JPS6168032A - 断層撮影装置 - Google Patents

断層撮影装置

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JPS6168032A
JPS6168032A JP59188593A JP18859384A JPS6168032A JP S6168032 A JPS6168032 A JP S6168032A JP 59188593 A JP59188593 A JP 59188593A JP 18859384 A JP18859384 A JP 18859384A JP S6168032 A JPS6168032 A JP S6168032A
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JP
Japan
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target
vacuum chamber
rays
magnetic field
electron beam
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JP59188593A
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九里 聖敏
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KOUON DENKI KK
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KOUON DENKI KK
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Publication date
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Granted legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、生体等KX線を照射し、x (,4透視画
像にもとづいて前記生体等の断層画像を撮影する断層撮
影装置に関する。
〔従来の技術〕
一般に、生体にX線を照射して生体の断層画像を撮影す
る医療用の断層撮影装置(以下X線CTという)では、
第7図に示すように、装置本体にX線発生手段(1)を
回転自在に支持し、発生手段(1)を駆動手段により同
図中の矢印に示すように回転させ、生体に円周方向から
X線を照射し、生体を透過したX線を複数個の検出器(
2)により検出し、生体のX線透視画像にもとづいて生
体の断層画像を作成し9表示している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、この種のX線CTでは、重量の重いX線発生
手段(1)を機械的に回転させるため、発生手段(1)
の回転用の前記駆動手段が大型になり、しかも駆動手段
に大きな負担がかかり、発生手段(1ンの回転速度をあ
る程度より速くすることができず、撮影の高速化を図る
ことができないという問題がある。
そこでこの発明は、被照射体へのX線の照射方向を短時
間に変更し、撮影の高速化を図るようにしたものである
〔問題点を解決するだめの手段〕
この発明は、中央部に被照射体が配設される空間が形成
されたほぼ環状の真空槽と、KrI記真記構空槽面にほ
ぼ環状に形成されたX線の照射窓と、AiJ記真記構空
槽内けられf7:、X線発生用のターゲットと、前記真
空槽内に電子を入射する電子ビーム入射手段と、前記入
射された電子を出湯により前記真空槽に沿う円軌道に偏
向させる出湯発生手段と、電子ビームを前記ターゲット
に衝突させて前記ターゲットからX線を発生させ、@記
照射窓の各点から前記空間の中心に前記X線を照射させ
る照射手段と、前記被照射体のX線断層画像を得る撮影
手段とを備えたことを特徴とする断り撮影装置である。
〔作 用〕
つぎに、この発明の作用について説明すると、磁場発生
手段が発生する出湯により電子ビームの軌道が円軌道に
偏向され、照射手段により、偏向された電子ビームがタ
ーゲットに衝突されてほぼ環状の照射窓の各点からX線
が照射され、X線の被照射体に対する照射方向が前記照
射手段により容易にかつ短時間で変更される。
〔実施例〕
つぎに、この発明の実施例を示しfc、第1図ないし第
6図について説明する。
まず、1実施例を示した第1図ないし第4図について説
明する。
いま、動作原理を第1図の概略図に従って説明すると、
図示のように、紙面に垂直で下向きの一様な磁場Hに直
交する向きに電子ビームを電子ビーム入射手段(3)か
ら照射すると、電子が磁場および進行方向に直交する方
向に磁場の強さおよび電子の速度に比例したローレンツ
力を受けるため、電子ビームは同図中の1点鎖線で示す
ような円軌道に偏向され、この円軌道上にモリブデンな
どのターゲット(4)を設置しておけば、偏向された電
子ビームがターゲット(4)に衝突してターゲット(4
)からX線(5)が発生てれる。
そして前述した動作原理に従ってX線を発生し、生体等
の断層撮影を行なうX線CTの構成を示す第2図ないし
第4図において、(6)は枠体、(7)は枠体(6)上
に載置され生体などの被照射体(図示せず)が配置され
る空間(7)′が形成されたほぼ環状の真空槽(3)カ
ラなるステンレススチール環の筐体、(9)は筐体(7
)の前面に一体に形成された接続パイプ、0Qは接続パ
イプ(9)に気密に接続されて筐体(7)内を真空にす
る真空ポンプ、Oυは筐体(7)の右側面の前端部に一
体に、かつ真空槽(8)の中心円の接線方向に平行に設
けられ第1図に示す電子ビーム入射手段(3)が接続さ
れた電子ビームの入射パイプ、q4は筐体(力の右側面
の後端部に気密に設けられたX線吸収部、卯は照射窓で
あシ、筐体(7)の真空槽(8)の内面、すなわち被照
射体側にほぼ環状に形成され、アルミニウム板Q4)に
より気密に閉塞されている。
α9は真空槽(8)内に固定して設けられた固定体、Q
f9は歯車からなる照射手段である輪状のターンテーブ
ルであり、ベアリングq′7)を介して固定体qυに回
