサイズが０００
５μｍ（ｄ）Ｘｏ、５μｔＩ！（１）の場合である。
したがって、磁性塗膜２からの反射光１２の量を第１図
に示す測定系のフォトセンサ５で検出することにより、
磁針１３群、すなわちマクロ的な配向程度を知ることが
できる。なお、この測定では、針状磁性粉を用いている
塗膜が、配向の度合によって塗膜の厚さには変化なく、
塗膜の色調が変化することを利用している。
に示す測定系のフォトセンサ５で検出することにより、
磁針１３群、すなわちマクロ的な配向程度を知ることが
できる。なお、この測定では、針状磁性粉を用いている
塗膜が、配向の度合によって塗膜の厚さには変化なく、
塗膜の色調が変化することを利用している。
第２図の磁針１３の倒れる方向については、磁気ディス
ク１の回転で生ずる相対運動、つまり磁針を振動・配列
させる永久磁石と磁針１３との相対運動が円周方向にな
るので、微小な振動を受ける磁針１３が円周方向を長手
とする方向に倒れ、。
ク１の回転で生ずる相対運動、つまり磁針を振動・配列
させる永久磁石と磁針１３との相対運動が円周方向にな
るので、微小な振動を受ける磁針１３が円周方向を長手
とする方向に倒れ、。
円周方向に磁化容易軸が配列することになる。゛なお、
第１図の磁気ディスクｌを回転させて測定した場合、円
周方向の配向度は、はに均一となる。
第１図の磁気ディスクｌを回転させて測定した場合、円
周方向の配向度は、はに均一となる。
このように、磁性塗膜の配向度を単色光の反射量で知る
ことができる。それにより、１）製造プロセス中におけ
る塗膜の配向を破壊することなくチェックできるので、
安定な製品が生産できる。。
ことができる。それにより、１）製造プロセス中におけ
る塗膜の配向を破壊することなくチェックできるので、
安定な製品が生産できる。。
１１）完成品になってから問題点が分る従来法に比べて
、経済的であり、問題解決のスピードアップが可能とな
る。
、経済的であり、問題解決のスピードアップが可能とな
る。
以上説明したように、本発明によれば、磁性塗膜の磁性
粒子配列を、完成品に限ることなく上記磁性粒子に単色
光を照射し、その反射光量を検出することにより、マク
ロ的に測定できる。
粒子配列を、完成品に限ることなく上記磁性粒子に単色
光を照射し、その反射光量を検出することにより、マク
ロ的に測定できる。
第１図は本発明の一実施例を示す配向度測定系の斜視図
、第２図は磁針の配列と反射光の関係を説明するための
図、第３図は第２図の関係を吸収、率で示した特性図で
ある。 １：磁気ディスク、２：磁性塗膜、３ニアルミ・ニウム
合金基板、４：光源、５：フォトセンサ、。 １１：単色光、１２：反射光、１３ａ、ｂ：磁針。 第 １ 図 第 ２ 図 第 ３ 図
、第２図は磁針の配列と反射光の関係を説明するための
図、第３図は第２図の関係を吸収、率で示した特性図で
ある。 １：磁気ディスク、２：磁性塗膜、３ニアルミ・ニウム
合金基板、４：光源、５：フォトセンサ、。 １１：単色光、１２：反射光、１３ａ、ｂ：磁針。 第 １ 図 第 ２ 図 第 ３ 図
Claims (1)
- 基体面に形状磁気異方性の磁性粉が分散されている磁性
塗膜を構成している磁性媒体に対し、上記磁性粉の配列
程度を測定する測定方法において、上記基体に上記磁性
塗膜を構成した後、磁性粉の色に対する補色光を磁性塗
膜に照射し、その反射量を測定して磁性粉の配向度を得
ることを特徴とする磁性塗膜の配向度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18953884A JPS6168538A (ja) | 1984-09-12 | 1984-09-12 | 磁性塗膜の配向度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18953884A JPS6168538A (ja) | 1984-09-12 | 1984-09-12 | 磁性塗膜の配向度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6168538A true JPS6168538A (ja) | 1986-04-08 |
Family
ID=16242982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18953884A Pending JPS6168538A (ja) | 1984-09-12 | 1984-09-12 | 磁性塗膜の配向度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6168538A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121997A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-05-17 | Kyoritsu Kagaku Sangyo Kk | 磁場及び電場の一方または両方を用いたエネルギー線反射または遮蔽材料の製造方法 |
-
1984
- 1984-09-12 JP JP18953884A patent/JPS6168538A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121997A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-05-17 | Kyoritsu Kagaku Sangyo Kk | 磁場及び電場の一方または両方を用いたエネルギー線反射または遮蔽材料の製造方法 |
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