転自在に設けられ、第1図に示すターゲット(4)が載
置され、ターンテーブルαQの回転により、入射パイプ
a刀を介した発生手段(3)からの電子ビームが後述の
出湯発生手段による磁場により偏向されてターゲット(
4)に衝突する位置が変更され、照射窓α■の各点から
空間(7)′の中心にX線が照射される。
(至)は枠体(6)に取り付けられターンテーブルαQ
の回転用モータを収納したモータ収納体、叫は筐体(7
)の下面の右後端部に気密に貫設された゛前記モーフの
回転軸に軸着されターンテーブルαQの歯に噛合し前記
モータの回転によりターンチーブ/” uf19を回転
させる駆動歯車、翰は筐体(7)の左半部を包被して設
けられた断面コ字状のヨーク、 1211 、 @はヨ
ーク(4)の上面、下面の内側にそれぞれ真空槽(8)
に沼って形成された円弧状の上、下コア、t23+ 、
 241は上、下コイルであシ、それぞれ両コア121
1 、122の両側に配設され、上方から見て、外側は
時計方向に通電され、内側は反時計方向に通電され、真
空槽(8)内に上下方向で下向きの磁場が形成され、電
子ビームが第2図中の1点鎖線矢印に示すように、真空
槽(8ンとほぼ同心円の円軌道に偏向され、ヨーク(4
)、コアf211 、■、コイ/”(23+ 、 t2
4+により磁場発生手段のが構成されている。
なお、図示されていないが、被照射体を透過するX線を
検品する複数個のX線検出器が設けられるとともに、m
J記記構検出器出力信号により形成されるX線透視画像
にもとづき曲記彼照射体の断層画像を作成し9表示する
寺嘲≠目i灸ト手段が設けられている。
そして、両コイ/v (231、+241 K 電流を
流すことにより、真空槽(8)内に一様な磁場が形成さ
れ、電子ビーム入射9段(3+から入射パイプQυを介
して電子ビームが真空槽(8)内に入射すると、入射し
た電子ビームが前記磁場によるローレンツ力を受けて円
軌道に偏向され、偏向された電子ビームがターゲット(
4)に衝突してX線が発生し、発生したX線が照射窓(
13を介して空間(7)に配置された被照射体に照射さ
れる。
このとき、モータにより南軍α9を回転してターンテー
プ/” (lG 全回転させると、ターゲット(4)の
位置が変わり、2i+記磁場により円軌道に偏向さ、l
−Lだ電子ビームのターゲット(4)との衝突位置が莢
わるため、照射窓口を介したX線の被照射体への照射方
向が変更されることになる。
なお、第1図のターゲット(4)およびターンテーブル
qQに代え、第5図および第6図に示すように電子ビー
ムの円軌道、すなわち真空槽(8)の中心線を挾んで上
、下に照射手段である複数個の補助空芯コイ/V[F]
6)を配置するとともに、各空芯コイ/I/I26)の
外側に複数個のターゲットnを配置し、′電子ビームを
衝突させたいターゲラ11271の内側に位置する空芯
コイ/l/1261に、第5図に示すように、前記上。
下コイルtn 、 +241とは逆向きに電流を流すこ
とによシ、前記空芯コイル■によシ発生手段の)による
磁場中に該磁場とは逆向きの局所的な磁場が発生し、発
生手段−の発生する磁場により円軌道に偏向された電子
ビームが、さらに前記局所的な磁場により円軌道の外側
へ偏向されてターゲラ1−(27+に衝突し、X線が発
生することになり、電流を通流する空芯コイルのを順次
切り換えることにより、電子ビームが衝突するターゲッ
ト咥が変更され、照射窓u3を介して被照射体に照射さ
れるX線の照射方向が変更される。
また、磁場発生手段Gとして永久磁石を使用してもよい
〔発明の効果〕                4し
たがって、この発明によると、ターンテーブルαQによ
りターゲット(4)の位置を変えるのみで。
あるいは電流を曲流すべき空芯コイ/l/ +261を
順次切り換えるのみで、被照射体へのX線の照射方向を
変更することができ、とぐに第1の火)J昶例では従来
のように重量の重いX線発生装置を回転するのではなく
、軽量のターゲットをターンテーブルαQとともに回転
するため、モータにかかる負担を大幅に軽減することが
可能となり、ターゲット(4)を高速で回転して被照射
体へのX線の照射方向を容易にかつ短時間で変更するこ
とができ、撮影の高速化を図ることができ、その効果は
顕著である。
さらに、第2の実施例では機械的に回転する部分がない
ため、より高速でX線の照射方向を変更することができ
るとともに、性能の安定化を図ることができる。
また断層撮影装置だ限らず、他のX線発生装置として応
用することもでき、その有用性は非常に大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第6図はこの発明の断層撮影装置の実施例
を示し、第1図ないし第4図はそれぞれ1実施例の概略
図、平面図、一部の切断右側面図および右側面図、第5
図および第6図は他の実施例の概略図および側面図、第
7図は従来の断泊′1撮゛影装置の概略図である。 (3)・・・電子ヒーム入射手段、(4) 、 m −
ターゲット、(8)・・・真空槽、OQ・・・照射窓、
OQ・・・ターンテーブル、(211,(221・・・
コア、(231,(241・・・コイル、内・・・磁場
発生手段、(261・・・空芯コイル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)中央部に被照射体が配設される空間が形成された
    ほぼ環状の真空槽と、前記真空槽の内面にほぼ環状に形
    成されたX線の照射窓と、前記真空槽内に設けられたX
    線発生用のターゲットと、前記真空槽内に電子を入射す
    る電子ビーム入射手段と、前記入射された電子を磁場に
    より前記真空槽に沿う円軌道に偏向させる磁場発生手段
    と、前記偏向された電子ビームを前記ターゲットに衝突
    させて前記ターゲットからX線を発生させ、前記照射窓
    の各点から前記空間の中心に前記X線を照射させる照射
    手段と、前記被照射体のX線断層画像を得る撮影手段と
    を備えたことを特徴とする断層撮影装置。
JP59188593A 1984-09-08 1984-09-08 断層撮影装置 Granted JPS6168032A (ja)

Priority Applications (1)

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JP59188593A JPS6168032A (ja) 1984-09-08 1984-09-08 断層撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP59188593A JPS6168032A (ja) 1984-09-08 1984-09-08 断層撮影装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6168032A true JPS6168032A (ja) 1986-04-08
JPH0381381B2 JPH0381381B2 (ja) 1991-12-27

Family

ID=16226372

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JP59188593A Granted JPS6168032A (ja) 1984-09-08 1984-09-08 断層撮影装置

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JP (1) JPS6168032A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5164972A (en) * 1990-10-15 1992-11-17 Siemens Aktiengesellschaft Computer tomography apparatus having an annularly guided electron beam
US5172401A (en) * 1990-04-30 1992-12-15 Shimadzu Corporation High-speed scan type x-ray generator
US5197088A (en) * 1991-05-03 1993-03-23 Bruker Analytic Electron beam x-ray computer tomography scanner
US5491734A (en) * 1993-12-14 1996-02-13 Imatron, Inc. Off-axis scanning electron beam computed tomography system

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US5197088A (en) * 1991-05-03 1993-03-23 Bruker Analytic Electron beam x-ray computer tomography scanner
US5491734A (en) * 1993-12-14 1996-02-13 Imatron, Inc. Off-axis scanning electron beam computed tomography system

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JPH0381381B2 (ja) 1991-12-27

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